JPH0121527B2 - - Google Patents

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JPH0121527B2
JPH0121527B2 JP10602779A JP10602779A JPH0121527B2 JP H0121527 B2 JPH0121527 B2 JP H0121527B2 JP 10602779 A JP10602779 A JP 10602779A JP 10602779 A JP10602779 A JP 10602779A JP H0121527 B2 JPH0121527 B2 JP H0121527B2
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JP
Japan
Prior art keywords
sputtering
magnetization
film
recording medium
mmhg
Prior art date
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Expired
Application number
JP10602779A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5634147A (en
Inventor
Reiji Nishikawa
Makoto Tani
Koki Yokoyama
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority to JP10602779A priority Critical patent/JPS5634147A/ja
Publication of JPS5634147A publication Critical patent/JPS5634147A/ja
Publication of JPH0121527B2 publication Critical patent/JPH0121527B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Magnetic Record Carriers (AREA)
  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
  • Thin Magnetic Films (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は磁気記録体の製造方法に係り、特に垂
直磁化記録用に適する磁気記録体の製造方法に関
する。 磁気記録は、従来一般に記録媒体の面内長手方
向の磁化を用いる方式によつている。しかしてこ
の面内長手方向の磁化を用いる記録方式は記録の
高密度化に限度がありその改善が望まれている。
即ち、面内長手方向の磁化を用いる記録方式では
記録最短波長が約1.2μmに達しているとは云え、
記録の高密度化を図ると、記録媒体内(記録層)
の減磁界が増加するため、記録の高密度化も自ず
から限度がある。こうした点に着目して記録媒体
の面内垂直方向の磁化を利用する所謂る垂直磁化
記録方式が開発されている。即ちこの垂直磁化記
録方式によれば記録密度の増加とともに媒体内減
磁界が減少するため高密度記録に適するからであ
る。ところで垂直磁化記録に用いる記録媒体は記
録媒体面に垂直な方向に磁化容易軸を有する必要
があり、このような記録媒体としてCo−Crスパ
ツタ薄膜が知られている。しかして上記Co−Cr
スパツタ膜は、不活性ガス1×10-2mmHg以上の
低真空中でグロー放電を行なわせ、この放電によ
りCo−Cr合金またはCo、Crでそれぞれ構成した
ターゲツトとしての金属を陽イオン衝撃してたた
き出された金属微粒子を所定の支持基体面に付着
させることによつて形成している。しかしこのよ
うな方法ではスパツタ速度が非常に遅いため実用
に適する製造法とは云えない。 一方、上記スパツタ速度に着目した場合、マグ
ネトロンスパツタリング法の適用が考えられる。
しかし、上記マグネトロンスパツタリング法によ
つて、例えば0.9μm/hsの速度で形成したCo−
Crスパツタ薄膜についてみると垂直磁化記録に
要求される特性、即ち膜面垂直方向を磁化容易軸
とした磁気異方性が減少するため実用に供し難い
と云う問題があり、結局スパツタ速度を単に速め
ればよいと云うことではない。 本発明者らは上記点に着目し、種々検討した結
果、スパツタリング時の不活性ガス圧を7×10-3
mmHg以下とした場合、スパツタ速度を1μm/hr
