JPH01206245A - 基板の検査方法 - Google Patents
基板の検査方法Info
- Publication number
- JPH01206245A JPH01206245A JP63031361A JP3136188A JPH01206245A JP H01206245 A JPH01206245 A JP H01206245A JP 63031361 A JP63031361 A JP 63031361A JP 3136188 A JP3136188 A JP 3136188A JP H01206245 A JPH01206245 A JP H01206245A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- board
- component
- printed circuit
- circuit board
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/91—Investigating the presence of flaws or contamination using penetration of dyes, e.g. fluorescent ink
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
この発明は、基板を撮像して得られたデータを処理して
前記基板上の部品実装状態を検査するための基板の検査
方法に関する。
前記基板上の部品実装状態を検査するための基板の検査
方法に関する。
〈従来の技術〉
従来、プリント基板上に抵抗器や半導体素子などの各種
チップ部品をマウントするのに自動マウント装置が用い
られている。ところがこの種装置を用いた場合、マウン
トデータどおりに部品がマウントされないことがあるた
め、マウント後にプリント基板をチエツクして、適正位
置に所定のチップ部品が適正姿勢でマウントされている
かどうかや、チップ部品の脱落がないかどうかなどを検
査する必要がある。この種検査として、従来は人手によ
る目視検査が行われていたが、これでは検査ミスの発生
を完全になくすことができず、また検査速度を高めるこ
とも困難である。
チップ部品をマウントするのに自動マウント装置が用い
られている。ところがこの種装置を用いた場合、マウン
トデータどおりに部品がマウントされないことがあるた
め、マウント後にプリント基板をチエツクして、適正位
置に所定のチップ部品が適正姿勢でマウントされている
かどうかや、チップ部品の脱落がないかどうかなどを検
査する必要がある。この種検査として、従来は人手によ
る目視検査が行われていたが、これでは検査ミスの発生
を完全になくすことができず、また検査速度を高めるこ
とも困難である。
そこで、近年、この種の検査を自動的に行うための自動
検査装置が種々提案されている。
検査装置が種々提案されている。
第11図は、従来の自動検査装置の一例を示すもので、
テレビカメラ3.記憶部41判定回路5.モータ6、キ
ーボード7などをその構成として含んでいる。テレビカ
メラ3は部品1が実装された被検査プリント基板2Tを
撮像するためのものであり、またキーボード7は第12
図に示すような検査基準となる基準プリント基板2Sの
種類などに関するデータや、この基準プリント基板2S
上に載っている各部品1の種類、配置位置、取付は姿勢
、形状などに関するデータ、さらにはこれら各部品lの
検査処理手順などに関する情報(データ)を入力するた
めのものである。記憶部4はキーボード7から入力され
たデータなどを記憶し、判定回路5はこの記憶された情
報と前記テレビカメラ3からの画像によって示される情
報とを比較して前記被検査プリント基板2T上に全ての
部品lが存在するかどうかや、これらの部品1が位置ず
れなどを起こしていないかどうかを判定する。モニタ6
はこの判定回路5の判定結果を表示したり、プリントア
ウトしたりする。
テレビカメラ3.記憶部41判定回路5.モータ6、キ
ーボード7などをその構成として含んでいる。テレビカ
メラ3は部品1が実装された被検査プリント基板2Tを
撮像するためのものであり、またキーボード7は第12
図に示すような検査基準となる基準プリント基板2Sの
種類などに関するデータや、この基準プリント基板2S
上に載っている各部品1の種類、配置位置、取付は姿勢
、形状などに関するデータ、さらにはこれら各部品lの
検査処理手順などに関する情報(データ)を入力するた
めのものである。記憶部4はキーボード7から入力され
たデータなどを記憶し、判定回路5はこの記憶された情
報と前記テレビカメラ3からの画像によって示される情
報とを比較して前記被検査プリント基板2T上に全ての
部品lが存在するかどうかや、これらの部品1が位置ず
れなどを起こしていないかどうかを判定する。モニタ6
はこの判定回路5の判定結果を表示したり、プリントア
ウトしたりする。
〈発明が解決しようとする問題点〉
ところで検査対象である部品中には、プリント基板の地
色と似た色をもつものがある。このような部品を上記自
動検査装置により検査すると、部品部分についての信号
レベルと、背景部分についての信号レベルとがほぼ一致
するため、この部品の脱落や位置ずれなどを検出するの
が困難である。
色と似た色をもつものがある。このような部品を上記自
動検査装置により検査すると、部品部分についての信号
レベルと、背景部分についての信号レベルとがほぼ一致
するため、この部品の脱落や位置ずれなどを検出するの
が困難である。
そこでプリント基板上の部品実装位置に紫外線螢光物質
を塗布して、その螢光物質上に部品が存在するか否かを
紫外線を照射して観測することにより検査する方法が提
案された(特開昭57−94672号)。この方法によ
るとき、プリント基板上の部品実装位置より部品が脱落
していると、紫外線螢光物質が露出するため、紫外線の
照射でその螢光物質が強い螢光を発することになる。
を塗布して、その螢光物質上に部品が存在するか否かを
紫外線を照射して観測することにより検査する方法が提
案された(特開昭57−94672号)。この方法によ
るとき、プリント基板上の部品実装位置より部品が脱落
していると、紫外線螢光物質が露出するため、紫外線の
照射でその螢光物質が強い螢光を発することになる。
