JPS60262249A - マイクロプロセツサ応用装置 - Google Patents
マイクロプロセツサ応用装置Info
- Publication number
- JPS60262249A JPS60262249A JP59117917A JP11791784A JPS60262249A JP S60262249 A JPS60262249 A JP S60262249A JP 59117917 A JP59117917 A JP 59117917A JP 11791784 A JP11791784 A JP 11791784A JP S60262249 A JPS60262249 A JP S60262249A
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- JP
- Japan
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- microprocessor
- test
- rom
- display
- port
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- Pending
Links
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- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 9
- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 20
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- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
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Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、マイクロプロセッサ応用装置に関する。
従来、マイクロプロセッサ応用装置の試験または検査は
、特別に製造された検査装置を使用したり、あるいは汎
用テスタ、たとえばマイクロプロセッサ・アナライザや
インサーキット・エミュレータ（ＩＣＥ）等を使用して
いた。これらの試験又は検査では、第２図に示すように
通常、被試験装置１の中央処理装置（ＣＰ［Ｊ）ソケッ
トからＣＰＵすなわちマイクロプロセッサを取り外し、
そこに上述のテスク２をインタフェースケーブル３を介
して接続してテスタ側からＣＰＵボードや装置をコント
ロールし、ソフトウェアとハードウェアとを統合して試
験を行なうものであった。
、特別に製造された検査装置を使用したり、あるいは汎
用テスタ、たとえばマイクロプロセッサ・アナライザや
インサーキット・エミュレータ（ＩＣＥ）等を使用して
いた。これらの試験又は検査では、第２図に示すように
通常、被試験装置１の中央処理装置（ＣＰ［Ｊ）ソケッ
トからＣＰＵすなわちマイクロプロセッサを取り外し、
そこに上述のテスク２をインタフェースケーブル３を介
して接続してテスタ側からＣＰＵボードや装置をコント
ロールし、ソフトウェアとハードウェアとを統合して試
験を行なうものであった。
上述のようなテスターを用いた試験の場合には、マイク
ロプロセッサを取り付ける組立作業を行なう必要がある
ため、一般の使用者が直接マイクロプロセッサ一応用装
置の試験を行なうことは極めて困難であった。そこで一
般の使用者がマイクロプロセッサの故障を検出しても、
即時に検査することができない。またたとえ、マイクロ
プロセッサ応用装置の製造会社のサービスマンがその故
障を診断したとしても、その故障診断後初めて不良部品
の取寄せ等の修理の準備を行なうこととなるのでマイク
ロプロセッサ応用装置の使用停止期間が非常に長くなっ
てしまうことになる。さらにインクフェースケーブル３
を通じて診断を行なうため、異常モードと全く同一状況
でテストすることが不可能である。
ロプロセッサを取り付ける組立作業を行なう必要がある
ため、一般の使用者が直接マイクロプロセッサ一応用装
置の試験を行なうことは極めて困難であった。そこで一
般の使用者がマイクロプロセッサの故障を検出しても、
即時に検査することができない。またたとえ、マイクロ
プロセッサ応用装置の製造会社のサービスマンがその故
障を診断したとしても、その故障診断後初めて不良部品
の取寄せ等の修理の準備を行なうこととなるのでマイク
ロプロセッサ応用装置の使用停止期間が非常に長くなっ
てしまうことになる。さらにインクフェースケーブル３
を通じて診断を行なうため、異常モードと全く同一状況
でテストすることが不可能である。
〔問題点を解決するための手段及び作用〕上述の問題点