以上の大きさに選んでも垂直磁化記録に要求され
る特性を備えた磁気記録媒体層を容易に形成しう
ることを見出した。 本発明はこのような知見に基づき垂直磁化記録
に適する磁気記録媒体を容易に製造しうる方法を
提供しようとするものである。 以下本発明を詳細に説明すると、本発明はスパ
ツタリングによりCo−Cr系磁気記録層を形成す
る磁気記録媒体の製造において、スパツタリング
時の不活性ガス圧力を7×10-3mmHg以下とする
ことを特徴とする磁気記録媒体の製造方法であ
る。 本発明は上記の如く、スパツタリング時の不活
性ガス、例えばArガス圧を7×10-3mmHg以下に
選択することを骨子とする。しかしてここで不活
性ガス圧力を7×10-3mmHg以下に選択したのは
不活性ガス圧力が7×10-3mmHgを超えた場合、
スパツタ膜形成速度の増大に伴ない垂直磁化記録
媒体としての特性が無視し得ない程度に低下する
からである。 次に本発明の実施例を記載する。 実施例 1 Co−Cr合金より成る直径60mmのターゲツトを
有する平板マグネトロン形高周波スパツタ装置を
先ず用意した。次いでこのスパツタ装置のベルジ
ヤー内部を8×10-7mmHg以下に排気した後、Ar
ガスを3.0×10-3mmHgになる様に導入した。プレ
スバツタを十分に行なつた後、膜厚25μmのポリ
イミドフイルムを基体として1.8μm/hrのスパツ
タ速度で30分間のスパツタを行ない膜厚0.9μmの
Co−Cr薄膜を形成した。このCo−Cr薄膜は550
ガウスの飽和磁化量(Ms)を示すとともに、膜
面に垂直方向、及び膜面内方向の保磁力はそれぞ
れ1300oe、480oeであつた。又、膜面に垂直及び
面内方向の磁化曲線は第1図に示すごとくであ
り、膜垂直方向の残留磁化Mr 1 が膜面内方向の残
留磁化Mr11より大きく、膜垂直方向に磁化容易
軸を有するすぐれた垂直磁化記録媒体としての特
性を備えていた。 実施例 2 Co−Cr合金より成る直径60mmのターゲツトを
有する平板マグネトロン型直流スパツタ装置を用
意し、スパツタ室内を6×10-7mmHg以下に排気
した後、Arガス圧を3.0×10-3mmHgとなる様に導
入した。十分なプレスパツタを行なつた後、膜厚
25μmのポリイミドフイルムを基体として2.8μ
m/hrのスパツタ速度で約20分間スパツタリング
を行ない膜厚0.9μm、Ms540ガウスのCo−Cr薄
膜を形成した。このCo−Cr膜は膜面に垂直及び
面内方向の保磁力iHc1、iHc11はそれぞれ
1280oe、490oeであつた。又膜面に垂直及び面内
方のM−H曲線は第2図に示す通りであり、膜垂
直方向の残留磁化Mr 1 が膜面内方向の残留磁化
Mr11より大きく、膜垂直方向に磁化容易軸を有
するすぐれた垂直磁化記録媒体としての特性を示
した。 実施例 3 Co−Cr合金より成る直径60mmのターゲツトを
有する平板マグネトロン型直流スパツタ装置を用
意し、スパツタ室内を6×10-7mmHg以下に排気
した後、Arガスを圧力が5×10-3mmHgとなる様
に導入した。十分なプレスパツタを行なつた後、
膜厚25μmのポリイミドフイルムを基体として
2.4μm/hrのスパツタ速度で20分間のスパツタリ
ングを行ない膜厚0.8μm、Ms560ガウスのCo−
Cr薄膜を形成した。この様にして得られたCo−
Cr薄膜の膜面垂直方向及び膜面方向の保磁力iHc
、iHc11はそれぞれ1290oe、500oeであつた。同
様にして膜面に垂直及び面内方向のM−H曲線は
第3図に示す通りであり、膜面に垂直方向の残留
磁化Mr 1 が膜面内方向の残留磁化Mr11より大き
く、膜面垂直方向に磁化容易軸を有するすぐれた
垂直磁化記録媒体としての特性を示した。 比較例 1 高周波2極スパツタ装置を用い先ずスパツタ室
内部を3.0×10-7Torr以下に排気した後、Arガス
を1.0×10-2mmHgになるまで導入した。十分なプ
レスパツタを行なつた後、膜厚25μmのポリイミ
ドフイルムを基体とし0.5μm/hrのスパツタ速度
で1.8時間スパツタリングを行ない膜厚0.9μmで
Ms540ガウスのCo−Cr薄膜形成した。他の例と
してスパツタ電力を増加させ1.2μm/hrのスパツ
タ速度で0.75時間スパツタを行ない、やはり膜厚
0.9μmのCo−Cr薄膜を形成した。これら2種の
Co−Cr薄膜の膜面垂直方向、及び膜面内方向の
保磁力を表−1に、またそれぞれの膜面垂直方向
及び面内方向のM−H曲線を第4図に示した。 上記表−1および第4図から解るように0.5μ
m/hrのスパツタ速度で形成されたCo−Cr薄膜
