JPH01197076A - 溶接チップ - Google Patents
溶接チップInfo
- Publication number
- JPH01197076A JPH01197076A JP63020528A JP2052888A JPH01197076A JP H01197076 A JPH01197076 A JP H01197076A JP 63020528 A JP63020528 A JP 63020528A JP 2052888 A JP2052888 A JP 2052888A JP H01197076 A JPH01197076 A JP H01197076A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- welding
- film
- tip
- diamond
- chip
- Prior art date
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- Pending
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- Arc Welding In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明はアーク溶接機の先端に取付けられアーク放電を
発生する溶接チップに関するものである。
発生する溶接チップに関するものである。
従来の技術
以下に第2図a、b’6用いて溶接チップについて記述
する。第2図aはアーク溶接機の全体概略図で第2図す
は溶接チップの拡大図である。溶接作業は、作業台11
上へ被溶接物8が設置された後、溶接チップ孔15を貫
通する溶接用ワイヤー6に、アーク放電電圧がアーク電
源12から、トーチ10.溶接チップ7を介し印加され
アーク放電14が発生する。溶接用ワイヤー6が前記ア
ーク放電14により溶融し徐々に消費されていくことで
被溶接物8も溶融し溶接されていく。この溶接作業を長
時間連続的に行なうため、前記溶接用ワイヤー6は線状
であり、スプール9に長尺2巻付けられている。溶接用
ワイヤー6の消費とともに溶接チップから送り出されて
いく。
する。第2図aはアーク溶接機の全体概略図で第2図す
は溶接チップの拡大図である。溶接作業は、作業台11
上へ被溶接物8が設置された後、溶接チップ孔15を貫
通する溶接用ワイヤー6に、アーク放電電圧がアーク電
源12から、トーチ10.溶接チップ7を介し印加され
アーク放電14が発生する。溶接用ワイヤー6が前記ア
ーク放電14により溶融し徐々に消費されていくことで
被溶接物8も溶融し溶接されていく。この溶接作業を長
時間連続的に行なうため、前記溶接用ワイヤー6は線状
であり、スプール9に長尺2巻付けられている。溶接用
ワイヤー6の消費とともに溶接チップから送り出されて
いく。
第2図a、bに示すアーク溶接機は、例えば溶接用ロボ
ットと組合わされて自動車の生産ラインに多数導入され
、高品質の溶接を長時間連続して行なうことで、自動車
等、多数の工業製品の生産性を向上し低コスト化に寄与
するところが大きい。
ットと組合わされて自動車の生産ラインに多数導入され
、高品質の溶接を長時間連続して行なうことで、自動車
等、多数の工業製品の生産性を向上し低コスト化に寄与
するところが大きい。
この連続溶接中、溶接チップ7の特にチップ先端面13
には、前記アーク放電14によシ高温に溶融した被溶接
部17からの高温のスパッタ粒子16が多数飛来する。
には、前記アーク放電14によシ高温に溶融した被溶接
部17からの高温のスパッタ粒子16が多数飛来する。
前記スパッタ粒子16に対し、溶接チップ7の材料の融
点が低く熱伝導率が小さければ、チップ先端面13に熱
が蓄積され、スパッタ粒子16がチップ先端面13に融
着する。
点が低く熱伝導率が小さければ、チップ先端面13に熱
が蓄積され、スパッタ粒子16がチップ先端面13に融
着する。
このため、一般にはCu−Cr合金の様に熱伝導率が大
きい材料の中でも比較的高融点であるものが溶接チップ
7の材料として用いられている。
きい材料の中でも比較的高融点であるものが溶接チップ
7の材料として用いられている。
Cu−Cr合金でできた溶接チップの場合にも高温のス
パッタ粒子が多数飛来しチップ先端面に堆積するものの
、融着しにくいため、例えば溶接用ワイヤー6の送り出
しに伴なって自然落下する。
パッタ粒子が多数飛来しチップ先端面に堆積するものの
、融着しにくいため、例えば溶接用ワイヤー6の送り出
しに伴なって自然落下する。
