JPH01162104A - 光ファイバセンサ装置 - Google Patents
光ファイバセンサ装置Info
- Publication number
- JPH01162104A JPH01162104A JP62322242A JP32224287A JPH01162104A JP H01162104 A JPH01162104 A JP H01162104A JP 62322242 A JP62322242 A JP 62322242A JP 32224287 A JP32224287 A JP 32224287A JP H01162104 A JPH01162104 A JP H01162104A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical
- polarization
- optical fiber
- beam splitter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、光送受信部と光センサヘッド部との間におい
て光を伝送するために光ファイバを用いる形式の光ファ
イバセンサ装置に関するものである。
て光を伝送するために光ファイバを用いる形式の光ファ
イバセンサ装置に関するものである。
従来技術
参照光および計測光を発生させるための光源と作用変化
を計測するためにそれら参照光および計測光を受ける受
光部とを有する光送受信部と、外部条件に関連して前記
計測光の伝送パラメータを変化させる光センサヘッド部
と、前記光送受信部と該光センサヘッド部との間で前記
参照光および計測光を伝送する光ファイバとを備えた形
式の光ファイバセンサ装置が知られている。
を計測するためにそれら参照光および計測光を受ける受
光部とを有する光送受信部と、外部条件に関連して前記
計測光の伝送パラメータを変化させる光センサヘッド部
と、前記光送受信部と該光センサヘッド部との間で前記
参照光および計測光を伝送する光ファイバとを備えた形
式の光ファイバセンサ装置が知られている。
たとえば、光ホモダイン方式では、第11図に示すよう
に、光源120から出力したy方向の偏光122は、y
方向の偏光を通過させるがX方向の偏光を反射させる偏
光ビームスプリッタ124を通過させられた後、レンズ
126により伝送用の定偏波光ファイバ128の端面に
集光させられる。この定偏波光フアイバ128内では、
偏波面が互いに直交する2つの伝送モードHE++”
、HE11’のうちの一方のモード、たとえばHEII
Xモードにて光センサヘッド部まで伝送される。この光
センサヘッド部は音圧の変化によって伝送光を位相変調
させる受圧用の定偏波光ファイバ132にて構成されて
おり、この受圧用の定偏波光ファイバ132は伝送用の
定偏波光ファイバ128と光軸まわりに45度回転した
状態にて接続されている。これにより、定偏波光フアイ
バ128内を1つの伝送モードにて伝送された往路の光
が受圧用の定偏波光フアイバ132内において2つの伝
送モードにて伝送されるとともに、受圧用の定偏波光フ
ァイバ132の端面の反射膜134により反射された2
つの伝送モードの光が前記2つのモードにて伝送用の定
偏波光ファイバ128の2つのモードにそれぞれ分配さ
れて、受圧用の定偏波光フアイバ132内を伝播した2
つの伝送モードの光が合波され相互に干渉させられる。
に、光源120から出力したy方向の偏光122は、y
方向の偏光を通過させるがX方向の偏光を反射させる偏
光ビームスプリッタ124を通過させられた後、レンズ
126により伝送用の定偏波光ファイバ128の端面に
集光させられる。この定偏波光フアイバ128内では、
偏波面が互いに直交する2つの伝送モードHE++”
、HE11’のうちの一方のモード、たとえばHEII
Xモードにて光センサヘッド部まで伝送される。この光
センサヘッド部は音圧の変化によって伝送光を位相変調
させる受圧用の定偏波光ファイバ132にて構成されて
おり、この受圧用の定偏波光ファイバ132は伝送用の
定偏波光ファイバ128と光軸まわりに45度回転した
状態にて接続されている。これにより、定偏波光フアイ
バ128内を1つの伝送モードにて伝送された往路の光
が受圧用の定偏波光フアイバ132内において2つの伝
送モードにて伝送されるとともに、受圧用の定偏波光フ
ァイバ132の端面の反射膜134により反射された2
つの伝送モードの光が前記2つのモードにて伝送用の定
偏波光ファイバ128の2つのモードにそれぞれ分配さ
れて、受圧用の定偏波光フアイバ132内を伝播した2
つの伝送モードの光が合波され相互に干渉させられる。
この場合には、定偏波光ファイバ128は偏光子の機能
を備えている。この干渉光は、HE11”モード光とH
E、、、’モード光とのいずれからでも取り出され得る
が、第11図では偏光ビームスプリンタ124によりH
El、’モード光が取り出され、それが検出器136に
より電気信号に変換されて出力されるようになっている
。この電気信号が、受圧用の定偏波光ファイバ132に
おいて音圧に対応して計測光が受けた伝送パラメータ、
たとえば位相の変化を表すものである。
を備えている。この干渉光は、HE11”モード光とH
E、、、’モード光とのいずれからでも取り出され得る
が、第11図では偏光ビームスプリンタ124によりH
El、’モード光が取り出され、それが検出器136に
より電気信号に変換されて出力されるようになっている
。この電気信号が、受圧用の定偏波光ファイバ132に
おいて音圧に対応して計測光が受けた伝送パラメータ、
たとえば位相の変化を表すものである。
しかし、上記のような光ホモダイン方式の光ファイバセ
ンサにおいては、最大の検出感度を得るために位相の自
動調整をする必要がある。このため、たとえば第11図
の例では、受圧用の定偏波光ファイバ132に機械的外
力を加えてHE、、”モード光とHE、、Fモード光と
の間にπ/2の位相差を自動的に発生させる必要があっ
た。それ故、光センサヘッド部の定偏波光ファイバ13
2に機械的な外力を加えるための電歪素子を設けると、
光センサヘッド部が大型となり、しかも光センサヘッド
部へ給電しなければならない欠点があった。
ンサにおいては、最大の検出感度を得るために位相の自
動調整をする必要がある。このため、たとえば第11図
の例では、受圧用の定偏波光ファイバ132に機械的外
力を加えてHE、、”モード光とHE、、Fモード光と
の間にπ/2の位相差を自動的に発生させる必要があっ
た。それ故、光センサヘッド部の定偏波光ファイバ13
2に機械的な外力を加えるための電歪素子を設けると、
光センサヘッド部が大型となり、しかも光センサヘッド
部へ給電しなければならない欠点があった。
また、光源の波長制御によりπ/2の位相差゛を自動的
に発生させる方式もあるが、技術的には比較的困難であ
る。
に発生させる方式もあるが、技術的には比較的困難であ
る。
一方、光ヘテロダイン方式の光ファイバセンサにおいて
は、たとえば第12図に示されるように、He−Ne横
ゼーマン・レーザなどの光源140から出力された、偏
波面が互いに直交し且つ周波数が僅かに異なる2種類の
偏光、たとえば周波数f2の参照ビームおよび周波数f
、の計測ビームは、定偏波光ファイバ142により導か
れ、一部がビームスプリッタ144を透過させられるが
、他の一部がビームスプリッタ144により反射され且
つ偏光板146および受光ファイバ148を介して光セ
ンサ150により検出されるようになっている。この先
センサ150においては、参照光ビー) (rt f
+ )が検出される。上記ビームスプリッタ144を透
過させられた2種類の偏光は、偏光ビームスプリンタ1
52において一方の偏光f2が反射されて174波長板
154を通った後、ミラー156により反射されて再び
1/4波長板154を通過させられることにより偏波面