は膜垂直方向の残留磁化Mr 1 が膜面内方向の残留
磁化Mr11より大きく、垂直異方性を示す、すぐ
れた垂直磁化記録媒体であるのに対し、1.2μm/
hrのスパツタ速度で形成されたCo−Cr薄膜なMr
はMr11よりも小さく、垂直異方性が低下し、垂
直磁化記録媒体としての特性は大きく低下してい
た。 【表】 比較例 2 実施例2の場合と同様、直径60mmのターゲツト
を有する平板マグネトロン型直流スパツタ装置を
用意し、スパツタ室内を6×10-7mmHg以下に排
気した後、Arガスを8.0×10-3mmHgとなる様に導
入した。十分なプレスパツタを行なつた後、0.5μ
m/hrのスパツタ速度で1.8時間のスパツタリン
グを行ない、膜厚0.9μm、飽和磁化540ガウスの
Co−Cr薄膜を形成した。また他の例としてスパ
ツタ電力を増加させ1.8μm/hrのスパツタ速度で
0.6時間スパツタを行ない膜厚1.1μm、飽和磁化
540ガウスのCo−Cr薄膜を形成した。これら2種
のCo−Cr薄膜の膜面垂直方向、及び膜面内方向
の保磁力を表−2に、またそれぞれの膜面垂直方
向及び面内方向の磁化曲線を第5図に示した。表
−2および第5図から解るように0.5μm/hrのス
パツタ速度で形成されたCo−Cr薄膜は膜垂直方
向の残留磁化Mr 1 が膜面内方向の残留磁化Mr11
より大きく膜面に垂直異方性をもち、すぐれた垂
直磁化記録媒体であるのに対し、1.8μm/hrのス
パツタ速度で形成されたCo−Cr薄膜はMr 1
Mr11よりも小さく、膜の示す垂直異方性が低下
し、垂直磁化記録媒体としての特性は大きく低下
していた。 【表】
【図面の簡単な説明】
第1図乃至第3図は本発明に係るスパツタリン
グ法によつて製造した磁化記録媒体例について膜
面に垂直および面内方向の磁化容易さを示す磁化
曲線図、第4図a,bおよび第5図a,bはそれ
ぞれ本発明外のスパツタリング法によつて製造し
た磁化記録媒体例について膜面に垂直および面内
方向の磁化容易さを示す磁化曲線図である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 スパツタリングによりCo−Cr系磁気記録層
    を形成する磁気記録媒体の製造方法において、ス
    パツタリング時の不活性ガス圧力を7×10-3mm
    Hg以下とすることを特徴とする磁気記録媒体の
    製造方法。 2 前記不活性ガス圧力が3×10-3mmHg乃至7
    ×10-3mmHgであることを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載の磁気記録媒体の製造方法。
JP10602779A 1979-08-22 1979-08-22 Manufacture of magnetic recording medium Granted JPS5634147A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10602779A JPS5634147A (en) 1979-08-22 1979-08-22 Manufacture of magnetic recording medium

Applications Claiming Priority (1)

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JP10602779A JPS5634147A (en) 1979-08-22 1979-08-22 Manufacture of magnetic recording medium

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5634147A JPS5634147A (en) 1981-04-06
JPH0121527B2 true JPH0121527B2 (ja) 1989-04-21

Family

ID=14423149

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JP10602779A Granted JPS5634147A (en) 1979-08-22 1979-08-22 Manufacture of magnetic recording medium

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JPS5634147A (en) 1981-04-06

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