JPH0116493B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0116493B2 JPH0116493B2 JP56138836A JP13883681A JPH0116493B2 JP H0116493 B2 JPH0116493 B2 JP H0116493B2 JP 56138836 A JP56138836 A JP 56138836A JP 13883681 A JP13883681 A JP 13883681A JP H0116493 B2 JPH0116493 B2 JP H0116493B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radiation
- channel
- data
- ray
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 51
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 12
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 5
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 4
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 claims description 4
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 4
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012067 mathematical method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 1
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 210000004872 soft tissue Anatomy 0.000 description 1
- 210000001519 tissue Anatomy 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、コンピユータ・トモグラフイ装置に
おける放射線検出器アライメントずれの再構成画
像に与える歪みを補正できるようにしたコンピユ
ータ・トモグラフイ装置における画像再構成方法
に関するものである。
おける放射線検出器アライメントずれの再構成画
像に与える歪みを補正できるようにしたコンピユ
ータ・トモグラフイ装置における画像再構成方法
に関するものである。
X線等を用いた横断面検査装置として知られる
いわゆるコンピユータ・トモグラフイ
(Computerized tomography:CT)装置は、例
えば第1図a,bのように偏平な扇状のフアンビ
ームX線Fxを曝射するX線源1と、このX線を
検出する複数のX線検出素子を並設してなるX線
検出器2とを被検体Pを挾んで対峙させ、且つこ
れらX線源1およびX線検出器2を前記被検体P
を中心に互いに同方向に同一角速度で回路移動さ
せて、被検体断面上の種々の方向についてのX線
投影データを収集し、そして充分なデータを収集
した後、このデータを電子計算器で解析し被検体
断面の個々の位置に対応するX線吸収率を算出し
て、その吸収率に応じた階調度を与えて前記被検
体断面図における画像情報を再構成するようにし
たものであり、軟質組織から硬質組織にいたるま
で明確な断層像が得られる。
いわゆるコンピユータ・トモグラフイ
(Computerized tomography:CT)装置は、例
えば第1図a,bのように偏平な扇状のフアンビ
ームX線Fxを曝射するX線源1と、このX線を
検出する複数のX線検出素子を並設してなるX線
検出器2とを被検体Pを挾んで対峙させ、且つこ
れらX線源1およびX線検出器2を前記被検体P
を中心に互いに同方向に同一角速度で回路移動さ
せて、被検体断面上の種々の方向についてのX線
投影データを収集し、そして充分なデータを収集
した後、このデータを電子計算器で解析し被検体
断面の個々の位置に対応するX線吸収率を算出し
て、その吸収率に応じた階調度を与えて前記被検
体断面図における画像情報を再構成するようにし
たものであり、軟質組織から硬質組織にいたるま
で明確な断層像が得られる。
前記X線検出器2は例えば、それぞれ電離箱を
構成する多数の放射線検出セルからなりXe(キセ
ノン)等の高圧ガスが封入された放射線検出器と
して構成され、被検体Pの断面を透過したX線の
エネルギを電離電流として検出し、これをX線投
影による検出データとして出力する。
構成する多数の放射線検出セルからなりXe(キセ
