JPH01202676A

JPH01202676A - 集積回路測定用接続装置

Info

Publication number: JPH01202676A
Application number: JP63026795A
Authority: JP
Inventors: Nobuyoshi Takagi; 高木　悦義
Original assignee: Asia Electronics Co
Current assignee: Asia Electronics Co
Priority date: 1988-02-08
Filing date: 1988-02-08
Publication date: 1989-08-15
Also published as: JPH056153B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔発明の目的〕（産業上の利用分野）本発明は、ＩＣ（集積回路）測定装置本体の先端に設け
られるテストヘッドとＩＣソケットとの間に設けられる
集積回路測定用接続装置に関する。

（従来の技術）従来の集積回路測定用接続装置の構成を図面で説明する
。第６図はその平面図１第７図は同断面的構成図である
。このものは、ソケットポート９１Ｓノ４’７オーマン
スポード２ｍＩＣソケット３−被測定ＩＣ４，配線５．
テストヘッド６等から構成されている。テストヘッド６
はＩＣ測定装置本体（図示せず）に接続される。

第８図は集積回路測定用接続装置の他の従来例の平面図
、第９図はその断面的構成図、第１０図はその一部を取
シ出して示す切欠断面図である。

このものは、ソケットボード１〜ＩＣソケツト３゜テス
トヘッド６等をそなえてｂることは前述の装置と同様で
あるが、それ以外にコンタクトボード１１、リング１２
．マニアルボード押え１３．ローレットねじ１４．導電
性ニジストマー（導電性ゴム）１５．これを押える虫ピ
ン１６等をそなえている。

（発明が解決しようとする課題）第６図、第７図の装置は、各異品種の被測定ＩＣ４をそ
れぞれ測定する時には、ノ９フォーマンスポード２から
ソケットボード１に、被測定ＩＣ４毎に異なる電気的な
接続をするため、異なった配線が必要となるので、ソケ
ットボード１．パフォーマンスボードＪ、ＩＣソケット
３を全て交換しなければならなかった。

また第８図ないし第１θ図の装置にお−て、ソケットボ
ード１．ＩＣソケット３によシ構成されるアセンブリは
、ソケットボード１からＩＣソケット３に被測定ＩＣ４
毎に異なる電気的な接続を実現するためにつくられたも
のである。従りてソケットボード１を交換する際、ロー
レットねじ１４を数個所とシはずさなければならず１作
業性が悪す、ｔた複数のローレットねじ１４でリング１
２を、マニアルボード押え１３を使って締めていたので
、複数のローレットねじ１４相互の締め具合で締め付は
力が不均等にかかシ、導電ニジストマー１５．１６．・
・・の接触が不均一だった。更に導電ニジストマー１５
は、コンタクトボード１１を多数貫通した孔に、それぞ
れ１本状で挿入されかつ虫ピン１６で止められているた
め、不具合が生じると、その１本を交換しなければなら
なりという欠点があった。

本発明は上記実情に鑑みてなされたもので、上記各欠点
を改善したＩＣ測定用接続装置を提供するものである。

これによ）マニアルボードの交換が容易で、更にコンタ
クトプローブの保守能率を向上させるのが目的である。

〔発明の構成〕

（課題を解決するための手段と作用）本発明は、ＩＣ測定装置本体に接続されるテストヘッド
の上部に、配線が施こされたノタフォーマンスポードが
設けられ、その上に載置されるコンタクトボードにはこ
れを貫通する複数の両端コンタクトプローブがありて、
この両端コンタクトプローブは、上下二個に分かれてい
て共にスプリングによシ上下に出没可能なものであって
、上記／４フォーマンスポードと、配線が施こされたソ
ケットボードとの間で上記各両端コンタクトグローブの
両端を押えつけるようにし、上記パフォーマンスボード
から側方に突設された突状物を、上記ソケットボードと
接触関係にあ）かつ周囲が蓋状のアタッチメントの複数
のＬ字状溝に嵌合しかつ上記アタッチメントをその周方
向にや一回転して上記突状物を上記り字状溝の奥に入れ
ることにょシ、上記ソケットボードとノ臂フォーマンス
ポード間を固定すると共に上記両端コンタクトグローブ
を介して上記ソケットボードと／母フォーマンスポード
の配線間を電気的Ｋｔｌ続し、上記ソケットポーＰ上の
ＩＣソケットと接続するようにしたことを特徴とする集
積回路測定用接続装置である。