が回転させられるので偏光ビームスプリンタ152を通
過し、且つ偏光板157および受光ファイバ164を通
過して光センサ15Bに検出される。ビームスプリンタ
144を通過した光のうちの他方の光f、は、そのまま
偏光ビームスプリッタ152および1/4波長板160
を通過して被測定物162に反射させられ、再び174
波長板160を通過させられることにより偏波面が回転
させられて偏光ビームスプリッタ152により反射され
、偏光板157および受光ファイバ164を通過して光
センサ158に検出される。この光は被測定物162の
変位により周波数がf、±Δf、にシフトさせられてい
る。これにより、光センサ158では、被測定物162
を経ない光と被測定物162により反射された光との2
種類の光が入射されるので、周波数がf、−f、±Δf
1である計測光のビートが検出される。位相差検出回路
166では、光センサ150および158により検出さ
れた参照光ビートと計測光ビートとの位相差Δf、が検
出され、この位相差Δf、に基づいて計測光に含まれる
情報、すなわち被測定物162の変位が求められる。
は、たとえば第12図に示されるように、He−Ne横
ゼーマン・レーザなどの光源140から出力された、偏
波面が互いに直交し且つ周波数が僅かに異なる2種類の
偏光、たとえば周波数f2の参照ビームおよび周波数f
、の計測ビームは、定偏波光ファイバ142により導か
れ、一部がビームスプリッタ144を透過させられるが
、他の一部がビームスプリッタ144により反射され且
つ偏光板146および受光ファイバ148を介して光セ
ンサ150により検出されるようになっている。この先
センサ150においては、参照光ビー) (rt f
+ )が検出される。上記ビームスプリッタ144を透
過させられた2種類の偏光は、偏光ビームスプリンタ1
52において一方の偏光f2が反射されて174波長板
154を通った後、ミラー156により反射されて再び
1/4波長板154を通過させられることにより偏波面
が回転させられるので偏光ビームスプリンタ152を通
過し、且つ偏光板157および受光ファイバ164を通
過して光センサ15Bに検出される。ビームスプリンタ
144を通過した光のうちの他方の光f、は、そのまま
偏光ビームスプリッタ152および1/4波長板160
を通過して被測定物162に反射させられ、再び174
波長板160を通過させられることにより偏波面が回転
させられて偏光ビームスプリッタ152により反射され
、偏光板157および受光ファイバ164を通過して光
センサ158に検出される。この光は被測定物162の
変位により周波数がf、±Δf、にシフトさせられてい
る。これにより、光センサ158では、被測定物162
を経ない光と被測定物162により反射された光との2
種類の光が入射されるので、周波数がf、−f、±Δf
1である計測光のビートが検出される。位相差検出回路
166では、光センサ150および158により検出さ
れた参照光ビートと計測光ビートとの位相差Δf、が検
出され、この位相差Δf、に基づいて計測光に含まれる
情報、すなわち被測定物162の変位が求められる。
しかし、上記のような光ヘテロゲイン方式の光ファイバ
センサでは、光ホモダイン方式のように位相の自動調節
を必要としないが、光センサヘッド部において合成した
参照光ビートと計測光ビートとを光受信部まで伝送する
ために2本の受光ファイバ148および164が必要と
なる欠点があった。
センサでは、光ホモダイン方式のように位相の自動調節
を必要としないが、光センサヘッド部において合成した
参照光ビートと計測光ビートとを光受信部まで伝送する
ために2本の受光ファイバ148および164が必要と
なる欠点があった。
発明が解決すべき問題点
上記のような光ファイバセンサに対し、光送受信部と光
センサヘッド部とを、偏波面が互いに直交する2伝送モ
ードにて光を伝送する1本の定偏波光ファイバにて連結
し、且つ光送受信部において参照光と計測光とを干渉さ
せることにより、計測光の伝送パラメータの変化を高い
精度にて検出し、もって小型且つ安価な光ファイバセン
サ装置を提供することが考えられる。しかしながら、そ
のような光ファイバセンサ装置では、伝送用の定偏波光
フアイバ内においてモード間の漏れ、すなわちクロスト
ークによる迷光が発生するため、伝送距離が長くなると
S/N比が低下する。たとえば、現在市販されている定
偏波光ファイバでは30dB/100+++程度である
ため、往復11伝送させた場合には入射光エネルギの一
20dBO迷光が発生し、光の振幅が一10dBとなる
ので、光を干渉させて信号を取り出す場合にはS/N比
が10dB低下することになる。
センサヘッド部とを、偏波面が互いに直交する2伝送モ
ードにて光を伝送する1本の定偏波光ファイバにて連結
し、且つ光送受信部において参照光と計測光とを干渉さ
せることにより、計測光の伝送パラメータの変化を高い
精度にて検出し、もって小型且つ安価な光ファイバセン
サ装置を提供することが考えられる。しかしながら、そ
のような光ファイバセンサ装置では、伝送用の定偏波光
フアイバ内においてモード間の漏れ、すなわちクロスト
ークによる迷光が発生するため、伝送距離が長くなると
S/N比が低下する。たとえば、現在市販されている定
偏波光ファイバでは30dB/100+++程度である
ため、往復11伝送させた場合には入射光エネルギの一
20dBO迷光が発生し、光の振幅が一10dBとなる
ので、光を干渉させて信号を取り出す場合にはS/N比
が10dB低下することになる。
斯る目的を達成するため、本発明の要旨とするところは
、(a)光を伝送するための一対の伝送用の光ファイバ
と、(b)参照光および計測光を前記光ファイバの一方
および他方へ出力し、それら参照光および計測光を前記
一対の光ファイバを通して伝送させるとともに、それら
一対の光ファイバを通して戻された参照光および計測光
を受け、参照光および計測光に基づいてその計測光の伝
送パラメータの変化を検出する光送受信部と、(C)前
記一対の光ファイバにより伝送された参照光および計測
光を導き且つそれら一対の光ファイバへ戻すとともに、
外部条件に関連して少なくともその計測光の伝送パラメ
ータを変化させる光センサヘッド部と、(d)その光セ
ンサヘッド部から前記光送受信部へ戻される参照光およ
び計測光を、往路とは反対側の光ファイバにて伝送され
るように配分する配分手段とを、含むことにある。
、(a)光を伝送するための一対の伝送用の光ファイバ
と、(b)参照光および計測光を前記光ファイバの一方
および他方へ出力し、それら参照光および計測光を前記
一対の光ファイバを通して伝送させるとともに、それら
一対の光ファイバを通して戻された参照光および計測光
を受け、参照光および計測光に基づいてその計測光の伝
送パラメータの変化を検出する光送受信部と、(C)前
記一対の光ファイバにより伝送された参照光および計測
光を導き且つそれら一対の光ファイバへ戻すとともに、
外部条件に関連して少なくともその計測光の伝送パラメ
ータを変化させる光センサヘッド部と、(d)その光セ
ンサヘッド部から前記光送受信部へ戻される参照光およ
び計測光を、往路とは反対側の光ファイバにて伝送され
るように配分する配分手段とを、含むことにある。
作用および発明の効果
このようにすれば、参照光および計測光が、光送受信部
と光センサヘッド部との間において、往路と復路とでは
互いに異なる光ファイバにてそれぞれ伝送されるので、
一方の光が他方へ漏れず、クロストークによる迷光に起
因してS/N比が低下することが解消される。このため
、伝送距離が長くなっても光センサヘッド部において付
与された伝送パラメータの変化が高い精度にて検出され
る。
と光センサヘッド部との間において、往路と復路とでは
互いに異なる光ファイバにてそれぞれ伝送されるので、
一方の光が他方へ漏れず、クロストークによる迷光に起
