JPH1117044A - Bgaの実装方法 - Google Patents

Bgaの実装方法

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Publication number
JPH1117044A
JPH1117044A JP9167520A JP16752097A JPH1117044A JP H1117044 A JPH1117044 A JP H1117044A JP 9167520 A JP9167520 A JP 9167520A JP 16752097 A JP16752097 A JP 16752097A JP H1117044 A JPH1117044 A JP H1117044A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bga
wiring board
ceramic wiring
circuit board
insulating resin
Prior art date
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Pending
Application number
JP9167520A
Other languages
English (en)
Inventor
Yutaka Kobayashi
豊 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Priority to US09/103,540 priority patent/US6020638A/en
Publication of JPH1117044A publication Critical patent/JPH1117044A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/28Applying non-metallic protective coatings
    • H05K3/284Applying non-metallic protective coatings for encapsulating mounted components
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/0306Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341Surface mounted components
    • H05K3/3431Leadless components
    • H05K3/3436Leadless components having an array of bottom contacts, e.g. pad grid array or ball grid array components
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W74/00Encapsulations, e.g. protective coatings
    • H10W74/10Encapsulations, e.g. protective coatings characterised by their shape or disposition
    • H10W74/15Encapsulations, e.g. protective coatings characterised by their shape or disposition on active surfaces of flip-chip devices, e.g. underfills

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 セラミック配線板にBGAを実装する場合、
熱膨張係数の差に起因する応力の集中を防ぎ、接続の信
頼性を向上させる。 【解決手段】 セラミック配線板1上にBGA2を実装
した後に、セラミック配線板1とBGA2の間に絶縁樹
脂3を流し込み硬化させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、セラミック配線板
等の回路基板上へのBGAの実装方法に関する。
【0002】
【従来の技術】図3は従来のBGAの実装方法を説明す
るための図である。
【0003】従来の、BGA(Ball Grid Array)の実装
方法は、図3に示すように、回路基板としてのセラミッ
ク配線板101上にBGA102を搭載し、BGA10
2の外部端子(不図示)であるBGAボール103とセ
ラミック配線板上の電極パッドとを電気的に接続するの
みである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来技
術のようにBGAをセラミック配線板に実装するのみの
場合、両者の熱膨張係数の差が大きいと、実装後の温度
変化(熱サイクル)により接続部であるBGAボールに
応力が集中し、BGAボールの破壊につながる。したが
って、従来の実装方式では基板とパッケージとの接続信
頼性がないものとなっている。
【0005】そこで本発明の目的は、上記の従来技術の
課題に鑑み、BGAと回路基板の熱膨張係数の差に起因
する応力の分散を行い、セラミック配線板上へ実装した
BGAの接続信頼性を向上させる、BGAの実装方法を
提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、回路基板にBGAを搭載して該回路基板上
の電極パッドと該BGAの外部端子を電気的に接続した
後、前記BGAと前記回路基板の間に絶縁樹脂を流し込
み封止を行う、BGAの実装方法である。この場合、前
記回路基板はセラミック配線板である。
【0007】上記のとおりの発明では、BGAとセラミ
ック配線板の間に絶縁樹脂が施されていることにより、
BGAとセラミック配線板の熱膨張係数の違いから温度
変化時に生じる応力が、接続部であるBGAボールに集
中せず、封止樹脂全体に分散される。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。
【0009】図1は本発明のBGAの実装方法を好適に
実施した一形態を示す斜視図、図2は図1に示したBG
Aの実装状態を示す断面図である。
【0010】本形態におけるBGAの実装方法は、図1
及び図2に示すように、回路基板であるセラミック配線
板1にBGA2を搭載してセラミック配線板1上の電極
パッド(不図示)とBGA2の外部端子であるBGAボ
ール4とを電気的に接続した後、BGA2とセラミック
配線板1との間に絶縁樹脂3を流し込み封止を行う。
【0011】絶縁樹脂3の流し込みにおいては、BGA
2とセラミック配線板1を加熱した後、シリンジに入っ
た絶縁樹脂4をBGA2の1辺又は2辺にディスペンス
し、そのまま封止樹脂がBGA2の下面に完全に回り込
むのを待ったのちキュアリングする。BGA2とセラミ
ック配線板1を加熱するのは絶縁樹脂4の粘度を落しス
ムースにBGA2の下面に流し込み易くするためであ
る。
【0012】このようにBGA2とセラミック配線板1
の間に封止樹脂を配し、−40℃(30min)〜常温
(5min)〜125(30min)の冷熱衝撃サイク
ル試験を実施した場合、400サイクルまで断線が発生
しなかった。しかし、これと同様の試験を従来技術のよ
うなセラミック配線板にBGAを搭載したのみの構造に
対して行った場合、BGA2とセラミック配線板1との
熱膨張係数の違いから、20サイクル以内に断線が発生
した。したがって、本形態の実装方法によれば、飛躍的
に接続信頼性が向上することが判った。
【0013】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、BGAと
セラミック配線板の間に樹脂封止を施すことにより、温
度変化時に生じる熱膨張係数の差による応力が発生して
も、BGAとセラミック配線板の間の電気的な接続信頼
性が保証できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のBGAの実装方法を好適に実施した一
形態を示す斜視図である。
【図2】図1に示したBGAの実装状態を示す断面図で
ある。
【図3】従来のBGAの実装方法を説明するための図で
ある。
【符号の説明】
1 セラミック配線板(回路基板) 2 BGA 3 絶縁樹脂 4 BGAボール

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回路基板にBGAを搭載して該回路基板
    上の電極パッドと該BGAの外部端子を電気的に接続し
    た後、前記BGAと前記回路基板の間に絶縁樹脂を流し
    込み封止を行う、BGAの実装方法。
  2. 【請求項2】 前記回路基板はセラミック配線板である
    請求項1に記載のBGAの実装方法。
JP9167520A 1997-06-24 1997-06-24 Bgaの実装方法 Pending JPH1117044A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9167520A JPH1117044A (ja) 1997-06-24 1997-06-24 Bgaの実装方法
US09/103,540 US6020638A (en) 1997-06-24 1998-06-24 Packaging structure of BGA type semiconductor device mounted on circuit substrate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9167520A JPH1117044A (ja) 1997-06-24 1997-06-24 Bgaの実装方法

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Publication Number Publication Date
JPH1117044A true JPH1117044A (ja) 1999-01-22

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ID=15851224

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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6059894A (en) * 1998-04-08 2000-05-09 Hewlett-Packard Company High temperature flip chip joining flux that obviates the cleaning process
JP3423897B2 (ja) * 1999-04-01 2003-07-07 宮崎沖電気株式会社 半導体装置の製造方法
US9909789B2 (en) 2012-01-10 2018-03-06 Spring (U.S.A.) Corporation Heating and cooling unit with canopy light
US8850829B2 (en) * 2012-01-10 2014-10-07 Spring (U.S.A.) Corporation Heating and cooling unit with semiconductor device and heat pipe
USD811802S1 (en) 2016-07-15 2018-03-06 Spring (U.S.A.) Corporation Food server

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08298269A (ja) * 1995-04-25 1996-11-12 Toshiba Microelectron Corp 半導体装置及びその製造方法
US5726502A (en) * 1996-04-26 1998-03-10 Motorola, Inc. Bumped semiconductor device with alignment features and method for making the same

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US6020638A (en) 2000-02-01

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Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19990420