JPH01187426A - 半導体圧力センサの製造方法 - Google Patents
半導体圧力センサの製造方法Info
- Publication number
- JPH01187426A JPH01187426A JP1198388A JP1198388A JPH01187426A JP H01187426 A JPH01187426 A JP H01187426A JP 1198388 A JP1198388 A JP 1198388A JP 1198388 A JP1198388 A JP 1198388A JP H01187426 A JPH01187426 A JP H01187426A
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- JP
- Japan
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- glass substrate
- pressure sensor
- semiconductor pressure
- silicon film
- conductive silicon
- Prior art date
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、シリコンなどの半導体単結晶の持つピエゾ抵
抗効果を利用して圧力を電気信号に変換する半導体圧力
センサの製造方法に係り、特にセンサチップ、ガラス基
板、金属の支持台とを接合する接合方法を改良した半導
体圧力センサの製造方法に関する。
抗効果を利用して圧力を電気信号に変換する半導体圧力
センサの製造方法に係り、特にセンサチップ、ガラス基
板、金属の支持台とを接合する接合方法を改良した半導
体圧力センサの製造方法に関する。
〈従来の技術〉
第4図は従来の半導体圧力センサの構造を示すav!f
r面図である。
r面図である。
10はn形のシリコン単結晶で作られたセンサチップで
あり、凹部11を有しさらに凹部11の形成により単結
晶の厚さの薄くなった起歪部12とその周辺の固定部1
3とを有している。
あり、凹部11を有しさらに凹部11の形成により単結
晶の厚さの薄くなった起歪部12とその周辺の固定部1
3とを有している。
起歪部12は単結晶の(100)面とされ、その上には
その中心を通る結晶軸<100>方向で固定部13との
境界付近に例えば剪断形ゲージ14が不純物の拡散によ
り伝導形がP形として形成されている。
その中心を通る結晶軸<100>方向で固定部13との
境界付近に例えば剪断形ゲージ14が不純物の拡散によ
り伝導形がP形として形成されている。
剪断形ゲージ14はその長手方向に一対の電源端を持ち
ここに電源電圧が印加され、この長平方向のほぼ中央部
に一対の出力端が形成されここで出力電圧を得る。
ここに電源電圧が印加され、この長平方向のほぼ中央部
に一対の出力端が形成されここで出力電圧を得る。
センサチップ10は、その固定部13が例えば中央に導
圧孔15を持つパイレックスガラスなどのガラス基板1
6に固定され、このガラス基板16は中央に導圧孔17
を持つ金属の支持台18に固定されている。
圧孔15を持つパイレックスガラスなどのガラス基板1
6に固定され、このガラス基板16は中央に導圧孔17
を持つ金属の支持台18に固定されている。
以上のような構成において、測定圧力Pが起歪部12に
印加されると、これによって剪断応力τが剪断形ゲージ
14に発生しこれに対応する出力電圧が出力端に得られ
る。
印加されると、これによって剪断応力τが剪断形ゲージ
14に発生しこれに対応する出力電圧が出力端に得られ
る。
ところで、この様なセンサチップ10、ガラス基板16
および金属の支持台18の相互間を陽極接合して半導体
圧力センサを実現しようとする場合は、第5図に示すよ
うにガラス基板16に対してセンサチップ10を電源E
1により正電位に保持し、かつガラス基板16に対して
金属の支持台18を電源E2により正電位に保持して陽
極接合する。
および金属の支持台18の相互間を陽極接合して半導体
圧力センサを実現しようとする場合は、第5図に示すよ
うにガラス基板16に対してセンサチップ10を電源E
1により正電位に保持し、かつガラス基板16に対して
金属の支持台18を電源E2により正電位に保持して陽
極接合する。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかしながら、この様な従来の半導体圧力センサの製造
方法では、電源E1、E2の負電位側をガラス基板16
の側面に設けた電極19に印加費せざるを得ない。この
ような形で電圧印加するとガラス基板16の中の電界が
場所的に不均一となり、このためカラス基板16に対す
るセンサチップ10と支持台18との接合強度に片寄り
が生じるという問題があった。
方法では、電源E1、E2の負電位側をガラス基板16
の側面に設けた電極19に印加費せざるを得ない。この
ような形で電圧印加するとガラス基板16の中の電界が
場所的に不均一となり、このためカラス基板16に対す
るセンサチップ10と支持台18との接合強度に片寄り
が生じるという問題があった。
〈課題を解決するための手段〉
この発明は、以上の問題点を解決するために、第1ガラ
ス基板の片面に導電性シリコン膜を形成し、この導電性
シリコン膜の第1ガラス基板とは反対側に第2ガラス基
板を配置し、この第2カラス基板を負電位に導電性シリ
コン膜を正電位にして陽極接合し、次にピエゾ抵抗素子
を有するダイアフラムが形成されたセンサチップと金属