ノン)等の高圧ガスが封入された放射線検出器と
して構成され、被検体Pの断面を透過したX線の
エネルギを電離電流として検出し、これをX線投
影による検出データとして出力する。
即ち、このX線投影データの収集にあたつては
電離箱を構成する各放射線検出セルとX線源1を
結ぶ経路(これを「X線パス」と称する)上を透
過して入射したX線のエネルギを電離電流として
検出してこれを所定の時間積分し、その積分値を
所定の時定数の放電回路にて放電してその放電時
間値を各X線パスについてのX線投影データとす
るものである。一つの角度位置におけるすべての
X線パスに対するデータ収集が終ると、次の角度
位置における各X線パスのデータ収集に移つてゆ
くが、この間に前回のX線投影による電離電流や
積分値の放電等が完全に消滅、終了していなけれ
ば次のデータ収集に誤差となつてあらわれてく
る。再構成画像の分解能はX線検出器1の感度、
分解能で決定されるため、優れたCT画像情報を
得るには早い回復時間、高感度、高分解能を有す
る放射線検出器を使用しなければならない。
電離箱を構成する各放射線検出セルとX線源1を
結ぶ経路(これを「X線パス」と称する)上を透
過して入射したX線のエネルギを電離電流として
検出してこれを所定の時間積分し、その積分値を
所定の時定数の放電回路にて放電してその放電時
間値を各X線パスについてのX線投影データとす
るものである。一つの角度位置におけるすべての
X線パスに対するデータ収集が終ると、次の角度
位置における各X線パスのデータ収集に移つてゆ
くが、この間に前回のX線投影による電離電流や
積分値の放電等が完全に消滅、終了していなけれ
ば次のデータ収集に誤差となつてあらわれてく
る。再構成画像の分解能はX線検出器1の感度、
分解能で決定されるため、優れたCT画像情報を
得るには早い回復時間、高感度、高分解能を有す
る放射線検出器を使用しなければならない。
第2図に、従来用いられている放射線検出器の
一例を示す。同図において、3は電極群を内蔵す
る容器本体、4はこの容器本体3の開口部を閉塞
する蓋である。これら容器本体3および蓋4は内
部に充填される高圧ガス(例えばXeガス)に対
して充分な強度および気密を保持できるようにし
てある。この放射線検出器はフアンビームX線
Fxの拡がり角θに対応して、その入射側側壁3
aの一部3bを他の部分より薄くして充分にX線
エネルギが内部の電極群に到達するようにしてあ
る。第3図は第2図に示すA−A′線を矢印方向
に移動させた面に沿う断面を示すものであり、電
極群を配置し電離箱を構成するための空洞部3c
があることがわかる。
一例を示す。同図において、3は電極群を内蔵す
る容器本体、4はこの容器本体3の開口部を閉塞
する蓋である。これら容器本体3および蓋4は内
部に充填される高圧ガス(例えばXeガス)に対
して充分な強度および気密を保持できるようにし
てある。この放射線検出器はフアンビームX線
Fxの拡がり角θに対応して、その入射側側壁3
aの一部3bを他の部分より薄くして充分にX線
エネルギが内部の電極群に到達するようにしてあ
る。第3図は第2図に示すA−A′線を矢印方向
に移動させた面に沿う断面を示すものであり、電
極群を配置し電離箱を構成するための空洞部3c
があることがわかる。
第4図は電極板5,6を所定のピツチに配置す
るための溝が設けられた電極支持板7に電極板
5,6を挿入配置した状態を示す図であり、5が
信号検出用の信号電極板、6が高圧用のバイアス
電極板である。8はバイアス電極板6に高圧を印
加するためのリード線であり、9は信号電極板5
から信号電流を外部に取り出すためのリード線で
ある。これらは信号電極板5とこれに隣接する2
枚のバイアス電極板6で一組の放射線検出セルを
構成している。
るための溝が設けられた電極支持板7に電極板
5,6を挿入配置した状態を示す図であり、5が
信号検出用の信号電極板、6が高圧用のバイアス
電極板である。8はバイアス電極板6に高圧を印
加するためのリード線であり、9は信号電極板5
から信号電流を外部に取り出すためのリード線で
ある。これらは信号電極板5とこれに隣接する2
枚のバイアス電極板6で一組の放射線検出セルを
構成している。
第5図は、第4図に示された電極板5,6を容
器本体3内に配置したときの第2図に示すB−
B′線を矢印方向に移動させた面に沿う断面を示
すもので容器本体3の内部に電極板5,6が交互
に配置されているのがわかる。
器本体3内に配置したときの第2図に示すB−
B′線を矢印方向に移動させた面に沿う断面を示
すもので容器本体3の内部に電極板5,6が交互
に配置されているのがわかる。
ところで、優れたCT画像を得るためにはX線
源と放射線検出器とが決められた位置に正確に配
置されていなければならない。即ち、X線源のフ
アンビームの拡がり範囲をカバーするように放射
