JPH01208785A - テープカセットおよびその筐体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は高密度磁気記録に適した金属系磁気テープを収
納するテープカセットに関するものである。

従来の技術 現在、隆盛をみている磁気記録の方式は、磁束微分型を
基本とするもので、信号のやりとりを行う磁気テープ、
磁気ヘッド系の進歩を軸に発展してきたといっても過言
ではない。

今後も磁気記録を発展させていく為には、−層の記録密
度の向上が不可欠であり、テープ、ヘッド系は従来の酸
化物系から金属系へ移行が前ｉとなっており、各方面で
活発な開発が進められている。

金属系の磁気テープは、鉄、コバルト等の強磁性金属粉
末を結合剤中に分散させた状態で、高分子フィルム上に
塗布したいわゆるＭＰテープと、Ｇｏ−Ｎｉ−０斜め蒸
着膜を高分子フィルム上に配した。いわゆるＭＥテープ
に大別され、８ミリビデオや放送用録画機器の高密度化
の一翼を担いはじめている。更にかかる金属系の磁気テ
ープはアナログ記録からディジタル記録の高密度化の為
に不可欠のものとして太いに期待され、記録信号の波長
短縮化がもたらす諸問題と、材料自体のもつ宿命的な課
題に対し、より高水準での解決に向けての検討が続けら
れている。

上記した中で、重要な課題は、短波長信号で大きく問題
となるスペーシング損失を極力小さくする為の平滑性の
良好な磁気記録層へ、いかにして耐久性を付与するかと
いった、いわゆるトライポロジー上の課題と、薄膜化し
て短波長特性を改善した時に、いかにして総磁束を確保
し、且つ腐食による経時劣化問題に対策を加えるかであ
る。

今までに、かかる課題解決のためになされた提案は、下
記の（ア）から（オ）に集約される〇即ち、 （ア）磁気記録層に微小突起を配し、摩擦、摩耗等を改
善する〔例えば、アイイーイーイー　トランザクション
ズ　オン　マグネティクス（［［ＴＲＡＮＳＡＣＴＩＯ
ＮＳ　　ＯＮ　　ＭＡＧＮＥＴＺＣ３）ｖｏｌ　　ＭＡ
Ｃ−２１、Ｎｏ　６．１５２４〜１５２６　（１９８５
）、特開昭５９−２０７４２２号公報、同６１−２８４
８２９号公報〕 （イ）磁性を担う金属部分を露出させずに、耐食性。

耐摩耗性等を改善するために部分酸化層を有効利用する
〔例えば、特公昭６７−２３９１号公報、特公昭５７−
２９７７０号公報、特開昭６１−１６３８５６号公報〕 （つ）磁気記録層の材料構成自体を硬くて、耐食性の良
好なものにする〔例えば、特開昭６９−１１９６３２号
公報、特開昭８１−１３９９２０号公報〕 （１）磁気記録層と磁気ヘッド等との直接摺動を避け、
磁気記録層自体の本質的役割と、摺動に対する耐久性の
確保は別の保護潤滑層を配することで役割分担する〔例
えば、特開昭６０−９３６３５号公報、同６１−１３１
２３１号公報、同６１−１４２５２５号公報、同６１−
１５１８３０号公報、同６１−２４２３２３号公報、同
６１−２８４８２９号公報、同６１−２８００１９号公
報、同６２−８３２５号公報。

特公昭６１−６１４４４号公報〕 号公報上記提案の組み合わせ、 のいずれかが採用されている。

上記した技術によシ改善された磁気テープは、一般に、
テープカセット内に配設され実用に供される。

現在実用化されているテープカセットは、合成樹脂の成
型加工部品を組み立てたものが圧倒的多数を占め、各種
の規格の定めるところに従って、材料、デザイン、組立
性２機械特性、耐候性等について適宜工夫がなされてき
ているが、特に最近の高密度記録用途には、外部からの
異物混入を防ぎ、ドロップアウトや目づまシ等の不具合
が生じないようにする目的で、必要な密閉性の確保が前
提となっている〔例えば、実公昭５７−９９８３号公報
、実開昭５８−１０９８７５号公報、特開昭６１−５４
８７号公報、実開昭６１−４８４８１号公報、特開昭６
１−１６２２９０号公報、実開昭６１−１１８１７５号
公報〕。上記した密閉性の良好な、具体的には市販の８
ミリビデオ、Ｒ−ＤＡＴ、放送用Ｍｌフォーマット等の
カセットは、金属系の磁気テープの耐候性を改善する面
でも好ましいもので、磁気テープ自体の改善を側面から
助け、実用化を可能ならしめたとみられているものであ
る。