の支持台とを第1、第2カラス基板の両側にそれぞれ配
置して導電性シリコン膜に対してこれ等のカラス基板を
正電位に保持して陽極接合するようにしたものである。
ス基板の片面に導電性シリコン膜を形成し、この導電性
シリコン膜の第1ガラス基板とは反対側に第2ガラス基
板を配置し、この第2カラス基板を負電位に導電性シリ
コン膜を正電位にして陽極接合し、次にピエゾ抵抗素子
を有するダイアフラムが形成されたセンサチップと金属
の支持台とを第1、第2カラス基板の両側にそれぞれ配
置して導電性シリコン膜に対してこれ等のカラス基板を
正電位に保持して陽極接合するようにしたものである。
く作 用〉
第1ガラス基板の片面に導電性シリコン膜を形成しこの
導電性シリコン膜の上に第2のカラス基板を陽極接合し
、この第1、第2のガラス基板の上にそれぞれセンサチ
ップと金属の支持台を配置して陽極接合することにより
、第1、第2のガラス基板の中に均一な電界が形成され
、この結果ガラス基板の両面のセンサチップと支持台の
接合強度が安定に得られる。
導電性シリコン膜の上に第2のカラス基板を陽極接合し
、この第1、第2のガラス基板の上にそれぞれセンサチ
ップと金属の支持台を配置して陽極接合することにより
、第1、第2のガラス基板の中に均一な電界が形成され
、この結果ガラス基板の両面のセンサチップと支持台の
接合強度が安定に得られる。
〈実施例〉
以下、本発明の実施例について図面に基づき説明する。
なお、従来の技術と同一の機能を有する部分には同一の
記号を付して適宜にその説明を省略する。
記号を付して適宜にその説明を省略する。
第1図は本発明により製造された半導体圧力センサの縦
断面図である。
断面図である。
20はポリジノコン膜であり、このポリシリコン膜20
は導電性を持たせるなめにリンをドープしである。21
.22はそれぞれポリシリコン膜20に接合されたガラ
ス基板である。
は導電性を持たせるなめにリンをドープしである。21
.22はそれぞれポリシリコン膜20に接合されたガラ
ス基板である。
ガラス基板21の上には剪断形ゲージ14が形成された
センサチップ10の固定部13が接合されている。
センサチップ10の固定部13が接合されている。
ガラス基板22の下には、ガラス基板21.22の熱膨
張係数に近い熱膨張係数を持つ金属の支持台18が接合
されている。支持台18の他端は例えば圧力容器などに
固定される。
張係数に近い熱膨張係数を持つ金属の支持台18が接合
されている。支持台18の他端は例えば圧力容器などに
固定される。
第2図は第1図に示す半導体圧力センサを接合する接合
工程を示す工程図である。
工程を示す工程図である。
第2図(イ)の工程では、ウェハ状のガラス基板22W
の上にウェハ状の導電性のポリシリコン膜20Wをスパ
ッタリングにより形成する工程を示している。
の上にウェハ状の導電性のポリシリコン膜20Wをスパ
ッタリングにより形成する工程を示している。
第2図(ロ)の工程では、この様にポリシリコン膜20
Wが形成されたガラス基板22Wの上にウェハ状のガラ
ス基板21Wを配置し、ポリシリコンWA20Wとガラ
ス基板21Wとの間にポリシリコンM2OW側を正電位
として電圧を印加してポリシリコン膜20Wとガラス基
板21Wとを陽極接合をする。
Wが形成されたガラス基板22Wの上にウェハ状のガラ
ス基板21Wを配置し、ポリシリコンWA20Wとガラ
ス基板21Wとの間にポリシリコンM2OW側を正電位
として電圧を印加してポリシリコン膜20Wとガラス基
板21Wとを陽極接合をする。
第2図(ハ)の工程は、このガラス基板21Wの上に例
えばセンサチップIOA、IOB、10Cを搭載し、さ
らに支持台18A、18B、18Cをカラス基板22W
側にそれぞれセンサチップ10A、IOB、10Cに対
応して配置し、この後ポリシリコン膜20Wに対してセ
ンサチップ10A、10b、10Cと支持台18A、1
8B、18Cがそれぞれ正電位になるように電源E4、
E5を印加してこれ等の相互間を一挙に陽極接合する。
えばセンサチップIOA、IOB、10Cを搭載し、さ
らに支持台18A、18B、18Cをカラス基板22W
側にそれぞれセンサチップ10A、IOB、10Cに対
応して配置し、この後ポリシリコン膜20Wに対してセ
ンサチップ10A、10b、10Cと支持台18A、1
8B、18Cがそれぞれ正電位になるように電源E4、
E5を印加してこれ等の相互間を一挙に陽極接合する。
この後、ウェハ状のガラス基板をダイシングして第1図
に示す半導体圧力センサを作る。
に示す半導体圧力センサを作る。
第3図は第1図に示す接合工程とほぼ同じであるが、第
3図(イ)に示すようにウェハ状のガラス基板22Wの
上にポリシリコン膜の代りに不純物がドープされた導電
性のシリコン基板23を陽極接合した点が異なる。
3図(イ)に示すようにウェハ状のガラス基板22Wの
上にポリシリコン膜の代りに不純物がドープされた導電
性のシリコン基板23を陽極接合した点が異なる。
シリコン基板23W側を正電極、ガラス基板22W側を
負電極として電源E6により所定の環境条件の中で陽極
接合をする。
負電極として電源E6により所定の環境条件の中で陽極
接合をする。
第3図(ロ)、(ハ)はシリコン基板23Vが異なるだ
けで第2図(ロ)、(ハ)に対応している。
けで第2図(ロ)、(ハ)に対応している。
〈発明の効果〉
以上、実施例と共に具体的に説明したように本発明によ
れば、ガラス基板の中に導電性のシリコン膜を介在させ
てその表裏に配置されたシリコンチップと支持台とを陽
極接合するようにしたので、電界分布が−様となり、ガ
ラス基板の両面に安定した接合強度が得られる。さらに
