JPH01195381A - 測定プログラム作成装置 - Google Patents
測定プログラム作成装置Info
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- JPH01195381A JPH01195381A JP63020722A JP2072288A JPH01195381A JP H01195381 A JPH01195381 A JP H01195381A JP 63020722 A JP63020722 A JP 63020722A JP 2072288 A JP2072288 A JP 2072288A JP H01195381 A JPH01195381 A JP H01195381A
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- Japan
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- measurement
- language
- intermediate language
- test
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、電子回路の測定装置を制御するための測定
プログラムを自動的に作成する測定プログラム作成装置
に関するものである。
プログラムを自動的に作成する測定プログラム作成装置
に関するものである。
半導体集積回路で代表される電子回路に対して、その特
性を測定するために各種の測定装置が用いられる。
性を測定するために各種の測定装置が用いられる。
ここで言う測定装置とは、単なる計測器を意味するもの
ではなく、一般にＩＣテストシステムと呼ばれるもので
、複数の信号発生手段、計測手段を有するとともに、測
定制御用コントローラで制御されて種々の測定を実行で
きる装置をいう。
ではなく、一般にＩＣテストシステムと呼ばれるもので
、複数の信号発生手段、計測手段を有するとともに、測
定制御用コントローラで制御されて種々の測定を実行で
きる装置をいう。
第４図は、半導体集積回路の試験を行うための装置全体
のブロック図を示す。図において、半導体集積回路５は
、実際の使用状態と試験状態との対応をとるための周辺
回路４と接続されて被測定回路３を構成している。この
被測定回路３は測定治具２を介して前記測定装置１と接
続され、測定装置１の制御の下で試験が実行される。
のブロック図を示す。図において、半導体集積回路５は
、実際の使用状態と試験状態との対応をとるための周辺
回路４と接続されて被測定回路３を構成している。この
被測定回路３は測定治具２を介して前記測定装置１と接
続され、測定装置１の制御の下で試験が実行される。
通常、種々の試験において測定装置１を制御するための
測定プログラムや周辺回路４等は次のような手順で作成
される。
測定プログラムや周辺回路４等は次のような手順で作成
される。
ステップ１：半導体集積回路５の測定仕様書の作成
ステップ２：測定方法の検討
ステップ３：測定装置１の選択及び測定実行に必要な周
辺回路４の回路図作成 ステップ４：半導体集積回路５と周辺回路４の構成に応
じたプローブ等の測定治 具２の製作 ステップ５：選択した測定装置１専用の言語形式に即し
た測定プログラムの作成 ステップ６：半導体集積回路５１周辺回路４゜測定治具
２及び測定装置１を接続 して、測定装置１を測定プログラ ムに従って動作させ、所望の測定 が実施できるかどうかの動作確認 作業（通常、これを「デバッグ」 と称する）の実施 ステップ７：上記周辺回路４．測定治具２と測定プログ
ラムを使用して得られた 測定データと基準データとの相関 確認 ステップ８：周辺回路４．測定治具２．測定プログラム
等の最終仕様書の作成 以上が基本的な測定プログラムの作成過程であり、通常
は上記ステップ１を半導体集積回路５の設計者が、また
、°上記ステップ２〜８をテスト技術者が担当する。
辺回路４の回路図作成 ステップ４：半導体集積回路５と周辺回路４の構成に応
じたプローブ等の測定治 具２の製作 ステップ５：選択した測定装置１専用の言語形式に即し
た測定プログラムの作成 ステップ６：半導体集積回路５１周辺回路４゜測定治具