第13図は、上記の検査方法を示すもので、部品を実装
すべき一対のランド8.8間に紫外線螢光物質9が塗布
されている。第13図(A)はこの紫外線螢光物質9上
に部品が存在していないから、これに紫外線を照射する
と、強い螢光が発生する。これに対し、第13図(B)
は紫外線螢光物質9上に部品1が存在するから、紫外線
螢光物質10には紫外線が当たらず、螢光の発生は殆ど
ない。
すべき一対のランド8.8間に紫外線螢光物質9が塗布
されている。第13図(A)はこの紫外線螢光物質9上
に部品が存在していないから、これに紫外線を照射する
と、強い螢光が発生する。これに対し、第13図(B)
は紫外線螢光物質9上に部品1が存在するから、紫外線
螢光物質10には紫外線が当たらず、螢光の発生は殆ど
ない。
ところが上記の方法の場合、照射光が可視光でないため
、基板をテレビカメラで観測しても照射光による部品の
反射像は得られず、その部品自体に関する情報、すなわ
ちその部品が何であるか、またその部品が抵抗であれば
抵抗値を示すカラーコードは何であるか、さらにその部
品がコンデンサであれば極性マークはどこにあるかなど
の情報が得られず、実装部品についてのより詳細な検査
を実施するなど困難であった。
、基板をテレビカメラで観測しても照射光による部品の
反射像は得られず、その部品自体に関する情報、すなわ
ちその部品が何であるか、またその部品が抵抗であれば
抵抗値を示すカラーコードは何であるか、さらにその部
品がコンデンサであれば極性マークはどこにあるかなど
の情報が得られず、実装部品についてのより詳細な検査
を実施するなど困難であった。
この発明は、上記問題に着目してなされたものであって
、部品検査用の螢光物質として昼光励起螢光剤を用いる
ことにより、部品自体に関する情報をも入手し、もって
詳細な実装部品の検査を実現する新規な基板の検査方法
を提供することを目的とする。
、部品検査用の螢光物質として昼光励起螢光剤を用いる
ことにより、部品自体に関する情報をも入手し、もって
詳細な実装部品の検査を実現する新規な基板の検査方法
を提供することを目的とする。
く問題点を解決するための手段〉
上記目的を達成するため、この発明では、基板を撮像し
て得られたデータを処理して前記基板上の部品実装状態
を検査する基板の検査方法において、基板上の部品実装
位置に昼光励起螢光剤を含む塗料が塗布された後、部品
が実装された基板に可視単色光を照射しながらこの基板
を撮像し、前記塗料の塗布部分を画像上で検出すること
により、前記基板上の部品実装状態を検査することを特
徴としている。
て得られたデータを処理して前記基板上の部品実装状態
を検査する基板の検査方法において、基板上の部品実装
位置に昼光励起螢光剤を含む塗料が塗布された後、部品
が実装された基板に可視単色光を照射しながらこの基板
を撮像し、前記塗料の塗布部分を画像上で検出すること
により、前記基板上の部品実装状態を検査することを特
徴としている。
く作用〉
部品実装位置に昼光励起螢光剤を含む塗料を塗布した場
合、部品が適正位置に存在するときと、部品の脱落や位
置ずれが生じているときとでは、塗料塗布部分の露出状
態に差異が生じる。
合、部品が適正位置に存在するときと、部品の脱落や位
置ずれが生じているときとでは、塗料塗布部分の露出状
態に差異が生じる。
従って基板に可視単色光を照射することにより発生した
螢光の状態を画像上で観測すれば、基板上の部品の有無
や位置ずれ状態を把握し得る。
螢光の状態を画像上で観測すれば、基板上の部品の有無
や位置ずれ状態を把握し得る。
また基板へ照射する光は可視光であるから、その反射像
から部品に関する各種情報を読み取ることができ、詳細
な検査が可能である。
から部品に関する各種情報を読み取ることができ、詳細
な検査が可能である。
〈実施例〉
第1図は、この発明にかかる基板の検査方法を実施する
のに用いられる基板検査装置の−例を示している。
のに用いられる基板検査装置の−例を示している。
図示例の基板検査装置は、基準プリント基板10Sを撮
像して得られた前記基準プリント基板105上にある各
部品13Sのパラメータ(判定データ)と、被検査プリ
ント基板10Tを撮像して得られた前記被検査プリント
基板10T上にある各部品13Tのパラメータ(被検査
データ)とを比較して、これらの各部品13Tが正しく
マウントされているかどうかを検査するためのものであ
って、X−Yテーブル部14.照明部12.撮像部15
.処理部16などをその構成として含んでいる。
像して得られた前記基準プリント基板105上にある各
部品13Sのパラメータ(判定データ)と、被検査プリ
ント基板10Tを撮像して得られた前記被検査プリント
基板10T上にある各部品13Tのパラメータ(被検査
データ)とを比較して、これらの各部品13Tが正しく
マウントされているかどうかを検査するためのものであ
って、X−Yテーブル部14.照明部12.撮像部15
.処理部16などをその構成として含んでいる。
前記基準プリント基板10Sは、第2図に示す各工程を
実施して製作されるもので、まず両面(または片面)に
銅箔が張られた生基板にエツチング加工、レジスト加工
、穴あけ加工などを施して、第2図(A)に示す素基板
11を形成する。ついでこの素基板11上の各部品実装
位置に、第2図(B)に示す如く、昼光励起蛍光剤(例
えば、シンロイヒ株式会社製のFZ−2001やFZ−
2003など)を含む塗料(インク)33をシルクスク
リーン印刷により塗布して定形の螢光領域34を形成し
た後、その螢光領域34上に、第2図<C)に示す如く
、所定の部品139をマウントして、基準プリント基板
!O3が形成される。
実施して製作されるもので、まず両面(または片面)に
銅箔が張られた生基板にエツチング加工、レジスト加工
、穴あけ加工などを施して、第2図(A)に示す素基板
11を形成する。ついでこの素基板11上の各部品実装
位置に、第2図(B)に示す如く、昼光励起蛍光剤(例
えば、シンロイヒ株式会社製のFZ−2001やFZ−
2003など)を含む塗料(インク)33をシルクスク
リーン印刷により塗布して定形の螢光領域34を形成し
た後、その螢光領域34上に、第2図<C)に示す如く
、所定の部品139をマウントして、基準プリント基板
!O3が形成される。
第3図(A)は、矩形状をなす同一形状のランド35.