発明が解決しようとする課題 しかしながら、近年のビデオの普及には著しいものがあ
り、民生用、業務用を問わず録画対象が拡大し、単に高
温多湿、高温低湿等の環境条件の厳しさに耐えるだけで
なく、各種の腐食性ガス、例えばＨ２Ｓ　、　Ｓｏ□、
　Ｃ１２，ＮＯｘ等が加わるより過酷な条件で実用に耐
えることが求められてきている。

一般的な使用条件下であれば、全く実害のないテープカ
セットであっても、上記ガスが高濃度に存在する特殊な
環境では短時間の暴露であっても信号欠落や目づまりを
誘発するといった問題点があシ改善が望まれていた。

本発明は上記した事情に鑑みなされたもので、腐食性の
強い特殊な環境条件下でも高密度記録の信頼性の確保を
可能にする改良されたテープカセットヲ提案するもので
ある。

課題全解決するための手段 上記の課題全解決するために、本発明のテープカセット
は、収納される磁気テープの磁気記録層と同等以上の腐
食性を有するトラップ層を少くともカセットの両リール
間に架張された磁気テープの近傍の一部に配するように
したものである。

作用 本発明のテープカセット内に配設された金属系の磁気テ
ープは、保存状態のテープカセットに存在する隙間より
拡散侵入してくる腐食性ガスが選択的にトラップ層に吸
着反応することで捕獲され、次々侵入してくるガスが濃
度包配支配の拡散により、トラップ層に向って流れるこ
とにより、高腐食性ガス雰囲気に於ても、磁気テープ側
の受ける劣化は実用上差し支えのない状態に保てること
になる。上記した作用はカセットが密閉されている度合
が高く、内部の気体が拡散で移動することから特に強く
あられれているものである。

実施例 以下、図面を参照しながら本発明の一実施例について説
明する。第２図は、本発明の一実施例のテープカセット
に配設し、実用性を評価したＭＥテープの拡大断面図で
ある。第２図で１はポリエチレンテレフタレート、ポリ
エチレンナフタレート、ポリフェニレンサルファイド等
の高分子フィルム、２はム１２０５．５ｉｎ２．　Ｅｕ
２Ｏ３，ＣａＯ、ＺｒＯ□等の微粒子を塗布した微粒子
塗布層である。３はＧｏ　−０、Ｇｏ−Ｎｉ　、　Ｃｏ
　−Ｏｒ　、　Ｇｏ−Ｔｉ　、　Ｇｏ−Ｓｉ　。

Ｇｏ　−Ｏｒ　−Ｗｂ　、　Ｇｏ　−Ｎｉ　−０等の強
磁性金属薄膜からなる磁気記録層、４は保護潤滑層で脂
肪酸。

パーフルオロカルボン酸、パーフルオロポリエーテル等
の潤滑剤と、Ｓｉｎ、、膜、プラズマ重合膜。

ＢＮ膜、アモルファスカーボン膜等の保護膜をスペーシ
ング損失を勘案しながら、最適膜厚構成で配したもので
ある。６は走行性の改善のために配したカーボン、炭化
カルシウム等のフィラー類を樹脂中に分散固定したいわ
ゆるバンクコート層である０ 上記した構成の磁気テープは捧インチ、８ミリ。

３．８　ミ！Ｊのいずれか又は必要であれば他の所定の
幅に裁断され、リーダーテープ、トレーラ−テープを介
して、リールに必要長さ巻回された後、カセット内に組
み込まれる。

本発明の一実施例で対象となるテープカセットは、比較
的密閉性の良好なもので、現在大量に利用されている捧
インチの家庭用ビデオテープのテープカセットのように
、後述する裏蓋のないような密閉度では十分な作用効果
が得にくいことから詳しく説明するのは第２図、第３図
に外観図を挙げて示したように、８ミリビデオ用、Ｒ−
ＤＡＴ用に代表される程度に密閉された構造を前提とし
ているものである。

第３図は、８ミリビデオ用のテープ力セツ）ｋ示す外観
図で、６は磁気テープ、７は本体ケースで８はケース人
（以下、下）・−フと称す）、９はケースＢ（以下、上
）・−フと称す）、１０は上ノ・−７９に開閉可能に枢
支されて、本体ケース７の前面を蓋する前蓋である。１
１は引き出しに供される磁気テープ６を保護するための
後蓋である。

