JPH01192113A - 加熱炉 - Google Patents

加熱炉

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JPH01192113A
JPH01192113A JP1795188A JP1795188A JPH01192113A JP H01192113 A JPH01192113 A JP H01192113A JP 1795188 A JP1795188 A JP 1795188A JP 1795188 A JP1795188 A JP 1795188A JP H01192113 A JPH01192113 A JP H01192113A
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furnace
core tube
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heater
tube
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Tamao Suzuki
鈴木 球夫
Toshihisa Nozawa
俊久 野沢
Yoshio Imai
今井 佳夫
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Tokyo Electron Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的コ (産業上の利用分野) 本発明は、加熱炉に係り、特に多数の半導体ウェハ等の
熱拡散、CVD等の熱処理に利用して好適な加熱炉に関
する。
(従来の技術) 一般に、加熱炉は、半導体製造工程において熱拡散、C
VD等に利用される。
このような加熱炉では、半導体ウェハのロード・アンロ
ード時に炉内の温度変化が生じ易いので、ウェハボート
上に多数の半導体ウェハを配置し、この半導体ウェハを
ウェハボートとともに、例えば数百ないし十数百度程度
に加熱された炉心管内に配置して、多数の半導体ウェハ
の熱処理を同時に行うよう構成され、スループットの向
上を図ったものが多い。
したがって、加熱炉では、炉心管内の温度均一性が要求
される。このため、従来の加熱炉、では、石英等からな
る炉心管の周囲にアウター管が配置され、その周囲には
加熱用のし−タが配置され、b−夕の周囲を覆うように
多孔性の@熱材等からなる断熱材層が配置されたものが
多い。
すなわち、従来の加熱炉では、熱伝導度の低い断熱材で
ヒータの周囲を覆い、外部への熱放出を減少化、均一化
して、炉心管内の温度分布の均一性を確保しようとする
ものである。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、例えば半導体ウェハの熱処理において均
一な処理を行うためには、±0.5℃以内程度の温度均
一性が要求される。このため、さらに均熱特性に優れた
加熱炉の開発が望まれてぃた。
本発明は、かかる従来の事情に対処してなされたもので
、従来に較べて均熱特性に優れ、被処理物を均一に処理
することのできる加熱炉を提供しようとするものである
[発明の構成] (課題を解決するための手段) すなわち本発明は、少なくとも筒状の炉心管と、この炉
心管の周囲に配置されたヒータとを備えた加熱炉におい
て、前記炉心管の長手方向に沿って、熱伝導性の良好な
物質を配置したことを特徴とする。
(作 用) 本発明の加熱炉では、炉心管の長手方向に沿って、例え
ば表面に炭化ケイ素(SiC)をコーティングされた筒
状のカーボン(C)等の熱伝導性の良好な物質が配置さ
れている。
したがって、この熱伝導性の良好な物質により、熱が炉
心管の長手方向に速やかに移動し、従来に較べて炉心管
内の温度を均一化することができる。
(実施例) 以下本発明の加熱炉を図面を参照して実施例について説
明する。
例えば石英等からなり直径例えば250〜35011n
、長さ1500〜200011程度の円筒状に構成され
た炉心管1は、その中央部分を均熱区間1aとされてお
り、炉心管1はこのアウター管2内に配置されている。
また、アウター管2の外側には、コイル状に形成された
加熱用のヒータ3が配置されており、均熱区間1a部分
のし−タ3の外側には、熱伝導性の良好な物質として、
例えば表面に炭化ケイ素(SiC)をコーティングされ
たカーボン(C)からなる円筒状部材4が配置されてい
る。
そして、この円筒状部材4の外側には、その周囲を覆う
ように、多孔性の断熱材等からなる断熱材層5が配置さ
れており、断熱材層5の外側にはヒータケース6が配置
されている。
なお、上記加熱用のヒータ3は、図示しない制御装置に
接続されており、炉心管1の長手方向に分割された領域
毎に、独立に温度制御されるゾーンコントロールとされ
ている。
また、断熱材層5には、例えば厚さ数十ないし数百ミク
ロン程度のアルミニウム箔等の反射材からなる反射材層
、あるいは1000℃以上の高温となる場合は、白金等
からなる反射材層を配置してもよい。
上記構成のこの実施例の加熱炉では、ヒータ3によって
炉心管1内を例えば数百ないし十数百度程度に加熱する
。そして、例えば石英等からなるウェハボート7上に、
多数の半導体ウェハ8をそれらの主面がそれぞれ対向あ
るいは一方向に向くように配置し、この半導体ウェハ8
をウェハボート7ともに炉心管1の一端開口からソフト
ランディング等により炉心管1内の均熱区間1aに配置
して、例えば熱拡散、CVD等の熱処理を行う。
ここで、例えば表面に炭化ケイ素をコーティングされた
カーボンからなる円筒状部材4は、断熱材層5に較べて
、熱伝導率が三桁以上高、い、したがって、ヒータ3の
熱は、円筒状部材4により、炉心管1の長手方向に速や
かに伝すって、均熱区間1aの範囲に、均一な温度の領
域を形成する。
このため、従来の加熱炉に較べて炉心管1内の温度を均
一化することができる。
なお、上記実施例では、熱伝導性の良好な物質としての
円筒状部材4を、ヒータ3の外側に設けた例について説
明したが、このような円筒状部材4は、例えば第3図お
よび第4図に示すように、ヒータ3の内側に設けてもよ
く、あるいはし−タ3と同じ部位に設けてもよい。
また、熱伝導性の良好な物質は、炭化ケイ素をコーティ
ングしたカーボン以外の物質でもよく、その形状も、円
筒状に限らず、例えば棒状または板状の部材を円周に沿
って配列させても、網状の部材を巻き付けても、炉心管
1あるいはアウター管2に例えばスパッタリング等によ
り被着させてもよい、そして、長さについても、均熱区
間1aの範囲のみに限られるものではない。
さらに、上記実施例では、横型炉について説明したが、
縦型炉にも連用することができることはもちろんである
「発明の効果] 上述のように、本発明の加熱炉によれば、従来の加熱炉
に歓べて炉心管内の温度を均一化することができ、半導
体ウェハ等の被処理物を均一に処理することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は本発明の一実施例の加熱炉の要部
を示す断面図、第3図および第4図は他の実施例の加熱
fを示す断面図である。 1・・・・・・炉心管、2・・・・・・アウター管、3
・・・・・・ヒータ、4・・・・・・円筒状部材(熱伝
導性の良好な物質)、5・・・・・・断熱材層、6・・
・・・・ヒータケース、7・・・・・・ウェハボート、
8・・・・・・半導体ウェハ。 出願人  東京エレクトロン株式会社 代理人 弁理士  須 山 佐 − 第1図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)少なくとも筒状の炉心管と、この炉心管の周囲に
    配置されたヒータとを備えた加熱炉において、前記炉心
    管の長手方向に沿って、熱伝導性の良好な物質を配置し
    たことを特徴とする加熱炉。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003515961A (ja) * 1999-11-30 2003-05-07 ウエファーマスターズ, インコーポレイテッド 小型バッチ炉
KR20190035857A (ko) * 2016-08-05 2019-04-03 샌드빅 써멀 프로세스. 인크. 비-균일한 절연부를 갖는 열적 프로세스 디바이스

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