36間に、実装部品13Sの幅と一致する幅を有しかつ
ランド間隔に相当する長さを有する矩形状の螢光領域3
4(図中、斜線で示す)を形成したもので、この螢光領
域34上に正しく部品が載ると、第4図に示す如く、部
品13S下に螢光領域34が完全に重なって隠れるよう
構成されている。
36間に、実装部品13Sの幅と一致する幅を有しかつ
ランド間隔に相当する長さを有する矩形状の螢光領域3
4(図中、斜線で示す)を形成したもので、この螢光領
域34上に正しく部品が載ると、第4図に示す如く、部
品13S下に螢光領域34が完全に重なって隠れるよう
構成されている。
なお被検査プリント基板10Tも基準プリント基板10
Sと同様な手順で製作されるもので、ここではその説明
を省略する。
Sと同様な手順で製作されるもので、ここではその説明
を省略する。
第1図に戻ってX−Yテーブル部14は、上面に各プリ
ント基板10S、IOTが固定されるX−Yテーブル1
9と、前記処理部16からの制御信号に基づいて前記X
−Yテーブル19を駆動する2つのパルスモータ17,
1Bとを備えており、X−Yテーブル19上にチャック
機構20により固定されたプリント基板10SまたはI
OTは照明部12により照明されなから撮像部15によ
って撮像される。
ント基板10S、IOTが固定されるX−Yテーブル1
9と、前記処理部16からの制御信号に基づいて前記X
−Yテーブル19を駆動する2つのパルスモータ17,
1Bとを備えており、X−Yテーブル19上にチャック
機構20により固定されたプリント基板10SまたはI
OTは照明部12により照明されなから撮像部15によ
って撮像される。
照明部12は、前記処理部16からの制御信号に基づい
てオン/オフ制御や調光制御される白色光源43と、こ
の白色光源43が発した白色光から可視単色光(この可
視単色光は前記昼光励起螢光剤を励起する波長の例えば
緑色の光)だけを選択的に透過させる励起光選択フィル
タ44と、この励起光選択フィルタ44によって選択さ
れた可視単色光をX−Yテーブル部14側に反射して各
プリント基板10S、IOTを照明すると共にこれら各
プリント基板10S。
てオン/オフ制御や調光制御される白色光源43と、こ
の白色光源43が発した白色光から可視単色光(この可
視単色光は前記昼光励起螢光剤を励起する波長の例えば
緑色の光)だけを選択的に透過させる励起光選択フィル
タ44と、この励起光選択フィルタ44によって選択さ
れた可視単色光をX−Yテーブル部14側に反射して各
プリント基板10S、IOTを照明すると共にこれら各
プリント基板10S。
10Tからの光を透過させるハーフミラ−45とを備え
ており、このハーフミラ−45を透過した光は撮像部1
5に供給される。この場合に、前記可視単色光が前記螢
光領域34に当たると、螢光領域34が螢光を発してそ
の光は撮像部15に取り込まれ、一方前記可視単色光が
部品13Sまたは13Tに当たると、その部品の反射光
が撮像部15に取り込まれることになる。
ており、このハーフミラ−45を透過した光は撮像部1
5に供給される。この場合に、前記可視単色光が前記螢
光領域34に当たると、螢光領域34が螢光を発してそ
の光は撮像部15に取り込まれ、一方前記可視単色光が
部品13Sまたは13Tに当たると、その部品の反射光
が撮像部15に取り込まれることになる。
撮像部15は、前記照明部12の上方に位置させたカラ
ーテレビカメラ21を備えており、前記プリント基板1
05または10Tがらの光はこのカラーテレビカメラ2
1によって三原色のカラー信号R,G、Bに変換されて
処理部16へ供給される。
ーテレビカメラ21を備えており、前記プリント基板1
05または10Tがらの光はこのカラーテレビカメラ2
1によって三原色のカラー信号R,G、Bに変換されて
処理部16へ供給される。
この場合、照明部12により各プリント基板10S、I
OTを照明して可視単色光が螢光領域34に当たると、
゛螢光領域34が螢光(ここでは例えば赤色の光)を発
するので、プリント基板10S、IOTの地色が茶色で
、かつこれら各プリント基IffjlO3,IOT上に
マウントされている各部品13S、13Tの色が茶色や
黒色のときでも、第3図(C)に示す如く撮像部15か
ら出力されるカラー信号R,G、Bのうち赤色のカラー
信号Rの走査ラインaに対応する部分に着目すれば、螢
光領域34の信号レベルはその他の部分の信号レベルよ
りも高いものとなる。
OTを照明して可視単色光が螢光領域34に当たると、
゛螢光領域34が螢光(ここでは例えば赤色の光)を発
するので、プリント基板10S、IOTの地色が茶色で
、かつこれら各プリント基IffjlO3,IOT上に
マウントされている各部品13S、13Tの色が茶色や
黒色のときでも、第3図(C)に示す如く撮像部15か
ら出力されるカラー信号R,G、Bのうち赤色のカラー
信号Rの走査ラインaに対応する部分に着目すれば、螢
光領域34の信号レベルはその他の部分の信号レベルよ
りも高いものとなる。
もし第4図(A)のように、螢光領域34上に重なって
部品133,137が正しく実装された場合は、螢光領
域34は部品下に隠れて可視単色光は当たらないから、
この部分での螢光の発生はなく、従って赤色カラー信号
Rの信号レベルは、第4図(C)に示す如く、部品13
Sまたは13Tの赤色カラー信号Rの信号レベルまで低
下することになる。
部品133,137が正しく実装された場合は、螢光領
域34は部品下に隠れて可視単色光は当たらないから、
この部分での螢光の発生はなく、従って赤色カラー信号
Rの信号レベルは、第4図(C)に示す如く、部品13
Sまたは13Tの赤色カラー信号Rの信号レベルまで低
下することになる。
第5図は、螢光領域34に対する部品の実装状態の具体
例を示している。第5図(A)は部品13Sまたは13
Tが螢光領域34上に重なった適正な実装状態を示すの
に対し、第5図(B)(C)(D)は部品133または