第４図はＲ−ＤＡＴ用のテープカセットの外観図で、１
２は上ケース、１３は下ケース、１４はスライダー、１
６はリッドである。

以下、更に具体的な一実施例について詳しく説明する。

本実施例の効果を調べるのに用いた磁気テープはＭＥテ
ープとＭＰテープで、ＭＰテープについては、予備実験
の結実現在市販されてるテープ間に格別の差異が認めら
れなかったのでＱ社の６０分テープを用いた。

一方ＭＫテープについては、厚み１０μｍのポリエチレ
ンテレフタレートフィルム上に直径１００人のＥｕ２Ｏ
３微粒子を１（μｍ）当り平均１０ケ塗布した後、直径
１ｍの円筒キャンに沿わせて６×１ｏ　　（Ｔｏｒｒ）
〜１Ｘ１０　　（Ｔｏｒｒ）の酸素中で最小入射角４５
度でＧｏ−Ｎｉ（Ｎｉ　２０ｗｔ％）を０．１μｍ蒸着
し、その反対側の面に、カーボンと炭化カルシウムを１
：１に混合し、ポリウレタン樹脂に対し、２０重量％分
散させ、イソシアネートと溶剤を混ぜ、塗布乾燥し０．
５μｍのバックコート層を配し、Ｇｏ−Ｎｉ層上に、パ
ーフルオロカルボン酸として市販されているデュポン社
製の”ＫＲＹＴＯＸ−１５７、ＦＳ−Ｍ”　　ｆ約１ｏ
Ｏ人配した８ミリ幅のテープを用いた。

両者のテープをテープカセット内に配設し、各種の環境
に暴露した時、本発明の一実施例が比較例と対比して実
用性にいかにすぐれているかを説明する前に、本発明の
要件である同等以上の腐食性を有するトラップ層につい
て詳しく説明する。

一般的には、バルク材料の耐食性に関する試験法。

規格等を利用することが出来れば良いが、一実施例で後
述するように、磁気テープは、薄膜か塗膜のいずれかの
部位の腐食が問題であり、カセット側に配する腐食性ガ
スを反応吸着する機能を有するトラップは、バルク、薄
膜、塗膜、成型材等の形態があり、後述するデツキに装
着して利用した時に記録再生の過程で生じる問題と対応
のとれる評価法で腐食性を調べるのが現実的であると判
断し、以下に述べる尺度を用いて検討を進めた。

温度、湿度、腐食性ガス濃度をコントロールできる２ｏ
１のガラス容器を用意し、磁気テープとトラップをカセ
ットに配する条件で配した試験片を１０ＣＭ離して、ホ
ルダーに固定し、一定時間暴露した後、光学顕微鏡（倍
率１００倍）で腐食が進行した面積を面分率（％）で評
価し、同じ面分率であれば同等の腐食性であるとみなし
た。尚誤差を小さくするため、温度、湿度、腐食性ガス
の種類、濃度は、実験としては広い範囲で確認を行った
が、後述する例では、３６℃、８０％、ＨＣｌ２ｐ、ｐ
、ｍ　　３分間での腐食面分率で代表させた。それはト
ラップ層の材質、製法、構成要件によっては、例えば濃
度依存性が、磁気テープの濃度依存性と必ずしも一致は
しなｔｉたが・本発明０構成要件を決める上では、前記
代表値で十分管理できることから代表値扱いにしたもの
である。

〔実施例１〕 第１図は、本発明の第１の実施例に用いた８ミリテープ
用カセツトの要部の縦断側面図である。

第４図で１６はＭＥテープで、１７は蒸着法で得られた
Ｇ　ｏ　−Ｎ　ｉ−０磁性層である。１８はリール７ラ
ンジ１９は下ハーフ、２０は上ハーフ、２１は前蓋、２
２は後蓋である。２３はトラップ層Ａ３２４はトラップ
層Ｂである。

即ち、本実施例では、トラップ層を配した部位は図示し
たように、後蓋、前蓋の内面及び一部の側面とし、高周
波マグネトロンスパッタ法により、各種の材料について
層を形成した時の効果についてのべる。

