JPH01164084A - 半導体レーザー装置 - Google Patents

半導体レーザー装置

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JPH01164084A
JPH01164084A JP32157787A JP32157787A JPH01164084A JP H01164084 A JPH01164084 A JP H01164084A JP 32157787 A JP32157787 A JP 32157787A JP 32157787 A JP32157787 A JP 32157787A JP H01164084 A JPH01164084 A JP H01164084A
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JP
Japan
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semiconductor laser
support body
laser element
resin
thermal conductivity
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Pending
Application number
JP32157787A
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English (en)
Inventor
Shunichi Haga
羽賀 俊一
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は、複数個の活性層(ストライブ)を同一チップ
内に有する半導体レーザー装置に関するものである。
[従来の技術] 複数のストライプを有するモノリシック半導体レーザー
素子(チップ)を具備する半導体レーザー装置において
、ダイボンディングおよび電気的配線は下記補遺のもの
が一般的である。すなわち、支持体上のチップダイボン
ディング面には、通常のフォトリソグラフィー技術を用
いて金あるいは銅の配線体のパターンが形成されている
。この配線体のパターンは、半導体レーザー素子の配列
ピッチに対応した寸法で、並列パターンが一般的である
。この金属配線体と半導体レーザーチップの電極とは、
半10等の導電性接着材を介して熱圧着により接続され
ている。
[発明が解決しようとする問題点] 上述した従来の半導体レーザー装置は、半導体レーザー
素子上に互いに分離されて設けられた蒸着電極と、支持
体上に設けられた金属配線体とを半田等の導電性接着材
を介して熱圧着したものであり、接続部の静的な強度は
ワイヤボンディングよりも大きい。しかし寸法的にゆと
りのない接続構造であるため、素子チップと支持体との
熱膨張係数が異なる場合には、冷熱サイクルによって金
属配線体の断線等の信頼性上の問題が発生したり、素子
チップの放熱が不充分で各ストライプの特性にバラツキ
が生じる等の欠点があった。
[問題点を解決するための手段] 本発明の半導体レーザー装置は、半導体レーザー素子と
支持体との隙間に、熱伝導性良好な電気的絶縁体(例え
ば樹脂)が充填されている。
[作用] 半導体レーザー素子と支持体との隙間に設けられた熱伝
導性良好な電気的絶縁体を介して、半導体レーザー素子
から発生する熱が逃げるために熱放散性が向上し、これ
により、各ストライプの発光特性のバラツキが低減し、
また、熱サイクルによる局部的応力集中が緩和されるこ
とにより、金属配線体の断線等を防止できる。
[実施例コ 次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
実施例1 第1図は本発明の半導体レーザー装置の第1の実施例の
正面図、第2図は第1図に示される本実施例の斜視図で
ある。
本実施例は、所定間隔をおいて一列に配列された複数の
ストライプ2a〜2dを有する半導体レーザー素子1の
レーザー電極8(各ストライプに対応して分離されて設
けられている)を支持体3上に設けられた金属配線体7
(7,〜7d)と対向させ、これらを半田等の導電性接
着材6を介して熱圧着して電気的導通をとるとともに、
物理的に固定し、さらに、半導体レーザー素子1と支持
体3との間に樹脂9を介在させたものである。
支持体3は熱伝導性良好なセラミック、シリコンカーバ
イド等からなり、金属配線体7(7a〜7d)は金、銅
等からなる。また、樹脂9は、半導体レーザー素子1と
支持体3とを固定後において、例えば、熱伝導性の良い
熱硬化性樹脂を注射針で注入、充填し、硬化させること
により設けられる。なお、レーザー電極8の厚さは!μ
以下であり、金属配線体7の厚さは2μ程度である。
実施例2 第3図は本発明の半導体レーザー装置の第2の実施例の
正面図である。
本実施例は、第1の実施例における支持体3を、金属ブ
ロック(あるいは厚板10)に熱伝導性良好な電気的絶
縁体11を貼り合せた構造のものに置換したものである
。絶縁体が高価な場合には、本実施例のように大部分を
金属ブロック10とすることによりコストを低下できる
[発明の効果] 以上説明したように本発明は、チップと支持体間に熱伝
導性良好な電気的絶縁体を設けることにより、温度変化
による繰返し応力を低減し、信頼性の向上、素子寿命の
延長が図れ、また、各ストライプの発光特性のバラツキ
を低減できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の半導体レーザー装置の第1の実施例の
正面図、 第2図は第1の実施例の斜視図、 第3図は本発明の半導体レーザー装置の第2の実施例の
正面図である。 1・・・半導体レーザー素子、 2(2a〜2d)・・・ストライプ、 3・・・支持体、 6・・・導電性接着材、 7(7a〜7.)・・・金属配線体、 8・・・レーザー電極、 9・・・樹脂、 i o−・・金属ブロック、 11・・・絶縁体。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、複数のレーザー光出射領域が設けられ、該複数のレ
    ーザー光出射領域それぞれに対応して個別的にレーザー
    電極が配置されているモノリシック半導体レーザー素子
    と、 前記モノリシック半導体レーザー素子に電流を供給する
    ための配線体が主面上に形成され、該モノリシック半導
    体レーザー素子を支持するための支持体とを有し、 前記モノリシック半導体レーザー素子のレーザー電極と
    これと対向する前記配線体とが電気的に接続され、モノ
    リシック半導体レーザー素子と支持体との間には、熱伝
    導性が良好な電気的絶縁体が介在している半導体レーザ
    ー装置。 2、前記支持体は、少なくとも前記配線が形成されてい
    る主面近傍部分が熱伝導性良好な電気的絶縁体となって
    おり、前記モノリシック半導体レーザー素子と支持体と
    の間に介在する熱伝導性が良好な電気的絶縁体は樹脂か
    らなっている特許請求の範囲第1項記載の半導体レーザ
    ー装置。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5786634A (en) * 1996-09-02 1998-07-28 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor device
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