JPH01191237A - 自動試験方式 - Google Patents
自動試験方式Info
- Publication number
- JPH01191237A JPH01191237A JP1545588A JP1545588A JPH01191237A JP H01191237 A JPH01191237 A JP H01191237A JP 1545588 A JP1545588 A JP 1545588A JP 1545588 A JP1545588 A JP 1545588A JP H01191237 A JPH01191237 A JP H01191237A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- margin
- program
- command
- clock
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
情報処理装置のハードウェアの動作マージンについての
自動試験方式に関し、 マージン試験をＳｖＰを通さず、ソフトウェアで処理可
能にして、人手操作に見られる誤操作発生、試験者確保
および試験マニュアルの整備が必要、などの問題を除去
することを目的とし、情報処理装置のハードウェアの動
作マージンについての自動試験方式において、該情報処
理装置の各部試験対象に対するマージン値を設定するプ
ログラム及びそれを解除するプログラムを用意しておき
、コマンド投入で、該マージン値設定プログラムを走行
させて試験対象に対するマージン値設定を行ない、次い
て試験プログラムを走行させて試験を行ない、更に設定
解除プログラムを走行させて前記設定マージン値へ通常
値へ戻す構成とする。
自動試験方式に関し、 マージン試験をＳｖＰを通さず、ソフトウェアで処理可
能にして、人手操作に見られる誤操作発生、試験者確保
および試験マニュアルの整備が必要、などの問題を除去
することを目的とし、情報処理装置のハードウェアの動
作マージンについての自動試験方式において、該情報処
理装置の各部試験対象に対するマージン値を設定するプ
ログラム及びそれを解除するプログラムを用意しておき
、コマンド投入で、該マージン値設定プログラムを走行
させて試験対象に対するマージン値設定を行ない、次い
て試験プログラムを走行させて試験を行ない、更に設定
解除プログラムを走行させて前記設定マージン値へ通常
値へ戻す構成とする。
本発明は、情報処理装置のハードウェアの動作マージン
についての自動試験方式に関する。
についての自動試験方式に関する。
情報処理装置のハードウェア試験には、保守試験プログ
ラム（Ｔｅｓｔ Ｍａｉｎｔｅｎａｎｃｅ Ｐｒｏｇｒ
ａｍ、略してＴＭＰ）による動作確認試験と電圧マージ
ン／クロックマージン等の動作マージン試験がある。
ラム（Ｔｅｓｔ Ｍａｉｎｔｅｎａｎｃｅ Ｐｒｏｇｒ
ａｍ、略してＴＭＰ）による動作確認試験と電圧マージ
ン／クロックマージン等の動作マージン試験がある。
電圧マージン試験は情報処理装置の電源電圧を上／下限
値の範囲で変更して、またそれを所定時間継続して動作
正常／異常をみる等により行ない、またクロックマージ
ン試験はクロック周波数を許容範囲で変更して、またそ
れを所定時間継続して動作正常／異常をみる等により行
なう。これらの試験は情報処理装置の製造が完了した段
階で行ない、結果を出荷時試験成績書に記入する。
値の範囲で変更して、またそれを所定時間継続して動作
正常／異常をみる等により行ない、またクロックマージ
ン試験はクロック周波数を許容範囲で変更して、またそ
れを所定時間継続して動作正常／異常をみる等により行
なう。これらの試験は情報処理装置の製造が完了した段
階で行ない、結果を出荷時試験成績書に記入する。
電圧マージン／クロックマージン試験は、従来はサービ
スプロセッサ（ＳＶＰ）を通して行なっている。即ち、
