JPH0121458B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0121458B2 JPH0121458B2 JP55100693A JP10069380A JPH0121458B2 JP H0121458 B2 JPH0121458 B2 JP H0121458B2 JP 55100693 A JP55100693 A JP 55100693A JP 10069380 A JP10069380 A JP 10069380A JP H0121458 B2 JPH0121458 B2 JP H0121458B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chromium
- chromate
- film
- amount
- fluorescent
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
- G01N2223/076—X-ray fluorescence
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はアルミニウムのクロム酸リン酸系の
クロメート化成皮膜中のクロムの分析法に関す
る。
クロメート化成皮膜中のクロムの分析法に関す
る。
従来、アルミニウムに施されたクロム酸リン酸
系のクロメート化成皮膜の膜厚、膜重量、クロム
付着量等を測定するのに、該皮膜中に含有される
クロムを蛍光Ｘ線法によつて直接分析する方法が
採用されている。クロム付着量の測定は、高価な
クロムを必要量だけしかも小さなバラツキで付着
させるよう生産管理するのを目的としてなされる
もので極めて重要である。しかし、アルミニウム
地金中にもクロムが含有されている場合は、化成
皮膜およびアルミニウム地金の両者に含有されて
いるクロムの蛍光Ｘ線強度の合計値が測定され
る。従つて化成皮膜中のクロムを正確に測定する
には、別個にアルミニウム地金中のクロムを蛍光
Ｘ線法で測定しておいて、その値を上記の合計値
から差引いて求めねばならない。このように、こ
の方法は２回の測定が必要であり時間と費用がか
かり測定誤差が大きくなるという欠点を有してい
る。
系のクロメート化成皮膜の膜厚、膜重量、クロム
付着量等を測定するのに、該皮膜中に含有される
クロムを蛍光Ｘ線法によつて直接分析する方法が
採用されている。クロム付着量の測定は、高価な
クロムを必要量だけしかも小さなバラツキで付着
させるよう生産管理するのを目的としてなされる
もので極めて重要である。しかし、アルミニウム
地金中にもクロムが含有されている場合は、化成
皮膜およびアルミニウム地金の両者に含有されて
いるクロムの蛍光Ｘ線強度の合計値が測定され
る。従つて化成皮膜中のクロムを正確に測定する
には、別個にアルミニウム地金中のクロムを蛍光
Ｘ線法で測定しておいて、その値を上記の合計値
から差引いて求めねばならない。このように、こ
の方法は２回の測定が必要であり時間と費用がか
かり測定誤差が大きくなるという欠点を有してい
る。
この発明は、上記従来法の欠点を改善するため
になされたもので、クロメート化成皮膜を有する
アルミニウム地金を蛍光Ｘ線分析に対してリンの
含量を測定し、その測定値よりクロメート化成皮
膜中のクロム含量を算出することからなるクロメ
ート化成皮膜中のクロムの分析法を提供するもの
である。
になされたもので、クロメート化成皮膜を有する
アルミニウム地金を蛍光Ｘ線分析に対してリンの
含量を測定し、その測定値よりクロメート化成皮
膜中のクロム含量を算出することからなるクロメ
ート化成皮膜中のクロムの分析法を提供するもの
である。
この発明は、アルミニウム地金に一定の条件下
でクロム酸リン酸系のクロメート皮膜を形成させ
た場合、該皮膜中にはクロム、リン、アルミニウ
ム等が存在するが、その中のクロムとリンが一定
の重量比率で含有され、しかもリンはアルミニウ
ム地金に含有されていないということに着目して
なされたものである。
でクロム酸リン酸系のクロメート皮膜を形成させ
た場合、該皮膜中にはクロム、リン、アルミニウ
ム等が存在するが、その中のクロムとリンが一定
の重量比率で含有され、しかもリンはアルミニウ
ム地金に含有されていないということに着目して
なされたものである。
すなわち、一定の皮膜形成条件下でクロメート
化成皮膜をアルミニウムに形成させ、そのリンの
蛍光Ｘ線強度とクロム付着量との検量線を予め作
製しておいて、クロメート皮膜形成アルミニウム
試料それぞれのリンの蛍光Ｘ線強度を測定し、そ
の測定値と上記検量線とからクロム付着量を測定
する方法に想到したものである。
化成皮膜をアルミニウムに形成させ、そのリンの
蛍光Ｘ線強度とクロム付着量との検量線を予め作
製しておいて、クロメート皮膜形成アルミニウム
試料それぞれのリンの蛍光Ｘ線強度を測定し、そ
の測定値と上記検量線とからクロム付着量を測定
する方法に想到したものである。
この発明の方法を適用しうるクロム酸リン酸系
クロメート皮膜形成法としては、アロジン法、ボ
ンベライト法等が挙げられる。
クロメート皮膜形成法としては、アロジン法、ボ
ンベライト法等が挙げられる。
この発明の方法によれば、クロメート化成皮膜
形成アルミニウムのクロム付着量を、一回の測定
で正確に測定可能であり、以下の参考例・実施例
によつて説明する。
形成アルミニウムのクロム付着量を、一回の測定
で正確に測定可能であり、以下の参考例・実施例
によつて説明する。
参考例 １
各種のアルミニウム地金にアロジン法でクロム
酸リン酸系クロメート皮膜を形成させた後、蛍光
Ｘ線法でクロムの蛍光Ｘ線強度を測定し、一方化
学分析法でクロムの付着量（mg／m2、皮膜中のク
ロムの重量）を測定し、両者の関係を第１図に示
した。