線検出器が配されており、定められた位置の各X
線パスの放射線を検出できるよう放射線検出セル
はフアンビームX線の焦点に向いている必要があ
る。
源と放射線検出器とが決められた位置に正確に配
置されていなければならない。即ち、X線源のフ
アンビームの拡がり範囲をカバーするように放射
線検出器が配されており、定められた位置の各X
線パスの放射線を検出できるよう放射線検出セル
はフアンビームX線の焦点に向いている必要があ
る。
即ち、通常、CT装置の画像再構成と云う数学
的手法においては、X線源及び放射線検出器の幾
何学的条件はすべて理想的な場合が想定されてい
る。例えばフアンビームX線の中心は放射線検出
器の中央のチヤネルにアライメントされていると
想定している。
的手法においては、X線源及び放射線検出器の幾
何学的条件はすべて理想的な場合が想定されてい
る。例えばフアンビームX線の中心は放射線検出
器の中央のチヤネルにアライメントされていると
想定している。
ところが現実的にはビームの中心を放射線検出
器の中央のチヤネルにアライメントすることは不
可能であり、チヤネル幅の小数点以下の精度でず
れているのが普通である。
器の中央のチヤネルにアライメントすることは不
可能であり、チヤネル幅の小数点以下の精度でず
れているのが普通である。
このアライメントずれがあると収集したX線投
影データの持つ位置的な対応に誤差が生ずること
になり、画像再構成時にこの誤差のため像が歪む
と云う問題が生ずる。
影データの持つ位置的な対応に誤差が生ずること
になり、画像再構成時にこの誤差のため像が歪む
と云う問題が生ずる。
本発明は上記事情に鑑みて成されたもので、中
心に細いワイヤを持つピンフアントムを用い、X
線源と放射線検出器の回転中心にX線ビームによ
る被検体スライス面に垂直な方向に前記ワイヤが
位置するようピンフアントムを配設すると共に、
このピンフアントムの投影データを放射線検出器
で検出し、その検出データをもとにピンフアント
ムの中心位置と放射線検出器の中心のチヤネルと
のずれ量を求め、これを放射線検出器のアライメ
ントずれ量として認識し、画像再構成時にアライ
メントずれ量に対応する補正を加えることにより
前記欠点を除去し、完全にアライメントずれ量が
零になるまで位置調整せずとも歪のない再構成画
像を得ることのできるようにしたコンピユータ・
トモグラフイ装置における画像再構成方法を提供
することを目的とする。
心に細いワイヤを持つピンフアントムを用い、X
線源と放射線検出器の回転中心にX線ビームによ
る被検体スライス面に垂直な方向に前記ワイヤが
位置するようピンフアントムを配設すると共に、
このピンフアントムの投影データを放射線検出器
で検出し、その検出データをもとにピンフアント
ムの中心位置と放射線検出器の中心のチヤネルと
のずれ量を求め、これを放射線検出器のアライメ
ントずれ量として認識し、画像再構成時にアライ
メントずれ量に対応する補正を加えることにより
前記欠点を除去し、完全にアライメントずれ量が
零になるまで位置調整せずとも歪のない再構成画
像を得ることのできるようにしたコンピユータ・
トモグラフイ装置における画像再構成方法を提供
することを目的とする。
以下、本発明の一実施例について第6図を参照
しながら説明する。
しながら説明する。
第6図は本発明装置におけるアライメントずれ
量測定の方法を示す図であり、図中1はX線源、
2は多チヤネルの放射線検出器である。Oはこれ
らX線源1及び放射線検出器2の回転中心であ
り、この回転中心に位置させて有限径を持つ直線
状のワイヤ等で作られたピンフアントムPfをフ
アンビームX線によるスライス面(投影面)に垂
直に配設させる。X線源1の曝射点(X線管であ
れば焦点)と放射線検出器2の放射線検出セル
Ds群の中心とは前記回転中心Oを介して一直線
A上に対峙されるようCT装置の製作時に調整さ
れるが完全に一致させることは難しいため、ある
程度まで調整を行なうに留めてある。従つて、ア
ライメントずれが残る。
量測定の方法を示す図であり、図中1はX線源、
2は多チヤネルの放射線検出器である。Oはこれ
らX線源1及び放射線検出器2の回転中心であ
り、この回転中心に位置させて有限径を持つ直線
状のワイヤ等で作られたピンフアントムPfをフ
アンビームX線によるスライス面(投影面)に垂
直に配設させる。X線源1の曝射点(X線管であ
れば焦点)と放射線検出器2の放射線検出セル
Ds群の中心とは前記回転中心Oを介して一直線
A上に対峙されるようCT装置の製作時に調整さ
れるが完全に一致させることは難しいため、ある
程度まで調整を行なうに留めてある。従つて、ア
ライメントずれが残る。
この状態でX線源1よりX線曝射を行なうと放
射線検出器2からはピンフアントムPfのX線投
影データが得られる。即ち、このX線投影データ
はX線源1からのX線ビームがフアンビームX線
であるために拡がるから、その拡がりに対応して