13Tがいずれか方向に位置ずれして、螢光領域34の
一部が露出している状態を示している。従って第5図C
B)(C)(D)の状態にある部品133または13T
に対し可視単色光を照射すると、螢光領域34の露出部
分で螢光が発生して高レベルの赤色のカラー信号Rが検
出される。よってこの信号の発生領域の位置、形状、数
1面積などを検出することによって、実装不良の性質(
横ずれ、縦ずれ9回転など)やその程度を、定性的かつ
定量的に自動検出できる。
例を示している。第5図(A)は部品13Sまたは13
Tが螢光領域34上に重なった適正な実装状態を示すの
に対し、第5図(B)(C)(D)は部品133または
13Tがいずれか方向に位置ずれして、螢光領域34の
一部が露出している状態を示している。従って第5図C
B)(C)(D)の状態にある部品133または13T
に対し可視単色光を照射すると、螢光領域34の露出部
分で螢光が発生して高レベルの赤色のカラー信号Rが検
出される。よってこの信号の発生領域の位置、形状、数
1面積などを検出することによって、実装不良の性質(
横ずれ、縦ずれ9回転など)やその程度を、定性的かつ
定量的に自動検出できる。
第6図は、矩形状をなす3個のランド37゜38.39
間に部品133.13Tの平面形状に対応させた螢光領
域34を形成した例を示しており、第6図(A)は適正
な部品実装状態を、また第6図(B)(C)は位置ずれ
が生じた不適正な部品実装状態を、それぞれ示している
。
間に部品133.13Tの平面形状に対応させた螢光領
域34を形成した例を示しており、第6図(A)は適正
な部品実装状態を、また第6図(B)(C)は位置ずれ
が生じた不適正な部品実装状態を、それぞれ示している
。
第7図および第8図は螢光領域34が部品13S、13
Tの平面形状より大きく設定された例を示しており、第
7図(A)および第8図(A)は適正な部品実装状態を
、また第7図(B)(C)(D)および第8図(B)(
C)は位置ずれが生じた不適正な部品実装状態を、それ
ぞれ示している。この場合も前例と同様、高レベルの赤
色カラー信号Rを検出することにより、実装不良の性質
などを定性的かつ定量的に自動識別できる。
Tの平面形状より大きく設定された例を示しており、第
7図(A)および第8図(A)は適正な部品実装状態を
、また第7図(B)(C)(D)および第8図(B)(
C)は位置ずれが生じた不適正な部品実装状態を、それ
ぞれ示している。この場合も前例と同様、高レベルの赤
色カラー信号Rを検出することにより、実装不良の性質
などを定性的かつ定量的に自動識別できる。
また撮像部15から出力されるカラー信号R1G、Bの
うち、他の色のカラー信号(ここでは例えば緑色のカラ
ー信号G)に着目すると、ランド35.36や部品13
3(13T)の信号レベルは、第4図(B)に示す如(
、基板からの反射光の緑色強度に応じた値をとる。第4
図(A)中、40.41は金属光沢をもつ部品の電極を
、また42は白色の極性マークを、それぞれ示しており
、第4図(B)に示す緑色カラー信号Gの信号レベルは
、ランド35,36、電極40,41、部品133(1
3T)、極性マーク42の各色に応じて異なった値をと
り、その信号波形は凹凸形状となる。なお第3図(B)
は、螢光領域34についての緑色カラー信号Gの信号レ
ベルを示しており、この領域の信号レベルはランド35
.36の信号レベルより低くなっている。
うち、他の色のカラー信号(ここでは例えば緑色のカラ
ー信号G)に着目すると、ランド35.36や部品13
3(13T)の信号レベルは、第4図(B)に示す如(
、基板からの反射光の緑色強度に応じた値をとる。第4
図(A)中、40.41は金属光沢をもつ部品の電極を
、また42は白色の極性マークを、それぞれ示しており
、第4図(B)に示す緑色カラー信号Gの信号レベルは
、ランド35,36、電極40,41、部品133(1
3T)、極性マーク42の各色に応じて異なった値をと
り、その信号波形は凹凸形状となる。なお第3図(B)
は、螢光領域34についての緑色カラー信号Gの信号レ
ベルを示しており、この領域の信号レベルはランド35
.36の信号レベルより低くなっている。
このように赤色カラー信号Rの信号レベルをチエツクす
れば部品の実装不良(脱落や位置ずれ)を検出でき、ま
た緑色カラー信号Gの信号レベルをチエツクすれば部品
の種類、電極や極性マークの位置などを読み取ることが
できる。
れば部品の実装不良(脱落や位置ずれ)を検出でき、ま
た緑色カラー信号Gの信号レベルをチエツクすれば部品
の種類、電極や極性マークの位置などを読み取ることが
できる。
なお上記の各実施例は、部品13S(13T)が角型部
品であって、螢光領域34の形状が矩形に設定された例
のみを示しているが、この発明は角型部品以外の部品に
も適用できることは勿論であり、また螢光領域34の形
状も矩形以外の任意の形状に設定することも可能である
。
品であって、螢光領域34の形状が矩形に設定された例
のみを示しているが、この発明は角型部品以外の部品に
も適用できることは勿論であり、また螢光領域34の形
状も矩形以外の任意の形状に設定することも可能である
。
第1図に戻って処理部16は、A/D変換部23、メモ
リ24.ティーチングテーブル25゜画像処理部269
判定部22.X−Yステージコントローラ27.撮像コ
ントローラ38゜CR7表示部28.プリンタ29.キ
ーボード30、制御部(CPU)31などから構成され
るもので、ティーチングモードのとき、基準プリント基
板103についてのカラー信号R,G。
リ24.ティーチングテーブル25゜画像処理部269
判定部22.X−Yステージコントローラ27.撮像コ
ントローラ38゜CR7表示部28.プリンタ29.キ
ーボード30、制御部(CPU)31などから構成され
るもので、ティーチングモードのとき、基準プリント基
板103についてのカラー信号R,G。
Bを処理し基板上の各部品13Sや螢光領域34の特徴
