JPH01216242A - 欠陥検査方法 - Google Patents

欠陥検査方法

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Publication number
JPH01216242A
JPH01216242A JP4086488A JP4086488A JPH01216242A JP H01216242 A JPH01216242 A JP H01216242A JP 4086488 A JP4086488 A JP 4086488A JP 4086488 A JP4086488 A JP 4086488A JP H01216242 A JPH01216242 A JP H01216242A
Authority
JP
Japan
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unit element
camera
image sensor
linear array
defect
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Pending
Application number
JP4086488A
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English (en)
Inventor
Toshiaki Mihara
俊朗 三原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
HIYUUTEC KK
Futec Inc
Original Assignee
HIYUUTEC KK
Futec Inc
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Filing date
Publication date
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Priority to JP4086488A priority Critical patent/JPH01216242A/ja
Publication of JPH01216242A publication Critical patent/JPH01216242A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8901Optical details; Scanning details
    • G01N21/8903Optical details; Scanning details using a multiple detector array

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Image Input (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は横行するシート状物体などに存在する、主とし
て帯状の欠陥を検査する方法に関する。
〔従来の技術〕
主として帯状の欠陥を検査する従来の方法は検査するシ
ート状物体を横行ではなく横行方向に直角に走行させて
行っていた。またリニアアレーイメージセンサの一単位
素子の縦横形状比が略1:1であるカメラを使用し、−
単位素子の出力信号を走行方向に電子加算するものであ
っだ。
〔発明の目的〕
本発明は前記走行条件に制約されずに横行条件にてシー
ト状物体に存在する帯状欠陥等を検出することを目的と
する。
〔発明の概要〕
本発明は前記目的を達成するために、−単位素子が1=
50以上であるりニアアレーイメージセンサをセンサと
して電子加算ではなく光学加算で主として帯状欠陥の検
出性能を向上させるものである。また閃光光源を使用し
横行しているシートを光学的に静止させて、横行条件下
で帯状欠陥等の検出を可能にさせるものである。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を図面を併用して説明する。第
1図に於て1人は一単位素子の縦横形状比が1=50以
上であるリニアアレ、−イメ。
−ジセンサ、8は撮像レンズ2を介し、て得られるリニ
アアレーイメージセンサの等価視野で、被検査走行シー
ト3上の像である。リニアアレ−イメージセンサIAの
一単位素子6Aの像は従って被検査走行シート上では一
単位素子等価視野7となる。本発明に於て検出しようと
する欠陥とは、主として、帯状欠陥4、線状欠陥5、楕
円状欠陥10などである。これらの欠陥は走行シートの
走行方向9に沿って長いことが特徴である。欠陥の種類
としては汚れ、カキキズ、7、変色、異物、コートムラ
、ストリーク、ドクターすじ等である。本発明に於ては
、走行方向9の方向で製造されたシート材を横行方向1
1に移動する検査ライン上にて、欠陥検査を適用するも
のである。
第2図に於てIBは一単位素子が略1:1であるリニア
アレーイメージセンナであり、従来は略正方形−単位素
子6Bの出力信号を、被検査材の走行方向に電子加算す
る、信号処理方式をとっていた。電子加算する理由は一
般的に検出すべき欠陥の光学的コントラストが低く一視
野のみの判断では安定な欠陥判別ができず走行方向の多
数視野の加算平均で欠陥判別能力を向上させようとする
ものであった。IAは本発明に使う、−単位素子の縦横
形状比が1:50以上であるリニアアレーイメージセン
サであり、長方形−単位素子6Aの多数の集合体である
長方形−単位素子を使う本発明に於ては第1図から明ら
かなように、走行方向に長い欠陥に関しては、光学的に
加算されている。従って電子加算に帰因する誤差累積、
欠陥判別能力低下がない。また一般に一単位素子間の感
度のバラツキは一単位素子の面積が小さい程大きい。理
由は一単位素子の感度は面積に比例するからである。従
って一単位素子の面積が大きいす=アアレーイメージセ
ンサIAが面積が小さいIBより感度のバラツキが小さ
く、従って欠陥検出能力が良い。
一単位素子の縦横形状比が1=1.1:10.1 :2
0.1 :50.1 :100のリニアアレーイメージ
センサを帯状欠陥に適用してその信号対雑音比、即ち欠
陥信号量と背景地合信号量との比率を測定したところ、
それぞれ、1.01.1.1.1.15、z5.26で
あった。従って一単位素子の縦横形状比が1:50以上
が有効である。
第1図に於て、被検査シート材は横行方向11に高速移
動する。従って欠陥4.11等の儂は横行方向11の方
向にプレる。(にじむ。)とのプレ(にじみ)現象は欠
陥検出性能の低下をもたらすのは明白であるが、本発明
に於ては閃光光源12を使用することによりとのプレ(
Kじみ)現象の防止が可能になった。閃光光源としては
LEDパルス点灯方式、パルスレーザ−、キセノンフラ
ッシュランプ、(ストロボランプ)、水銀フラッシェラ
ンプ、その他7ラツシエランプ、螢光灯パルス点灯方式
などがある。
また照明方式は第1図では反射照明方式であるが、シー
ト材に関してセンサと反対側に照明光源を配置する透過
照明方式でも良い。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、横行条件下での主
として帯状欠陥等の検出が可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係わる欠陥検査方法の一実施例の模式
図、第2図はリニアアレーイメージセンサの比較図であ
る。 1・・・・・・リニアアレーイメージセンサ、2・曲・
撮像レンズ、3・曲・被検査走行シート、4・・曲帯状
欠陥、5・・曲線状欠陥、12・・曲照明光源。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 一単位素子の縦横形状比が1:50以上であるリニアア
    レーイメージセンサを有するカメラを撮像カメラとし、
    照明光源に閃光光源を使用したことを特徴とする欠陥検
    査方法。
JP4086488A 1988-02-25 1988-02-25 欠陥検査方法 Pending JPH01216242A (ja)

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Cited By (5)

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