即ち本発明は、突状物をＬ字状溝に差し込んで少し回転
させればソケットボード及びＩＣソケットの着脱が可能
だから、容易に各異品種のＩＣ測定に対応できる。また
二つ割シ散の両端コンタクトプロープ構成であるため１
片方のゾロープ損耗の際１片方のグローブのみの交換が
可能である。

またコンタクトボードよシ下側は、被測定ＩＣの品種に
係わらず一定物で、ソケットボード及びＩＣソケットの
みが被測定ＩＣの品種に係わるものだから、一つのパフ
ォーマンスボードで異品種のＩＣが測定できる。また突
状物とＬ字状溝とアタッチメントの形状が予め皿で決っ
た形状となるから、各両端コンタクトプローブに加わる
力が均等になるものである。

（実施例）以下図面を参照して本発明の一実施例を説明する。第１
図はその装置の平面図、第２図はその一部切反側面図で
ある。これら図において１はソケットボード、２はノぐ
フォーマンスポード、３はＩＣソケット、４は被測定Ｉ
Ｃ，６はテストヘッドである。２１はボード１，２間に
配置されるコンタクトボード、２２はコンタクトボード
２１を貫通し、ボード１．２の配線間をつなぐ両端コン
タクトプローブ、２３はボード２．２１間を固定するピ
ン状金具、２４はボード１．２１間を固定するピン状金
具、２５はボード２１のまわシを囲う周囲が蓋状のアタ
ッチメントリング、２６はボード２上に複数の突起２７
．・・・で固定されるアタッチメントリング、２８はア
タッチメントリング２６上の周囲に沿ってこれにビス２
９で固定されるリング、３０はボーＰｌ上とアタッチメ
ントリング２５間に配置され該リング２５にビス３１で
固定されるリングで、このリング３０はボード１とは接
してｂるだけである。３２はリング２８に取シ付けられ
先端を外周方向に突出させたピン状物（突状物）で、こ
のピン状物３２はリング２８０ＪＨＪ囲に沿って間隔的
に数個（例えばａ　％　ｄの個所）設仕られ、同個所に
設けられたアタッチメントリング２５のＬ字状溝にそれ
ぞれ嵌合されている。

第３図は各両端コンタクトプローブ２２のうちの１本を
示す。この構成は、金属プローブ片２２□。

２２、に分割されて、それぞれがスプリング３３．。

３３！によシ金属スリーブ部３４の両端で出没可能にな
りている。金属プローブ片２２１　　＃　”ｚ間の電気
的導通は、スプリング３３．．３３．。

ストツ１４３５．，３５冨　、スリーブ部３４を介して
とってもよいが、プローブ片２２．，２２．をそれぞれ
くの字形に曲げ、スリーブ部３４の内壁に接触させるこ
と等によシとってもより０第４図はノ９フォーマンスポ
ード２とアタッチメントリング２６の固着方法を示す。

そのためには。

ボード２の突起物２７をリング２６の変形長孔４１に差
し込み、ボード２とリング２６を相対的に図示矢印方向
に回せば１両者の着脱が可能である。

箒５図は１周囲が蓋状のアタッチメントリング２５の側
部構成を示す。即ち該リングの側部には５字状溝５１が
切欠構成されているため、ピン状物３２の先端を５字状
溝５１の下側から該湾内に差し込み、リング２５を各両
端コンタクトプローブ２２に抗して押し下げてからや一
周方向に回転させれば、ピン状物３２の先端は５字状溝
５１の奥５１．に入る。このよ５な操作は第１図のａ〜
ｄの個所でそれぞれ行なわれ、リング２Ｂ　、２６゜突
起２７等を介してリング２５がボード２に取シ付けられ
る。