このため、長時間の連続溶接が可能であった。ところが
、前記Cu−Cr合金は高価であるため、例えば黄銅な
どの低コスト材料でできた安価な溶接チップが広く望壕
れている。
、前記Cu−Cr合金は高価であるため、例えば黄銅な
どの低コスト材料でできた安価な溶接チップが広く望壕
れている。
発明が解決しようとする課題
ところが黄銅は融点も前記Cu−Cr合金はど高くなく
、また熱伝導率も小さいため、スパッタ粒子が融着しや
すく、融着したまま溶接時間とともに堆積していく。そ
して遂には第3図に示す様に完全に覆いつくされ、溶接
用ワイヤー20が溶接チップ18に固着されてしまう。
、また熱伝導率も小さいため、スパッタ粒子が融着しや
すく、融着したまま溶接時間とともに堆積していく。そ
して遂には第3図に示す様に完全に覆いつくされ、溶接
用ワイヤー20が溶接チップ18に固着されてしまう。
この時間は溶接条件によって異なるが、概ね溶接開始後
1分程度である。この状態では溶接用ワイヤー20が溶
接チップ18から送9出されなくなり、長時間の連続溶
接が不可能である。従って、従来の技術では長時間連続
溶接できる安価な溶接チップを提供することは不可能で
あった。
1分程度である。この状態では溶接用ワイヤー20が溶
接チップ18から送9出されなくなり、長時間の連続溶
接が不可能である。従って、従来の技術では長時間連続
溶接できる安価な溶接チップを提供することは不可能で
あった。
本発明は上記問題点に鑑み、安価な構成で長時間連続溶
接が可能な溶接チップを提供することを目的とする。
接が可能な溶接チップを提供することを目的とする。
課題を解決するための手段
本発明は上記目的を達するため、少なくとも被溶接物か
らのスパッタ粒子が飛来する面にダイヤモンド膜、もし
くはダイヤモンド状炭素膜、もしくはBNC膜、もしく
はTi 、 Zr 、 Hf 、 V 、 Nb。
らのスパッタ粒子が飛来する面にダイヤモンド膜、もし
くはダイヤモンド状炭素膜、もしくはBNC膜、もしく
はTi 、 Zr 、 Hf 、 V 、 Nb。
Ta 、 Mo 、 W 、 Si 、 Bの炭化物膜
、あるいは窒化物膜のうちの1層以上全被覆層として設
けた構成となっている。
、あるいは窒化物膜のうちの1層以上全被覆層として設
けた構成となっている。
作用
本発明は上記した構成により、被覆層であるダイヤモン
ド膜、ダイヤモンド状炭素膜、BIG膜、Ti 、 Z
r 、 Hf、 V 、 Wb 、 Ta 、 Mo
、 W 、 3i 、 B(D炭化物膜、あるいは窒化
物膜は融点が2000”C〜3000°C以上と、前記
のCu−Cr合金に比べてもはるかに高く、高温のスパ
ッタ粒子の融着に対しても十分耐え得る。従って本発明
の溶接チップでは、前記高温のスパッタ粒子がチップ先
端に到達しても融着しにくい。このため、チップ先端に
堆積したスパッタ粒子がとれやすく、例えば溶接用ワイ
ヤーの送り出しに伴なって自然落下する。
ド膜、ダイヤモンド状炭素膜、BIG膜、Ti 、 Z
r 、 Hf、 V 、 Wb 、 Ta 、 Mo
、 W 、 3i 、 B(D炭化物膜、あるいは窒化
物膜は融点が2000”C〜3000°C以上と、前記
のCu−Cr合金に比べてもはるかに高く、高温のスパ
ッタ粒子の融着に対しても十分耐え得る。従って本発明
の溶接チップでは、前記高温のスパッタ粒子がチップ先
端に到達しても融着しにくい。このため、チップ先端に
堆積したスパッタ粒子がとれやすく、例えば溶接用ワイ
ヤーの送り出しに伴なって自然落下する。
この結果、スパッタ粒子がチップ先端に堆積しチップ先
端面を覆いつくすことがなくなり、長時間の連続溶接が
可能となる。
端面を覆いつくすことがなくなり、長時間の連続溶接が
可能となる。
実施例
〔実施例1〕
本発明の第1の実施例として、第1図に示す黄銅製の溶
接チップ1のチップ先端面3の被覆層2をダイヤモンド
状炭素膜とした。ダイヤモンド状炭素膜の成膜方法とし
ては、例えばプラズマ・インジェクシコンCvD法、ス
パッタリング法、イオンビームデポジション法等々が挙
げられるが、特にプラズマ・インジェクションCVD法
は、他の方法に比べ高速成膜できる等、工業的メリット
も大であるので、前記ダイヤモンド状炭素膜の成膜方法
として推奨できる。(例えば参考文献、黒用他:プラズ
マ・インジェクションCVD法による高硬度炭素膜の形
成及び評価、昭和60年度精密工学会春季学術講演論文
集、虱422に明記。)この溶接チップでCo2アーク
溶接を行ない連続溶接耐久時間を評価した。アーク溶接
条件は、被溶接物6の材質・・・・・・軟鉄(厚さ3.