尚、腐食性調査は、厚み２鰭９幅２０．長さ１０ＧのＡ
ＢＳ樹脂を試験片として準備し、カセット部品にトラッ
プ層を配する時間条件でトラップ層を配したものを用い
た。

スパッタリング法で各種の薄膜を配する前に、Ａｒ圧３
　Ｘ　１０　　（Ｔｏｒｒ）で１３．５６（Ｍ）１２）
　０．８（ＫＷ）のグロー放電処理を３秒間施した。ト
ラップ層の材料と構成厚みと腐食性調査結果と、これら
のカセット部品を用いてＭＥテープを組み込んだ実施例
と、比較例を、各２巻ずつ３５°Ｃ８０〜８３％ＲＨ、
ＨＣｌ　ｓ　ｏ　ｐ、ｐ、ｍのデシケータ内に１時間放
置した後、市販の８ミリビデオ（ソニー製＝Ｃ０Ｄ−Ｖ
２Ｏ）によシ、テープ引き出し部に当る位置の前後各２
ｍの範囲の記録再生を行った。

表にはドロップアウトは増加率で、目づまりは、トータ
ル時間で評価し、２巻のうち悪い方の値を示した。一部
のカセットとはＭＰテープについても組み合わせて実施
した。条件と結果については第１表にまとめて示した。

第１表で示した材質で例えばＮｉ−０と示したものは、
スパッタリング時にＡｒ＋０２ガスで部分的に酸化させ
る条件で薄膜を形成したものである。

又第５図には、第１表に示した以外のＮｉ　、　Ｎｉ−
０系の実験結果も含めてＡ／、ムｌ−０系の実験結果を
腐食性と重欠陥である目づまり時間との関係をまとめた
特性線図を示した。（尚、特性線図に示したものは、部
位は１ケ所でトラップ屑入で実験した例である）０ 、：：　　　・　　、Ｃ″　・−］ 第１表の結果かられかるように、テープ１３゜１４に比
べて、供試テープと同等以上の腐食性を有するトラップ
層を配したカセット内で使用されるＭＥテープ、ＭＰテ
ープは、腐食性の強い環境でも保護される。ここで、腐
食性が太きすぎても、効果の持続性がかえって失われる
ことが考えられるが、本比較条件によれば腐食性が同等
以上でありかつ、腐食性が３倍までを目安として構成す
るのが好ましいことがわかる。なお、第５図からみると
実施に適する範囲の存在と同時に、人４系よ＃）Ｎｉ系
の方が作用効果がよいことが確認できる。

〔実施例２〕 実施例−１でトラップ層を配したのと同じ部位に異なる
製法でトラップ層全形成し、ＭＥテープとＭＰテープを
カセットに構成し、３０’Ｃ８０％ＲＨ、Ｈ２Ｓ　１６
ｐ、ｐ、ｍの環境に３０分暴露した後、記録再生特性を
実施例−１と同じ条件で比較したＯＭＥテープの腐食性
は、酸素量の調節で、ＭＰテープとほぼ同じ３．６〜４
．４（％）のものを用いた。

カセット２−人は、トラップ層Ａ、）ラップ層Ｂ共に、
Ｎ１（Ｃｏ４）ガ、；’、　ｆ　１３．５６　（ＭＨｚ
　）　１（ＫＷ）のグロー放電分解して、いわゆる化学
気相蒸着法で、３μｍ、Ｎｉ膜を施したものを用いた。

カセット２−Ｂは、１Ｘ１ｏ　　（Ｔｏｒｒ）（Ｄ真空
中で１０Ｋｖ　、１６ＫＷ（７）２７０度偏向型電子ビ
ーム蒸着でＮｉ膜ヲ１．５μｍ形成したものを用いた。

カセッ）２−Ｃは、ウレタン樹脂、Ｎｉ粉、ウレタン化
油を混合分散させ、平均粒子径０．２μｍのＮｉ微粒子
を硬化時樹脂に対して体積分率で５０％含有せしめる条
件で３μｍ焼付塗装したものを用イｆｃ、ｏ　カセ７　
ト２　　Ｄ　ｆ３、Ｎｉ、Ｃ１，、、ｅＨ２０、３０ｇ
／ｌ　、　ＮａＨ２ＰＯ２，１０９１１ｌ　Ｎ＆Ｃ：２
Ｈ５０５＋５０ｆ／ｌでＰＨ４〜６の酸性Ｎｉ浴を用い
、マスキング処理して所定の部位に無電解Ｎｉ　メツキ
を２．５μｍ配したものに用いた。尚これらのカセット
は、ビデオ本体に装脱着使用可能なように、必要な場合
は、メッキ厚に応じて、カセット部品の外形寸法調整を
行った。

