JPH01183809A - 光cvd装置 - Google Patents

光cvd装置

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JPH01183809A
JPH01183809A JP929488A JP929488A JPH01183809A JP H01183809 A JPH01183809 A JP H01183809A JP 929488 A JP929488 A JP 929488A JP 929488 A JP929488 A JP 929488A JP H01183809 A JPH01183809 A JP H01183809A
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gas
light
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substrate
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JP929488A
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Hiroshi Yuasa
博司 湯浅
Saburo Adaka
阿高 三郎
Hiroyuki Shichida
七田 弘之
Kotaro Sakoda
佐古田 光太郎
Kenji Shibata
芝田 健二
Atsushi Iwasaki
淳 岩崎
Ryosuke Yamaguchi
良祐 山口
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Mitsubishi Power Ltd
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Babcock Hitachi KK
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光CV D (Chemical  Vap
□r −Depos i t 1on)法により基板面
上に薄膜を形成する装置に関する。
〔従来の技術〕
CVD法は、気相で化学反応を起こさせ、そのガス温度
で気相とならない分子または原子を生成させ、基板上に
堆積させて膜を形成する方法である。
従来のCVD法は、温度を1000°C前後まで加熱し
、Si原子を含む反応ガスなどを供給し、熱解離により
、またプラズマ放電中にSi原子などを含む反応ガスを
供給し、プラズマ粒子のエネルギーを用いてSi原子を
含む反応ガスを解離させて基板上にSt、SiO□、5
iiN4などの薄膜を形成している。半導体製造分野な
どにおいてこれらの方法は、熱によるダメージやプラズ
マ中のイオンによるダメージを基板に与えやすいもので
ある。
これに代わる方法として光CVD法がある。この方法は
光が照射されたところに反応ガスを供給し、光化学反応
により基板上にSi、Stow、S is N 4など
の薄膜を形成するものである。この方法は1000°C
前後の高温に加熱する必要がなく、またプラズマを用い
ないので、熱によるダメージやプラズマのイオンによる
ダメージがない利点がある。
第8図にこの光CVD法による薄膜形成装置の基本構成
を示す。51は高真空状態まで減圧が可能な反応室、5
2は光化学反応に必要な波長を発光する光源、53は光
源からの光を透過することができる光透過窓、54は反
応ガス、55は反応ガス導入口、56はSi原子を含む
反応ガス、57は反応ガス導入口、58は反応ガス排気
口、59は薄膜が形成される基板、60は基板の加熱ヒ
ータ、61は基板載置台である。
従来、このような装置でSi原子を含む反応ガス56と
反応ガス54をそれぞれ反応ガス導入口55.57より
反応室51に供給すると、Si原子を含む反応ガス56
と反応ガス54は光源52により照射された光により光
化学反応を起こし、反応生成物を基板59上に堆積させ
、薄膜を形成させる0反応後のガス61は排出口58よ
り排出される。
しかしながら、この種の装置では光化学反応により生成
した反応生成物が光透過窓に付着し、光源52からの光
が弱くなり、また反応ガスに光が照射されない問題があ
る。
このような問題を解消する光CVD装置として、特開昭
61−196542号公報に記載のものがある。
この光CVD装置は、第9図〜第11図に示すように不
活性ガス流115を光化学気相成長装置101内に配置
された光源室102に導入し、光源室102から多数の
開口部105を有する光透過窓104を介して反応室1
03に吹き出させている。そして、光源室102内の低
圧水銀灯106からの光により励起分解されたガスと反
応ガス導入部110の導入口113から供給されるガス
流111との反応により基板台座109に載置された基
板108に薄膜を堆積させるようになっている。なお、
図中、107は光反射板である。したがって、この光C