酸リン酸系クロメート皮膜を形成させた後、蛍光
Ｘ線法でクロムの蛍光Ｘ線強度を測定し、一方化
学分析法でクロムの付着量（mg／m2、皮膜中のク
ロムの重量）を測定し、両者の関係を第１図に示
した。
その結果、アルミニウム地金が含有するクロム
の量にバラツキがあるため、クロムの蛍光Ｘ線強
度とクロムの付着量との相関が不良であり、この
方法では皮膜中のクロムを正確には分析できない
ことが分かる。
の量にバラツキがあるため、クロムの蛍光Ｘ線強
度とクロムの付着量との相関が不良であり、この
方法では皮膜中のクロムを正確には分析できない
ことが分かる。
参考例 ２
参考例１に用いたアルミニウム地金（皮膜形成
前）のクロムの蛍光Ｘ線強度を、参考例１で測定
した皮膜形成後のアルミニウム試料のクロムの蛍
光Ｘ線強度から差引いた値と、参考例１で得たク
ロム付着量との関係を第２図に示した。
前）のクロムの蛍光Ｘ線強度を、参考例１で測定
した皮膜形成後のアルミニウム試料のクロムの蛍
光Ｘ線強度から差引いた値と、参考例１で得たク
ロム付着量との関係を第２図に示した。
第２図によれば、両者は良好な相関性を示し、
この方法はクロム付着量の分析に利用できる。し
かし２回測定しなければならないという欠点を有
する。
この方法はクロム付着量の分析に利用できる。し
かし２回測定しなければならないという欠点を有
する。
実験例 １
参考例１においてクロメート化成皮膜を形成さ
せたアルミニウム試料のリンの蛍光Ｘ線強度を測
定し、その強度値とクロム付着量との関係を第３
図に示した。
せたアルミニウム試料のリンの蛍光Ｘ線強度を測
定し、その強度値とクロム付着量との関係を第３
図に示した。
第３図から明らかなごとく、両者は極めて良好
な相関性を示している。従つて第３図のごとき検
量線とクロメート皮膜を形成させた各アルミニウ
ム試料のリンの蛍光Ｘ線強度とからクロム付着量
を測定することが可能であり、しかも一回の測定
でよいという利点を有する優れた分析法であるこ
とが分かる。
な相関性を示している。従つて第３図のごとき検
量線とクロメート皮膜を形成させた各アルミニウ
ム試料のリンの蛍光Ｘ線強度とからクロム付着量
を測定することが可能であり、しかも一回の測定
でよいという利点を有する優れた分析法であるこ
とが分かる。
第１図および第２図は参考例１および２でそれ
ぞれ得られたクロムの蛍光Ｘ線強度とクロム付着
量の関係を示すグラフ、第３図は実験例１で得ら
れたリンの蛍光Ｘ線強度とクロム付着量の関係を
示すグラフである。
ぞれ得られたクロムの蛍光Ｘ線強度とクロム付着
量の関係を示すグラフ、第３図は実験例１で得ら
れたリンの蛍光Ｘ線強度とクロム付着量の関係を
示すグラフである。
Claims (1)
- １ クロメート化成皮膜を有するアルミニウム地
金を蛍光Ｘ線分析に付してリンの含量を測定し、
その測定値よりクロメート化成皮膜中のクロム含
量を算出することからなるクロメート化成皮膜中
のクロムの分析法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10069380A JPS5724848A (en) | 1980-07-22 | 1980-07-22 | Analysis of chromium in chromate coating on aluminum |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10069380A JPS5724848A (en) | 1980-07-22 | 1980-07-22 | Analysis of chromium in chromate coating on aluminum |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5724848A JPS5724848A (en) | 1982-02-09 |
| JPH0121458B2 true JPH0121458B2 (ja) | 1989-04-21 |
Family
ID=14280800
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10069380A Granted JPS5724848A (en) | 1980-07-22 | 1980-07-22 | Analysis of chromium in chromate coating on aluminum |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5724848A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60146814U (ja) * | 1984-03-10 | 1985-09-30 | 大阪瓦斯株式会社 | 帰還型フルイデイツク流量計 |
| CN102411011A (zh) * | 2010-09-21 | 2012-04-11 | 上海宝钢工业检测公司 | 镀锡板表面铬量的快速测定方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5438195A (en) * | 1977-09-01 | 1979-03-22 | Toshiba Corp | Fluorescent x-ray analytical method |
-
1980
- 1980-07-22 JP JP10069380A patent/JPS5724848A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5724848A (en) | 1982-02-09 |
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