ＳＶＰより、人手操作により所定のコマンドを投入し、
電圧マージン／クロックマージン値を設定して、試験を
実施している。情報処理装置には上記コマンドを受けて
その通りにする、例えば電源電圧を定格より５％アップ
せよなら５％増の電源電圧にする制御系がある。
スプロセッサ（ＳＶＰ）を通して行なっている。即ち、
ＳＶＰより、人手操作により所定のコマンドを投入し、
電圧マージン／クロックマージン値を設定して、試験を
実施している。情報処理装置には上記コマンドを受けて
その通りにする、例えば電源電圧を定格より５％アップ
せよなら５％増の電源電圧にする制御系がある。
しかしこのＳＶＰを通しての人手による試験では次のよ
うな問題が発生している。■誤操作による問題発生。こ
れは不必要なエラーを招く原因となる。■試験者（操作
員）の確保が必要。これは省力化に逆行する。■試験マ
ニュアルの整備が必要。試験要領を細かく開示しなけれ
ばならないから、試験マニュアルの記入内容が多くなる
。
うな問題が発生している。■誤操作による問題発生。こ
れは不必要なエラーを招く原因となる。■試験者（操作
員）の確保が必要。これは省力化に逆行する。■試験マ
ニュアルの整備が必要。試験要領を細かく開示しなけれ
ばならないから、試験マニュアルの記入内容が多くなる
。
サービスプロセッサ（’５ＶＰ）を通しての人手操作に
よる電圧マージン／クロックマージン試験は、上記のよ
うに、誤操作発生、試験者確保および試験マニュアルの
整備が必要、などの問題がある。
よる電圧マージン／クロックマージン試験は、上記のよ
うに、誤操作発生、試験者確保および試験マニュアルの
整備が必要、などの問題がある。
本発明はこれを自動処理可能、特にＳＶＰを通さず、ソ
フトウェアで処理可能にして、上記問題を解決すること
を目的とするものである。
フトウェアで処理可能にして、上記問題を解決すること
を目的とするものである。
本発明では、テストメンテナンスプログラム（ＴＭＰ）
の試験範囲でなかった電圧マージン／クロックマージン
試験をＴＭＰ試験の１項目とし、これにより該試験を自
動的に実行する。
の試験範囲でなかった電圧マージン／クロックマージン
試験をＴＭＰ試験の１項目とし、これにより該試験を自
動的に実行する。
第１図は、電圧マージン／クロックマージン値を設定／
解除するプログラムの概要を示す。これはアセンブラで
組まれており、プログラム−Ａは電圧マージン／クロッ
クマージン値を設定し、プログラム−Ｂは同Ａで設定し
た電圧マージン／クロックマージン値を通常の値に戻す
各プログラムである。図のＣ５ＥＣＴ （シーセクト
）０．Ｐは制御文、ＭＮＴＢ （メンテナンスＢ）はダ
イアグプログラムの命令文でＡＡＡＡは情報処理装置（
ＣＰＵ。
解除するプログラムの概要を示す。これはアセンブラで
組まれており、プログラム−Ａは電圧マージン／クロッ
クマージン値を設定し、プログラム−Ｂは同Ａで設定し
た電圧マージン／クロックマージン値を通常の値に戻す
各プログラムである。図のＣ５ＥＣＴ （シーセクト
）０．Ｐは制御文、ＭＮＴＢ （メンテナンスＢ）はダ
イアグプログラムの命令文でＡＡＡＡは情報処理装置（
ＣＰＵ。
ＤＣＨ）を停止状態に設定し、ＢＢＢＢは各ＣＰＵ、
ＤＣＨ（チャネル）別に電圧マージン／クロックマージ
ン値を設定し、ｃｃｃｃはＣＰＵ、 ＤＣＨをスタート
状態とする。これでプログラム−Ａは終了する。プログ
ラム−ＢのＤＤＤＤはＣＰＵ、ＤＣＨを停止状態に設定
し、ＥＥＥＥは各ＣＰＵ、ＤＣＨに対し電圧マージン／
クロックマージン値を通常値に設定しくノーマル状態に
戻し）、ＦＦＦＦはＣＰＵ、ＤＣＨをスタート状態にす
る。
ＤＣＨ（チャネル）別に電圧マージン／クロックマージ
ン値を設定し、ｃｃｃｃはＣＰＵ、 ＤＣＨをスタート
状態とする。これでプログラム−Ａは終了する。プログ
ラム−ＢのＤＤＤＤはＣＰＵ、ＤＣＨを停止状態に設定