パラメータを抽出して判定データファイルを作成し、ま
た検査モードのとき、被検査プリント基板10Tについ
てのカラー信号R,G。
パラメータを抽出して判定データファイルを作成し、ま
た検査モードのとき、被検査プリント基板10Tについ
てのカラー信号R,G。
Bを処理し基板上の各部品13Tや螢光領域34の特徴
パラメータを抽出して被検査データファイルを作成する
。そしてこの被検査データファイルと前記判定データフ
ァイルとを比較して、この比較結果から被検査プリント
基板10T上に所定の部品13Tが脱落や位置ずれする
ことなく実装されているかどうかを検査する。
パラメータを抽出して被検査データファイルを作成する
。そしてこの被検査データファイルと前記判定データフ
ァイルとを比較して、この比較結果から被検査プリント
基板10T上に所定の部品13Tが脱落や位置ずれする
ことなく実装されているかどうかを検査する。
A/D変換部23は前記撮像部15からカラー信号R,
G、Bが供給されたときに、これをアナログ・ディジタ
ル変換して制御部31へ出力する。メモリ24はRAM
などを備え、制御部31の作業エリアとして使われる。
G、Bが供給されたときに、これをアナログ・ディジタ
ル変換して制御部31へ出力する。メモリ24はRAM
などを備え、制御部31の作業エリアとして使われる。
画像処理部26は制御部31を介して供給された画像デ
ータを画像処理して前記被検査データファイルや判定デ
ータファイルを作成し、これらを制御部31や判定部2
2へ供給する。
ータを画像処理して前記被検査データファイルや判定デ
ータファイルを作成し、これらを制御部31や判定部2
2へ供給する。
ティーチングテーブル25はフロッピーディスク装置な
どを備えており、ティーチング時に制御部31から判定
データファイルが供給されたとき、これを記憶し、また
検査時に制御部31が転送要求を出力したとき、この要
求に応じて判定データファイルを読み出して、これを制
御部31や判定部22などへ供給する。
どを備えており、ティーチング時に制御部31から判定
データファイルが供給されたとき、これを記憶し、また
検査時に制御部31が転送要求を出力したとき、この要
求に応じて判定データファイルを読み出して、これを制
御部31や判定部22などへ供給する。
判定部22は、検査時に制御部31から供給された判定
データファイルと、前記画像処理部26から転送された
被検査データファイルとを比較して、その被検査プリン
ト基板10Tにつき部品実装状態の良否を判定し、その
判定結果を制御部31へ出力する。
データファイルと、前記画像処理部26から転送された
被検査データファイルとを比較して、その被検査プリン
ト基板10Tにつき部品実装状態の良否を判定し、その
判定結果を制御部31へ出力する。
撮像コントローラ38は、制御部31と照明部12およ
び撮像部15とを接続するインターフェースなどを備え
、制御部31の出力に基づき照明部12と撮像部15と
を制御する。X−Yステージコントローラ27は制御部
31と前記X−Yテーブル部14とを接続するインター
フェースなどを備え、制御部31の出力に基づきX−Y
テーブル部14を制御する。
び撮像部15とを接続するインターフェースなどを備え
、制御部31の出力に基づき照明部12と撮像部15と
を制御する。X−Yステージコントローラ27は制御部
31と前記X−Yテーブル部14とを接続するインター
フェースなどを備え、制御部31の出力に基づきX−Y
テーブル部14を制御する。
CR7表示部28はブラウン管(CRT)を備え、制御
部31から画像データ、判定結果、キー人力データなど
が供給されたとき、これを画面上に表示する。プリンタ
29は制御部31から判定結果などが供給されたとき、
これを予め決められた書式(フォーマット)でプリント
アウトする。キーボード30は操作情報や基準プリント
基板10Sに関するデータ、この基準プリント基板10
S上の部品13Sに関するデータなどを入力するのに必
要な各種キーを備えており、このキーボード30から入
力された情報やデータなどは制御部31へ供給される。
部31から画像データ、判定結果、キー人力データなど
が供給されたとき、これを画面上に表示する。プリンタ
29は制御部31から判定結果などが供給されたとき、
これを予め決められた書式(フォーマット)でプリント
アウトする。キーボード30は操作情報や基準プリント
基板10Sに関するデータ、この基準プリント基板10
S上の部品13Sに関するデータなどを入力するのに必
要な各種キーを備えており、このキーボード30から入
力された情報やデータなどは制御部31へ供給される。
制御部31は、マイクロプロセッサなどを備えており、
第9図に示す手順に沿って動作する。
第9図に示す手順に沿って動作する。
まず新たな被検査プリント基板10Tを検査するときに
は、制御部31は、第9図(A)に示すメインフローチ
ャートのステップl(図中、rsTl、で示す)におい
て第4図(B)に示すティーチングルーチンを呼び出す
。ついでこのルーチンのステップ2で装置各部を制御し
て照明部12や撮像部15をオンし、また撮像条件やデ
ータの処理条件を整えた後、ステップ3でX−Yテーブ
ル部14上に基準プリント基板lO3がセットされたか
どうかをチエツクする。
は、制御部31は、第9図(A)に示すメインフローチ
ャートのステップl(図中、rsTl、で示す)におい
て第4図(B)に示すティーチングルーチンを呼び出す
。ついでこのルーチンのステップ2で装置各部を制御し
て照明部12や撮像部15をオンし、また撮像条件やデ
ータの処理条件を整えた後、ステップ3でX−Yテーブ
ル部14上に基準プリント基板lO3がセットされたか
どうかをチエツクする。
もしX−Yテーブル部14上に基準プリント基板10S
がセットされていれば、ステップ4へ進み、制御部31
はX−Yテーブル部14を制御して基準プリント基板1
03を位置出しした後、撮像部15に基準プリント基板