因してS/N比が低下することが解消される。このため
、伝送距離が長くなっても光センサヘッド部において付
与された伝送パラメータの変化が高い精度にて検出され
る。
ここで、前記一対の光ファイバは、互いに偏波面が直交
する2伝送モードにて偏波面を保存しつつ光を伝送させ
る定偏波光ファイバ、その2伝送モードの一方の損失を
積極的に大きくすることにより単一の偏波面にて光を伝
送させる形式の単一偏光シングルモード光ファイバなど
が、好適に用いられる。また、外部環境の安定している
状況下では、通常のシングルモード光ファイバも適用可
能である。
する2伝送モードにて偏波面を保存しつつ光を伝送させ
る定偏波光ファイバ、その2伝送モードの一方の損失を
積極的に大きくすることにより単一の偏波面にて光を伝
送させる形式の単一偏光シングルモード光ファイバなど
が、好適に用いられる。また、外部環境の安定している
状況下では、通常のシングルモード光ファイバも適用可
能である。
実施例
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて詳細に説明す
る。
る。
第1図は光ホモダイン方式に適用された実施例を示して
いる。
いる。
図において、He−Neレーザなどのレーザ光源10か
ら発射された単色のレーザ光は、光軸まわりに45゛回
転させて配置された偏光ビームスプリッタ12、ファラ
デー回転子14、偏光ビームスプリッタ16、無偏光ビ
ームスプリフタ18、λ/4波長板20を通過した後、
偏光ビームスプリッタ22により分岐され、偏光ビーム
スプリンタ24を透過した一方の直線偏光が集光レンズ
26により一方の定偏波光ファイバ28の端面に入射さ
せられるが、偏光ビームスプリッタ30を透過した他方
の直線偏光が集光レンズ32により他方の定偏波光ファ
イバ34の端面に入射させられる。上記偏光ビームスプ
リッタ12、ファラデー回転子14、および偏光ビーム
スプリッタ16は、光アイソレータとして機能するもの
であり、反射光をレーザ光源10へ入射させないように
する。
ら発射された単色のレーザ光は、光軸まわりに45゛回
転させて配置された偏光ビームスプリッタ12、ファラ
デー回転子14、偏光ビームスプリッタ16、無偏光ビ
ームスプリフタ18、λ/4波長板20を通過した後、
偏光ビームスプリッタ22により分岐され、偏光ビーム
スプリンタ24を透過した一方の直線偏光が集光レンズ
26により一方の定偏波光ファイバ28の端面に入射さ
せられるが、偏光ビームスプリッタ30を透過した他方
の直線偏光が集光レンズ32により他方の定偏波光ファ
イバ34の端面に入射させられる。上記偏光ビームスプ
リッタ12、ファラデー回転子14、および偏光ビーム
スプリッタ16は、光アイソレータとして機能するもの
であり、反射光をレーザ光源10へ入射させないように
する。
また、偏光ビームスプリッタ16は反射光に含まれる信
号成分を取り出す機能をも備えており、偏光ビームスプ
リンタ16により取り出された光は、集光レンズ36に
より第1光センサ38に入射させられる。また、無偏光
ビームスプリンタ18は、分岐比が偏光成分に依存しな
いで反射光の一部を取り出すものであり、その無偏光ビ
ームスプリッタ18により取り出された光は、光軸まわ
りに45゛回転して配置された信号成分取り出し用の偏
光ビームスプリンタ40を透過させられて信号成分だけ
とされるとともに、集光レンズ42により第2光センサ
44に入射させられる。さらに、上記λ/4波長板20
は、直線偏光を円偏光に変換するものである。本実施例
では、以上の光学素子および光センサが、光送受信部1
00を構成している。定偏波光ファイバ28および34
の一端は、この光送受信部100の図示しないハウジン
グに固定されている。
号成分を取り出す機能をも備えており、偏光ビームスプ
リンタ16により取り出された光は、集光レンズ36に
より第1光センサ38に入射させられる。また、無偏光
ビームスプリンタ18は、分岐比が偏光成分に依存しな
いで反射光の一部を取り出すものであり、その無偏光ビ
ームスプリッタ18により取り出された光は、光軸まわ
りに45゛回転して配置された信号成分取り出し用の偏
光ビームスプリンタ40を透過させられて信号成分だけ
とされるとともに、集光レンズ42により第2光センサ
44に入射させられる。さらに、上記λ/4波長板20
は、直線偏光を円偏光に変換するものである。本実施例
では、以上の光学素子および光センサが、光送受信部1
00を構成している。定偏波光ファイバ28および34
の一端は、この光送受信部100の図示しないハウジン
グに固定されている。
上記定偏波光ファイバ28および34は、第2図に示す
ように、コア46とこのコア46を挟む一対の応力付与
部4日と、それらを覆うクラッド50とから構成されて
おり、たとえば互いに直交する偏波面にて光を伝送する
HE、、”モードおよびHE II’モードの2伝送モ
ードにて偏波面を保存しつつ偏光を伝送する。しかし、
本実施例では、前述のように定偏波光ファイバ28およ
び34には2つある伝送モードの一方に直線偏光がそれ
ぞれ入射させられるので、定偏波光ファイバ28ではた
とえばHEIIxモードにて、定偏波光ファイバ34で
はたとえば1(E、、’モードにて光が伝送され、2つ
ある伝送モードの片方を使用する。このため、定偏波光
ファイバ28および34に替えて、定偏波光ファイバの
2伝送モードの一方の損失を積極的に大きくすることに
より単一の偏波面にて光を伝送させる形式の単一偏光シ
ングルモード光ファイバや、外部環境が安定している状
況下であれば通常のシングルモード光ファイバなどを用
いることができる。
ように、コア46とこのコア46を挟む一対の応力付与
部4日と、それらを覆うクラッド50とから構成されて
おり、たとえば互いに直交する偏波面にて光を伝送する
HE、、”モードおよびHE II’モードの2伝送モ
ードにて偏波面を保存しつつ偏光を伝送する。しかし、
本実施例では、前述のように定偏波光ファイバ28およ
び34には2つある伝送モードの一方に直線偏光がそれ
ぞれ入射させられるので、定偏波光ファイバ28ではた
とえばHEIIxモードにて、定偏波光ファイバ34で
はたとえば1(E、、’モードにて光が伝送され、2つ
ある伝送モードの片方を使用する。このため、定偏波光
ファイバ28および34に替えて、定偏波光ファイバの
2伝送モードの一方の損失を積極的に大きくすることに
より単一の偏波面にて光を伝送させる形式の単一偏光シ
ングルモード光ファイバや、外部環境が安定している状
況下であれば通常のシングルモード光ファイバなどを用
いることができる。
上記定偏波光ファイバ28および34の他端部は光セン
サヘッド部102の図示しない機枠に固定されている。
サヘッド部102の図示しない機枠に固定されている。
定偏波光ファイバ28により伝送され且つその他端部か
ら放射された計測光は、集光レンズ52を通って平行光
とされるとともに偏光ビームスプリッタ54を通過させ
られる。この偏光ビームスプリッタ54は、定偏波光フ
ァイバ28により伝送された計測光と同じ偏波面の直線
偏光のみを通過させるものである。同様に、定偏波光フ
ァイバ34により伝送され且つその他端部から放射され
た参照先は、集光レンズ56を通って平行光とされると
ともに偏光ビームスプリッタ58を反射された後、偏光
ビームスプリッタ54に反射されることにより計測光と
合成される。偏光ビームスブリック58は、定偏波光フ
ァイバ34により伝送された参照光と同じ偏波面の直線
偏光のみを反射させるものである。
ら放射された計測光は、集光レンズ52を通って平行光
とされるとともに偏光ビームスプリッタ54を通過させ
られる。この偏光ビームスプリッタ54は、定偏波光フ
ァイバ28により伝送された計測光と同じ偏波面の直線
偏光のみを通過させるものである。同様に、定偏波光フ
ァイバ34により伝送され且つその他端部から放射され