し、ＥＥＥＥは各ＣＰＵ、ＤＣＨに対し電圧マージン／
クロックマージン値を通常値に設定しくノーマル状態に
戻し）、ＦＦＦＦはＣＰＵ、ＤＣＨをスタート状態にす
る。
上記電圧マージン／クロックマージン値設定プログラム
を使用しての試験要領を第２図で説明すると、この第２
図の■ではＴＭＰによる情報処理装置の通常の動作試験
を行ない、■以降で電圧マージン／クロックマージン試
験を行なう。
を使用しての試験要領を第２図で説明すると、この第２
図の■ではＴＭＰによる情報処理装置の通常の動作試験
を行ない、■以降で電圧マージン／クロックマージン試
験を行なう。
即ち■でプログラム−Ａを用いて、試験しようとする電
圧マージン／クロックマージン値を設定し、■でＴＭＰ
の従来部分による電圧マージン／クロックマージン試験
を行なう。各種電圧マージン値、各種クロックマージン
値を各ＣＰＵ、ＤＣＨに設定し、マージン試験を行なう
から、■と■は繰り返し行なうことになる。■はこれを
示す。
圧マージン／クロックマージン値を設定し、■でＴＭＰ
の従来部分による電圧マージン／クロックマージン試験
を行なう。各種電圧マージン値、各種クロックマージン
値を各ＣＰＵ、ＤＣＨに設定し、マージン試験を行なう
から、■と■は繰り返し行なうことになる。■はこれを
示す。
■以降は復帰処理を示す。即ち■ではプログラム−Ｂを
用いて電圧マージン／クロックマージンを通常値に設定
し、■ではそれで動作させて、正常動作を確認する。
用いて電圧マージン／クロックマージンを通常値に設定
し、■ではそれで動作させて、正常動作を確認する。
この第２図に示す試験手順をＴＭＰヘカタログすること
により、電圧マージン／クロックマージン試験を含む情
報処理装置の自動試験を実現することができる。
により、電圧マージン／クロックマージン試験を含む情
報処理装置の自動試験を実現することができる。
本発明をＤＩＰＳ−１１／４５ Ｅの保守試験プログラ
ム（ＩＴ３−ＴＭＰ）に適用した例を第３図、第４図に
示す。ＩＴ３−ＴＭＰはＤＩＰＳ〜１１ ／ ４５ Ｅ
のホスト上で走行するプログラムであり、第３図に示す
構成を有する。即ちＣＰＵ試験モジュール、ＭＥＭ（メ
モリ）試験モジュール、チャネル試験モジュール、シス
テム試験モジュールを備えるが、本発明ではこれに前記
の電圧マージン／クロックマージン値設定モジュール（
プログラム−Ａ、−Ｂ）を加える。
ム（ＩＴ３−ＴＭＰ）に適用した例を第３図、第４図に
示す。ＩＴ３−ＴＭＰはＤＩＰＳ〜１１ ／ ４５ Ｅ
のホスト上で走行するプログラムであり、第３図に示す
構成を有する。即ちＣＰＵ試験モジュール、ＭＥＭ（メ
モリ）試験モジュール、チャネル試験モジュール、シス
テム試験モジュールを備えるが、本発明ではこれに前記
の電圧マージン／クロックマージン値設定モジュール（
プログラム−Ａ、−Ｂ）を加える。
この保守試験プログラムＩＴ３−ＴＭＰのカタログ機能
により、第４図に示すテストコマンド群をカタログする
。この第４図の左上端の°ＴＥＳＴＩ’はカタログの名
称であり、ＣＡＬＬ ＴＥＳＴＩでこの第４図のテス
ト全部が行なわれる。また“ＴＥＳＴ’ はコマンドで
あり、第４図最上段のそれは第３図のＣＰＵ試験モジュ
ール１〜ｎを指定する。ＴＥＳＴｃｐｕ ｐｕｏｏで
、ＰＵＱＯ基板のＣＰＵにＣＰＵ試験モジュールを流す
。ＤＳＷはデータ（またはプログラム）スイッチであり
、００８は試験結果をＬＰ（ラインプリンタ）に打出せ
を示す。ＴはＤＳＷの入力位置を示し、他にＹ（コンソ
ールのＤＳＷ）。
により、第４図に示すテストコマンド群をカタログする
。この第４図の左上端の°ＴＥＳＴＩ’はカタログの名
称であり、ＣＡＬＬ ＴＥＳＴＩでこの第４図のテス
ト全部が行なわれる。また“ＴＥＳＴ’ はコマンドで
あり、第４図最上段のそれは第３図のＣＰＵ試験モジュ
ール１〜ｎを指定する。ＴＥＳＴｃｐｕ ｐｕｏｏで