を解決するため、本発明のマイクロプロセッサ応用装置
は、装置の異常を検出する異常検出器と、予じめ決めら
れたテストプログラムが書込まれた消去・プログラム可
能なリードオンリメモリと、診断結果を表示する表示器
と、前、：１１′ 記異常検出器からの信号により前記
テストプログラムに従って診断動作を開始する中央処理
装置とで構成され、これによって故障発生時または異常
検出時に即時に診断動作が行なわれてその診断結果が表
示される。
を解決するため、本発明のマイクロプロセッサ応用装置
は、装置の異常を検出する異常検出器と、予じめ決めら
れたテストプログラムが書込まれた消去・プログラム可
能なリードオンリメモリと、診断結果を表示する表示器
と、前、：１１′ 記異常検出器からの信号により前記
テストプログラムに従って診断動作を開始する中央処理
装置とで構成され、これによって故障発生時または異常
検出時に即時に診断動作が行なわれてその診断結果が表
示される。
本発明のマイクロプロセッサ応用装置の実施例を第１図
に示す。第１図において、ＣＰＵすなわちマイクロプロ
セッサ１０には、通常動作用としてリードオンメモリ（
ＲＯＭ）１１、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ＞１２
、表示装置１３、複数個の入出カポ−） （Ｉｌｏ）１
４が接続されている。さらにこのＣＰＵｌ０には書き換
え可能なリードオンリメモリすなわち消去・プログラム
可能なリードオンリメモリ（ＥＰ−ＲＯＭ＞１５も′接
続されており、また電源の異常を検出する電圧センサ１
６、装置内の温度を検出する温度センサ１７、磁気ディ
スクの回転数を検出する回転数センサ１８等の各センサ
からの検出信号がオアゲート１９を介して割込み要求信
号ａとして人力されている。
に示す。第１図において、ＣＰＵすなわちマイクロプロ
セッサ１０には、通常動作用としてリードオンメモリ（
ＲＯＭ）１１、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ＞１２
、表示装置１３、複数個の入出カポ−） （Ｉｌｏ）１
４が接続されている。さらにこのＣＰＵｌ０には書き換
え可能なリードオンリメモリすなわち消去・プログラム
可能なリードオンリメモリ（ＥＰ−ＲＯＭ＞１５も′接
続されており、また電源の異常を検出する電圧センサ１
６、装置内の温度を検出する温度センサ１７、磁気ディ
スクの回転数を検出する回転数センサ１８等の各センサ
からの検出信号がオアゲート１９を介して割込み要求信
号ａとして人力されている。
次に第１図のマイクロプロセッサ応用装置の動作につい
て説明する。
て説明する。
まず、第１図において温度センサ１６、電圧センサ１７
、回転数センサ１８のいずれかが装置内の異常を検出す
ると、ｃｐｕ ｉ ｏに対して割込み要求信号ａが出さ
れる。ＣＰＵ １０は、割込み要求信号ａを介しで割込
み要求を受け入れた時点で書き換え可能なＥＰ−ＲＯＭ
１５のアドレスヘジャンプする。書き換え可能なＥＰ
−ＲＯＭは、各メモリ１１．１２あるいはＩ１０ポート
１４に対応するテストプログラムを有しており、予じめ
決められた手順に従がい、診断動作を開始する。
、回転数センサ１８のいずれかが装置内の異常を検出す
ると、ｃｐｕ ｉ ｏに対して割込み要求信号ａが出さ
れる。ＣＰＵ １０は、割込み要求信号ａを介しで割込
み要求を受け入れた時点で書き換え可能なＥＰ−ＲＯＭ
１５のアドレスヘジャンプする。書き換え可能なＥＰ
−ＲＯＭは、各メモリ１１．１２あるいはＩ１０ポート
１４に対応するテストプログラムを有しており、予じめ
決められた手順に従がい、診断動作を開始する。
ここで各メモリ１１．１２あるいは■／○ポート１４の
試験中に何らかの異常が発見された場合は、ＥＰ−ＲＯ
Ｍ中に書かれた表示ルーチンヘジャンプし、その試験内
容とエラー状態を表示する。
試験中に何らかの異常が発見された場合は、ＥＰ−ＲＯ
Ｍ中に書かれた表示ルーチンヘジャンプし、その試験内
容とエラー状態を表示する。
また試験が正常に終了した場合には、その旨表示装置１
３へ出力する。
３へ出力する。
本発明によれば、マイクロプロセッサ応用装置の試験に
テスクが不要となるので、試験時間が短縮されかつ試験
費用の低減が図られる。また、ボード上のアイクロプロ
セッサを使用して試験又は検査を行なうため、汎用テス
タを用いた時に生ずるような厳密なタイミングの相違に
よる誤検査を回避することが可能となる。さらに書き換
え可能なＥＰ−ＲＯＭを使用しているのでテストプログ
ラムの書き変え、変更が簡単に行なえる。また、決めら
れたテストプログラムにより診断動作が実行されるため
に試験者による誤りが生じないことや、エラーを表示装
置に出力するため初心者でも操作可能であるという効果
も得られる。
テスクが不要となるので、試験時間が短縮されかつ試験
費用の低減が図られる。また、ボード上のアイクロプロ
