JPH0121487B2 - - Google Patents
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- JPH0121487B2 JPH0121487B2 JP53107353A JP10735378A JPH0121487B2 JP H0121487 B2 JPH0121487 B2 JP H0121487B2 JP 53107353 A JP53107353 A JP 53107353A JP 10735378 A JP10735378 A JP 10735378A JP H0121487 B2 JPH0121487 B2 JP H0121487B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- exposure
- circuit
- photometry
- spot
- Prior art date
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- Indication In Cameras, And Counting Of Exposures (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、実際の制御露出値とスポツト測光値
との関係を明確に表示することができる露出値表
示装置に関する。
との関係を明確に表示することができる露出値表
示装置に関する。
従来の技術
従来において平均測光およびスポツト測光の両
機能を備えた露出計はすでに提案されている。
機能を備えた露出計はすでに提案されている。
しかし、このような露出計においては、撮影者
によつて選択された一方の測光モードに対応する
測光値の表示のみが行なわれるもので、平均測光
またはスポツト測光のいずれのモードによる値に
基づいて撮影を行うかの選択は、撮影者の経験的
な勘によつていた。また、逆光撮影の場合のよう
に、主被写体とその背景との間に大きな輝度差が
存在するような場合は、測光値に対し、「適当」
に見当を付けた露出倍数を掛けて露出を決定して
いた。この場合の露出倍数の決定も経験的な勘に
頼つたものであり、合理的な根拠に乏しいもので
あつた。したがつて、初心者にとつては従来の露
出計で、作画意図に合つた適切な露出値を得るこ
とは容易な作業ではなかつた。
によつて選択された一方の測光モードに対応する
測光値の表示のみが行なわれるもので、平均測光
またはスポツト測光のいずれのモードによる値に
基づいて撮影を行うかの選択は、撮影者の経験的
な勘によつていた。また、逆光撮影の場合のよう
に、主被写体とその背景との間に大きな輝度差が
存在するような場合は、測光値に対し、「適当」
に見当を付けた露出倍数を掛けて露出を決定して
いた。この場合の露出倍数の決定も経験的な勘に
頼つたものであり、合理的な根拠に乏しいもので
あつた。したがつて、初心者にとつては従来の露
出計で、作画意図に合つた適切な露出値を得るこ
とは容易な作業ではなかつた。
発明が解決しようとする課題
本発明は、このような実情に鑑みなされたもの
で、本発明の目的は、実際の制御露出値とスポツ
ト測光値との関係を同時に明確に表示することに
よつて、被写体の光分配状態を的確に把握するこ
とができる露出値表示装置を提供することにあ
る。
で、本発明の目的は、実際の制御露出値とスポツ
ト測光値との関係を同時に明確に表示することに
よつて、被写体の光分配状態を的確に把握するこ
とができる露出値表示装置を提供することにあ
る。
課題を解決するための手段
上記目的を達成するために、本発明の露出値表
示装置は、被体光を受けて被写界における比較的
狭い領域の輝度を測定し、その輝度の対数圧縮値
を出力するスポツト測光手段と、制御露出値を出
力する制御露出出力手段と、スポツト測光手段か
らの出力と制御露出出力手段からの出力の差を演
算する差演算手段と、制御露出出力手段の出力を
固定された基準位置に制御露出値として数値表示
する第１の表示手段と、差演算手段で演算された
差に基づいて、差の量を固定された基準位置から
の変位として表示する第２の表示手段と、を備え
たことを特徴とする。
示装置は、被体光を受けて被写界における比較的
狭い領域の輝度を測定し、その輝度の対数圧縮値
を出力するスポツト測光手段と、制御露出値を出