２及び測定装置１を接続 して、測定装置１を測定プログラ ムに従って動作させ、所望の測定 が実施できるかどうかの動作確認 作業（通常、これを「デバッグ」 と称する）の実施 ステップ７：上記周辺回路４．測定治具２と測定プログ
ラムを使用して得られた 測定データと基準データとの相関 確認 ステップ８：周辺回路４．測定治具２．測定プログラム
等の最終仕様書の作成 以上が基本的な測定プログラムの作成過程であり、通常
は上記ステップ１を半導体集積回路５の設計者が、また
、°上記ステップ２〜８をテスト技術者が担当する。
上記ステップ７において測定したデータとして、所望の
基準データに相当するものが得られた場合には、ここで
作成した周辺回路４．測定治具２゜測定プログラム等を
用いて、量産される半導体集積回路５の試験を行なうた
めに、上記ステップ８においてこれらの最終仕様書を作
成する。
基準データに相当するものが得られた場合には、ここで
作成した周辺回路４．測定治具２゜測定プログラム等を
用いて、量産される半導体集積回路５の試験を行なうた
めに、上記ステップ８においてこれらの最終仕様書を作
成する。
ところが、上記ステップ７において所望のデータが得ら
れないときには上記ステップ２〜７を繰り返し、測定装
置１の変更や、周辺回路４．測定治具２．測定プログラ
ムの再作成が必要となる。
れないときには上記ステップ２〜７を繰り返し、測定装
置１の変更や、周辺回路４．測定治具２．測定プログラ
ムの再作成が必要となる。
従来は、以上のように測定プログラムを作成していたが
、測定装置１はそれぞれ独自の言語形式によるテスタ言
語を使用しているので、異なる測定装置１毎に異なるハ
ードウェア、ソフトウェアを理解しているテスト技術者
が、設計仕様占に基づいて人手による測定プログラムの
作成・編集を行ない、さらに必要に応じてそのコンパイ
ル操作を行なっていた。
、測定装置１はそれぞれ独自の言語形式によるテスタ言
語を使用しているので、異なる測定装置１毎に異なるハ
ードウェア、ソフトウェアを理解しているテスト技術者
が、設計仕様占に基づいて人手による測定プログラムの
作成・編集を行ない、さらに必要に応じてそのコンパイ
ル操作を行なっていた。
このように、測定プログラムの作成は全面的に人手に依
存していたので、作成時に単純な人的ミスが混在しやす
く、また測定プログラムの良否がテスト技術者の知識レ
ベルに依存するなどの問題があり、従って、開発期間、
開発コストの低減が困難であるという問題があった。
存していたので、作成時に単純な人的ミスが混在しやす
く、また測定プログラムの良否がテスト技術者の知識レ
ベルに依存するなどの問題があり、従って、開発期間、
開発コストの低減が困難であるという問題があった。
この発明は、上２のような課題を解消するためになされ
たもので、測定装置毎に言語形式が異なる測定プログラ
ムを容易に作成することのできる測定プログラム作成装
置を得ることを目的とする。
たもので、測定装置毎に言語形式が異なる測定プログラ
ムを容易に作成することのできる測定プログラム作成装
置を得ることを目的とする。
この発明に係る測定プログラム作成装置は、所定の規則
に基いて与えられる測定仕様を入力として測定装置の言
語形式に依存しない中間言語へと変換する中間言語変換
手段と、前記中間言語に変換された前記測定仕様に基づ
いてデータベースを作成・編集するデータベース編集手
段と、前記データベースを前記測定装置の言語形式に即
した測定プログラムに変換する測定プログラム変換手段
とを備えている。
に基いて与えられる測定仕様を入力として測定装置の言
語形式に依存しない中間言語へと変換する中間言語変換
手段と、前記中間言語に変換された前記測定仕様に基づ
いてデータベースを作成・編集するデータベース編集手
段と、前記データベースを前記測定装置の言語形式に即
した測定プログラムに変換する測定プログラム変換手段
とを備えている。
（作用）
この発明における測定プログラム作成装置は、測定装置
の言語形式に依存しない中間言語に基づいてデータベー
スを作成し、このデータベースから実際の測定に使用す
る測定装置の言語形式に即した測定プログラムに変換す
る。
の言語形式に依存しない中間言語に基づいてデータベー
スを作成し、このデータベースから実際の測定に使用す