比較例は、上記した処理を施さないカセットと、技術思
想、目的、効果は異なるものの、実施例のメツキ部位も
含まれる全面金属メツキカセットについても試作し評価
した。

即ち、特開昭４９−２７２１４号公報に開示されてるよ
うに、ニッケル・クロームメツキ層をカセット筐体の内
側に６．６μｍ　、外側において１７μｍ被着形成した
ものを準備した。又、前記公報に開示された技術思想に
基すき、ニッケルクロームよりもニッケルのヤング率が
低いことから、メッキ厚を厚くして、ニッケルの全面メ
ツキをしたもの。即ち、カセット筐体の内側に８μｍ　
、外側に２０μｍのメッキ厚で施したものも準備した。

上記したカセットを用いて、比較評価した結果を第２表
に示した。

（以下余白） 第２表より、実施例はＭＥテープ、ＭＰテープのいずれ
の場合でも、トラップ層のない比較例に対して共に優れ
た効果を有していることが明らかである。さらに、Ｎｉ
メツキを全面に施したものが、トラップ屑入、Ｂ部分を
含んでいるにも拘らず、効果として劣ることも判明した
。これは外側に配したトラップ層がむしろ腐食性のガス
をトラップしていくために、カセットを包む腐食性ガス
の流れが実効的に増大し、高濃度の環境を形成するため
、内部に侵入するガス量も増大し、テープ而をアタック
する確率が増大するためと推定される。

第６図には、トラップ屑入、トラップ層Ｂを同じＮｉメ
ツキ及びＧｏメツキを厚みを変えて配した時のＭＥテー
プに対する保護性能を、目づまシ時間との関係で示した
特性線図を示した。図よシ内面又は一部の側面に配した
場合においても、好ましい厚み範囲があることがわかる
。

但し、この厚みの好ましい範囲は、次の実施例でのべる
ように表面積によっても異なるし、部位。

製法によっても異なるので、適宜選択することが可能で
ある。しかし一般的にいって、厚くすると、歪みの問題
でカセット部品の変形が起り、すき間ができバラツキが
大きくなる為、適当な厚みは総合的にみて０．１〜４μ
ｍの範囲が好ましい。厚くして特性がばらつくもう一つ
の原因は、トラップ層が変化しハクリ現象を起こすこと
と考えられる。

又０．１μｍ以下では面積が不足しトラップ効果が不十
分になる。

〔実施例−３〕 実施例−１と同じ部位にＮｉ　ｆイオンブレーティング
法にて形成し、且つ、イオンブレーティングした前蓋、
後蓋の表面積を変化させた時の効果について説明する。

カセット３−人は平面構成の標準的なものに３　Ｘ　１
０　　（Ｔｏｒｒ）のアルゴン中で１３．５６　（ＭＨ
ｚ）　１　（ＫＷ）　ノブロー放電を発生させ、Ｎｉを
１．５μｍイオンブレーティングしたもので、カセッ）
３−Ｂは、１ｉ当り、１０本の深さ１００μｍ幅６０μ
の溝を配した而に上記した条件でＮｉ６１．ｓμｍイオ
ンブレーティングしたもの、カセッ）３−Ｃは、１−当
り、１０ケの直径６０μｍ　、深さ６０μｍの凹部を配
した面に同じ（、Ｎｉ　ｉｌ、５μｍイオンブレーティ
ングしたものである。上記したカセットに、腐食性４．
１〜５．１（％）のＭＥテープとＭＰテープを組み込ん
で、３０°Ｃ７５％ＲＨで亜硝酸ガス（Ｎｏ２）を１６
　ｐ、ｐ、ｍと１ｐ、ｐ、ｍ　含む腐食性雰囲気に１時
間暴露し、記録再生特性を調べた結果を第３表にまとめ
て示した。尚Ｎ１のイオンブレーティング膜の腐食性は
６．２〜６．９（％）である。

（以下余　白） 窺式　　至　　　　　　　　：：１ り １ト　　　−　　　ト　　　　　　　　　国　　　　　
　　　　　　山　　　　　。

≧　　　　　　　　　　　　１ Ｆｏｌｌ　　の１寸　ＯＱｌ 第３表に示した代表実施例の範囲では、トラップ剤の構
成表面積の差はほとんどみられないが当然、面積が小さ
くなりすぎると第７図に特性図で示したように効果が弱
まる。トラップ層の厚みで異なるが、第１の目安として
、巻回されずに開放状態にある磁気テープの表面積と同
程度の面積とする。尚これは、カセット密閉度、現実に
暴露を受ける雰囲気、暴露時間、テープが送られて開放
部位置が変化することに鑑み、大まかな目安であり、ト
ラップ材料、製法、トラップ材配設の部位。