ピンフアントムPfを通るX線パス上に位置する
複数の放射線検出セルにより得られる。従つて、
放射線検出器2を構成する全チヤネルの放射線検
出セルのうち、ピンフアントムPfを通るX線パ
ス上のチヤネルの放射線検出セルが検出するX線
投影データは第6図に示す如くX線減衰を受けて
Mなる低い値を示し、それ以外のX線パス上の放
射線検出セルはX線減衰を受けないのでNなる高
い値を示す。
射線検出器2からはピンフアントムPfのX線投
影データが得られる。即ち、このX線投影データ
はX線源1からのX線ビームがフアンビームX線
であるために拡がるから、その拡がりに対応して
ピンフアントムPfを通るX線パス上に位置する
複数の放射線検出セルにより得られる。従つて、
放射線検出器2を構成する全チヤネルの放射線検
出セルのうち、ピンフアントムPfを通るX線パ
ス上のチヤネルの放射線検出セルが検出するX線
投影データは第6図に示す如くX線減衰を受けて
Mなる低い値を示し、それ以外のX線パス上の放
射線検出セルはX線減衰を受けないのでNなる高
い値を示す。
そこで、NとMの中間値である半値(N−M/2)
を示すチヤネルをこれら収集データをもとにCT
装置の計算機で演算により求める。計算の精度は
チヤネル幅(放射線検出セルの幅)の精度の1/5
〜1/10が得られる。
装置の計算機で演算により求める。計算の精度は
チヤネル幅(放射線検出セルの幅)の精度の1/5
〜1/10が得られる。
半値を示すチヤネルは二つはあるはずであるか
ら、その二つのチヤネルの中央のチヤネルが真の
アライメント点(チヤネル)と云うことになる。
一般にこの種の放射線検出器はチヤネル数が少な
くとも数百チヤネルあり、そのチヤネル幅も数ミ
リ以下で一定であるから上記精度で中心のチヤネ
ルを求めれば本来の中心となるべきチヤネルのア
ライメントずれ量が数値的に求まる。
ら、その二つのチヤネルの中央のチヤネルが真の
アライメント点(チヤネル)と云うことになる。
一般にこの種の放射線検出器はチヤネル数が少な
くとも数百チヤネルあり、そのチヤネル幅も数ミ
リ以下で一定であるから上記精度で中心のチヤネ
ルを求めれば本来の中心となるべきチヤネルのア
ライメントずれ量が数値的に求まる。
このようにして得たアライメントずれ量を計算
機のメモリにストアしておき、撮影時において収
集したX線投影データの前処理→コンボリユーシ
ヨン演算→バツクプロジエクシヨンと進む画像再
構成処理時に前記ストアされたアライメントずれ
量を読み出してその分の補正を行なわせる。即
ち、画像再構成処理プロセス中のバツクプロジエ
クシヨン処理の中でX線ビームの幾何学条件を勘
案して処理する過程があるのでこのとき前記アラ
イメントずれ量を入力して補正を行ないアライメ
ントのずれに基く再構成画像の歪を取り除く。
機のメモリにストアしておき、撮影時において収
集したX線投影データの前処理→コンボリユーシ
ヨン演算→バツクプロジエクシヨンと進む画像再
構成処理時に前記ストアされたアライメントずれ
量を読み出してその分の補正を行なわせる。即
ち、画像再構成処理プロセス中のバツクプロジエ
クシヨン処理の中でX線ビームの幾何学条件を勘
案して処理する過程があるのでこのとき前記アラ
イメントずれ量を入力して補正を行ないアライメ
ントのずれに基く再構成画像の歪を取り除く。
このようにフアンビームX線を曝射するX線源
とそのX線を検出する多チヤネルの放射線検出器
の回転中心にフアンビームX線による被検体のス
ライス面に直角の方向に有限径のワイヤによる被
検物を配置し、この被検物のX線投影データを前
記放射線検出器にて検出収集すると共にこれらX
線投影データより被検物のデータの分布状態をそ
のデータの検出を行なつたチヤネルとの対応のも
とに求めてこれより前記X線源と回転中心とを通
る線上に位置する放射線検出器のチヤネルを求め
ると共にこのチヤネルと画像再構成処理のための
演算過程において予め設定された前記X線源と回
転中心とを通るチヤネルに対するずれ量を求めて
これを補正データとして保存し、画像再構成処理
時にこの補正データを用いて画像再構成処理にお
いて定められたフアンビームX線と放射線検出器
の各チヤネルの正規の位置との関係に対する実際
の各チヤネルの位置ずれをデータ上で補正するこ
とにより画像の歪を除去するようにしたので、ア
ライメントずれがあつても画像への影響を防ぐこ
とができ、しかも補正データは一度求めれば以後
これをそのまま使用できるなど簡単でしかも良質
の画像を得ることのできるコンピユータ・トモグ
ラフイ装置の画像再構成方法を提供することがで
きる。
とそのX線を検出する多チヤネルの放射線検出器
の回転中心にフアンビームX線による被検体のス
ライス面に直角の方向に有限径のワイヤによる被
検物を配置し、この被検物のX線投影データを前
記放射線検出器にて検出収集すると共にこれらX