VD装置では、光透過窓104への反応生成物の付着が
抑制される。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、この光CVD装置では、成膜速度の低下
及び膜厚分布の劣化という問題点が発生する。
即ち、光源室102より基板108方向へ不活性ガス1
15、即ち反応に寄与しないガスを吹き付けるため、基
板108の光照射面における反応ガス111の濃度が供
給時よりも低下してしまい、結果的に成膜速度が低下す
る。光透過窓の曇りを防止するために必要とされる不活
性ガス量は通常反応ガスの数倍〜十数倍にもなるため、
特にこの影響が大きい。また、これを改善するために反
応ガス111の流量を増加させると、反応室103内の
全圧が上昇するため、ガス分子の平均自由行程が短くな
り、結果的に基板108に対する膜厚分布が悪くなる。
したがって、反応室103内の分圧の中で不活性ガス1
15が最も高いため、充分な成膜速度を得るのは困難で
あり、その上不活性ガス115を基板108に吹き付け
るため、さらに成膜速度が低下する。
本発明の目的は、上記した従来技術の問題を解消し、光
化学反応により生成した反応生成物による光透過窓の曇
りを防止すると共に充分な成膜速度を得ることができ、
かつ膜厚分布を均一にすることができる光CVD装置を
提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記した目的は、反応容器内をガス流通孔を有する区画
壁により光源から光が照射される光a領域と反応領域と
に区画し、光源領域に不活性ガスを供給することなく、
光により励起分解されるが固形物を生じないガスであっ
て、かつ薄膜を形成するガスを導入し、光により励起分
解し、かつ上記ガスと反応して基板上に薄膜を形成する
ためのガスを反応領域に導入するようにしたものである
〔作用〕 光化学反応を行わせる圧力(通常100 mtorr〜
数torr)において、光透過窓曇り防止用の不活性ガ
スの分圧をOとすることができ、反応ガス(即ち、光に
より励起分解されて固形物を生じ、かつ光源領域からの
ガスと反応して薄膜を形成するガス)の分圧を大きくす
ることが可能となり、成膜速度が向上する。
または、光化学による反応生成物は光源室側の領域と区
画された領域で生成するので反応生成物は光源室側の領
域に流入しないため、光透過窓の曇りを防止できる。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は本発明の第1実施例を示す概略的断面構成図、
第2図は第1図における光透過窓の平面図である。
この光CVD装置は、反応容器l内が光透過窓2により
光源領域としての光源室3と反応領域としての反応室4
とに区画されている。光透過窓2は、第2図に示すよう
に合成石英ガラスで作製されると共に等間隔で多数のガ
ス流通孔2aが形成されている。
光源室3内には複数本の紫外線ランプ5が設置され、こ
れらの紫外線ランプ5は合成石英ガラスからなるととも
に断面楕円形状に形成された紫外線透過可能な冷却防止
管6により囲まれている。
紫外線ランプ5の上方には光反射板7が設置さ籾また、
光源室3の側壁にはガスA8を導入するための反応ガス
管A9が配設されている。
反応室4には基板10を載置するための基板載置台11
が設置され、この基板載置台11の下面から基板@置台
11を介して基板10を加熱するためのヒータ12が設
置されている。反応室4の側壁の光透過窓2に近接した
側にガスB13を導入するための反応ガス管B14が配
設され、この反応ガス管B14よりも下方側にガスC1
5を導入するための反応ガス管C16が配設されている
また、反応室4の前記反応ガス管B14及び反応ガス管
C16と対応する側の壁面側には排気口17が配置され
ている。
次の上記のように構成される光CVD装置の作用につい
て説明する。
まず、基板IOは基板載置台11にセットされれ、図示
していない排気装置により反応容器1内が真空引きされ
る。次にヒータ12に通電し、基板載置台11を介して
基板10が所定の温度まで加熱されると、紫外線ランプ
5が点灯される。
紫外線ランプ5からの紫外線は冷却防止管6を透過して
光源室3の領域を通過し1次いで光透過窓2を透過して
反応室4の領域に至る。このとき、反応ガス管A9から
ガスA8が光源室3に導入され、反応ガス管B14から
ガスB13、反応ガス管C16からガスC15がそれぞ
れ反応室4に導入される。
ここで、ガスA8及びガスB13は、光により励起分解
されても固形物を生じず、薄膜の原料となるガスである
。またガスC15は光により励起分解され、かつガスA
8又はガスB13と反応して薄膜を生成するガスである
このガスC15は、通常、光に励起分解されて固形物を
生じるガスであるが、反応室4に導入されるガスは、必
ずしも励起分解により固形物を生じる必要はなく、要は
光源室3からのガスと光化学気相反応により所望の膜を
生成するためのガスであればよい。
したがって、各ガスの種類は要求される薄膜の材質によ