次に第１図、第２囚の接続装置の組み立て方を説明する
。アタッチメントリングｚｓ、ｚ６）ｔ’ｒソクットボ
ード１を容易に着脱するためのものであシ１両端コンタ
クトプローブ２２はソケットボード１とパフォーマンス
ボード２（共にプリント基板状）を電気的に接続するも
のであシ、かつ両端コンタクトプローブ２２は容易にコ
ンタクトボード２１対し着脱可能な状態にある。しかし
てパフォーマンスボード２に開けられた孔をガイドとし
て、該孔にコンタクトボード２１のピン状金具２３を挿
入することによりて、コンタクトボード２１をノぐフォ
ーマンスポード２に固定する。更にソケットボード１を
コンタクトボード２１の各両端コンタクトグローブ２２
上に載せる。各両端コンタクトプローブ２２にはバネ３
３ｍ　、３３．が挿入されて込るので、これに抗してア
タッチメントリング２５をアタッチメントリング２６方
向に押しながらピン状物３２をＬ字状溝５１内に入れ。

アタッチメントリング２５を周方向に少し回転させて、
ピン状物３２を５字状溝５１の奥５１．に入れることに
よシアタッチメントリング２５を固定すれば、ソケット
ボード１とパフォーマンスボード２の所定の導体部間が
、各両端コンタクトプローブ２２を介して電気的に接続
されるものである。

上記のような構成であれば次のような利点が具備される
。　　・（イ）　ピン状物３２を５字状溝５１に差し込んで少し
アタッチメントリング２５を回転させる取）付は構造だ
から、被測定ＩＣ４の品種に応じたソケットボードｌの
着脱が容易である。

（ｃ４　　両端コンタクトプローブ２２を用いたため。

プローブ損耗がある方の片半部２２□か２２３の込ずれ
かを交換すればよい。

（ハ）　コンタクトボード２１．パフォーマンスボード
２は被測定ＩＣ４の品種に係わらず一定物を用すればよ
く、ソケットボード１及びその上のＩＣソケット３を、
上記ソケットボード１の取シ付は方とは逆操作で取シ外
せるから、一つのノやフォーマンスポード２で異品種の
ＩＣが測定できる。

に）　アタッチメント２５．Ｌ字状＊５１．ビン状物３
２等の形状が予め決った型でつくられるから、アタッチ
メントリング２５．２６の回転機構固定によシ、各両端
コンタクト！ローブ２２に加わる力が均等になった。

〔発明の効果〕

以上説明した如く本発明によれば、被測定ＩＣの品種に
応じたソケットボードの交換が容易であシ、シかもコン
タクトグローブの保守能率を向上させ得る等の利点を有
した集積回路測定用接続装置が提供できるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の装置の平面図、第２図は同
装置の一部切欠側面図、第３図なりし第５図は同装置の
要部の構成図、第６図は従来装置の平面図、第７図はそ
の断面的構成図、第８図は他の従来装置の平面図、第９
図は第８図のＡ−Ａ′線に沿う断面的構成図、第１０図
はその一部を取シ出して示す切欠図である。１・・・ソケットボード、２・・・パフォーマンスボー
ド、３・・・ＩＣソケット、４・・・被測定ＩＣ，６・
・・テストヘッド、２１・・・コンタクトボード、２２
・・・両端コンタクトプローブ、２３，２４．２７・・
・ビン状金具、２８．３０・・・リング、　２９　、　
、？　１・・・ねじ。３２・・・ビン状物（突状物）、３３．．３３□・・・
スプリング＃３４・・・金属スリーブ部、５１・・・Ｌ
字状溝。

Claims

【特許請求の範囲】

　ＩＣ測定装置本体に接続されるテストヘッドの上部に
、配線が施こされたパフォーマンスボードが設けられ、
その上に載置されるコンタクトボードにはこれを貫通す
る複数の両端コンタクトプローブがあって、この両端コ
ンタクトプローブは、上下二個に分かれていて共にスプ
リングにより上下に出没可能なものであって上記パフォ
ーマンスボードと、配線が施こされたソケットボードと
の間で上記各両端コンタクトプローブの両端を押えつけ
るようにし、上記パフォーマンスボードから側方に突設
された実状物を、上記ソケットボードと接触関係にあり
かつ周囲が蓋状のアタッチメントの複数のＬ字状溝に嵌
合しかつ上記アタッチメントをその周方向にやゝ回転し
て上記突状物を上記Ｌ字状溝の奥に入れることにより、
上記ソケットボードとパフォーマンスボード間を固定す
ると共に上記両端コンタクトプローブを介して上記ソケ
ットボードとパフォーマンスボードの配線間を電気的に
接続し、上記ソケットボード上のＩＣソケットと接続す
るようにしたことを特徴とする集積回路測定用接続装置
。