セッサを使用して試験又は検査を行なうため、汎用テス
タを用いた時に生ずるような厳密なタイミングの相違に
よる誤検査を回避することが可能となる。さらに書き換
え可能なＥＰ−ＲＯＭを使用しているのでテストプログ
ラムの書き変え、変更が簡単に行なえる。また、決めら
れたテストプログラムにより診断動作が実行されるため
に試験者による誤りが生じないことや、エラーを表示装
置に出力するため初心者でも操作可能であるという効果
も得られる。
第１図は本発明によるマイクロプロセッサ応用装置の実
施例を示すブロック図、第２図は、マイクロプロセッサ
応用装置の従来方式における試験例を示すブロック図で
ある。 １ マイクロプロセッサ応用装置（被試験装置）２ イ
ンサーキット・エミュレータ（テスタ）、３ インタフ
ェースケーブル、１０ マイクロプロセッサ（ＣＰＵ）
、１１ リードオンリメモリ、１２ ランダムアクセス
メモリ、１３ 表示装置１４− Ｉ １０ポート、１５
書き換え可能なＥＰ−ＲＯＭ、１６ 温度センサ、１
７ 電圧センサ、１８ 回転数センサ、１９ オアゲー
ト。 ｌ′ 第２図
施例を示すブロック図、第２図は、マイクロプロセッサ
応用装置の従来方式における試験例を示すブロック図で
ある。 １ マイクロプロセッサ応用装置（被試験装置）２ イ
ンサーキット・エミュレータ（テスタ）、３ インタフ
ェースケーブル、１０ マイクロプロセッサ（ＣＰＵ）
、１１ リードオンリメモリ、１２ ランダムアクセス
メモリ、１３ 表示装置１４− Ｉ １０ポート、１５
書き換え可能なＥＰ−ＲＯＭ、１６ 温度センサ、１
７ 電圧センサ、１８ 回転数センサ、１９ オアゲー
ト。 ｌ′ 第２図
Claims (1)
- 装置の異常を検出する異常検出器と、予じめ決められた
テストプログラムが書込まれた消去・ブロク゛ラム可能
なリードオンリメモリと、診断結果を表示する表示器と
、前記異常検出器からの信号により前記テストプログラ
ムに従って診断動作を開始するマイクロプロセッサとを
具備するマイクロプロセッサ応用装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59117917A JPS60262249A (ja) | 1984-06-08 | 1984-06-08 | マイクロプロセツサ応用装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59117917A JPS60262249A (ja) | 1984-06-08 | 1984-06-08 | マイクロプロセツサ応用装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60262249A true JPS60262249A (ja) | 1985-12-25 |
Family
ID=14723375
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59117917A Pending JPS60262249A (ja) | 1984-06-08 | 1984-06-08 | マイクロプロセツサ応用装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60262249A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62272330A (ja) * | 1986-05-21 | 1987-11-26 | Nec Corp | マイクロプロセツサの不良解析回路 |
| JPH01121945A (ja) * | 1987-11-05 | 1989-05-15 | Nec Corp | シングルチップマイクロコンピュータ |
| JPH03144742A (ja) * | 1989-10-30 | 1991-06-20 | Mitsubishi Electric Corp | マイクロコンピュータ |
-
1984
- 1984-06-08 JP JP59117917A patent/JPS60262249A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62272330A (ja) * | 1986-05-21 | 1987-11-26 | Nec Corp | マイクロプロセツサの不良解析回路 |
| JPH01121945A (ja) * | 1987-11-05 | 1989-05-15 | Nec Corp | シングルチップマイクロコンピュータ |
| JPH03144742A (ja) * | 1989-10-30 | 1991-06-20 | Mitsubishi Electric Corp | マイクロコンピュータ |
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