力する制御露出出力手段と、スポツト測光手段か
らの出力と制御露出出力手段からの出力の差を演
算する差演算手段と、制御露出出力手段の出力を
固定された基準位置に制御露出値として数値表示
する第１の表示手段と、差演算手段で演算された
差に基づいて、差の量を固定された基準位置から
の変位として表示する第２の表示手段と、を備え
たことを特徴とする。
作 用
上記した本発明によれば、例えば、平均測光値
で露出を制御する場合において、制御露出値は固
定された基準位置に数値表示され、また、その撮
影シーン中のハイライト部分等をスポツト測光し
たスポツト測光値は、制御露出値からの差として
基準位置からの変位に対応づけて表示されるの
で、そのハイライト部分がフイイルムの特性曲線
上のどの点に位置するかを予測することができ
る。
で露出を制御する場合において、制御露出値は固
定された基準位置に数値表示され、また、その撮
影シーン中のハイライト部分等をスポツト測光し
たスポツト測光値は、制御露出値からの差として
基準位置からの変位に対応づけて表示されるの
で、そのハイライト部分がフイイルムの特性曲線
上のどの点に位置するかを予測することができ
る。
実施例
以下、図示の実施例に基づき本発明の詳細を説
明する。
明する。
第１図は、本発明の一実施例を示す回路図で、
この回路が適用されるカメラは、絞り優先TTL
測光方式の露出時間自動制御の機能を有する。表
示装置においては、撮影者が選択したモードによ
つて平均測光値か手動設定された露出値のどちら
かが数字表示され、スポツト測光によつて得られ
た露出値は前記数字表示された露出値に対する段
数差として表示されるようにしている。
この回路が適用されるカメラは、絞り優先TTL
測光方式の露出時間自動制御の機能を有する。表
示装置においては、撮影者が選択したモードによ
つて平均測光値か手動設定された露出値のどちら
かが数字表示され、スポツト測光によつて得られ
た露出値は前記数字表示された露出値に対する段
数差として表示されるようにしている。
第１図において、PD1は平均測光用の受光素
子、PD2はスポツト測光用の受光素子で、第３図
に示すように受光素子PD1はペンタプリズム２２
の接眼部付近に、また、受光素子PD2はカメラボ
デイーの底部に配される、受光素子PD2へは像観
測時第３図のように位置している一眼レフ用可動
反射鏡２０の半透部とミラー２１を介して被写界
のうちの特定小領域（例えば第２図の円１８内の
部分に対応する領域）からの光が取入れられる。
受光素子PD1及びPD2のそれぞれと直列に接続さ
れているFET1，FET2は所定周期で交互に導通
されるアナログスイツチとして用いられる電界効
果トランジスタである。つまり、第１図の回路に
おいて、平均測光とスポツト測光は、時間分割に
より行われる。電界効果トランジスタFET1，
FET2のソースにコレクタが接続されたトランジ
スタQ1は、受光素子PD1またはPD2の光電流の対
数に相当する電圧信号をベース・エミツタ間に得
る対数圧縮素子として用いられる。互いに並列に
接続されているポテンシヨメータPM1および
PM2は、それぞれフイルム感度およびプリセツ
ト絞りの情報を導入するためのものである。以上
の受光素子、対数圧縮素子、ポテンシヨメータ
と、高入力インピーダンス増巾器A1及び定電流
回路I1とによつて構成される回路によりポテンシ
ヨメータPM2の摺動端子W2からは、被写体輝度、
フイルム感度およびプリセツト絞り値に応じて定
まる適正露出時間に対応する信号が出力される。
子、PD2はスポツト測光用の受光素子で、第３図
に示すように受光素子PD1はペンタプリズム２２
の接眼部付近に、また、受光素子PD2はカメラボ
デイーの底部に配される、受光素子PD2へは像観
測時第３図のように位置している一眼レフ用可動
反射鏡２０の半透部とミラー２１を介して被写界
のうちの特定小領域（例えば第２図の円１８内の
部分に対応する領域）からの光が取入れられる。
受光素子PD1及びPD2のそれぞれと直列に接続さ
れているFET1，FET2は所定周期で交互に導通
されるアナログスイツチとして用いられる電界効
果トランジスタである。つまり、第１図の回路に
おいて、平均測光とスポツト測光は、時間分割に
より行われる。電界効果トランジスタFET1，
FET2のソースにコレクタが接続されたトランジ