り任意に選定すべのものであるが、その−例を第1表に
示す。
第      1      表 第1表に示すようにガスA8とガスB13は光により励
起分解されても固形物を生じないが、ガスC15と反応
することにより所望の膜が基板10上に堆積される。
通常、この反応圧力は数100 m torr〜数to
rrで行われるが、真空ポンプの容量は一定であるので
、この圧力範囲において流し得る全ガス量は限定される
。第1図に示す第1実施例において、光透過窓2の曇り
防止用に不活性ガスを使用していないので同じ圧力でも
反応ガスをより多く流すことができる。したがって反応
ガスの分圧が高くなり、成膜速度を大きくすることがで
きる。
また、光透過窓2には第2図に示すように多数のガス流
通孔2aが形成されているため、光源室3から反応室4
ヘガス八8が吹き出すため、光透過窓2ヘガスC15が
到達することが少なく、光透過窓2に反応生成物が付着
しにくい。さらに光透過窓2の下面側に光透過窓2に対
して平行にガスB13を流しているので反応生成物が光
透過窓2に形成されたガス流通孔2aから光源室3側に
流入することをより確実に防止できる。
次に通常、光CVDに用いられる低圧水銀ランプの発光
波長である254nmと185nmの照射強度は、放電
管の中の水銀蒸気圧で決定される。
さらに放電管中の水銀蒸気圧は市販の低圧水銀ランプの
場合、放電管の根元部分の温度を一定(30°C〜40
°C)に維持し、常時適正値を保ように工夫されている
。ところが、放電管の近傍に不活性ガスが流入すると、
ガスにより放電管表面が冷却され、放電管中の水銀濃度
が変化し、第12図に示すように発光波長の照射強度が
低下する。
また、不活性ガスを導入すると、照射強度が低下し、反
応ガスを励起分解するのに必要なエネルギーが得られず
、成膜速度が低下する。この関係を第13図に示す。
第1実施例において、紫外線ランプ5を覆うように冷却
防止管6が設置されているので、常時、紫外線ランプ5
の表面を所定の温度が維持でき、反応ガスを励起分解す
る必要な最大のエネルギーを反応ガスに付与することが
でき、成膜速度が向上する。
なお、冷却防止管6の代わりに光源室3に導入されるガ
スA8が紫外線ランプ5と直接衝突する領域や放電管の
根元部分にのみ冷却防止板を配置してもよい。
以上の実施例により成膜した結果を第3図に示す。第3
図から明らかなように反応容器内にガスA8を導入して
も照射強度が低下せず、かつガスC15の分圧も高く、
したがって成膜速度が5〜7倍に向上する。
また、本発明は、第1実施例において、光源領域側の反
応容器壁に容器壁の一部として光透過窓を設置し、紫外
線ランプを容器外に配置した場合も含まれる。
第4図は本発明の光CVDq置における光透過窓の他の
実施例を示す断面図である。
この光透過窓21においては、ガス流通孔22が光透過
窓21の断面方向に対して光源室3側から反応室4に向
かって次第にガス流路断面積が拡大したテーパ状となっ
ている。
光透過窓21の曇りを防止効果を向上させる方法として
、ガスA8の吹き出し速度を大きくすることと、反応室
4側の開口部のガスA8で覆われる面を大きくすること
である。第4図に示す光透過窓21の場合、光源室3側
側と反応室4例の差圧が大きく、ガスA8の吹き出し速
度が大きくなり、かつ反応室4側ではテーパに沿ってガ
スA8が広がりながら吹き出すため、第1図に示すよう
な円柱状のガス流通孔2aを有する光透過窓2と比較し
て反応室4側面のガスA8で覆われる面積が大きくなる
第5図は本発明の光CVD装置の第2実施例を示す概略
的断面構成図である。
第5図において、反応容器31はその中央部に小口径の
ガス流通孔32が形成された区画壁33により区画され
て光源領域としての励起室(光源室)34と反応領域と
しての形成室(反応室)35に区画されている。励起室
34側の天井面側に光透過窓36が配置され、その光透
過窓36の上方に紫外線ランプ37が配置されている。
励起室34の側壁にはガスA38を室内に導入するため
の反応ガス管A39が配設されている。
形成室35内に基板40を載置するための基板載置台4
1が設置され、この基板載置台41を介して基板40を
加熱するためのヒータ42が設置されている。また、形
成室35の側壁にはガスC43を室内に導入するための
反応ガス管C44が配設されている。この反応ガス管C
44に対応する形成室35の側壁に排気口45が設けら
れている。
次に第2実施例の光CVD装置の作用について説明する
反応ガス管A39から第1表に例示したようなガスA3
Bが励起室34に導入される。このガスA3Bは光透過
窓36を透過してくる紫外線ランプ37からの光により
励起される。励起されたガスA3Bは区画壁33に形成
された小口径のガス流通孔32を通って圧力の低い形成
室35に波板反応ガス管C44から第1表に例示したよ
うなガスC43と化学反応により生成された生成物が基
板40上に堆積し薄膜を形成する。
この場合、形成室35側の排気口45を介して排気ガス