10Sを撮像させる。この撮像動作で得られた三原色の
カラー信号R,G、BはA/D変換部23でA/D変換
され、その変換結果はメモリ24にリアルタイムで記憶
される。
がセットされていれば、ステップ4へ進み、制御部31
はX−Yテーブル部14を制御して基準プリント基板1
03を位置出しした後、撮像部15に基準プリント基板
10Sを撮像させる。この撮像動作で得られた三原色の
カラー信号R,G、BはA/D変換部23でA/D変換
され、その変換結果はメモリ24にリアルタイムで記憶
される。
次いで制御部31は、ステップ5で前記メモIJ24よ
り赤色の画像データを画像処理部26へ転送させ、この
画像処理部26にて赤色の画像データを適当な、しきい
値で2値化するなどして、まず螢光領域34のシルエッ
ト画像を抽出させる。この場合、もし螢光領域34が部
品下に完全に隠れておれば、シルエット画像は抽出され
ない。つぎにステップ6では画像処理部26ヘメモリ2
4より緑色の画像データが転送され、この緑色の画像デ
ータを用いて各部品13Sの画像が抽出される。つぎの
ステップ7で制御部31は、画像処理部26を制御し、
各部品133の緑色画像につき各部分(電極など)の明
度をチエツクするなどして各部品13Sの電極40の位
置や極性マーク42の位置などを識別させる。
り赤色の画像データを画像処理部26へ転送させ、この
画像処理部26にて赤色の画像データを適当な、しきい
値で2値化するなどして、まず螢光領域34のシルエッ
ト画像を抽出させる。この場合、もし螢光領域34が部
品下に完全に隠れておれば、シルエット画像は抽出され
ない。つぎにステップ6では画像処理部26ヘメモリ2
4より緑色の画像データが転送され、この緑色の画像デ
ータを用いて各部品13Sの画像が抽出される。つぎの
ステップ7で制御部31は、画像処理部26を制御し、
各部品133の緑色画像につき各部分(電極など)の明
度をチエツクするなどして各部品13Sの電極40の位
置や極性マーク42の位置などを識別させる。
この後のステップ8で制御部31は、前記シルエット画
像とステップ7の識別結果とに基づいて、被検査プリン
ト基板10Tを検査するのに必要な判定データファイル
を作成し、これをティーチングテーブル25に記憶させ
た後、このティーチングルーチンを終了する。
像とステップ7の識別結果とに基づいて、被検査プリン
ト基板10Tを検査するのに必要な判定データファイル
を作成し、これをティーチングテーブル25に記憶させ
た後、このティーチングルーチンを終了する。
つぎに検査モードに移行すると、制御部31はメインフ
ローチャートのステップ9において第4図(C)に示す
検査ルーチンを呼び出す。
ローチャートのステップ9において第4図(C)に示す
検査ルーチンを呼び出す。
ついでこの検査ルーチンのステップ10でティーチング
テーブル25やキーボード30からその日の日付データ
や、被検査プリント基板10TのIDナンバ(識別番号
)を取り込むとともに、ティーチングテーブル25から
判定データファイルを読み出して、これを判定部22に
供給する。
テーブル25やキーボード30からその日の日付データ
や、被検査プリント基板10TのIDナンバ(識別番号
)を取り込むとともに、ティーチングテーブル25から
判定データファイルを読み出して、これを判定部22に
供給する。
この後、制御部31は、撮像条件やデータの処理条件を
整えた後、ステップ11でX−Yテーブル部14上に被
検査プリント基板10Tがセットされたかどうかをチエ
ツクする。
整えた後、ステップ11でX−Yテーブル部14上に被
検査プリント基板10Tがセットされたかどうかをチエ
ツクする。
もしステップ11が“YES”であれば、制御部31は
ステップ12〜15において、前記と同様、画像処理部
26にて螢光領域34のシルエット画像の抽出、各部品
13Tの緑色画像の抽出、電極や極性マークの識別を順
次行わせた後、ステップ16でシルエット画像とステッ
プ15の識別結果とに基づき被検査データファイルを作
成する。ついでステップ17で制御部31は、前記被検
査データファイルを判定部22に転送させ、この被検査
データファイルと前記判定データファイルとを比較させ
て、被検査プリント基板10T上に所定の部品13Tが
脱落や位置ずれなしに、しかも適正な向きで全てマウン
トされているかどうかなどを判定させると共に、つぎの
ステップ18でこの判定結果をCR7表示部28やプリ
ンタ29に供給して、これらを表示させ、またプリント
アウトさせる。
ステップ12〜15において、前記と同様、画像処理部
26にて螢光領域34のシルエット画像の抽出、各部品
13Tの緑色画像の抽出、電極や極性マークの識別を順
次行わせた後、ステップ16でシルエット画像とステッ
プ15の識別結果とに基づき被検査データファイルを作
成する。ついでステップ17で制御部31は、前記被検
査データファイルを判定部22に転送させ、この被検査
データファイルと前記判定データファイルとを比較させ
て、被検査プリント基板10T上に所定の部品13Tが
脱落や位置ずれなしに、しかも適正な向きで全てマウン
トされているかどうかなどを判定させると共に、つぎの
ステップ18でこの判定結果をCR7表示部28やプリ
ンタ29に供給して、これらを表示させ、またプリント
アウトさせる。
第10図は、この発明を実施するのに用いられる基板検
査装置の他の実施例を示している。
査装置の他の実施例を示している。
同図の装置例は、ベルトコンベヤ部46上に基準プリン
ト基板lO3や被検査プリント基板10Tを供給し、こ
れら基板が照明部12および撮像部15の下方位置に搬
送されてきたときに基板の検査が実施されるものである
。なおベルトコンベヤ部46の動作はコンベヤコントロ
ーラ47により制御される。
ト基板lO3や被検査プリント基板10Tを供給し、こ
れら基板が照明部12および撮像部15の下方位置に搬
送されてきたときに基板の検査が実施されるものである