る測定装置の言語形式に即した測定プログラムに変換す
る。
第１図はこの発明に係る測定プログラム作成装置の一実
施例を示すブロック図である。図において、測定プログ
ラム作成装置Ｐ゛は、制御１１１１１０゜データベース
２０を記憶する記憶手段Ｍ、大入力段３１．出力手段３
２及びインターフェース３３から構成されている。制御
部１０はたとえばマイクロコンピユータなどによって構
成され、機能的には、中間言語変換手段１１とデータベ
ース編集手段１２と測定プログラム変換手段１３とを含
んでいる。中間言語変換手段１１は、キーボードやグラ
フィック端末などの入力手段３１から所定の規則に基づ
いて入力される測定仕様を、各種の測定装置の言語形式
に依存しない拡張性に富んだ中間言語に変換する機能を
有する。データベース編集手段１２は、中間言語変換手
段１１により中間言語に変換された測定仕様からデータ
ベース２０を作成するとともに、必要に応じてデータベ
ース２０に格納された測定仕様入力出して訂正する機能
を有する。また、測定プログラム変換手段１３は、デー
タベース２０に格納された測定仕様を、実際の測定に用
いる測定装置の言語形式に即した測定プログラムに変換
する機能を有する。出力手段３２は、プリンタ、７０ツ
ビディスク、磁気テープ等であって、測定プログラム変
換手段１３で所望の言語形式（テスタ言語）に変換され
た測定プログラムや、データベース２０に格納された中
間言語による測定仕様等を出力するための装置である。
施例を示すブロック図である。図において、測定プログ
ラム作成装置Ｐ゛は、制御１１１１１０゜データベース
２０を記憶する記憶手段Ｍ、大入力段３１．出力手段３
２及びインターフェース３３から構成されている。制御
部１０はたとえばマイクロコンピユータなどによって構
成され、機能的には、中間言語変換手段１１とデータベ
ース編集手段１２と測定プログラム変換手段１３とを含
んでいる。中間言語変換手段１１は、キーボードやグラ
フィック端末などの入力手段３１から所定の規則に基づ
いて入力される測定仕様を、各種の測定装置の言語形式
に依存しない拡張性に富んだ中間言語に変換する機能を
有する。データベース編集手段１２は、中間言語変換手
段１１により中間言語に変換された測定仕様からデータ
ベース２０を作成するとともに、必要に応じてデータベ
ース２０に格納された測定仕様入力出して訂正する機能
を有する。また、測定プログラム変換手段１３は、デー
タベース２０に格納された測定仕様を、実際の測定に用
いる測定装置の言語形式に即した測定プログラムに変換
する機能を有する。出力手段３２は、プリンタ、７０ツ
ビディスク、磁気テープ等であって、測定プログラム変
換手段１３で所望の言語形式（テスタ言語）に変換され
た測定プログラムや、データベース２０に格納された中
間言語による測定仕様等を出力するための装置である。
また、インターフェース３３は、通信回線により測定装
置等にデータを直接伝送するためのものである。
置等にデータを直接伝送するためのものである。
第２図はこの実施例による測定プログラム作成装置Ｐを
用いた測定プログラムの作成方法を示すフローチャート
である。
用いた測定プログラムの作成方法を示すフローチャート
である。
まず、ステップＳ１において、入力手段３１を用いて測
定仕様を会話形式などにより入力する。
定仕様を会話形式などにより入力する。
この測定仕様はテスト仕様入力と周辺回路図入力に大別
される。このうち、テスト仕様入力は、テストすべき評
価項目、入力条件０ｍ定条件１判定条件等のデータであ
る。単純なオーディオ帯域増幅器を例にとれば、テスト
仕様入力はリークＩ流測定、端子電圧測定、電圧利得測
定等の評価項目の名称、入力すべき端子と印加電圧、印
加電流の値、測定すべき端子と測定量の範囲、並びに合
否判定の条件等のデータから構成される。これらのテス
ト仕様入力は、入力のしやすさを考慮して通常の技術用
語を用いた自然言語に近い一定の規則を有するテスト記
述言語で入力される。
される。このうち、テスト仕様入力は、テストすべき評
価項目、入力条件０ｍ定条件１判定条件等のデータであ
る。単純なオーディオ帯域増幅器を例にとれば、テスト
仕様入力はリークＩ流測定、端子電圧測定、電圧利得測
定等の評価項目の名称、入力すべき端子と印加電圧、印