スタQ1は、受光素子PD1またはPD2の光電流の対
数に相当する電圧信号をベース・エミツタ間に得
る対数圧縮素子として用いられる。互いに並列に
接続されているポテンシヨメータPM1および
PM2は、それぞれフイルム感度およびプリセツ
ト絞りの情報を導入するためのものである。以上
の受光素子、対数圧縮素子、ポテンシヨメータ
と、高入力インピーダンス増巾器A1及び定電流
回路I1とによつて構成される回路によりポテンシ
ヨメータPM2の摺動端子W2からは、被写体輝度、
フイルム感度およびプリセツト絞り値に応じて定
まる適正露出時間に対応する信号が出力される。
ただし、輝度が一様な被写体に対し受光素子
PD1とPD2とが同一強度の光を受け取るように構
成することは一般的に困難であり、そのため、通
常は輝度が一様な被写体に対して平均測光とスポ
ツト測光との摺動子W1での出力値は異なる。こ
の異なりを調整して両者を互いに等価な信号に補
正するために差動増巾器A2、ポテンシヨメータ
PM3および定電流回路I2が用いられている。ここ
で、本実施例においてポテンシヨメータPM3の
摺動子W3からは平均測光による、また摺動子W4
からはスポツト測光による信号が出力される。ブ
ロツク１は、アナログ切換スイツチで、平均測光
用の受光素子PD1の光電流が採取されているとき
は摺動子W3からの信号が通過するように、また
スポツト測光用の受光素子PD2の光電流が採取さ
れているときは摺動子W4からの信号が通過する
ように初換えられる。ブロツク２はアナログ・デ
イジタル変換器で、アナログスイツチ１を介して
交互に入力される平均測光およびスポツト測光の
アナログ信号をデイジタル信号に変換する。ラツ
チ回路３，４はそれぞれＡ−Ｄ変換された平均測
光による測定値およびスポツト測光による測光値
を各Ａ−Ｄ変換動作終了の度にラツチし、ラツチ
回路３には平均測光の測光値が、ラツチ回路４に
はスポツト測光の測光値がデイジタル信号として
ラツチされ、Ａ−Ｄ変換器２の変換動作やラツチ
回路３，４のラツチのタイミング等は制御パルス
発生回路６から発されるパルスにより公知の如く
制御される。該制御パルス発生回路６の構成は本
発明の内容と直接的な関連はないのでその詳細は
省略する。
PD1とPD2とが同一強度の光を受け取るように構
成することは一般的に困難であり、そのため、通
常は輝度が一様な被写体に対して平均測光とスポ
ツト測光との摺動子W1での出力値は異なる。こ
の異なりを調整して両者を互いに等価な信号に補
正するために差動増巾器A2、ポテンシヨメータ
PM3および定電流回路I2が用いられている。ここ
で、本実施例においてポテンシヨメータPM3の
摺動子W3からは平均測光による、また摺動子W4
からはスポツト測光による信号が出力される。ブ
ロツク１は、アナログ切換スイツチで、平均測光
用の受光素子PD1の光電流が採取されているとき
は摺動子W3からの信号が通過するように、また
スポツト測光用の受光素子PD2の光電流が採取さ
れているときは摺動子W4からの信号が通過する
ように初換えられる。ブロツク２はアナログ・デ
イジタル変換器で、アナログスイツチ１を介して
交互に入力される平均測光およびスポツト測光の
アナログ信号をデイジタル信号に変換する。ラツ
チ回路３，４はそれぞれＡ−Ｄ変換された平均測
光による測定値およびスポツト測光による測光値
を各Ａ−Ｄ変換動作終了の度にラツチし、ラツチ
回路３には平均測光の測光値が、ラツチ回路４に
はスポツト測光の測光値がデイジタル信号として
ラツチされ、Ａ−Ｄ変換器２の変換動作やラツチ
回路３，４のラツチのタイミング等は制御パルス
発生回路６から発されるパルスにより公知の如く
制御される。該制御パルス発生回路６の構成は本
発明の内容と直接的な関連はないのでその詳細は
省略する。
切換スイツチSW2，SW3は手動の測光モード選
択によつて切換えられるモード切換スイツチで接
点a2，a3は平均測光モード、接点b2，b3はスポツ
ト測光モードに対応する。ブロツク５は、手動設
定されたシヤツター速度に対応するデイジタル信
号を出力する速度信号発生回路である。スイツチ
SW4，SW5は露出時間の自動・手動を切換える手
動切換えスイツチである。該スイツチSW4，SW5
を接点a4，a5側に切換えると手動モードとなり、
露出時間は手動設定によるものとなる。この場
合、スイツチSW2よつて選択されたラツチ回路３
