JPH01217283A - 単方向磁界検出用磁気抵抗素子 - Google Patents
単方向磁界検出用磁気抵抗素子Info
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- JPH01217283A JPH01217283A JP63043216A JP4321688A JPH01217283A JP H01217283 A JPH01217283 A JP H01217283A JP 63043216 A JP63043216 A JP 63043216A JP 4321688 A JP4321688 A JP 4321688A JP H01217283 A JPH01217283 A JP H01217283A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
単方向磁界検出用磁気抵抗素子、特に強磁性薄膜を用い
たバーバーポール型の磁気抵抗素子の磁気測定範囲に関
し、 該磁気抵抗素子の磁気特性を非対称にして、磁化の反転
を防止し、磁気を検出する測定範囲を拡大することを目
的とし、 両端に電流源を接続する引出し電極を設け、かつ導体パ
ターンを有する磁気的異方性材料を具備し、 前記磁気的異方性材料に流れる電流の方向と、初期磁化
方向との間の角度が最小16じ]、最大25〔°〕又は
最小65〔゜〕、最大741:’]の関係を有すること
を含み構成する。
たバーバーポール型の磁気抵抗素子の磁気測定範囲に関
し、 該磁気抵抗素子の磁気特性を非対称にして、磁化の反転
を防止し、磁気を検出する測定範囲を拡大することを目
的とし、 両端に電流源を接続する引出し電極を設け、かつ導体パ
ターンを有する磁気的異方性材料を具備し、 前記磁気的異方性材料に流れる電流の方向と、初期磁化
方向との間の角度が最小16じ]、最大25〔°〕又は
最小65〔゜〕、最大741:’]の関係を有すること
を含み構成する。
本発明は、単方向磁界検出用磁気抵抗素子に関するもの
であり、強磁性薄膜を用いたハーハーボ−ル型の磁気抵
抗素子の磁気測定範囲に関するものである。
であり、強磁性薄膜を用いたハーハーボ−ル型の磁気抵
抗素子の磁気測定範囲に関するものである。
[従来の技術]
第7図は従来例の単方向磁界検出用磁気抵抗素子に係る
説明図である。
説明図である。
同図(a)は、フィリプス所有の特許第L270.19
2号(特公昭5l−7564)や西独公開時22630
77にある磁気的異方性材料より成るバーバーポール型
の磁気抵抗素子を示している。図において、■は強磁性
薄膜、2は導体パターン、3は引出電極である。なお、
θ。はバーバ−ポール型同図(b)は該磁気抵抗素子の
電流の方向と各磁界方向との関係をx、y座標に示すも
のである。
2号(特公昭5l−7564)や西独公開時22630
77にある磁気的異方性材料より成るバーバーポール型
の磁気抵抗素子を示している。図において、■は強磁性
薄膜、2は導体パターン、3は引出電極である。なお、
θ。はバーバ−ポール型同図(b)は該磁気抵抗素子の
電流の方向と各磁界方向との関係をx、y座標に示すも
のである。
図において、y軸は初!’、JI 4H化力方向。、y
軸は検出方向磁界■]8、を与える検出磁界方向であり
、θは初!tJl磁化方向M。と電流の方向とがなす角
度である。なおθの範囲はフィリプス所存の特許等で6
才30°〈θ〈60°である。
軸は検出方向磁界■]8、を与える検出磁界方向であり
、θは初!tJl磁化方向M。と電流の方向とがなす角
度である。なおθの範囲はフィリプス所存の特許等で6
才30°〈θ〈60°である。
同図(c)は、該磁気抵抗素子の磁気特性を示す図であ
る。
る。
図において、縦軸は抵抗変化率■であり、磁気抵抗素子
の固有抵抗R6と検出方向磁界H8Xにより変化する抵
抗骨ΔRoとの比である。また横軸は初期磁化方向M。
の固有抵抗R6と検出方向磁界H8Xにより変化する抵
抗骨ΔRoとの比である。また横軸は初期磁化方向M。
に垂直に印加される検出方向磁界Hexであり、飽和磁
界H6により、磁気的異方性材料の内部磁化は初期磁化
方向M。から完全に90°回転してHIIMの方向に揃
う。
界H6により、磁気的異方性材料の内部磁化は初期磁化
方向M。から完全に90°回転してHIIMの方向に揃
う。
なお該飽和磁界−H,や+H,は、強磁性薄膜1のパタ
ーンの厚のや幅、透磁率等によりほぼ決定される。
ーンの厚のや幅、透磁率等によりほぼ決定される。