た参照先は、集光レンズ56を通って平行光とされると
ともに偏光ビームスプリッタ58を反射された後、偏光
ビームスプリッタ54に反射されることにより計測光と
合成される。偏光ビームスブリック58は、定偏波光フ
ァイバ34により伝送された参照光と同じ偏波面の直線
偏光のみを反射させるものである。
このようにして合成された計測光および参照光はλ/2
波長板59によりそれぞれ偏波面が45″回転させられ
、さらに45゛回転のファラデー回転子60によりそれ
ぞれの偏波面が45゛回転させられた後、偏光ビームス
プリッタ62により分離される。この偏光ビームスプリ
ッタ62により反射された参照光がミラー64により方
向変換されることにより、偏光ビームスプリッタ62を
通過する計測光と互いに平行とされ、被測定物66上に
取り付けられた一対の第1コーナキューブプリズム68
および第2コーナキユーブプリズム70へ向かって投射
される。本実施例では、上記偏光ビームスプリッタ62
およびミラー64などが光センサヘッド部102に対応
する。ここで、本実施例では、定偏波光ファイバ28に
おいてHE11’モードにて伝送された計測光の偏波面
には図において1bを付し、定偏波光ファイバ34にお
いてHE 11Xモードにて伝送された参照先の偏波面
には1aを付す。
波長板59によりそれぞれ偏波面が45″回転させられ
、さらに45゛回転のファラデー回転子60によりそれ
ぞれの偏波面が45゛回転させられた後、偏光ビームス
プリッタ62により分離される。この偏光ビームスプリ
ッタ62により反射された参照光がミラー64により方
向変換されることにより、偏光ビームスプリッタ62を
通過する計測光と互いに平行とされ、被測定物66上に
取り付けられた一対の第1コーナキューブプリズム68
および第2コーナキユーブプリズム70へ向かって投射
される。本実施例では、上記偏光ビームスプリッタ62
およびミラー64などが光センサヘッド部102に対応
する。ここで、本実施例では、定偏波光ファイバ28に
おいてHE11’モードにて伝送された計測光の偏波面
には図において1bを付し、定偏波光ファイバ34にお
いてHE 11Xモードにて伝送された参照先の偏波面
には1aを付す。
以下、本実施例の作動をさらに詳しく説明する。
第2図に示すように、レーザ光源10から発射されたレ
ーザ光のうちの一部は偏光ビームスプリッタ12により
外部へ放射されるが、それと直角な偏波面を備えた直線
偏光は偏光ビームスプリンタ12を通過させられる。第
2図における破線の矢印はその直線偏光の偏波面を示し
ている。この直線偏光は、ファラデー回転子14により
偏波面が右廻りに45°回転させられた後、偏光ビーム
スプリッタ16および無偏光ビームスプリッタ18を通
過させられるとともに、λ/4波長板20により円偏光
に変換される。この円偏光は、位相が90°ずれた直交
直線偏光の組と等価であるため、偏光ビームスプリッタ
22において互いに偏波面が直交する直線偏光に位相差
90”にて分離され、定偏波光ファイバ28および34
においてHEIIxモードおよびHEIIFモードの一
方および他方にてそれぞれ伝送される。このようにして
分離されたのが前記計測光および参照光である。
ーザ光のうちの一部は偏光ビームスプリッタ12により
外部へ放射されるが、それと直角な偏波面を備えた直線
偏光は偏光ビームスプリンタ12を通過させられる。第
2図における破線の矢印はその直線偏光の偏波面を示し
ている。この直線偏光は、ファラデー回転子14により
偏波面が右廻りに45°回転させられた後、偏光ビーム
スプリッタ16および無偏光ビームスプリッタ18を通
過させられるとともに、λ/4波長板20により円偏光
に変換される。この円偏光は、位相が90°ずれた直交
直線偏光の組と等価であるため、偏光ビームスプリッタ
22において互いに偏波面が直交する直線偏光に位相差
90”にて分離され、定偏波光ファイバ28および34
においてHEIIxモードおよびHEIIFモードの一
方および他方にてそれぞれ伝送される。このようにして
分離されたのが前記計測光および参照光である。
なお、上記無偏光ビームスプリッタ18により外部へ出
された光はレーザ光源10の出力光のモニタとして利用
される。
された光はレーザ光源10の出力光のモニタとして利用
される。
第3図に詳しく示すように、定偏波光ファイバ28およ
び34から出た計測光および参照光は、集光レンズ52
および56により平行光とされた後、偏光ビームスプリ
ッタ54において合波されるとともに、λ/2波長板5
9により左まわりに45°回転させられ、さらにファラ
デー回転子60により右まわりに45°回転させられ且
つ偏光ビームスプリンタ62により分離されることによ
り、互いに平行を成して第1コーナキユーブプリズム6
8および第2コーナキユーブプリズム70へ向かって投
光される。
び34から出た計測光および参照光は、集光レンズ52
および56により平行光とされた後、偏光ビームスプリ
ッタ54において合波されるとともに、λ/2波長板5
9により左まわりに45°回転させられ、さらにファラ
デー回転子60により右まわりに45°回転させられ且
つ偏光ビームスプリンタ62により分離されることによ
り、互いに平行を成して第1コーナキユーブプリズム6
8および第2コーナキユーブプリズム70へ向かって投
光される。
第1コーナキユーブプリズム68および第2コーナキユ
ーブプリズム70からそれぞれ反射された参照光および
計測光は、往路と同様の光路にて伝送されるが、反射に
より偏波面が180°反転させられているため、ファラ
デー回転子60の通過により左まわりに45°回転させ
られるとともにλ/2波長板59により左まわりに45
°回転させられた後には、第4図に詳しく示すように、
往路に比較して偏波面が更に90°回転させられる。こ
のため、反射光(参照光および計測光)の偏波面が往路
とは90”回転させられるので、偏光ビームスプリッタ
54により往路とは反対の光路へ分岐されて、往路と反
対側の定偏波光ファイバ28および34によって光送受
信部100側へ伝送される。したがって、本実施例では
、上記ファラデー回転子60および偏光ビームスプリッ
タ54などが、光センサヘッド部102から光送受信部
100へ戻される参照光および計測光を、往路とは反対
側の光ファイバにて伝送されるように配分する配分手段
として機能する。
ーブプリズム70からそれぞれ反射された参照光および
計測光は、往路と同様の光路にて伝送されるが、反射に
より偏波面が180°反転させられているため、ファラ
デー回転子60の通過により左まわりに45°回転させ
られるとともにλ/2波長板59により左まわりに45
°回転させられた後には、第4図に詳しく示すように、
往路に比較して偏波面が更に90°回転させられる。こ
のため、反射光(参照光および計測光)の偏波面が往路
とは90”回転させられるので、偏光ビームスプリッタ
54により往路とは反対の光路へ分岐されて、往路と反
対側の定偏波光ファイバ28および34によって光送受
信部100側へ伝送される。したがって、本実施例では
、上記ファラデー回転子60および偏光ビームスプリッ
タ54などが、光センサヘッド部102から光送受信部
100へ戻される参照光および計測光を、往路とは反対
側の光ファイバにて伝送されるように配分する配分手段
として機能する。
定偏波光ファイバ28および34から出た反射光は、第
5図に示すように、集光レンズ26および32により平
行光とされた後、λ/4波長板20により右回転円偏光
および左回転円偏光に変換されるが、参照光1aおよび
計測光1bの振幅が等しいので、左右円偏光による干渉
にて、直線偏光となり、その偏光面の向きは参照光1a
および計測光ibの位相差により決定される。たとえば
、参照光1aおよび計測光1bの位相差が2π変化する
と、直線偏光は1回転する。このような直線偏光は、無