カセット構造、密閉度等に応じ、適宜、経済性も加味し
て最適化すればよい。

尚、表面積を変化させる他の方法として、カセット部品
の表面粗さを変える方法、トラップ材の膜をポーラスに
構成する方法、微細なリプを補強を兼ねて配した上°に
メツキする方法、膜をメツキした後エツチングで粗くす
る方法、エンボス構造にしてメツキする方法、金属ホイ
スカーを表面に配列させる方法等が好ましい他の方法と
して適宜採用可能でその効果も十分であることが確かめ
られている。

〔実施例−４〕 無電解風ツケルメッキを２μｍ　〔腐食性６．６〜７．
２（％）〕、異なる部位に配し、腐食性３，３〜４．１
（％）のＭＲテープを組み込み、２３℃７０％ＲＨでＳ
０２ガス２．Ｏｐ−ｐ−ｍの環境と、４０”Ｃ８３％Ｒ
ＨテＣａ１２ガス５．Ｏｐ、ｐ、ｍの環境に４６時間暴
露し、記録再生特性を調べた結果をカセットのメツキ部
位条件毎に第４表にまとめて示した。第４人でカセット
４−ムは、第８図で前蓋２１のａ部。

ｂ部、０部と第９図に示した下ハーフの側面で架張され
たテープと対向する面の一部（ｊ）でＬ　＝　１ｏｎだ
けメツキしたものカセット４−Ｂはカセット４−人とＬ
　＝　３ｃｍとした以外は同じ条件のもの、カセット４
−Ｃは前蓋２１のａ部、ｂ部、０部とＬ＝３１の第９図
ｊ部と、上ハーフのｊ部に相当する側面（メツキ長はや
はり３α）とにメツキしたもの、カセッ）４−Ｄは、カ
セッｌ−４−Ｃの条件に加えて、上ハーフのｇ部と下ノ
・−フのｄ部にメツキを施したもの、カセッ）４−ＩＣ
は前蓋２１のａ部、ｂ部と、下ハーフの０部、ｄ部にメ
ツキを施したもの、カセット４−Ｆは、リールのフラン
ジのテープ巻回部側り部、１部（これは両リール共）に
のみメツキしたもの、カセッ）４−Ｇは、上ハーフ、下
ハーフのｄ、ｅ、ｆ、ｇ部にメツキしたもの、カセット
エは上ノ・−フ、下ノー−７のｄ部９ｇ部にのみメツキ
したものを用いた。

（以下余　白） −〜　　　０　　　寸　　　ｔｏｏ　　　　ト　　　の
第４表より、メツキ部位によってはＮｉメツキを施して
も十分な効果が得られないことがわかる。

即ちテープカセット６は、メツキなしのテープカセット
８に対しては、かなり改善されるものの、両リール間に
架張されたる磁気テープに近い部位には、メツキ層、即
ちトラップ層が配されていることが好ましいことは第４
表より明らかである。

尚メツキ法イオンブレーティング法などでトラップ層形
成を行う時、部分メツキ等がコスト面からも割高なこと
が多く、部位によっては、例えば、後蓋については内、
外面全面にメツキしたものを用いることもできるのは勿
論である。

〔実施例−６〕 第１０図に第６の実施例に用いた８ミリテープ用カセツ
トの要部の縦断側面図を示した。第４図と同じ部位は同
一番号を符して示した。本実施例では、現在、各種の表
面を金属化する技術の中で、容易に適用し易いようにト
ラップ層を平面部分に配した場合について比較した結果
について詳述する。２５は前蓋２１の内面の一平面部に
配したトラップ部ａで、２６は後蓋２２の内面の一平面
部に配したトラップ部すである。尚トラップ部ａ及びｂ
の部位は、規格の許す範囲で平面部を多くするなり、複
数の平面部分を選択するなりは自由に決めることが出来
るのは当然であり、本実施例に開示した技術思想に基ず
く設計的改良事項の範囲については、本発明の範囲と考
えられる。即ち、必要であれば、トラップａとｂの材料
構成及び配設工法を変え、組み合わせること等は、当然
適宜実施しうるものであるが、ここでは、最も簡単な選
択の例、即ちトラップａ、ｂは同じ材料構成、同じ配設
工法をとりあげた。