、電界分布が−様なため複数のセンサチップと支持台を
同時に接合することができるので、大量生産が可能とな
り、コストの低減が出来る。また、この様な接合方法を
とれば、ガラスと金属との接合が直接接合でき、このた
め熱膨張係数の異なる中間車をこれ等の間に介在させる
必要がないので、出力のゼロドリフト、ゼロオフセット
も効果的に抑えることができる。
れば、ガラス基板の中に導電性のシリコン膜を介在させ
てその表裏に配置されたシリコンチップと支持台とを陽
極接合するようにしたので、電界分布が−様となり、ガ
ラス基板の両面に安定した接合強度が得られる。さらに
、電界分布が−様なため複数のセンサチップと支持台を
同時に接合することができるので、大量生産が可能とな
り、コストの低減が出来る。また、この様な接合方法を
とれば、ガラスと金属との接合が直接接合でき、このた
め熱膨張係数の異なる中間車をこれ等の間に介在させる
必要がないので、出力のゼロドリフト、ゼロオフセット
も効果的に抑えることができる。
第1図は本発明により製造された半導体圧力センサの縦
断面図、第2図は第1図に示す半導体圧力センサを接合
する接合方法を示す工程図、第3図は第2図に示す接合
方法とは異なる他の接合力−7= 法を示す工程図、第4図は従来の半導体圧力センサの構
成を示す縦断面図、第5図は第4図に示す半導体圧力セ
ンサを組み立てる接合方法を示す説明図である。 10、IOA、IOB、IOC・・・センサチップ、1
2・・・起歪部、13・・・固定部、14・・・剪断形
ゲージ、16.21.22.21W、22W・・・ガラ
ス基板、18・・・支持台、20.20W・・・ポリシ
リコン膜。 第3図 第4図 第5図
断面図、第2図は第1図に示す半導体圧力センサを接合
する接合方法を示す工程図、第3図は第2図に示す接合
方法とは異なる他の接合力−7= 法を示す工程図、第4図は従来の半導体圧力センサの構
成を示す縦断面図、第5図は第4図に示す半導体圧力セ
ンサを組み立てる接合方法を示す説明図である。 10、IOA、IOB、IOC・・・センサチップ、1
2・・・起歪部、13・・・固定部、14・・・剪断形
ゲージ、16.21.22.21W、22W・・・ガラ
ス基板、18・・・支持台、20.20W・・・ポリシ
リコン膜。 第3図 第4図 第5図
Claims (1)
- 第1ガラス基板の片面に導電性シリコン膜を形成し、
この導電性シリコン膜の前記第1ガラス基板とは反対側
に第2ガラス基板を配置し、この第2ガラス基板を負電
位に前記導電性シリコン膜を正電位にして陽極接合し、
次にピエゾ抵抗素子を有するダイアフラムが形成された
センサチップと金属の支持台とを前記第1、第2ガラス
基板の両側にそれぞれ配置して前記導電性シリコン膜に
対してこれ等のガラス基板を正電位に保持して陽極接合
したことを特徴とする半導体圧力センサの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1198388A JPH01187426A (ja) | 1988-01-22 | 1988-01-22 | 半導体圧力センサの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1198388A JPH01187426A (ja) | 1988-01-22 | 1988-01-22 | 半導体圧力センサの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01187426A true JPH01187426A (ja) | 1989-07-26 |
Family
ID=11792832
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1198388A Pending JPH01187426A (ja) | 1988-01-22 | 1988-01-22 | 半導体圧力センサの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01187426A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03233429A (ja) * | 1990-02-08 | 1991-10-17 | Mitsubishi Electric Corp | 液晶表示素子の製造方法 |
| DE19736306C2 (de) * | 1996-08-27 | 2001-05-17 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren zur Herstellung von Drucksensoren |
-
1988
- 1988-01-22 JP JP1198388A patent/JPH01187426A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03233429A (ja) * | 1990-02-08 | 1991-10-17 | Mitsubishi Electric Corp | 液晶表示素子の製造方法 |
| DE19736306C2 (de) * | 1996-08-27 | 2001-05-17 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren zur Herstellung von Drucksensoren |
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