偏光ビームスプリッタ18により2分され、方位が互い
に45°ずれた2つの偏光ビームスプリッタ16および
40を通して第1光センサ38および第2光センサ44
によりそれぞれ検出される。
5図に示すように、集光レンズ26および32により平
行光とされた後、λ/4波長板20により右回転円偏光
および左回転円偏光に変換されるが、参照光1aおよび
計測光1bの振幅が等しいので、左右円偏光による干渉
にて、直線偏光となり、その偏光面の向きは参照光1a
および計測光ibの位相差により決定される。たとえば
、参照光1aおよび計測光1bの位相差が2π変化する
と、直線偏光は1回転する。このような直線偏光は、無
偏光ビームスプリッタ18により2分され、方位が互い
に45°ずれた2つの偏光ビームスプリッタ16および
40を通して第1光センサ38および第2光センサ44
によりそれぞれ検出される。
位相差検出回路76は、上記第1光センサ38および第
2光センサ44から出力される信号の位相差を検出する
。この位相差は、光センサヘッド部102から投射され
る参照光と計測光との光路長差に関連するので、計測光
に付与された作用変化が参照光との比較において検出さ
れる。すなわち、第1コーナキユーブプリズム68およ
び第2コーナキユーブプリズム70の入射光或いは反射
光の光軸を含む平面内において被測定物66が回転すれ
ば、上記位相差によってその被測定物66の回転角が高
い精度で検出されるのである。
2光センサ44から出力される信号の位相差を検出する
。この位相差は、光センサヘッド部102から投射され
る参照光と計測光との光路長差に関連するので、計測光
に付与された作用変化が参照光との比較において検出さ
れる。すなわち、第1コーナキユーブプリズム68およ
び第2コーナキユーブプリズム70の入射光或いは反射
光の光軸を含む平面内において被測定物66が回転すれ
ば、上記位相差によってその被測定物66の回転角が高
い精度で検出されるのである。
ここで、本実施例の偏光ビームスプリンタ22.24.
30,54.58は、計測光および参照光の伝送中に発
生するクロストーク成分、迷光成分を除去する機能も備
えている。たとえば、参照光が光送受信部100から光
センサヘッド部102へ定偏波光フアイバ34中をHE
、にモードにて伝送される過程で発生するクロストーク
成分(HEllγモードの成分)は、偏光ビームスプリ
ッタ58を殆ど透過して除去される。そして、この偏光
ビームスプリッタ58を反射した僅かなりロストーク成
分も偏光ビームスプリッタ54において。
30,54.58は、計測光および参照光の伝送中に発
生するクロストーク成分、迷光成分を除去する機能も備
えている。たとえば、参照光が光送受信部100から光
センサヘッド部102へ定偏波光フアイバ34中をHE
、にモードにて伝送される過程で発生するクロストーク
成分(HEllγモードの成分)は、偏光ビームスプリ
ッタ58を殆ど透過して除去される。そして、この偏光
ビームスプリッタ58を反射した僅かなりロストーク成
分も偏光ビームスプリッタ54において。
透過させられることにより除去される。往路における計
測光、復路における参照光および計測光についてそれぞ
れ発生するクロストーク成分も同様に除去される。なお
、上記偏光ビームスプリッタ24.30.58は、上記
クロストーク成分の除去を一層確実にするためのもので
あるので、偏光ビームスプリッタ58に替えてミラーを
配置し且つ偏光ビームスプリッタ24.30を除去して
も差支えない。また、定偏波光ファイバ28および34
においては、伝送可能な2モードのうちの一方しか使用
されないので、定偏波光ファイバの2伝送モードの一方
の損失を積極的に大きくすることにより単一の偏波面に
て光を伝送させる形式の単一偏光シングルモード光ファ
イバに換えることができる。
測光、復路における参照光および計測光についてそれぞ
れ発生するクロストーク成分も同様に除去される。なお
、上記偏光ビームスプリッタ24.30.58は、上記
クロストーク成分の除去を一層確実にするためのもので
あるので、偏光ビームスプリッタ58に替えてミラーを
配置し且つ偏光ビームスプリッタ24.30を除去して
も差支えない。また、定偏波光ファイバ28および34
においては、伝送可能な2モードのうちの一方しか使用
されないので、定偏波光ファイバの2伝送モードの一方
の損失を積極的に大きくすることにより単一の偏波面に
て光を伝送させる形式の単一偏光シングルモード光ファ
イバに換えることができる。
以上のように、本実施例によれば、参照光と計測光との
2種類の光は、一対の定偏波光ファイバ28および34
を介して独立に伝送されるため、相互に干渉しない。ま
た、一対の定偏波光ファイバ28および34のうち、往
路と復路とにおいて互いに異なる側にて伝送される参照
光および計測光は、一対の定偏波光ファイバ28および
34が通常並列した状態で光送受信部100と光センサ
ヘッド部102との間に接続されるため、温度変動、歪
、振動などの外部刺激に対する定偏波光ファイバ2Bお
よび34からの影響(伝送パラメータの変化)、たとえ
ば位相変動が好適に打ち消される。したがって、第1コ
ーナキエーププリズム68および第2コーナキユーブプ
リズム70の変位のみが位相差に表されt、被測定物6
6の回転角度の高い精度の測定、が可能となるのである
。
2種類の光は、一対の定偏波光ファイバ28および34
を介して独立に伝送されるため、相互に干渉しない。ま
た、一対の定偏波光ファイバ28および34のうち、往
路と復路とにおいて互いに異なる側にて伝送される参照
光および計測光は、一対の定偏波光ファイバ28および
34が通常並列した状態で光送受信部100と光センサ
ヘッド部102との間に接続されるため、温度変動、歪
、振動などの外部刺激に対する定偏波光ファイバ2Bお
よび34からの影響(伝送パラメータの変化)、たとえ
ば位相変動が好適に打ち消される。したがって、第1コ
ーナキエーププリズム68および第2コーナキユーブプ
リズム70の変位のみが位相差に表されt、被測定物6
6の回転角度の高い精度の測定、が可能となるのである
。
また、本実施例のように単色の光源を用いる光ホモダイ
ン方式を採用しても、光送受信部において最大感度の位
相差90”を有する参照光および計測光を発生させるこ
とができる。このため、それら2種類の光波間にπ/2
の位相を形成するように光センサヘッド部に機械的な外
力を加えるための電歪素子を設ける必要がなく、しかも
光センサヘッド部へ給電する必要がないし、あるいは光
源の波長制御によりπ/2の位相差を形成することも不
要となる。また、光センサヘッド部と光送受信部との間
には、2本の光ファイバを設けるだけでよいので、光セ
ンサヘッド部102が光学素子だけで構成されることに
より小型かつ安価となって、他の精密計測装置、精密加
工装置、精密検査装置などへ容易に組み込み得る。また
、本実施例によれば、計測光および参照光を光送受信部
100と光センサヘッド部102との間で一対の定偏波
光ファイバ28および34を通して独立に伝送するとき
に発生するクロストーク成分が偏光ビームスプリッタ2
4.30.54.58により除去されるので、第1光セ
ンサ38および第2光センサ44により検出される信号
のS/N比が高められ、伝送距離が長くても高い精度の
検出が可能となる。
ン方式を採用しても、光送受信部において最大感度の位
相差90”を有する参照光および計測光を発生させるこ
とができる。このため、それら2種類の光波間にπ/2
の位相を形成するように光センサヘッド部に機械的な外
力を加えるための電歪素子を設ける必要がなく、しかも
光センサヘッド部へ給電する必要がないし、あるいは光
源の波長制御によりπ/2の位相差を形成することも不
要となる。また、光センサヘッド部と光送受信部との間
には、2本の光ファイバを設けるだけでよいので、光セ