カセット５−Ａは、転写箔によるもの、いわゆるホット
スタンプ箔により、　Ｎｉ　、　ＳＵＳ　、　Ｃｒ　　
を約１０００人配したもの、カセット５−Ｂは、射出成
形と同時に転写箔を介在させて、Ｎｉを約１ｏ００人配
したいわゆるインモールド成型によるもの、カセッ）６
−Ｃは、アーク放電により金属を溶融させ、高圧アルゴ
ンガスで微粒子化して吹きつける、いわゆる金属溶射法
でＮｉ　、　Ｚｎを平均膜厚０．７μｍ配したもの、カ
セッ）５−Ｄは、不織布にムｇ２人、５．Ｎｉを真空蒸
着したものを接着したもので、使用したＭＥテープは腐
食性が４．３〜６．１（％）のものである。尚不織布に
配した状態では腐食性の評価でできなかったので、カセ
ットの樹脂面に蒸着（３０００人厚）金工織布と同時に
行いその時得られた蒸着膜について調べた値を記してお
いた。

上記したカセットにＭＥテープを組み込んで、３５°Ｃ
２８３％ＲＨ、ＣＩ２．１０　ｐ、ｐ、ｍ　　、　ＳＯ
２゜１２　ｐ、ｐ、ｆｆｌの腐食性雰囲気に２４時間暴
露した後、記録再生特性を比較した結果を第６表に示し
た。

（以下余　白） 二四　　　−霞１　　’：　　ｌ　　ｊ　　ｉ′　　　
　　　　　１　　　　　　　ｌ　　　１　　１、　　１
　　　′　　　。

＋１’′　鏡　　　　　　　：　・、、、、：ｊｔ　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　ｌ＝１久　　
　（ｉ　　　Ｅｏ　　・　　０　　すｉ第６表よシ明ら
かなように工法よりも材料で、特性は支配されている。

従って、他の工法、即ちメツキ法、塗装法、真空蒸着法
、化学気相蒸着法。

他の成型法等について経済性の面は勿論のこと、加工再
現性、加工時のカセット寸法変化の起りにくさ等、加工
部位の形状適応性の難易度等を考慮して、材料条件を最
適として実施するのが好ましい０ 〔実施例−６〕 第３図に外観図で示し７’（Ｒ−ＤＡＴで実施した例に
ついて詳述する。第３図のリッド１６部分に異なる条件
でトラップ剤を配し、ＭＥテープ（腐食性３．８〜４．
３％）とＭＰテープと組み合わせて、３０’ＣＢ３％Ｒ
ＨＨ２Ｓ　３　ｐ、ｐ、ｍ　ＨＣＩ　ｅｓ　ｐ、ｐ、ｍ
　の腐食性環境に４時間暴露した後ブロックエラーレー
トの変化率を計測した。

カセッ）６−Ａはリッドの内面に、無電解Ｎ１−Ｐメソ
キラ１．６μｍ配したもので、カセット６−Ｂはシント
ーケミトロン社製の電磁シールド向けに開発されたコー
ティング剤をスプレー法で塗布したもので、ひとつは、
銅系のフィラーを用いたアクリル系塗料（品番、シント
ロン　！−３３１６）を約６μｍコーティングしたもの
で、もうひとつは、ニッケル系のフィラーのもの（シン
トロンＸ−３０６３）を約ｓμｍ塗布したもの、６−Ｃ
は、高周波スパッタリング法でＮｉ　−Ｔｉ　（Ｎｉ：
Ｔｉ＝１＝１）、Ｎｉ、Ｔｉｉ夫々５ｏＯｏ人スパッタ
蒸着したもの、６−Ｄは、導電性ムＢＳ樹脂でフィラー
として、Ｎｉ粉と、Ａｌ粉を用いたもの（フィラーの含
有率は重量％で樹脂に対し２６〜２７％である）で成型
したリッドをもちいた場合である。

上記したカセットと比較例との対比結果について、第６
表にまとめて示した。計測に用いた、Ｒ−ＤＡＴは、市
販品と同等の機能を有する試験機で、ヘッドのクリーニ
ングをやり易くして、１回テープを走行させる毎に初期
化して、測定順による誤差のないようにして評価したも
のである。