2mm)溶接用ワイヤー4の材質・・・・・・ソリッド
ワイヤー(直径1.2間) アーク放電電流、電圧・・・・・・180人、23v溶
接速度・・・・・・6oα7=n で行なった。
接チップ1のチップ先端面3の被覆層2をダイヤモンド
状炭素膜とした。ダイヤモンド状炭素膜の成膜方法とし
ては、例えばプラズマ・インジェクシコンCvD法、ス
パッタリング法、イオンビームデポジション法等々が挙
げられるが、特にプラズマ・インジェクションCVD法
は、他の方法に比べ高速成膜できる等、工業的メリット
も大であるので、前記ダイヤモンド状炭素膜の成膜方法
として推奨できる。(例えば参考文献、黒用他:プラズ
マ・インジェクションCVD法による高硬度炭素膜の形
成及び評価、昭和60年度精密工学会春季学術講演論文
集、虱422に明記。)この溶接チップでCo2アーク
溶接を行ない連続溶接耐久時間を評価した。アーク溶接
条件は、被溶接物6の材質・・・・・・軟鉄(厚さ3.
2mm)溶接用ワイヤー4の材質・・・・・・ソリッド
ワイヤー(直径1.2間) アーク放電電流、電圧・・・・・・180人、23v溶
接速度・・・・・・6oα7=n で行なった。
〔実施例2〕
第1図に示す被覆層2’1sic膜とした。成膜方法は
前記プラズマ・インジェクションCVD法で原料ガスを
SiH4と0M4とした。
前記プラズマ・インジェクションCVD法で原料ガスを
SiH4と0M4とした。
この溶接チップでアーク溶接を行ない連続溶接耐久時間
を評価した。アーク溶接条件は実施例1と同一とし7′
c。
を評価した。アーク溶接条件は実施例1と同一とし7′
c。
〔実施例3〕
第1図に示す被覆層2 f TiC膜とした0成膜方法
は前記プラズマ・インジェクションCVD法で原料ガ、
x、fTic14とOH4とし7’C。
は前記プラズマ・インジェクションCVD法で原料ガ、
x、fTic14とOH4とし7’C。
この溶接チップでアーク溶接を行ない連続溶接耐久時間
を評価した。アーク溶接条件は実施例1と同一とした0 〔実施例4〕 第1図に示す被覆層2 y2 TiN膜とした。成膜方
法は前記プラズマ・インジェクションCVD法で原料ガ
、x、 f Ti(J4とNH,としfC。
を評価した。アーク溶接条件は実施例1と同一とした0 〔実施例4〕 第1図に示す被覆層2 y2 TiN膜とした。成膜方
法は前記プラズマ・インジェクションCVD法で原料ガ
、x、 f Ti(J4とNH,としfC。
この溶接チップでアーク溶接を行ない連続溶接耐久時間
を評価した。アーク溶接条件は実施例1と同一とし7’
C。
を評価した。アーク溶接条件は実施例1と同一とし7’
C。
以上の実施例1〜4の連続溶接耐久時間と、前記従来の
被覆層がない黄銅でできた溶接チップの連続溶接耐久時
間との比較を第1表に示す0従来の溶接チップのアーク
溶接条件は実施例1と同一とした。
被覆層がない黄銅でできた溶接チップの連続溶接耐久時
間との比較を第1表に示す0従来の溶接チップのアーク
溶接条件は実施例1と同一とした。
第1表
発明の効果
この様に本発明の溶接チップは、例えば黄銅等の低コス
ト材料でも長時間の連続溶接が行えるものである。この
結果、安価で長時間使用できる溶接チップが提供できる
。
ト材料でも長時間の連続溶接が行えるものである。この
結果、安価で長時間使用できる溶接チップが提供できる
。
また、以上記した説明においては溶接チップの材料を黄
銅としたが、本発明は溶接チップの材料を規定するもの
ではない。
銅としたが、本発明は溶接チップの材料を規定するもの
ではない。
また、前記被覆層は、前記高融物質膜の1層でもよく、
あるいは積層であっても本発明の効果は同様に発揮でき
ることはいうまでもない。
あるいは積層であっても本発明の効果は同様に発揮でき
ることはいうまでもない。
第1図は本発明の一実施例における溶接チップの平面図
、第2図aはアーク溶接機の全体概略図、第2図すは溶
接チップの拡大斜視図、第3図は堆積物に覆れた状態を
示す溶接チップの要部拡大図である。 1・・・・・・溶接チップ、2・・・・・・被覆層、3
・・・・・・チップ先端面、4・・・・・・溶接用ワイ
ヤー、5・・・・・・被溶接物0 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名/−
−−溶接チツブ 2− 被覆層 3−−−チップ先端面 4−一一占…致mフィマー 5−a溶接物 第1図 51====コ 第2図 (a、 ’−−溶壊■ワオヤー 9−
一一スプージレ7−−−溶接チップ to−−−ト
ーチ8−−−す良溶接aJ H−−一作業′台
l8−−−溶接チツブ I9− 椎績吻 2θ −−一疎用パワ′イマ− 2/−一・液溶接吻 22−−・チップ先地面 第3図 ?! T=二二==コ