ンサヘッド部102が光学素子だけで構成されることに
より小型かつ安価となって、他の精密計測装置、精密加
工装置、精密検査装置などへ容易に組み込み得る。また
、本実施例によれば、計測光および参照光を光送受信部
100と光センサヘッド部102との間で一対の定偏波
光ファイバ28および34を通して独立に伝送するとき
に発生するクロストーク成分が偏光ビームスプリッタ2
4.30.54.58により除去されるので、第1光セ
ンサ38および第2光センサ44により検出される信号
のS/N比が高められ、伝送距離が長くても高い精度の
検出が可能となる。
なお、第6図に示すように、2個のコーナキューブプリ
ズム68.70を有する被測定物66を定盤78上に載
置すれば、位相差検出回路76から出力される位相差に
基づいて定盤78の真直度を高い精度で検出することが
できる。
ズム68.70を有する被測定物66を定盤78上に載
置すれば、位相差検出回路76から出力される位相差に
基づいて定盤78の真直度を高い精度で検出することが
できる。
また、第7図に示すように、一方の第1コーナキューブ
プリズム68を光センサヘッド部102に固定するとと
もに他方の第2コーナキユーブプリズム70を移動テー
ブル80に固定すれば、位相差検出回路76によって検
出された位相差に基づいて移動テーブル80の光センサ
ヘッド部102に対する変位量が高い精度で検出される
。
プリズム68を光センサヘッド部102に固定するとと
もに他方の第2コーナキユーブプリズム70を移動テー
ブル80に固定すれば、位相差検出回路76によって検
出された位相差に基づいて移動テーブル80の光センサ
ヘッド部102に対する変位量が高い精度で検出される
。
また、上記と同様に、他方の第2コーナキユーブプリズ
ム70を摺動可能に設は且つノギスやマイクロメータの
ような接触式の測長器の移動体と連結すれば、前記位相
検出回路76によって検出された位相差に基づいて長さ
を高い精度にて測定できる。第8図にその一例を示す。
ム70を摺動可能に設は且つノギスやマイクロメータの
ような接触式の測長器の移動体と連結すれば、前記位相
検出回路76によって検出された位相差に基づいて長さ
を高い精度にて測定できる。第8図にその一例を示す。
ここで、上記各実施例では、偏光ビームスプリッタ12
、ファラデー回転子14、偏光ビームスプリッタ16が
光アイソレータとして機能するように設けられているが
、光源が戻り光の影響を受ケ難いLED、SLD Cス
パールミネッセンスダイオード)などの光源を利用する
場合には、上記偏光ビームスプリッタ12およびファラ
デー回転子14が除去されてもよい。また、He−Ne
レーザを用いる場合において超音波変調器の周波数を2
GHzにすれば、2GHzシフトさせることができるた
め、He−Neレーザの利得帯域外となってアイソレー
タなしでもよい。さらに、半導体レーザのように直接変
調可能な素子を用いる場合には、定偏波光ファイバ28
.34による遅延時間を利用して戻り光が来る間はレー
ザ発振を止めるようにスイッチングさせることにより、
アイソレータを除去できる。
、ファラデー回転子14、偏光ビームスプリッタ16が
光アイソレータとして機能するように設けられているが
、光源が戻り光の影響を受ケ難いLED、SLD Cス
パールミネッセンスダイオード)などの光源を利用する
場合には、上記偏光ビームスプリッタ12およびファラ
デー回転子14が除去されてもよい。また、He−Ne
レーザを用いる場合において超音波変調器の周波数を2
GHzにすれば、2GHzシフトさせることができるた
め、He−Neレーザの利得帯域外となってアイソレー
タなしでもよい。さらに、半導体レーザのように直接変
調可能な素子を用いる場合には、定偏波光ファイバ28
.34による遅延時間を利用して戻り光が来る間はレー
ザ発振を止めるようにスイッチングさせることにより、
アイソレータを除去できる。
次に、本発明の他の実施例を説明する。なお、以下の説
明において、前述の実施例と共通する部分には同一の符
号を付して説明を省略する。
明において、前述の実施例と共通する部分には同一の符
号を付して説明を省略する。
第9図に示す実施例では、光送受信部100において周
波数変調(光ヘテロゲイン)方式による位相差検出が行
われる。図において、レーザ光源84は、横ゼーマン分
割型二周波方式の波長安定型He−Neレーザなどから
構成されることにより、互いに周波数が僅かに異なる直
交直線偏光(直交2周波直線偏光)が出力される。この
直交直線偏光は超音波により変調される光周波数変調器
86において変調を受けた後、無偏光ビームスプリフタ
18により分岐される。分岐された一方のビームは偏光
ビームスプリッタ12および集光レンズ36を通して第
1光センサ38において検出される。この第1光センサ
38においては、前記直交直線偏光である参照光1aお
よび計測光1bの周波数差に起因してうなりの周波数を
有する参照ビート信号が検出される。一方、上記無偏光
ビームスプリッタ18を透過した直交直線偏光は、前述
の実施例と同様に、偏光ビームスプリッタ22により偏
波面に基づいて分岐された後、定偏波光ファイバ28お
よび34により光センサヘッド部102へ伝送される。
波数変調(光ヘテロゲイン)方式による位相差検出が行
われる。図において、レーザ光源84は、横ゼーマン分
割型二周波方式の波長安定型He−Neレーザなどから
構成されることにより、互いに周波数が僅かに異なる直
交直線偏光(直交2周波直線偏光)が出力される。この
直交直線偏光は超音波により変調される光周波数変調器
86において変調を受けた後、無偏光ビームスプリフタ
18により分岐される。分岐された一方のビームは偏光
ビームスプリッタ12および集光レンズ36を通して第
1光センサ38において検出される。この第1光センサ
38においては、前記直交直線偏光である参照光1aお
よび計測光1bの周波数差に起因してうなりの周波数を
有する参照ビート信号が検出される。一方、上記無偏光
ビームスプリッタ18を透過した直交直線偏光は、前述
の実施例と同様に、偏光ビームスプリッタ22により偏
波面に基づいて分岐された後、定偏波光ファイバ28お
よび34により光センサヘッド部102へ伝送される。
そして、前述の実施例と同様に反射された後、往路とは
反対側の定偏波光ファイバ28および34を通して戻さ
れた参照光1aおよび計測光1bは、無偏光ビームスプ
リッタ18によって反射された後、偏光ビームスプリッ
タ40および集光レンズ42を通して第2光センサ44
により検出される。この第2光センサ44においては、
前記直交直線偏光である参照光1aおよび計測光1bの
周波数差に起因してうなりの周波数を有する計測ビート
信号が検出される。
反対側の定偏波光ファイバ28および34を通して戻さ
れた参照光1aおよび計測光1bは、無偏光ビームスプ
リッタ18によって反射された後、偏光ビームスプリッ
タ40および集光レンズ42を通して第2光センサ44
により検出される。この第2光センサ44においては、
前記直交直線偏光である参照光1aおよび計測光1bの
周波数差に起因してうなりの周波数を有する計測ビート
信号が検出される。
このため、本実施例では、上記参照ビート信号と計測ビ
ート信号との位相差が図示しない位相差検出回路により
検出され、この位相差に基づいて計測光1bに含まれる
伝送パラメータの変化が検出される。なお、本実施例で
は、前記光周波数変調器86はアイソレータとして機能
する。
ート信号との位相差が図示しない位相差検出回路により
検出され、この位相差に基づいて計測光1bに含まれる
伝送パラメータの変化が検出される。なお、本実施例で
は、前記光周波数変調器86はアイソレータとして機能
する。
本実施例でも、参照光および計測光が定偏波光ファイバ
28および34を通して往路と復路とでは異なる側によ