加電流の値、測定すべき端子と測定量の範囲、並びに合
否判定の条件等のデータから構成される。これらのテス
ト仕様入力は、入力のしやすさを考慮して通常の技術用
語を用いた自然言語に近い一定の規則を有するテスト記
述言語で入力される。
一方、周辺回路図入力は、テストすべき評価項目を実際
に測定可能とするために必要な周辺回路４の回路図を作
成するため、周辺回路４の基本要素（電源、抵抗、増幅
器等）と、各基本要素の相互接続関係とをデータとして
与えるものであり、回路接続を表現するのに適した回路
接続言語で入力される。
に測定可能とするために必要な周辺回路４の回路図を作
成するため、周辺回路４の基本要素（電源、抵抗、増幅
器等）と、各基本要素の相互接続関係とをデータとして
与えるものであり、回路接続を表現するのに適した回路
接続言語で入力される。
これらの測定仕様入力のうち、測定プログラムに変換さ
れるのは主にテスト仕様入力であり、周辺回路図入力は
後述するように測定条件と密接な関係を有するので、テ
スト仕様入力とともにデータベース２０を形成するため
のものである。
れるのは主にテスト仕様入力であり、周辺回路図入力は
後述するように測定条件と密接な関係を有するので、テ
スト仕様入力とともにデータベース２０を形成するため
のものである。
次に、ステップＳ２ではテスト記述言語で与えられたテ
スト仕様入力を中間言語変換手段１１により中間言語に
変換する。この中間言語は、測定装置１の言語形式（テ
スタ言語）によらないが、テスト技術者が読解可能な程
度に標準化された拡張性に富む中間言語であり、測定装
置１の言語形式に即した測定プログラム（テスタ言語）
に変換しやすい形式を有している。このような中間言語
で記述されたテスト仕様入力からデータベース２０を作
成することにより、テストに使用する測定装置１を変更
した場合にもその測定装置１に応じた測定プログラムが
直ちに作成できる。また、測定プログラム作成の途中段
階において測定仕様の修正・変更があった場合にもテス
ト技術者が中間言語によるデータベースを直接修正でき
る。
スト仕様入力を中間言語変換手段１１により中間言語に
変換する。この中間言語は、測定装置１の言語形式（テ
スタ言語）によらないが、テスト技術者が読解可能な程
度に標準化された拡張性に富む中間言語であり、測定装
置１の言語形式に即した測定プログラム（テスタ言語）
に変換しやすい形式を有している。このような中間言語
で記述されたテスト仕様入力からデータベース２０を作
成することにより、テストに使用する測定装置１を変更
した場合にもその測定装置１に応じた測定プログラムが
直ちに作成できる。また、測定プログラム作成の途中段
階において測定仕様の修正・変更があった場合にもテス
ト技術者が中間言語によるデータベースを直接修正でき
る。
ステップＳ３では中間言語に変換されたテスト仕様入力
と周辺回路入力とからデータベース編集手段１２により
データベース２０を作成する。このデータベース２０に
基づいて、測定仕様書、製品検査規格をまとめたテスト
規格衣および周辺回路図が必要に応じて出力される（ス
テップ９３１〜５３３）。
と周辺回路入力とからデータベース編集手段１２により
データベース２０を作成する。このデータベース２０に
基づいて、測定仕様書、製品検査規格をまとめたテスト
規格衣および周辺回路図が必要に応じて出力される（ス
テップ９３１〜５３３）。
次に、ステップＳ４でデータベース２０に基づいて中間
言語から測定プログラムへの変換を行なう。この変換に
先立って、測定に使用する測定装置１を選択するととも
に、測定に使用する周辺回路図を作成する（ステップ５
３３）。周辺回路図を作成するのは、同一の測定装置１
を使用して同一の被測定物（半導体集積回路５等）を測
定しても、周辺回路４が異なれば測定プログラムが異な
る場合があるからである。この例として、前記オーディ
オ帯域増幅器（以下単に「増幅器」という）の入力条件
を設定する場合の例を第３図に示す。
言語から測定プログラムへの変換を行なう。この変換に
先立って、測定に使用する測定装置１を選択するととも
に、測定に使用する周辺回路図を作成する（ステップ５
３３）。周辺回路図を作成するのは、同一の測定装置１
を使用して同一の被測定物（半導体集積回路５等）を測
定しても、周辺回路４が異なれば測定プログラムが異な