又は４の信号がスイツチSW5を介してラツチ回路
８に入力されるようになつている。スイツチ
SW4，SW5が接点b4，b5側に切換えられると、ス
イツチSW2，SW3の位置に応じ、ラツチ回路３，
４の信号がラツチ回路７，８に伝達される。この
ようにすることにより後述の回路において選択さ
れた測光モードによる測光値が設定シヤツター速
度に対する段数差として表示される。
択によつて切換えられるモード切換スイツチで接
点a2，a3は平均測光モード、接点b2，b3はスポツ
ト測光モードに対応する。ブロツク５は、手動設
定されたシヤツター速度に対応するデイジタル信
号を出力する速度信号発生回路である。スイツチ
SW4，SW5は露出時間の自動・手動を切換える手
動切換えスイツチである。該スイツチSW4，SW5
を接点a4，a5側に切換えると手動モードとなり、
露出時間は手動設定によるものとなる。この場
合、スイツチSW2よつて選択されたラツチ回路３
又は４の信号がスイツチSW5を介してラツチ回路
８に入力されるようになつている。スイツチ
SW4，SW5が接点b4，b5側に切換えられると、ス
イツチSW2，SW3の位置に応じ、ラツチ回路３，
４の信号がラツチ回路７，８に伝達される。この
ようにすることにより後述の回路において選択さ
れた測光モードによる測光値が設定シヤツター速
度に対する段数差として表示される。
ラツチ回路７，８は、通常はスイツチSW4，
SW5を介して入力される情報を例えば0.5秒程度
の比較的ゆつくりした周期でリフレツシユする。
これはＡ−Ｄ変換回路２における変換速度は、ミ
リ秒（ｍ・sec）のオーダーであつてラツチ回路
３，４には刻々と新しい変換出力が入力される
が、この情報をそのまま表示装置に入力すると表
示が速い周期でちらつき、見苦しくなり、このよ
うなことを防ぐことから考慮されたものである。
SW5を介して入力される情報を例えば0.5秒程度
の比較的ゆつくりした周期でリフレツシユする。
これはＡ−Ｄ変換回路２における変換速度は、ミ
リ秒（ｍ・sec）のオーダーであつてラツチ回路
３，４には刻々と新しい変換出力が入力される
が、この情報をそのまま表示装置に入力すると表
示が速い周期でちらつき、見苦しくなり、このよ
うなことを防ぐことから考慮されたものである。
ラツチ回路７のラツチ信号端子７ａには、
ANDゲート９を介して、ラツチパルスが与えら
れるようになつており、該ANDゲート９の入力
の一方は、通常は抵抗R1を介して“１”の信号
が与えられ、スイツチSW6が閉成されると“０”
の信号が与えられてANDゲート９が閉じられる
ようになつている。
ANDゲート９を介して、ラツチパルスが与えら
れるようになつており、該ANDゲート９の入力
の一方は、通常は抵抗R1を介して“１”の信号
が与えられ、スイツチSW6が閉成されると“０”
の信号が与えられてANDゲート９が閉じられる
ようになつている。
スイツチSW6は測光途中における任意の時点で
撮影者の手動操作によつて閉じられる。つまり、
スイツチSW6が閉じられるとパルス発生回路６か
ら発せられる“１”のパルスはANDゲート９を
通過することができず、ラツチ回路７の内容はラ
ツチされたままの状態を維持することとなる。尚
ラツチ回路７等は“１”の信号がラツチ端子に与
えられると開かれて、入力情報を取り込み、“０”
の信号により取り込んだ情報を保持する。
撮影者の手動操作によつて閉じられる。つまり、
スイツチSW6が閉じられるとパルス発生回路６か
ら発せられる“１”のパルスはANDゲート９を
通過することができず、ラツチ回路７の内容はラ
ツチされたままの状態を維持することとなる。尚
ラツチ回路７等は“１”の信号がラツチ端子に与
えられると開かれて、入力情報を取り込み、“０”
の信号により取り込んだ情報を保持する。
ブロツク１０はシヤツター開き動作と関連して
作動を開始しラツチ回路７で保持された情報に応
じた時間を形成する時間形成回路である。ブロツ
ク１１は時間形成回路１０の出力に応答して、シ
ヤツター閉成起動を行うための電磁石Mgの励磁
を遮断する電磁石駆動回路である。
作動を開始しラツチ回路７で保持された情報に応
じた時間を形成する時間形成回路である。ブロツ
ク１１は時間形成回路１０の出力に応答して、シ
ヤツター閉成起動を行うための電磁石Mgの励磁
を遮断する電磁石駆動回路である。
ブロツク１２は、ラツチ回路７で保持された露