。なおベルトコンベヤ部46の動作はコンベヤコントロ
ーラ47により制御される。
照明部12は、前記処理部16からの制御信号に基づい
て白色光を瞬時的に発生させるリング状のストロボ光源
48を備え、このストロボ光源48の下面側に、白色光
から可視単色光(この可視単色光は前記昼光励起螢光剤
を励起する波長の例えば緑色の光)だけを選択的に透過
させるだめのリング状の励起光選択フィルタ49を配備
して成るもので、このストロボ照明下で撮像部15が移
動中のプリント基板10S。
て白色光を瞬時的に発生させるリング状のストロボ光源
48を備え、このストロボ光源48の下面側に、白色光
から可視単色光(この可視単色光は前記昼光励起螢光剤
を励起する波長の例えば緑色の光)だけを選択的に透過
させるだめのリング状の励起光選択フィルタ49を配備
して成るもので、このストロボ照明下で撮像部15が移
動中のプリント基板10S。
10Tを撮像して、静止画像を生成する。
また撮像部15は、プリント基板10S。
LOTからの光を2つに分ける光分配器50と、この光
分配器50から出射される一方の光からプリント基板1
0S、IOTが発する螢光を抽出する螢光選択フィルタ
51aと、この螢光選択フィルタ51aによって選択さ
れた螢光画像を電気信号に変換するモノクロテレビカメ
ラ52aと、前記光分配器50から出射される他方の光
から前記励起光選択フィルタ49と同じ波長の光を抽出
する反射光透過フィルタ51bと、この反射光透過フィ
ルタ51bによって選択された反射光画像を電気信号に
変換するモノクロテレビカメラ52bとを備えており、
各モノクロテレビカメラ52a、52bによって得られ
る螢光画像と反射光画像とは処理部16に供給されて処
理される。
分配器50から出射される一方の光からプリント基板1
0S、IOTが発する螢光を抽出する螢光選択フィルタ
51aと、この螢光選択フィルタ51aによって選択さ
れた螢光画像を電気信号に変換するモノクロテレビカメ
ラ52aと、前記光分配器50から出射される他方の光
から前記励起光選択フィルタ49と同じ波長の光を抽出
する反射光透過フィルタ51bと、この反射光透過フィ
ルタ51bによって選択された反射光画像を電気信号に
変換するモノクロテレビカメラ52bとを備えており、
各モノクロテレビカメラ52a、52bによって得られ
る螢光画像と反射光画像とは処理部16に供給されて処
理される。
なお第10図中、上記以外の各構成は、第1図の第1実
施例と同様であり、ここでは対応する構成に同一符号を
付することでその説明を省略する。
施例と同様であり、ここでは対応する構成に同一符号を
付することでその説明を省略する。
また第1の実施例では、XY子テーブル14をX、 Y
の両方向に駆動してプリント基板103゜10Tの位置
出しを行っているが、例えばテーブル部はY方向へ移動
可能となし、照明部12および撮像部15はX方向へ移
動可能となしたり、テーブル部は固定テーブルとなし、
照明部12および撮像部15をX、Yの両方向へ移動可
能となすなど、適宜設計変更が可能である。
の両方向に駆動してプリント基板103゜10Tの位置
出しを行っているが、例えばテーブル部はY方向へ移動
可能となし、照明部12および撮像部15はX方向へ移
動可能となしたり、テーブル部は固定テーブルとなし、
照明部12および撮像部15をX、Yの両方向へ移動可
能となすなど、適宜設計変更が可能である。
〈発明の効果〉
この発明は上記の如(、基板上の部品実装位置に昼光励
起螢光剤を含む塗料が塗布された後、部品が実装された
基板に可視単色光を照射しながらこの基板を撮像し、前
記塗料の塗布部分を画像上で検出することにより、前記
基板上の部品実装状態を検査するから、基板上の部品の
有無や位置ずれ状態を確実に検査でき、しかも基板に対
する照射光は可視光であるから、その反射光から部品に
関する各種情報を読み取って、より詳しい検査を、実施
することが可能であるなど、発明目的を達成した顕著な
効果を奏する。
起螢光剤を含む塗料が塗布された後、部品が実装された
基板に可視単色光を照射しながらこの基板を撮像し、前
記塗料の塗布部分を画像上で検出することにより、前記
基板上の部品実装状態を検査するから、基板上の部品の
有無や位置ずれ状態を確実に検査でき、しかも基板に対
する照射光は可視光であるから、その反射光から部品に
関する各種情報を読み取って、より詳しい検査を、実施
することが可能であるなど、発明目的を達成した顕著な
効果を奏する。
第1図はこの発明を実施するための基板検査装置を示す
説明図、第2図はプリント基板の製作工程を示す斜面図
、第3図は螢光領域とそのカラー信号の信号波形との関
係を示す説明図、第4図は螢光領域上の部品とそのカラ
ー信号の信号波形との関係を示す説明図、第5図および
第6図は螢光領域に対する部品実装状態を示す平面図、
第7図および第8図は他の実施例の螢光領域に対する部
品実装状態を示す平面図、第9図は基板検査装置の動作
手順を示すフローチャート、第10図は基板検査装置の
他の実施例を示す説明図、第11図は従来の基板検査装
置を示す説明図、第12図は基準プリント基板を示す正
面図、第13図は紫外線螢光物質を用いた従来の基板の
検査方法を示す平面図である。 10S、IOT・・・・プリント基板 133.13T・・・・部品 12・・・・照明部 15・・・・撮像部 16・・・・処理部 34・・・・螢光領域
説明図、第2図はプリント基板の製作工程を示す斜面図
、第3図は螢光領域とそのカラー信号の信号波形との関
係を示す説明図、第4図は螢光領域上の部品とそのカラ
ー信号の信号波形との関係を示す説明図、第5図および
第6図は螢光領域に対する部品実装状態を示す平面図、
第7図および第8図は他の実施例の螢光領域に対する部
品実装状態を示す平面図、第9図は基板検査装置の動作
手順を示すフローチャート、第10図は基板検査装置の
他の実施例を示す説明図、第11図は従来の基板検査装