る場合があるからである。この例として、前記オーディ
オ帯域増幅器（以下単に「増幅器」という）の入力条件
を設定する場合の例を第３図に示す。
図において、増幅器４１の入力端子４１ａに１ｍＶの電
圧を入力し、出力端子４４の出力電圧を測定して電圧利
得を測定するテストを行なうものとする。第３図（ａ）
では周辺回路として、外部入力端子４２と増幅器４１の
入力端子４１ａとの間に介挿した９にΩの抵抗４３を設
けるとともに、増幅器４１の入力端子４１ａを１ＫＯの
抵抗を介して接地レベルＧＮＤと接続している。一方、
第３図（ｂ）では、周辺回路として外部入力端子４２と
増幅器４１の入力端子４１ａとの間に９にΩの抵抗４３
を介挿させただけのものである。第３図（ａ）の回路に
おいて増幅器４１の入力端子４１ａに１ｍＶの電圧を入
力するとすれば、入力端子４２には１０ｍＶを印加する
必要がある。このときの測定プログラム文は、例えば次
のようになる。
圧を入力し、出力端子４４の出力電圧を測定して電圧利
得を測定するテストを行なうものとする。第３図（ａ）
では周辺回路として、外部入力端子４２と増幅器４１の
入力端子４１ａとの間に介挿した９にΩの抵抗４３を設
けるとともに、増幅器４１の入力端子４１ａを１ＫＯの
抵抗を介して接地レベルＧＮＤと接続している。一方、
第３図（ｂ）では、周辺回路として外部入力端子４２と
増幅器４１の入力端子４１ａとの間に９にΩの抵抗４３
を介挿させただけのものである。第３図（ａ）の回路に
おいて増幅器４１の入力端子４１ａに１ｍＶの電圧を入
力するとすれば、入力端子４２には１０ｍＶを印加する
必要がある。このときの測定プログラム文は、例えば次
のようになる。
ＳＥＴ ＡＵＤＩＯＡＭＰＬＩＴＵＤＥ ＝ １０
Ｍ Ｖ ・（ａ）一方、第３図（ｂ）の回路において
、増幅器４１に１ｍＶを入力するとすれば、入力端子４
２には１ｍｖ印加すれば良い。このときの測定プログラ
ム文は、例えば次のようになる。
Ｍ Ｖ ・（ａ）一方、第３図（ｂ）の回路において
、増幅器４１に１ｍＶを入力するとすれば、入力端子４
２には１ｍｖ印加すれば良い。このときの測定プログラ
ム文は、例えば次のようになる。
ＳＥＴ ＡＵＤＩＯＡＭＰＬＩＴＵＤＥ ＝
Ｉ Ｍ Ｖ −（ｂ）測定プログラムの変
換においては、このような周辺回路図に基づいて外部入
力端子４２と被測定物（第３図の例では増幅器４１）の
入力端子４１ａとの信号の関係を自動的に求め、前述の
測定プログラム文（ａ）又は（ｂ）に変換する。このよ
うに周辺回路図とテスト仕様を同一のデータベース２０
に格納しているので、測定方法と周辺回路とを常に整合
性のとれたものとすることができる。
Ｉ Ｍ Ｖ −（ｂ）測定プログラムの変
換においては、このような周辺回路図に基づいて外部入
力端子４２と被測定物（第３図の例では増幅器４１）の
入力端子４１ａとの信号の関係を自動的に求め、前述の
測定プログラム文（ａ）又は（ｂ）に変換する。このよ
うに周辺回路図とテスト仕様を同一のデータベース２０
に格納しているので、測定方法と周辺回路とを常に整合
性のとれたものとすることができる。
ステップＳ４においてはデータベース２０のテスト仕様
から測定プログラムを自動変換するが、自動変換できな
いデータベース２０上の記述に対しては、変換できない
旨の警告を出力する。
から測定プログラムを自動変換するが、自動変換できな
いデータベース２０上の記述に対しては、変換できない
旨の警告を出力する。
次に、ステップＳ５では、変換された測定プログラムに
ついて、ステップＳ４で出力された警告に基づく修正・
編集を行なう。
ついて、ステップＳ４で出力された警告に基づく修正・
編集を行なう。
変換・編集が終了した測定プログラムは、ステップＳ６
において、測定装置１にローディングするために出力手
段３２又はインターフェース３３に出力される。
において、測定装置１にローディングするために出力手
段３２又はインターフェース３３に出力される。
ステップＳ７においては、第４図に示すように、測定装
置１．測定治具２．および周辺回路４と半導体集積回路
５とから構成される被測定回路３を実際に接続し、測定
装置ｉ１１に測定プログラムをローディングしてその動
作を確認する作業（いわゆる「デバッグ」）を実施する