出時間制御信号を７セグメント表示の数値表示に
適した信号に変換するデコーダである。ブロツク
１３はシヤツター速度を表示するための７セグメ
ント素子による表示装置で、例えば第２図に示す
ようにフアインダー視野の右端の中央部に位置す
るように配される。ラツチ回路７と８の両方の出
力を入力とする回路１４は両出力間の段数差を求
める減算回路である。ブロツク１５は減算回路１
４の出力を表示装置１６の表示形態に適した信号
を変換するデコーダである。表示装置１６は例え
ば第２図に示すようにセグメント表示装置１３の
上下に分けてたて方向一列に配列されたドツトに
よる表示素子１６ａ〜１６ｆ，１６a′〜１６f′に
より構成される。
出時間制御信号を７セグメント表示の数値表示に
適した信号に変換するデコーダである。ブロツク
１３はシヤツター速度を表示するための７セグメ
ント素子による表示装置で、例えば第２図に示す
ようにフアインダー視野の右端の中央部に位置す
るように配される。ラツチ回路７と８の両方の出
力を入力とする回路１４は両出力間の段数差を求
める減算回路である。ブロツク１５は減算回路１
４の出力を表示装置１６の表示形態に適した信号
を変換するデコーダである。表示装置１６は例え
ば第２図に示すようにセグメント表示装置１３の
上下に分けてたて方向一列に配列されたドツトに
よる表示素子１６ａ〜１６ｆ，１６a′〜１６f′に
より構成される。
該表示装置１６においては、ラツチ回路７の露
出情報に対してラツチ回路８の露出情報がオーバ
露出の場合は第２図に示す表示装置１３の上段部
（例えば１段オーバーの場合は表示素子１６ａが
点灯される）、またアンダー露出の場合は下段部
の、段数差に応じた発光素子が点灯される。
出情報に対してラツチ回路８の露出情報がオーバ
露出の場合は第２図に示す表示装置１３の上段部
（例えば１段オーバーの場合は表示素子１６ａが
点灯される）、またアンダー露出の場合は下段部
の、段数差に応じた発光素子が点灯される。
次に以上の構成において動作を説明する。ま
ず、平均測光による露出制御モードが選ばれてい
るとする。この場合、スイツチSW2，SW3では接
点a2，a3が、またスイツチSW4，SW5では接点
b4，b5が選ばれており、ラツチ回路３，４の情報
はそれぞれラツチ回路７，８に取り込まれる。不
図示の測光スイツチ（これは例えばシヤツターボ
タン押進の第１段階で投入される）の投入によ
り、公知の如く各回路部に電源が供給され、ラツ
チ回路３，４にはフアインダー１７で観測される
被写体像の平均測光値とフアインダー１７の中央
部にマーク１８で示される領域のスポツト測光値
とが周期的に更新されながら貯えられる。このと
きのデーター更新の周期はＡ−Ｄ変換回路２の変
換スピードに依存し、ほぼその２倍の時間を要す
る。ラツチ回路７，８には、上記データー更新ス
ピードより遅いスピードで情報が取り込まれる。
かくして平均測光値およびスポツト測光値が例え
ばシヤツター速度にしてそれぞれ1/500秒および
１／６０秒である場合は、第２図に示すように数字に
よる表示装置１３において“500”が表示されド
ツトによる表示装置１６において３段分アンダー
であることを示す表示素子１６c′が点灯される。
こうして被写体の平均測光レベルに対してスポツ
ト測光されている部分は３段部（3Ev）暗いこと
が知れる。
ず、平均測光による露出制御モードが選ばれてい
るとする。この場合、スイツチSW2，SW3では接
点a2，a3が、またスイツチSW4，SW5では接点
b4，b5が選ばれており、ラツチ回路３，４の情報
はそれぞれラツチ回路７，８に取り込まれる。不
図示の測光スイツチ（これは例えばシヤツターボ
タン押進の第１段階で投入される）の投入によ
り、公知の如く各回路部に電源が供給され、ラツ
チ回路３，４にはフアインダー１７で観測される
被写体像の平均測光値とフアインダー１７の中央
部にマーク１８で示される領域のスポツト測光値
とが周期的に更新されながら貯えられる。このと
きのデーター更新の周期はＡ−Ｄ変換回路２の変
換スピードに依存し、ほぼその２倍の時間を要す
る。ラツチ回路７，８には、上記データー更新ス
ピードより遅いスピードで情報が取り込まれる。
かくして平均測光値およびスポツト測光値が例え
ばシヤツター速度にしてそれぞれ1/500秒および
１／６０秒である場合は、第２図に示すように数字に