〔発明が解決しようとする課題]
ところで従来例によれば、強磁性薄膜1より成るバーバ
ーポール型の磁気抵抗素子(30°〈θ〈60°)を用
いた磁気センサは半導体磁気ホール素子に比べて第7図
(C)に示すように検出磁界方向の飽和磁界H8を生ず
る。
ーポール型の磁気抵抗素子(30°〈θ〈60°)を用
いた磁気センサは半導体磁気ホール素子に比べて第7図
(C)に示すように検出磁界方向の飽和磁界H8を生ず
る。
このため、単方向磁気を検出する場合、検出方向磁界H
OXに対する測定範囲が狭い。
OXに対する測定範囲が狭い。
これにより、単方向に強い検出方向磁界H8Xを印加す
ると一部に磁化の反転が生じて安定な磁気検出測定がで
きないという課題がある。
ると一部に磁化の反転が生じて安定な磁気検出測定がで
きないという課題がある。
本発明はかかる従来例の課題に鑑み創作されたものであ
り、該磁気抵抗素子の磁気特性を非対称にして、磁化の
反転を防止し、磁気を検出する測定範囲を拡大すること
を可能とする単方向磁界検出用磁気抵抗素子の提供を目
的とする。
り、該磁気抵抗素子の磁気特性を非対称にして、磁化の
反転を防止し、磁気を検出する測定範囲を拡大すること
を可能とする単方向磁界検出用磁気抵抗素子の提供を目
的とする。
本発明の単方向磁界検出用磁気抵抗素子は、その実施例
を第1〜6図に示すように両端に電流源1、を接続する
引出し電極13を設け、かつ導体パターン12又は12
1を有する磁気的異方性材料パターン11を具備し、 前記磁気的異方性材料11に流れる電流■1又はI2の
方向と、初!tIUVA化方向M。との間の角度が最小
16(’)、最大25じ〕又は最小65〔°]、最大7
4じ〕の関係を有することを特徴とし、上記目的を達成
する。
を第1〜6図に示すように両端に電流源1、を接続する
引出し電極13を設け、かつ導体パターン12又は12
1を有する磁気的異方性材料パターン11を具備し、 前記磁気的異方性材料11に流れる電流■1又はI2の
方向と、初!tIUVA化方向M。との間の角度が最小
16(’)、最大25じ〕又は最小65〔°]、最大7
4じ〕の関係を有することを特徴とし、上記目的を達成
する。
本発明によれば、磁気抵抗素子の磁気的買方性材料に流
れる電流の方向と初期磁化方向との間の角度を最小16
ピ〕、最大25(’)又は最小65ピ〕、最大74ピ〕
にしている。
れる電流の方向と初期磁化方向との間の角度を最小16
ピ〕、最大25(’)又は最小65ピ〕、最大74ピ〕
にしている。
このため該磁気抵抗素子の磁気特性を非対称にすること
ができ、例えば直線性10〜15[%]の磁気検出測定
範囲を2倍程度に拡大することが可能となる。
ができ、例えば直線性10〜15[%]の磁気検出測定
範囲を2倍程度に拡大することが可能となる。
次に図を参照しながら本発明の実施例について説明をす
る。
る。
第1〜6図は本発明の実施例に係る説明図であり、第1
図は本発明の第1の実施例の単方向磁界検出用磁気抵抗
素子に係る説明図を示している。
図は本発明の第1の実施例の単方向磁界検出用磁気抵抗
素子に係る説明図を示している。
同図(a)は、第1の実施例の単方向磁界検出用磁気抵
抗素子の構成図であり、図において、11は磁気的異方
性材料(強磁性薄膜パターン)である。なお、磁気的異
方性材料11には強磁性薄膜等、例えばFe−N1(パ
ーマロイ)やC〇−Ni等である。12は、導体パター
ンであり、A I膜等である。また、13は引出し電極
であり、例えば定電流源等の電流源■。から電流■を供
給する端子等である。
抗素子の構成図であり、図において、11は磁気的異方
性材料(強磁性薄膜パターン)である。なお、磁気的異
方性材料11には強磁性薄膜等、例えばFe−N1(パ
ーマロイ)やC〇−Ni等である。12は、導体パター
ンであり、A I膜等である。また、13は引出し電極
であり、例えば定電流源等の電流源■。から電流■を供
給する端子等である。
なお、θ5、は該磁気抵抗素子の長軸方向と導体パター
ン12とのなす角度であり、バーバーポールの角度を示
している。これ等により第1の実施例に係る強磁性薄膜
を用いるバーバーポール型の単方向磁界検出用磁気抵抗
素子を構成する。
ン12とのなす角度であり、バーバーポールの角度を示
している。これ等により第1の実施例に係る強磁性薄膜
を用いるバーバーポール型の単方向磁界検出用磁気抵抗
素子を構成する。
同図(1))は第1の実施例に係る磁気抵抗素子の電流
の方向11と各磁界方向との関係をx、 y座擾に示