置を示す説明図、第12図は基準プリント基板を示す正
面図、第13図は紫外線螢光物質を用いた従来の基板の
検査方法を示す平面図である。 10S、IOT・・・・プリント基板 133.13T・・・・部品 12・・・・照明部 15・・・・撮像部 16・・・・処理部 34・・・・螢光領域
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 基板を撮像して得られたデータを処理して前記基板上の
部品実装状態を検査する基板の検査方法において、 基板上の部品実装位置に昼光励起螢光剤を含む塗料が塗
布された後、部品が実装された基板に可視単色光を照射
しながらこの基板を撮像し、前記塗料の塗布部分を画像
上で検出することにより、前記基板上の部品実装状態を
検査することを特徴とする基板の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63031361A JPH01206245A (ja) | 1988-02-12 | 1988-02-12 | 基板の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63031361A JPH01206245A (ja) | 1988-02-12 | 1988-02-12 | 基板の検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01206245A true JPH01206245A (ja) | 1989-08-18 |
Family
ID=12329102
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63031361A Pending JPH01206245A (ja) | 1988-02-12 | 1988-02-12 | 基板の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01206245A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6187417B1 (en) | 1998-02-18 | 2001-02-13 | International Business Machines Corporation | Substrate having high optical contrast and method of making same |
| JP2016100527A (ja) * | 2014-11-25 | 2016-05-30 | 日本電気株式会社 | 基板の識別装置、基板の識別方法、及び基板のトレーサビリティシステム |
-
1988
- 1988-02-12 JP JP63031361A patent/JPH01206245A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6187417B1 (en) | 1998-02-18 | 2001-02-13 | International Business Machines Corporation | Substrate having high optical contrast and method of making same |
| JP2016100527A (ja) * | 2014-11-25 | 2016-05-30 | 日本電気株式会社 | 基板の識別装置、基板の識別方法、及び基板のトレーサビリティシステム |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH07107514B2 (ja) | 基板検査装置における表示方法および表示装置 | |
| JPH06167460A (ja) | 検査装置 | |
| JP2782759B2 (ja) | ハンダ付け外観検査装置 | |
| JP2748977B2 (ja) | 基板検査結果表示装置 | |
| JP2000004079A (ja) | はんだ検査装置 | |
| EP0370527A1 (en) | Method of and apparatus for inspecting substrate | |
| JPS63225153A (ja) | 基板検査方法 | |
| JPH01206243A (ja) | 基板の検査方法 | |
| JP2696878B2 (ja) | 基板の検査方法およびその装置 | |
| JPH0526815A (ja) | 実装部品検査用データの教示方法 | |
| JPH01203949A (ja) | 基板の検査方法 | |
| JPS62298750A (ja) | プリント基板検査装置 | |
| JPS63148152A (ja) | 基板検査装置 | |
| JPS62180251A (ja) | 基板自動検査装置におけるティーチング方法および装置 | |
| JPS63111404A (ja) | 基板の検査方法 | |
| JPS63113680A (ja) | 基板の検査方法 | |
| JP2790557B2 (ja) | 検査データ教示方法およびこの方法を用いた実装基板検査装置 | |
| JP2629881B2 (ja) | 基板検査のための検査領域設定方法およびその方法を用いた検査領域設定装置 | |
| JPH06235699A (ja) | 実装部品検査方法 | |
| JPS63124943A (ja) | 実装基板検査装置 | |
| JP2000019123A (ja) | はんだ検査装置 | |
| JP3035574B2 (ja) | 実装部品検査装置の教示方法 | |
| JP2000002667A (ja) | はんだ検査装置 | |
| JPS63113679A (ja) | 基板の検査方法 | |
| JPS6390707A (ja) | 実装基板検査装置 |