よる表示装置１３において“500”が表示されド
ツトによる表示装置１６において３段分アンダー
であることを示す表示素子１６c′が点灯される。
こうして被写体の平均測光レベルに対してスポツ
ト測光されている部分は３段部（3Ev）暗いこと
が知れる。
ここで、スイツチSW6が押されると、押された
時点で取り込まれていたラツチ回路７の情報が、
更新されることなくそのまま保持される。このよ
うにして平均測光値を保持しておいて、被写体の
任意の部分にカメラの光軸を合わせてスポツト測
光の情報を取り込むと、（この場合スポツト測光
値はラツチ回路８に周期的に更新され取り込まれ
ている）、被写体の任意の部分の輝度情報が平均
測光値と比較しつつ確認出来ることになる。
時点で取り込まれていたラツチ回路７の情報が、
更新されることなくそのまま保持される。このよ
うにして平均測光値を保持しておいて、被写体の
任意の部分にカメラの光軸を合わせてスポツト測
光の情報を取り込むと、（この場合スポツト測光
値はラツチ回路８に周期的に更新され取り込まれ
ている）、被写体の任意の部分の輝度情報が平均
測光値と比較しつつ確認出来ることになる。
したがつて、このような情報を基にして撮影者
はフイルムラチチユード等、フイルムの特性を考
慮しつつ作画意図に照して数字表示されているシ
ヤツター速度で露出制御を行うか、または更に補
正を加えるか、またはスポツト測光制御に切換え
るか等の判断を行うことができるようになる。さ
て、シヤツターレリーズを行うと、ラツチ回路７
の情報に対応する露出時間が時間形成回路１０に
おいて形成され露出が行われる。
はフイルムラチチユード等、フイルムの特性を考
慮しつつ作画意図に照して数字表示されているシ
ヤツター速度で露出制御を行うか、または更に補
正を加えるか、またはスポツト測光制御に切換え
るか等の判断を行うことができるようになる。さ
て、シヤツターレリーズを行うと、ラツチ回路７
の情報に対応する露出時間が時間形成回路１０に
おいて形成され露出が行われる。
ここで当然のことであるが露出中はラツチ回路
７におけるデーターの更新動作は中断されるよう
に回路制御システムは構成される。
７におけるデーターの更新動作は中断されるよう
に回路制御システムは構成される。
次にスポツト測光モードの場合は、スイツチ
SW2，SW3の切換えによりラツチ回路３の平均測
光値がラツチ回路８に、またラツチ回路４のスポ
ツト測光値がラツチ回路７に取り込まれる。かく
してスポツト測光値が表示装置１３において数字
表示され、これに対し平均測光値は段数差がドツ
ト表示される。この場合もスイツチSW6の操作に
よりスポツト測光値をラツチ回路７において任意
時間保持せしめ、平均測光モードの場合と同様な
情報処理操作を行うことができる。
SW2，SW3の切換えによりラツチ回路３の平均測
光値がラツチ回路８に、またラツチ回路４のスポ
ツト測光値がラツチ回路７に取り込まれる。かく
してスポツト測光値が表示装置１３において数字
表示され、これに対し平均測光値は段数差がドツ
ト表示される。この場合もスイツチSW6の操作に
よりスポツト測光値をラツチ回路７において任意
時間保持せしめ、平均測光モードの場合と同様な
情報処理操作を行うことができる。
更にスイツチSW4，SW5を接点a4，a5側に切換
えると手動設定のシヤツター速度で露出時間が制
御される手動モードとなるが、この場合表示装置
１３においては設定シヤツター速度が数字表示さ
れ、選設されている測光モードの方の測光値が設
定シヤツター速度に対する段数差として表示され
る。こうすると測光値に対して異なる露出を与え
る場合に便利となる。
えると手動設定のシヤツター速度で露出時間が制
御される手動モードとなるが、この場合表示装置
１３においては設定シヤツター速度が数字表示さ
れ、選設されている測光モードの方の測光値が設
定シヤツター速度に対する段数差として表示され
る。こうすると測光値に対して異なる露出を与え
る場合に便利となる。
以上のような平均測光、スポツト測光、さらに
は手動設定等の撮影モードを示すＡ、Ｓ、Ｍとい
う符号を、それ等スイツチの操作に連動してフア
インダー内に表示してもよい。尚、以上の実施例
においては、段数差表示にドツト表示手段を用い
たが、これを数字表示手段に代えてもよい。
は手動設定等の撮影モードを示すＡ、Ｓ、Ｍとい