り伝送されるとともに、偏光ビームスプリッタ22.2
4.30.54.58によってクロストーク成分が排除
され、信号のS/N比が高められる。
28および34を通して往路と復路とでは異なる側によ
り伝送されるとともに、偏光ビームスプリッタ22.2
4.30.54.58によってクロストーク成分が排除
され、信号のS/N比が高められる。
前述の実施例、たとえば第1図の実施例においては、偏
光ビームスプリッタ22、偏光ビームスプリ7タ24、
集光レンズ26、定偏波光ファイバ28、集光レンズ5
2、(1g光ビームスプリンタ54、偏光ビームスプリ
ッタ58、集光レンズ56、定偏波光ファイバ34、集
光レンズ32、偏光ビームスプリッタ30、および偏光
ビームスプリッタ22を順次径た光ループが形成される
とともに、偏光ビームスプリッタ22、偏光ビームスプ
リッタ24、集光レンズ26、定偏波光ファイバ28の
順で伝送される左まわりの光は光センサヘッド部102
において位相情報が与えられた後、再び左まわりのルー
プに戻される。また、偏光ビームスプリンタ22、偏光
ビームスプリンタ30、集光レンズ32、定偏波光ファ
イバ34の順で伝送される右まわりの光も、上記と同様
に光センサヘッド部102において位相情報が与えられ
た後、右まわりのループへ戻される。このため、前述の
実施例の光ファイバセンサ装置の構成は、右まわりの光
と左まわりの光との位相差に基づいて空間に対する回転
角速度を検出する所謂光フアイバジャイロの構成と類似
している。したがって、伝送パラメータの変化を検出す
る方式として位相差バイアス法、位相変調法、周波数変
化法、光ヘテロダイン法などの光フアイバジャイロに用
いられる各種の方式が適用され得る。
光ビームスプリッタ22、偏光ビームスプリ7タ24、
集光レンズ26、定偏波光ファイバ28、集光レンズ5
2、(1g光ビームスプリンタ54、偏光ビームスプリ
ッタ58、集光レンズ56、定偏波光ファイバ34、集
光レンズ32、偏光ビームスプリッタ30、および偏光
ビームスプリッタ22を順次径た光ループが形成される
とともに、偏光ビームスプリッタ22、偏光ビームスプ
リッタ24、集光レンズ26、定偏波光ファイバ28の
順で伝送される左まわりの光は光センサヘッド部102
において位相情報が与えられた後、再び左まわりのルー
プに戻される。また、偏光ビームスプリンタ22、偏光
ビームスプリンタ30、集光レンズ32、定偏波光ファ
イバ34の順で伝送される右まわりの光も、上記と同様
に光センサヘッド部102において位相情報が与えられ
た後、右まわりのループへ戻される。このため、前述の
実施例の光ファイバセンサ装置の構成は、右まわりの光
と左まわりの光との位相差に基づいて空間に対する回転
角速度を検出する所謂光フアイバジャイロの構成と類似
している。したがって、伝送パラメータの変化を検出す
る方式として位相差バイアス法、位相変調法、周波数変
化法、光ヘテロダイン法などの光フアイバジャイロに用
いられる各種の方式が適用され得る。
第10図に示す実施例は、光フアイバジャイロの各種の
方式の内光ヘテロダイン法を、光送受信部100に適用
した構成例を示している。
方式の内光ヘテロダイン法を、光送受信部100に適用
した構成例を示している。
図において、レーザ光源84から出力された光は、集光
レンズ90により平行光とされた後、光アイソレータ9
2を透過し、回折格子素子94による回折を受けて、1
0mrad (ミリラジアン)程度の微小な角度を成す
2本のビームに分けられる。
レンズ90により平行光とされた後、光アイソレータ9
2を透過し、回折格子素子94による回折を受けて、1
0mrad (ミリラジアン)程度の微小な角度を成す
2本のビームに分けられる。
この2本のビームの一方は、無偏光ビームスプリッタ1
04により反射された後、偏光ビームスプリッタ24お
よび集光レンズ26を介して一方の定偏波光ファイバ2
8に入射させられ、左まわりの光とされる。また、上記
2本のビームの他方は、無偏光ビームスプリッタ104
を透過した後、偏光ビームスプリッタ30および集光レ
ンズ32を介して他方の定偏波光ファイバ34に入射さ
せられ、右まわりの光とされる。それら右まわりの光お
よび左まわりの光は、被測定物に固定された第1コーナ
キユーブプリズム68および第2コーナキユーブプリズ
ム70に反射された後、往路とは反対側の定偏波光ファ
イバ28および34により伝送される。定偏波光ファイ
バ28により伝送された反射光は集光レンズ26および
偏光ビームスプリッタ24を通過し、無偏光ビームスプ
リッタ104を透過してAOM (音響光学素子)96
に到達する。また、定偏波光ファイバ34により伝送さ
れた反射光は集光レンズ32および偏光ビームスプリン
タ30を通過し、無偏光ビームスプリッタ104により
反射されてAOM96に到達する。このAOM96は、
光周波数シフタであるが、方向性結合器としても機能す
る。このため、上記2種類の反射光は、発振器98で合
波されて干渉光となるが、上記2種類の光の一方は、周
波数変調されるため光センサ110からはビート信号が
得られる。光周波数シフタ96を駆動する発振器98か
らの基準信号と上記のビート信号から、位相検出回路1
12においては、被測定物に固定されたコーナキューブ
プリズム68.70の変位による位相変化が得られる。
04により反射された後、偏光ビームスプリッタ24お
よび集光レンズ26を介して一方の定偏波光ファイバ2
8に入射させられ、左まわりの光とされる。また、上記
2本のビームの他方は、無偏光ビームスプリッタ104
を透過した後、偏光ビームスプリッタ30および集光レ
ンズ32を介して他方の定偏波光ファイバ34に入射さ
せられ、右まわりの光とされる。それら右まわりの光お
よび左まわりの光は、被測定物に固定された第1コーナ
キユーブプリズム68および第2コーナキユーブプリズ
ム70に反射された後、往路とは反対側の定偏波光ファ
イバ28および34により伝送される。定偏波光ファイ
バ28により伝送された反射光は集光レンズ26および
偏光ビームスプリッタ24を通過し、無偏光ビームスプ
リッタ104を透過してAOM (音響光学素子)96
に到達する。また、定偏波光ファイバ34により伝送さ
れた反射光は集光レンズ32および偏光ビームスプリン
タ30を通過し、無偏光ビームスプリッタ104により
反射されてAOM96に到達する。このAOM96は、
光周波数シフタであるが、方向性結合器としても機能す
る。このため、上記2種類の反射光は、発振器98で合
波されて干渉光となるが、上記2種類の光の一方は、周
波数変調されるため光センサ110からはビート信号が
得られる。光周波数シフタ96を駆動する発振器98か
らの基準信号と上記のビート信号から、位相検出回路1
12においては、被測定物に固定されたコーナキューブ
プリズム68.70の変位による位相変化が得られる。
本実施例においても、光センサヘッド部102と光送受
信部100との間が一対の定偏波光ファイバ28および
34により接続されて、往路と復路とでは異なる側にお
いて伝送されるので、前述の実施例と同様に、定偏波光
ファイバ28および34による伝送距離が長くなっても
、伝送光のクロストークに起因するS/N比の低下が好
適に解消される。
信部100との間が一対の定偏波光ファイバ28および
34により接続されて、往路と復路とでは異なる側にお
いて伝送されるので、前述の実施例と同様に、定偏波光
ファイバ28および34による伝送距離が長くなっても
、伝送光のクロストークに起因するS/N比の低下が好
適に解消される。
なお、上述したのはあくまでも本発明の一実施例であり
、本発明はその精神を逸脱しない範囲において種々変更
が加えられ得るものである。
、本発明はその精神を逸脱しない範囲において種々変更
が加えられ得るものである。
第1図は本発明の一実施例の構成を説明する図である。