を排出させ、かつ励起室34と形成室35は小口径のガ
ス流通孔32より連通しているので励起室34の圧力は
形成室35の圧力よりも高(なっており、かつガス流通
孔32からガスA38の励起分解されたガスが噴出する
。このため、形成室35で生成された反応生成物が励起
室34に流入することがほとんどなく、したがって反応
生成物の付着による光透過窓36の曇りが防止され、紫
外線ランプ37からの光の強度は常時一定に保つことが
でき、光透過窓36の洗浄作業等を要しない。
このような装置で、例えば、SiH4と0□を用いてS
towを基板40に形成する場合、反応ガス管A39か
ら02を供給し180〜300nmの波長を有する紫外
線ランプ37から光透過窓36を介して照射して02を
励起する。0□は180〜300 nmの波長の光によ
り03を形成し、さらに0ラジカルを生成する。生成し
た0ラジカルは励起室34からガス流通孔32を通って
形成室35に流れる。二〇〇ラジカルは反応ガス管44
から形成室35に導入されるSiH4と反応してSin
、を生成し、基板40上に堆積する。
また、第2実施例における装置で、例えば、S i H
aとNH,を用いて5isNaを形成する場合、反応ガ
ス管A39からN Hxを導入し、210nm以下の波
長を発する紫外線ランプ37により光透過窓36を介し
て照射してNH,を励起させる。NH,は210nm以
下の波長の光によりNH,、NH,Nを生成する。励起
したNH,、NH,Nは励起室34からガス流通孔32
を通って形成室35に流れ、反応ガス管C44から供給
される5iHaと反応してSt3Ngを生成し、基板4
0上に堆積する。
第6図は本発明の光CVD装置の第3実施例を示す概略
的断面構成図である。
この先CVD装置は、図に示すようにガス流通孔32を
有する区画壁33により区画された励起室34と形成室
35が横置きに配置されている点が第2実施例の装置と
異なっている。したがって、第6図において第5図と同
−又は相当部材は同一符号で示している。第3実施例に
おいても第5図に示す第2実施例と同様の効果を有する
第7図は本発明の光CVD装置の第4実施例を示す概略
的断面構成図である。
この光CVD装置において、第1図に示す第2実施例と
異なる点は、紫外線ランプ37が励起室34内に配置さ
れ、光透過窓36が省略されていることである。したが
って、第7図においても第5図に示す第1実施例と同−
又は相当部材は同一符号にて示している。
第4実施例の光CVD装置は、第5図に示す第2実施例
の装置による効果の他に紫外線ランプ37を励起室34
に内蔵し、光透過窓37を有しないので紫外線ランプ3
7からの光の強度を高くすることができ、このため励起
室34で励起される反応ガスA3Bが多くなり、形成室
35で生成される薄膜の成膜速度がより速くなる。
〔発明の効果〕
以上のように本発明によれば、紫外線ランプ等が設置さ
れる光源側の領域に励起分解されても固形物を生じない
ガスを導入し、励起分解により生成されたラジカル等の
励起種をガス流通孔を有する区画壁により区画された反
応領域に導入してここで反応させるものであるから、光
源側に設置される紫外線ランプや光透過窓等の曇りを防
止でき、常時一定の照射強度を得ることができ、成膜速
度が向上すると共に紫外線ランプや光透過窓等の洗浄作
業を要しない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の光CVD装置の第1実施例を示す概略
的断面構成図、第2図は第1図の光CVD装置における
光透過窓の平面図、第3図は光の照度と成膜速度との関
係を示すグラフ、第4図は本発明の光CVD装置におけ
る光透過窓の他の実施例を示す断面図、第5図は本発明
の光CVD装置の第2実施例を示す概略的断面構成図、
第6図は本発明の光CVD装置の第3実施例を示す概略
的断面構成図、第7図は本発明の光CVD装置の第4実
施例を示す概略的断面構成図、第8図は従来の光CVD
装置の例を示す概略的断面構成図、第9図は従来の光C
VD装置の他の例を示す概略的断面構成図、第1O図は
第9図の装置における光透過窓の平面図、第11図は第
9図の装置における反応ガス導入部の平面図、第12図
はランプ表面温度とランプ照射強度との関係を示すグラ
フ、第13図は従来の光CVD装置における光の照射と
成膜速度との関係を示すグラフある。 1.31・・・・・・反応容器、2.33・・・・・・
区画壁、2a、32・・・・・・ガス流通孔、3,34
・・・・・・光源室(励起室)、4.35・・・・・・
反応室(形成室)、5゜37・・・・・・紫外線ランプ
、6・・・・・・冷却防止管、7・・・・・・光反射板
、8.38・・・・・・ガスA、9.39・・・・・・
反応ガス管A、10.40・・・・・・基板、11.4
1・・・・・・基板載置台、12.42・・・・・・ヒ
ータ、13・・・・・・ガスB、14・・・・・・反応
ガス管B、15.43・・・・・・ガスC,16,44
・・・・・・反応ガス管C,17゜45・・・・・・排