。この場合において、測定されたデータとして所望の基
準データに相当するも“のが得られない場合には、測定
プログラムの修正・変更や、場合によっては周辺回路４
．測定治具２の修正・変更、さらには測定装置１の変更
が行なわれる。このような修正・変更があった場合には
、ステップＳ８からステップＳ９に至り、データベース
２０を修正して、再びステップＳ３に戻って、以上のス
テップ８３〜Ｓ８を繰り返す。
置１．測定治具２．および周辺回路４と半導体集積回路
５とから構成される被測定回路３を実際に接続し、測定
装置ｉ１１に測定プログラムをローディングしてその動
作を確認する作業（いわゆる「デバッグ」）を実施する
。この場合において、測定されたデータとして所望の基
準データに相当するも“のが得られない場合には、測定
プログラムの修正・変更や、場合によっては周辺回路４
．測定治具２の修正・変更、さらには測定装置１の変更
が行なわれる。このような修正・変更があった場合には
、ステップＳ８からステップＳ９に至り、データベース
２０を修正して、再びステップＳ３に戻って、以上のス
テップ８３〜Ｓ８を繰り返す。
このように、測定プログラム作成の各ステップ８１〜Ｓ
８において、テスト技術者は常に中間言語で記述された
データベース２０を修正・変更するので、各ステップに
おける修正・変更が常に整合性のとれたものとなる。従
って、使用すべき測定装置１を変更する必要が生じた場
合にも、その測定装置１の言語形式に即した測定プログ
ラムを容易に作成できる。
８において、テスト技術者は常に中間言語で記述された
データベース２０を修正・変更するので、各ステップに
おける修正・変更が常に整合性のとれたものとなる。従
って、使用すべき測定装置１を変更する必要が生じた場
合にも、その測定装置１の言語形式に即した測定プログ
ラムを容易に作成できる。
また、このようにして最終的に測定プログラムが完成し
た後に最終的な測定仕様書、テスト規格衣１周辺回路図
等を出力すれば各々の整合性もとれているので、テスト
品質の向上を図ることができる。
た後に最終的な測定仕様書、テスト規格衣１周辺回路図
等を出力すれば各々の整合性もとれているので、テスト
品質の向上を図ることができる。
なお、完成した測定プログラム、周辺回路３゜測定治具
２等を用いて半導体集積回路５の量産品に対してテスト
を実行することになるが、初期のテスト実行時にこれら
の修正・変更が必要になった場合でも、上述と同様にデ
ータベース２０を修正することにより簡単に整合性のと
れた修正が可能であり、測定プログラムも容易に作成で
きる。
２等を用いて半導体集積回路５の量産品に対してテスト
を実行することになるが、初期のテスト実行時にこれら
の修正・変更が必要になった場合でも、上述と同様にデ
ータベース２０を修正することにより簡単に整合性のと
れた修正が可能であり、測定プログラムも容易に作成で
きる。
また、上記実施例では、ステップＳ４において、入力さ
れた周辺回路図に応じて測定プログラムを自動的に変換
するものとしたが、周辺回路図と測定プログラムをテス
ト技術者が参照し、整合性の無い場合には、データベー
ス２０に格納されている周辺回路図かテスト仕様の一方
を修正するようにしてもよい。
れた周辺回路図に応じて測定プログラムを自動的に変換
するものとしたが、周辺回路図と測定プログラムをテス
ト技術者が参照し、整合性の無い場合には、データベー
ス２０に格納されている周辺回路図かテスト仕様の一方
を修正するようにしてもよい。
以上のように、この発明によれば、測定装置の言語形式
に依存しない拡張性に富んだ中間言語に基づいてデータ
ベースを作成し、このデータベースから実際の測定に使
用する測定装置の言語形式に即した測定プログラムに変
換するので、測定装置毎に言語形式が異なる測定プログ
ラムを容易に作成することができる効果がある。
に依存しない拡張性に富んだ中間言語に基づいてデータ
ベースを作成し、このデータベースから実際の測定に使
用する測定装置の言語形式に即した測定プログラムに変
換するので、測定装置毎に言語形式が異なる測定プログ
ラムを容易に作成することができる効果がある。
第１図はこの発明に係る一実施例を示すブロック図、第
２図はこの発明の一実施例を用いた測定プログラムの作
成方法を示すフローチャート、第３図は被測定物として