、ＰＵＱＯ基板のＣＰＵにＣＰＵ試験モジュールを流す
。ＤＳＷはデータ（またはプログラム）スイッチであり
、００８は試験結果をＬＰ（ラインプリンタ）に打出せ
を示す。ＴはＤＳＷの入力位置を示し、他にＹ（コンソ
ールのＤＳＷ）。
Ｎ （ＤＳＷなし）などがある。ＴＥＳＴ ＭＥ月、
ＴＥＳＴＤＣＨなどもこれに準する。’ＩＯＭ’ は１
０分であり、試験を１０分行なえを示す。こ−まではノ
ーマルテストである。
ＴＥＳＴＤＣＨなどもこれに準する。’ＩＯＭ’ は１
０分であり、試験を１０分行なえを示す。こ−まではノ
ーマルテストである。
次のＴＥＳＴ ＺＺＺはマージン値をセットするステッ
プである。■はマージン値設定、■はその値でのテスト
、■はマージン値復帰、■はその値でのテスト（動作正
常確認）であり、ＧＥＮＤでこの試験が終了する。
プである。■はマージン値設定、■はその値でのテスト
、■はマージン値復帰、■はその値でのテスト（動作正
常確認）であり、ＧＥＮＤでこの試験が終了する。
Ｉ Ｔ ３−ＴＭＰ配下のカタログ起動コマンドで上記
カタログを起動することにより、自動試験を実行する。
カタログを起動することにより、自動試験を実行する。
第５図に示すように、情報処理装置のハードウェアは中
央処理装置ＣＰＵ、メモリ制御装置ＭＣＵ１メモリＭＥ
Ｍ、チャネル装置ＣＨ，およびサービスプロセッサＳｖ
Ｐなどである。外部記憶装置（ディスク）ＤＫおよびコ
ンソールＣＮＳがチャネル装置ＣＨに接続され、保守試
験プログラムＩＴ３−ＴＭＰなどは外部記憶装置ＤＫに
格納される。前記電圧マージン／クロックマージン試験
を行なうにはコンソールＣＮＳでコマンドＣＡＬＬＴＥ
ＳＴ １を入力すればよく、これでディスクＤＫからＩ
Ｔ３−ＴＭＰが読出されてメモリＭＥＭヘロードされ、
次いで走行開始して上記試験が自動的に行なわれ、結果
がコンソールのプリンタに打出される。試験は長時間に
亘るが、夕方退社時に上記コマンドを投入しておけば朝
出社して結果を知ることができる。
央処理装置ＣＰＵ、メモリ制御装置ＭＣＵ１メモリＭＥ
Ｍ、チャネル装置ＣＨ，およびサービスプロセッサＳｖ
Ｐなどである。外部記憶装置（ディスク）ＤＫおよびコ
ンソールＣＮＳがチャネル装置ＣＨに接続され、保守試
験プログラムＩＴ３−ＴＭＰなどは外部記憶装置ＤＫに
格納される。前記電圧マージン／クロックマージン試験
を行なうにはコンソールＣＮＳでコマンドＣＡＬＬＴＥ
ＳＴ １を入力すればよく、これでディスクＤＫからＩ
Ｔ３−ＴＭＰが読出されてメモリＭＥＭヘロードされ、
次いで走行開始して上記試験が自動的に行なわれ、結果
がコンソールのプリンタに打出される。試験は長時間に
亘るが、夕方退社時に上記コマンドを投入しておけば朝
出社して結果を知ることができる。
これに対して従来方式ではサービスプロセッサＳｖＰに
より電圧マージン／クロックマージン値の設定を行ない
く操作Ａ）、次にコンソールＣＮＳによりＴＭＰ走行を
指示しく操作Ｂ）、コンソールＣＮＳのデイスプレィに
表示された又はプリンタに打出された試験結果を見てＯ
Ｋなら次の試験対象に対する操作Ａを行ない、次いで操
作Ｂを行ない、試験結果がＯＫでなければ調査を行ない
、これらを繰り返すことになる。
より電圧マージン／クロックマージン値の設定を行ない
く操作Ａ）、次にコンソールＣＮＳによりＴＭＰ走行を
指示しく操作Ｂ）、コンソールＣＮＳのデイスプレィに
表示された又はプリンタに打出された試験結果を見てＯ
Ｋなら次の試験対象に対する操作Ａを行ない、次いで操
作Ｂを行ない、試験結果がＯＫでなければ調査を行ない
、これらを繰り返すことになる。
以上説明した本発明方式では、次の効果が期待される。
■予めプログラム化しであるので誤操作の心配がない、
■人手操作試験では必要である試験者（操作員）を削減
でき、経験者でな（ても簡単に人手操作と同等の試験を
行なうことができる、■本Ｑ明は電圧マージン／クロッ