う符号を、それ等スイツチの操作に連動してフア
インダー内に表示してもよい。尚、以上の実施例
においては、段数差表示にドツト表示手段を用い
たが、これを数字表示手段に代えてもよい。
又、上記実施例では、２つの受光素子の出力を
時間分割で交互に採取し、それに同期して測定回
路の出力端子及びラツチ回路の切換えを行なつて
いたが、両受光素子の出力を並行的に取り出し、
それぞれに対し写真学的演算及びＡ−Ｄ変換器を
行ない、並列的に出力を取り出し、ラツチ回路
３，４に夫々入力せしめてもよい。
時間分割で交互に採取し、それに同期して測定回
路の出力端子及びラツチ回路の切換えを行なつて
いたが、両受光素子の出力を並行的に取り出し、
それぞれに対し写真学的演算及びＡ−Ｄ変換器を
行ない、並列的に出力を取り出し、ラツチ回路
３，４に夫々入力せしめてもよい。
更に、表示及び制御される露出因子も、上記の
如きシヤツター速度に限らず、シヤツター速度優
先自動絞り制御方式のカメラのために絞り値が表
示されるようにしてもよく、平均及びスポツトの
測光光学系も、第３図のものに限らず、周知又は
公知の種々のものが使用可能であることはいうま
でもない。
如きシヤツター速度に限らず、シヤツター速度優
先自動絞り制御方式のカメラのために絞り値が表
示されるようにしてもよく、平均及びスポツトの
測光光学系も、第３図のものに限らず、周知又は
公知の種々のものが使用可能であることはいうま
でもない。
この場合、各受光素子中の光電体は１個に限ら
ず、平均測光において所望平均値を得るべく複数
個設けられていてもよい。
ず、平均測光において所望平均値を得るべく複数
個設けられていてもよい。
上述のごとき本発明によれば、制御露出値が固
定された基準位置に数値表示されるとともに、ス
ポツト測光値とこの制御露出値との差の量が基準
位置からの変位として、同時に表示されるので、
撮影者は、被写体の輝度状態を的確に把握し、作
画意図にあつた露出条件で撮影を行うことができ
る。
定された基準位置に数値表示されるとともに、ス
ポツト測光値とこの制御露出値との差の量が基準
位置からの変位として、同時に表示されるので、
撮影者は、被写体の輝度状態を的確に把握し、作
画意図にあつた露出条件で撮影を行うことができ
る。
第１図は、本発明の一実施例を示す回路図、第
２図は本発明に適用される表示装置の一実施例を
示す説明図、第３図は平均測光およびスポツト測
光のための受光素子の配置の一例を示す概略図で
ある。 PD1……平均測光用受光素子、PD2……スポツ
ト測光用受光素子、１……アナログ切換スイツ
チ、２……Ａ−Ｄ変換回路、３，４，７，８……
ラツチ回路、５……手動設定シヤツター速度信号
発生回路、１０……時間形成回路、１１……電磁
石駆動回路、１２，１５……デコーダ、１３，１
６……表示回路、SW2，SW3……平均・スポツト
測光モード切換スイツチ、SW4，SW5……手動・
自動モード切換スイツチ、SW6……情報保持指令
スイツチ、Mg……シヤツター閉成制御電磁石。
２図は本発明に適用される表示装置の一実施例を
示す説明図、第３図は平均測光およびスポツト測
光のための受光素子の配置の一例を示す概略図で
ある。 PD1……平均測光用受光素子、PD2……スポツ
ト測光用受光素子、１……アナログ切換スイツ
チ、２……Ａ−Ｄ変換回路、３，４，７，８……
ラツチ回路、５……手動設定シヤツター速度信号
発生回路、１０……時間形成回路、１１……電磁
石駆動回路、１２，１５……デコーダ、１３，１
６……表示回路、SW2，SW3……平均・スポツト
測光モード切換スイツチ、SW4，SW5……手動・
自動モード切換スイツチ、SW6……情報保持指令
スイツチ、Mg……シヤツター閉成制御電磁石。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被写体光を受けて被写界における比較的狭い
領域の輝度を測定し、その輝度の対数圧縮値を出
力するスポツト測光手段と、 制御露出値を出力する制御露出出力手段と、 スポツト測光手段からの出力と制御露出出力手
段からの出力の差を演算する差演算手段と、 制御露出出力手段の出力を固定された基準位置
に制御露出値として数値表示する第１の表示手段
と、 差演算手段で演算された差に基づいて、差の量
を固定された基準位置からの変位として表示する
第２の表示手段、 を備えたことを特徴とする露出値表示装置。 ２ 制御露出出力手段からは、被写体光を受けて