の増幅器と周辺回路を示す回路図、第４図は試験装置の
構成を示すブロック図である。 図において、１１は中間言語変換手段、１２はデータベ
ース編集手段、１３は測定プログラム変換手段、２０は
データベースである。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。
２図はこの発明の一実施例を用いた測定プログラムの作
成方法を示すフローチャート、第３図は被測定物として
の増幅器と周辺回路を示す回路図、第４図は試験装置の
構成を示すブロック図である。 図において、１１は中間言語変換手段、１２はデータベ
ース編集手段、１３は測定プログラム変換手段、２０は
データベースである。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (1)
- （１）電子回路の測定装置を動作させるための測定プロ
グラムを自動的に作成する測定プログラム作成装置であ
つて、 （ａ）所定の規則に基いて与えられる測定仕様を入力と
して、前記測定装置の言語形式に依存しない中間言語へ
と変換する中間言語変換手段と、 （ｂ）前記中間言語に変換された前記測定仕様に基づい
てデータベースを作成・編集するデータベース編集手段
と、 （ｃ）前記データベースを、前記測定装置の言語形式に
即した測定プログラムに変換する測定プログラム変換手
段とを備えたことを特徴とする測定プログラム作成装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63020722A JPH01195381A (ja) | 1988-01-29 | 1988-01-29 | 測定プログラム作成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63020722A JPH01195381A (ja) | 1988-01-29 | 1988-01-29 | 測定プログラム作成装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01195381A true JPH01195381A (ja) | 1989-08-07 |
Family
ID=12035062
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63020722A Pending JPH01195381A (ja) | 1988-01-29 | 1988-01-29 | 測定プログラム作成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01195381A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03262005A (ja) * | 1990-03-13 | 1991-11-21 | Fuji Electric Co Ltd | プログラム変換装置及びプログラム転送装置 |
| JPH0572278A (ja) * | 1991-09-12 | 1993-03-23 | Mitsubishi Electric Corp | テストタイミングプログラム自動生成装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS5734249A (en) * | 1980-08-04 | 1982-02-24 | Fujitsu Ltd | Program alteration controlling system in program processing device |
| JPS6076100A (ja) * | 1983-09-28 | 1985-04-30 | インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション | メモリ・アレイ・テスタ・システム |
-
1988
- 1988-01-29 JP JP63020722A patent/JPH01195381A/ja active Pending
Patent Citations (2)
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