線投影データより被検物のデータの分布状態をそ
のデータの検出を行なつたチヤネルとの対応のも
とに求めてこれより前記X線源と回転中心とを通
る線上に位置する放射線検出器のチヤネルを求め
ると共にこのチヤネルと画像再構成処理のための
演算過程において予め設定された前記X線源と回
転中心とを通るチヤネルに対するずれ量を求めて
これを補正データとして保存し、画像再構成処理
時にこの補正データを用いて画像再構成処理にお
いて定められたフアンビームX線と放射線検出器
の各チヤネルの正規の位置との関係に対する実際
の各チヤネルの位置ずれをデータ上で補正するこ
とにより画像の歪を除去するようにしたので、ア
ライメントずれがあつても画像への影響を防ぐこ
とができ、しかも補正データは一度求めれば以後
これをそのまま使用できるなど簡単でしかも良質
の画像を得ることのできるコンピユータ・トモグ
ラフイ装置の画像再構成方法を提供することがで
きる。
尚、本発明は上記し且つ図面に示す実施例に限
定することなくその要旨を変更しない範囲内で適
宜変形して実施し得るものであり、例えば上記説
明ではピンフアントムを用いてアライメントずれ
量を求めるようにしたが、基準となり得る他の被
検体を用いても実施可能である。
定することなくその要旨を変更しない範囲内で適
宜変形して実施し得るものであり、例えば上記説
明ではピンフアントムを用いてアライメントずれ
量を求めるようにしたが、基準となり得る他の被
検体を用いても実施可能である。
第1図a,bはCT装置の一例を説明するため
の原理図、第2図乃至第5図は放射線検出器の構
造の一例を説明するための図、第6図は本発明に
おけるアライメントずれ量のデータ収集手法を説
明するための図である。 1……X線源、2……放射線検出器、Ds……
1チヤネル当りの放射線検出素子、Pf……ピン
フアントム。
の原理図、第2図乃至第5図は放射線検出器の構
造の一例を説明するための図、第6図は本発明に
おけるアライメントずれ量のデータ収集手法を説
明するための図である。 1……X線源、2……放射線検出器、Ds……
1チヤネル当りの放射線検出素子、Pf……ピン
フアントム。
Claims (1)
- 1 フアンビーム状の放射線を曝射する放射線源
とその放射線を検出する多チヤネル型の検出器と
を被写体断層面を介して対峙して配設すると共に
これらを前記被写体断層面を中心に同一角速度で
同方向に回転移動させ、放射線による種種の方向
からの投影データを収集し、これより前記断層面
の各位置の放射線吸収値を求めて前記断層面の画
像再構成を行なうようにした装置において、前記
回転中心に前記フアンビーム状の放射線による被
写体の放射線投影面に直角な方向に有限径の直線
状被検物を配設し、この被検物の投影データを収
集すると共にこれら投影データより前記被検物の
データを分布状態をそのデータの検出したチヤネ
ルとの対応のもとに求めて、これより前記フアン
ビーム状の放射線の中心線に位置する放射線検出
器のチヤネルを求め、これより画像再構成処理の
ための演算過程において予め設定された前記回転
中心を介して前記放射線源に対峙すべきチヤネル
の有する正規の位置に対するずれ量を求めてこれ
を補正データとして保存し、画像再構成処理時に
この補正データを用いて前記位置ずれ量分補正し
各チヤネルが正規の位置にある場合に得られるべ
き画像となるように処理することを特徴とするコ
ンピユータ・トモグラフイ装置の画像再構成方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56138836A JPS5841532A (ja) | 1981-09-03 | 1981-09-03 | コンピユ−タ・トモグラフイ装置の画像再構成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56138836A JPS5841532A (ja) | 1981-09-03 | 1981-09-03 | コンピユ−タ・トモグラフイ装置の画像再構成方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5841532A JPS5841532A (ja) | 1983-03-10 |
| JPH0116493B2 true JPH0116493B2 (ja) | 1989-03-24 |
Family
ID=15231343
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56138836A Granted JPS5841532A (ja) | 1981-09-03 | 1981-09-03 | コンピユ−タ・トモグラフイ装置の画像再構成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5841532A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102335002B (zh) * | 2010-07-16 | 2015-01-14 | Ge医疗系统环球技术有限公司 | Ct机x光发生器及探测器位置校准工具,校准工具的校准方法和ct系统校准方法 |