、第2図aはアーク溶接機の全体概略図、第2図すは溶
接チップの拡大斜視図、第3図は堆積物に覆れた状態を
示す溶接チップの要部拡大図である。 1・・・・・・溶接チップ、2・・・・・・被覆層、3
・・・・・・チップ先端面、4・・・・・・溶接用ワイ
ヤー、5・・・・・・被溶接物0 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名/−
−−溶接チツブ 2− 被覆層 3−−−チップ先端面 4−一一占…致mフィマー 5−a溶接物 第1図 51====コ 第2図 (a、 ’−−溶壊■ワオヤー 9−
一一スプージレ7−−−溶接チップ to−−−ト
ーチ8−−−す良溶接aJ H−−一作業′台
l8−−−溶接チツブ I9− 椎績吻 2θ −−一疎用パワ′イマ− 2/−一・液溶接吻 22−−・チップ先地面 第3図 ?! T=二二==コ
Claims (1)
- 少なくとも被溶接物からのスパッタ粒子が飛来する面に
ダイヤモンド膜、もしくはダイヤモンド状炭素膜、もし
くはBNCもしくはTi、Zr、Hf、V、Nb、Ta
、Mo、W、Si、Bの炭化物膜、あるいは窒化物膜の
うちの1層以上を被覆層として設けた溶接チップ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63020528A JPH01197076A (ja) | 1988-01-29 | 1988-01-29 | 溶接チップ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63020528A JPH01197076A (ja) | 1988-01-29 | 1988-01-29 | 溶接チップ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01197076A true JPH01197076A (ja) | 1989-08-08 |
Family
ID=12029656
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63020528A Pending JPH01197076A (ja) | 1988-01-29 | 1988-01-29 | 溶接チップ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01197076A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2700721A1 (fr) * | 1993-01-22 | 1994-07-29 | American Power Connection Syst | Pointe de pistolet à souder. |
| WO2004108338A1 (ja) * | 2003-06-04 | 2004-12-16 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | 加工機用ノズル、溶接用コンタクトチップ、加工機用ノズルの製造方法、溶接用コンタクトチップの製造方法 |
| US20100320184A1 (en) * | 2009-06-19 | 2010-12-23 | Lincoln Global, Inc. | Welding contact tip and welding gun incorporating the same |
-
1988
- 1988-01-29 JP JP63020528A patent/JPH01197076A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2700721A1 (fr) * | 1993-01-22 | 1994-07-29 | American Power Connection Syst | Pointe de pistolet à souder. |
| WO2004108338A1 (ja) * | 2003-06-04 | 2004-12-16 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | 加工機用ノズル、溶接用コンタクトチップ、加工機用ノズルの製造方法、溶接用コンタクトチップの製造方法 |
| US20100320184A1 (en) * | 2009-06-19 | 2010-12-23 | Lincoln Global, Inc. | Welding contact tip and welding gun incorporating the same |
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