気口。 代理人 弁理士 西 元 勝 − 第1図 第2図 2:光透過E3ニアIi源!4:β応官5゛象゛ダトイ
泉う〉プ 6°7ぐf−1’防を菅 9・7Q昆カ°ス
好A10: X m       +4二f:1Ejf
 ス¥−B   E’!l;:=n7 菅C第3図 時間 第4図 第5図 第6図 第9図 第10図 第11図 第12図 う〉ブ、没MJ温度 第13図 縛間

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)内部で光のエネルギーを利用した気相化学反応を
    行わせる反応容器内をガス流通孔を有する区画壁によっ
    て光源領域と反応領域とに区画し、前記光源領域に光に
    より励起分解されても固形物を生じず、かつ薄膜の原料
    となるガスを導入するためのガス導入口を設け、前記反
    応領域に光により励起分解され、かつ上記ガスと反応し
    て反応領域内に配置された基板面に薄膜を堆積させるた
    めのガス導入口と排気口とを設けたことを特徴とする光
    CVD装置。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002043240A (ja) * 2000-07-27 2002-02-08 Japan Storage Battery Co Ltd 紫外線処理装置
JP2002305153A (ja) * 2001-04-06 2002-10-18 Tokyo Electron Ltd 処理装置および処理方法
KR20120011878A (ko) * 2009-04-20 2012-02-08 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 가스 공급부를 갖는 석영 윈도우 및 이를 통합하는 프로세싱 장비
CN102969227A (zh) * 2012-11-15 2013-03-13 上海交通大学 集紫外光化学与化学气相干法表面处理的真空设备
GB2500281A (en) * 2012-03-15 2013-09-18 Johnson & Allen Ltd Magnetic particle inspection device
WO2014071769A1 (zh) * 2012-11-07 2014-05-15 上海交通大学 紫外光/臭氧表面清洗和氧化改性真空设备系统
JP2014516475A (ja) * 2011-04-22 2014-07-10 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 基板上に材料を堆積するための装置
CN107546100A (zh) * 2016-06-24 2018-01-05 上海交通大学 氙灯准分子紫外光氧化真空设备及其使用方法

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002043240A (ja) * 2000-07-27 2002-02-08 Japan Storage Battery Co Ltd 紫外線処理装置
JP2002305153A (ja) * 2001-04-06 2002-10-18 Tokyo Electron Ltd 処理装置および処理方法
KR20120011878A (ko) * 2009-04-20 2012-02-08 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 가스 공급부를 갖는 석영 윈도우 및 이를 통합하는 프로세싱 장비
JP2012524416A (ja) * 2009-04-20 2012-10-11 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド ガス供給機構を有する石英窓および該石英窓を含む処理装置
JP2014516475A (ja) * 2011-04-22 2014-07-10 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 基板上に材料を堆積するための装置
GB2500281A (en) * 2012-03-15 2013-09-18 Johnson & Allen Ltd Magnetic particle inspection device
WO2014071769A1 (zh) * 2012-11-07 2014-05-15 上海交通大学 紫外光/臭氧表面清洗和氧化改性真空设备系统
CN102969227A (zh) * 2012-11-15 2013-03-13 上海交通大学 集紫外光化学与化学气相干法表面处理的真空设备
CN107546100A (zh) * 2016-06-24 2018-01-05 上海交通大学 氙灯准分子紫外光氧化真空设备及其使用方法

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