クマージン試験だけでなく他の試験へも通用できる。
■人手操作試験では必要である試験者（操作員）を削減
でき、経験者でな（ても簡単に人手操作と同等の試験を
行なうことができる、■本Ｑ明は電圧マージン／クロッ
クマージン試験だけでなく他の試験へも通用できる。
第１図は本発明で設けるマージン値設定／解除プログラ
ムの説明図、 第２図はマージン試験要領を示す説明図、第３図は本発
明の実施例を示すプログラム構成図、 第４図はマージン試験用のカタログ例を示す説明図、 第５図は情報処理装置ハードウェア構成を示す説明図で
ある。 第１図でプログラム−Ａはマージン値設定プログラム、
プログラム−Ｂはマージン値解除プログラムである。
ムの説明図、 第２図はマージン試験要領を示す説明図、第３図は本発
明の実施例を示すプログラム構成図、 第４図はマージン試験用のカタログ例を示す説明図、 第５図は情報処理装置ハードウェア構成を示す説明図で
ある。 第１図でプログラム−Ａはマージン値設定プログラム、
プログラム−Ｂはマージン値解除プログラムである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、情報処理装置のハードウェアの動作マージンについ
ての自動試験方式において、 該情報処理装置の各部試験対象に対するマージン値を設
定するプログラム（プログラム−Ａ）及びそれを解除す
るプログラム（プログラム−Ｂ）を用意しておき、 コマンド投入で、該マージン値設定プログラムを走行さ
せて試験対象に対するマージン値設定を行ない、次いて
試験プログラムを走行させて試験を行ない、更に設定解
除プログラムを走行させて前記設定マージン値へ通常値
へ戻すことを特徴とする自動試験方式。 ２、マージンは電圧マージン／クロックマージンである
請求項１記載の自動試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1545588A JPH01191237A (ja) | 1988-01-26 | 1988-01-26 | 自動試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1545588A JPH01191237A (ja) | 1988-01-26 | 1988-01-26 | 自動試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01191237A true JPH01191237A (ja) | 1989-08-01 |
Family
ID=11889277
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1545588A Pending JPH01191237A (ja) | 1988-01-26 | 1988-01-26 | 自動試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01191237A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009020630A (ja) * | 2007-07-11 | 2009-01-29 | Fujitsu Ltd | コンピュータ装置の試験方法及び装置及びプログラム |
-
1988
- 1988-01-26 JP JP1545588A patent/JPH01191237A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009020630A (ja) * | 2007-07-11 | 2009-01-29 | Fujitsu Ltd | コンピュータ装置の試験方法及び装置及びプログラム |
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