第６表よりわかるように、テープ１．３，４゜６．７は
測定値そのものを示しているが、殆んど変化なしといえ
るレベルで、テープ２，８．８も比較例に比べれば、良
好なレベルである０発明の効果 以上のように本発明によれば、腐食性ガスの存在する厳
しい環境に於ても金属系の磁気記録層による高密度磁気
記録を実用にできるといったすぐれた効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１の実施例に用いた８ミリテープ用
カセツトの要部の縦断側面図、第２図は本発明の一実施
例に用いたＭＲテープの拡大断面図、第３図は８ミリビ
デオ磁気テープカセツトの斜視図、第４図はＲ−ＤＡＴ
用磁気テープカセットの斜視図、第６図は腐食性と目づ
′！、！ｌの関係を示す特性線図、第６図はメツキ厚み
と目づまり時間を示す特性線図、第７図はトラップ表面
積と目づまシ時間の特性線図、第８図は８ミリテープ用
カセツトの要部の縦断側面図、第９図は下ノ・−フの要
部斜視図、第１０図は８ミリテープ用カセツトの要部の
縦断側面図である。 １・・・・・・高分子フィルム、３・・・・・・強磁性
金属薄膜から成る磁気記録層、６・・・・・・磁気テー
プ、７・・・・・・本体ケース、１０・・・・・・前蓋
、１１・・・・・・後蓋、１２・・・・・・上ケース、
１４・・・・・・スライダー、１５・・・・・・リッド
、１６・・・・・・ＭＥテープ、２１・・・・・・前蓋
、２２・・・・・・後蓋、２３，２４，２５．２６・・
・・・・トラップ層０ 代理人の氏名　弁理士　中　尾　敏　男　ほか１名／６
−　ＭＥテーグ ？ｌ−前１ ２２−後ｉ 第　、　。　　　　　　　　　　ど３．２４−−一トラ
ップ層／°−高分子フィルム ３−Ｗｉ売庄木し食シ鴫薄膜ｂ・ら 六る摘入Ｗ俳層 第２図 ６−磁気テーグ 第５図 腐食性　（”／−Ｊ 第６図 メツキ厚み　（Ｊｉｍ） 第７図 トラ・ツブ表面種　　（ｃｍ２） 第８図 ２５．２ムー　トラップ邦

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. （１）金属磁性材を磁気記録層とする磁気テープと、そ
   の磁気テープを巻回した２つのリールとを収納する筐体
   を有し、少なくとも両リール間に架張されたる磁気テー
   プ近傍の一部に、前記磁気記録層と同等以上の腐食性を
   有するトラップ層を設けたことを特徴とするテープカセ
   ット。
2. （２）金属磁性材を磁気記録層とする磁気テープと、そ
   の磁気テープを巻回した２つのリールとを収納する筐体
   を有し、その筐体の一部を構成し閉じた状態で磁気テー
   プを筐体内に閉塞する蓋の内面の、少なくとも架張され
   た磁気テープと対向する部分に、前記磁気記録層と同等
   以上の腐食性を有するトラップ層を設けたことを特徴と
   するテープカセット。
3. （３）蓋が、閉じた状態では架張された磁気テープを前
   後から閉塞するよう構成された２枚の回動蓋よりなるこ
   とを特徴とする特許請求の範囲第２項記載のテープカセ
   ット。
4. （４）蓋が、架張された磁気テープの前面を覆う回動蓋
   と、筐体下面に摺動可能に設けた摺動蓋とを有し、前記
   回動蓋と摺動蓋とにより筐体を閉塞するように構成した
   特許請求の範囲第２項記載のテープカセット。
5. （５）金属磁性体を磁気記録層とする磁気テープと、そ
   の磁気テープを巻回した２つのリールとを収納する筐体
   を有し、その筐体の一部を構成する蓋の内面の少なくと
   も架張された磁気テープと対向する部分に、前記磁気記
   録層と同等以上の腐食性を有するトラップ層を設けると
   ともに、この筐体を収容するジャケットを備え、収容状
   態で磁気テープが実質的に閉塞される構成としたことを
   特徴とするテープカセット。
6. （６）２つのリールを収納万能なテープカセットの筺体
   であって、その筐体の一部を構成する蓋の内面に、内蔵
   されるべき磁気テープの磁気記録層と同等以上の腐食性
   を有するトラップ層を設けたことを特徴とするテープカ
   セットの筐体。