第2図、第3図、第4図、および第5図は、第1図の実
施例の作動を説明する図である。 第6図、第7図、第8図は、本発明の他の測定対象を説
明する図であって、第6図は真直度の測定、第7図は変
位の測定、第8図は長さの測定を示している。第9図お
よび第10図は、本発明の他の実施例における第1図に
それぞれ相当する図である。第11図は光ホモダイン方
式の従来の光ファイバセンサの構成を示す図であり、第
12図は光ヘテロダイン方式の従来の光ファイバセンサ
の構成を示す図である。 28.34:定偏波光ファイバ (一対の光ファイバ) 100:光送受信部 102:光センサヘッド部 出願人 ブラザー工業株式会社 第11図 1jt
施例の作動を説明する図である。 第6図、第7図、第8図は、本発明の他の測定対象を説
明する図であって、第6図は真直度の測定、第7図は変
位の測定、第8図は長さの測定を示している。第9図お
よび第10図は、本発明の他の実施例における第1図に
それぞれ相当する図である。第11図は光ホモダイン方
式の従来の光ファイバセンサの構成を示す図であり、第
12図は光ヘテロダイン方式の従来の光ファイバセンサ
の構成を示す図である。 28.34:定偏波光ファイバ (一対の光ファイバ) 100:光送受信部 102:光センサヘッド部 出願人 ブラザー工業株式会社 第11図 1jt
Claims (2)
- (1)光を伝送するための一対の伝送用の光ファイバと
、 参照光および計測光を前記光ファイバの一方および他方
へ出力し、該参照光および計測光を該一対の光ファイバ
を通して伝送させるとともに、該一対の光ファイバを通
して戻された参照光および計測光を受け、それら参照光
および計測光に基づいて該計測光の伝送パラメータの変
化を検出する光送受信部と、 前記一対の光ファイバにより伝送された参照光および計
測光を導き且つ該一対の光ファイバへ戻すとともに、外
部条件に関連して少なくとも該計測光の伝送パラメータ
を変化させる光センサヘッド部と、 該光センサヘッド部から前記光送受信部へ戻される参照
光および計測光を、往路とは反対側の光ファイバにて伝
送されるように配分する配分手段と、 を含むことを特徴とする光ファイバセンサ装置。 - (2)前記一対の光ファイバは、定偏波光ファイバ、単
一偏光シングルモード光ファイバ、またはシングルモー
ド光ファイバにてそれぞれ構成されたものである特許請
求の範囲第1項に記載の光ファイバセンサ装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62322242A JPH01162104A (ja) | 1987-12-18 | 1987-12-18 | 光ファイバセンサ装置 |
| US07/282,502 US4902888A (en) | 1987-12-15 | 1988-12-12 | Optical fiber sensor |
| EP88311890A EP0321252B1 (en) | 1987-12-15 | 1988-12-15 | Optical fiber sensor |
| DE8888311890T DE3877543T2 (de) | 1987-12-15 | 1988-12-15 | Optischer fibersensor. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62322242A JPH01162104A (ja) | 1987-12-18 | 1987-12-18 | 光ファイバセンサ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01162104A true JPH01162104A (ja) | 1989-06-26 |
Family
ID=18141499
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62322242A Pending JPH01162104A (ja) | 1987-12-15 | 1987-12-18 | 光ファイバセンサ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01162104A (ja) |
-
1987
- 1987-12-18 JP JP62322242A patent/JPH01162104A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4824251A (en) | Optical position sensor using coherent detection and polarization preserving optical fiber | |
| US5894531A (en) | Method and apparatus for detection of ultrasound using a fiber-optic interferometer | |
| US5648848A (en) | Beam delivery apparatus and method for interferometry using rotatable polarization chucks | |
| US5106192A (en) | Polarization insensitive absolute interferometeric method and apparatus for measuring position angular bearing and optical paths | |
| JP4316691B2 (ja) | 偏位を測定するための装置 | |
| US7277180B2 (en) | Optical connection for interferometry | |
| EP0321252B1 (en) | Optical fiber sensor | |
| US4958929A (en) | Optical fiber sensor | |
| US5274436A (en) | Laser interferometer for measuring distance using a frequency difference between two laser beams | |
| US7355719B2 (en) | Interferometer for measuring perpendicular translations | |
| JPS62233708A (ja) | 角度測定平面鏡干渉計システム | |
| JPH1082609A (ja) | 干渉計による変位測定装置及び方法 | |
| JPH09280822A (ja) | 光波干渉測定装置 | |
| JP2572111B2 (ja) | レーザ干渉測定装置 | |
| JP2696117B2 (ja) | ビーム分岐光学系を用いたレーザドップラ振動計 | |
| JPH01162104A (ja) | 光ファイバセンサ装置 | |
| JPS6355035B2 (ja) | ||
| CN110849593B (zh) | 基于声光调制器外差干涉测量光学系统波像差的测量设备 | |
| JP3174985B2 (ja) | 光ファイバ・アレイを用いた差動型へテロダイン干渉計 | |
| JP2592254B2 (ja) | 変位量及び変位速度の測定装置 | |
| JPH01156628A (ja) | 光ファイバセンサ装置 | |
| JP2002333304A (ja) | 光ヘテロダイン干渉計装置 | |
| JPH07167606A (ja) | 干渉測定装置 | |
| JPH08304027A (ja) | 微少変位量測定方法及び装置 | |
| JPH04249719A (ja) | 光ファイバ・レーザドップラ振動計 |