-
1981
- 1981-09-03 JP JP56138836A patent/JPS5841532A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5841532A (ja) | 1983-03-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4064440A (en) | X-ray or gamma-ray examination device for moving objects | |
| US4384209A (en) | Method of and device for determining the contour of a body by means of radiation scattered by the body | |
| US8699659B2 (en) | Systems and methods for focal spot motion correction | |
| US6422750B1 (en) | Digital x-ray imager alignment method | |
| US5131021A (en) | Computed tomography system with control and correction of fan beam position | |
| JPH09215688A (ja) | マルチ・スライス型計算機式断層写真法システムにおいてx線ビームの位置を決定するシステム | |
| US7232990B2 (en) | Peak detection calibration for gamma camera using non-uniform pinhole aperture grid mask | |
| JPH08500006U (ja) | 歯科用フィルムレスx線撮影装置の受入れ検査及び安定性検査のための方法及び装置 | |
| GB1602521A (en) | Arrangement for producing an image of a body section using gamma or x-radiation | |
| Gottschalk et al. | SPECT resolution and uniformity improvements by noncircular orbit | |
| US6014420A (en) | X-ray CT apparatus | |
| JPH0720245A (ja) | ポジトロンct装置 | |
| EP0793901A1 (en) | Normalization of tomographic image data | |
| US20120314062A1 (en) | System and Method for Photographic Determination of Multichannel Collimator Channel Pointing Directions | |
| JP2001276055A (ja) | Ct像の中の線アーティファクトを減ずるための方法ならびにこの方法を実行するための装置 | |
| JPH0116493B2 (ja) | ||
| US6986604B2 (en) | Method for determining and locating measurement system errors in computed tomography caused by interfering objects | |
| JPH0130116B2 (ja) | ||
| CN100501388C (zh) | X射线ct装置用的变焦补偿方法和装置 | |
| EP0025248A1 (en) | Device for determining local absorption differences in an object | |
| Väyrynen et al. | Methods for measuring the modulation transfer function of gamma camera systems | |
| JP3610655B2 (ja) | ポジトロンect装置 | |
| JPH0225612B2 (ja) | ||
| JPH0759762A (ja) | X線ct装置 | |
| JPS61100235A (ja) | X線ctのスライスプロフイ−ル測定方法 |