被写界における比較的広い領域の平均的な輝度の
対数圧縮値を出力する特許請求の範囲第１項記載
の露出値表示装置。 ３ 制御露出出力手段からは、手動設定された露
出値を出力する特許請求の範囲第１項記載の露出
値表示装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10735378A JPS5535316A (en) | 1978-08-31 | 1978-08-31 | Exposure value display device |
| US06/069,853 US4309090A (en) | 1978-08-31 | 1979-08-27 | Exposure indicating device |
| US06/305,328 US4396263A (en) | 1978-08-31 | 1981-09-24 | Exposure indicating device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10735378A JPS5535316A (en) | 1978-08-31 | 1978-08-31 | Exposure value display device |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19051985A Division JPS6187142A (ja) | 1985-08-29 | 1985-08-29 | 露出値表示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5535316A JPS5535316A (en) | 1980-03-12 |
| JPH0121487B2 true JPH0121487B2 (ja) | 1989-04-21 |
Family
ID=14456899
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10735378A Granted JPS5535316A (en) | 1978-08-31 | 1978-08-31 | Exposure value display device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5535316A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5781244A (en) * | 1980-11-08 | 1982-05-21 | Olympus Optical Co Ltd | Photometric mode selector of automatic exposure control camera |
| JPS5791420A (en) * | 1980-11-28 | 1982-06-07 | Minolta Camera Co Ltd | Display device of exposure meter |
| JPS58184137A (ja) * | 1982-04-21 | 1983-10-27 | Olympus Optical Co Ltd | カメラ |
| US4748468A (en) * | 1986-02-17 | 1988-05-31 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Exposure display device |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5080129A (ja) * | 1973-11-13 | 1975-06-30 | ||
| JPS557931Y2 (ja) * | 1974-11-22 | 1980-02-21 |
-
1978
- 1978-08-31 JP JP10735378A patent/JPS5535316A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5535316A (en) | 1980-03-12 |
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