している。
の方向11と各磁界方向との関係をx、 y座擾に示
している。
Hにおいて、y軸は初期磁化方向又強磁性薄膜バクーン
11の長軸方向である。またy軸は強磁性薄膜パターン
11の長袖方向と直交する方向で検出磁界方向を示して
いる。なおθ1は、磁気抵抗素子の強磁性薄膜パターン
11に流れる電流■1の方向と初期磁化方向M。との間
の角度を示し、この角度θ、の範囲を16(’)<θ〈
25じ〕に規定している。
11の長軸方向である。またy軸は強磁性薄膜パターン
11の長袖方向と直交する方向で検出磁界方向を示して
いる。なおθ1は、磁気抵抗素子の強磁性薄膜パターン
11に流れる電流■1の方向と初期磁化方向M。との間
の角度を示し、この角度θ、の範囲を16(’)<θ〈
25じ〕に規定している。
これにより磁気特性を非対称にすることができる。
同図(c)は第1の実施例に係る磁気抵抗素子の磁気特
性である。図において、縦軸は抵抗変化率■−△R,/
R,であり、Roは磁気抵抗素子の電気抵抗、ΔR,は
検出方向磁界による電気抵抗の変化分である。また、横
軸は検出方向磁界HoXであり、Hoは飽和磁界である
。
性である。図において、縦軸は抵抗変化率■−△R,/
R,であり、Roは磁気抵抗素子の電気抵抗、ΔR,は
検出方向磁界による電気抵抗の変化分である。また、横
軸は検出方向磁界HoXであり、Hoは飽和磁界である
。
なお、同図の破線に示す特性は、従来例に係る磁気特性
であり、14は従来例の測定範囲を示している。また、
同図の実線に示す特性は本発明に係る磁気特性であり、
15は本発明の測定範囲を示している。なお、本発明の
測定範囲15は10〜15%程度直線性を有している。
であり、14は従来例の測定範囲を示している。また、
同図の実線に示す特性は本発明に係る磁気特性であり、
15は本発明の測定範囲を示している。なお、本発明の
測定範囲15は10〜15%程度直線性を有している。
これにより、従来例に比べて磁気特性は、非対称になり
単方向磁界を検出する測定範囲を拡大することが可能と
なる。
単方向磁界を検出する測定範囲を拡大することが可能と
なる。
第2図は、本発明の第2の実施例の単方向磁界検出用磁
気抵抗素子に係る説明図であり、第1の実施例と同様の
符号は同じ機能を有しているので説明を省略する。
気抵抗素子に係る説明図であり、第1の実施例と同様の
符号は同じ機能を有しているので説明を省略する。
同図(a)は第1の実施例と同様に単方向検出用磁気抵
抗素子の構成図を示している。なお第1の実施例と異な
るのはバーバーポールの角度θ2□が90−θ、の関係
になっている点である。これにより導体パターン121
の形状が第1の実施例と異なっている。
抗素子の構成図を示している。なお第1の実施例と異な
るのはバーバーポールの角度θ2□が90−θ、の関係
になっている点である。これにより導体パターン121
の形状が第1の実施例と異なっている。
また同図(b)において、θ2は磁気抵抗素子の強磁性
薄膜パターン11に流れる電流■2の方向と初!lJl
磁化方向M。との間の角度を示し、この角度θ2の範囲
を65[°)<θ2<741:”〕に規定している。
薄膜パターン11に流れる電流■2の方向と初!lJl
磁化方向M。との間の角度を示し、この角度θ2の範囲
を65[°)<θ2<741:”〕に規定している。
また、検出方向磁界Hl!Xを与える検出磁界方向は、
y軸としている。
y軸としている。
これより第1の実施例と同様に磁気特性を非対称とする
ことができる。
ことができる。
同図(c)は第2の実施例に係る磁気抵抗素子の磁気特
性であり、第1の実施例と同様な特性を得ることができ
る。
性であり、第1の実施例と同様な特性を得ることができ
る。
これにより、第1の実施例と同様に磁気特性を非対称と
することができ、単方向磁界を検出する測定範囲を拡大
することが可能となる。
することができ、単方向磁界を検出する測定範囲を拡大
することが可能となる。
第3図は本発明の各実施例に係る磁気抵抗素子の非対称
性を説明する図である。
性を説明する図である。
図において、縦軸は非対称性を示し、抵抗変化率VをV
”−V−/ (V”+V−)の関係式で表わしている。
”−V−/ (V”+V−)の関係式で表わしている。
また、横軸は初期磁化方向と電流の方向とがなす角度θ
ピ〕を示している。なお、角度θ−45じ]で非対称性
0.0、すなわち対称を示し、θ−〇〔°]又は90じ
]で非対称性1.0、すなわち磁気抵抗素子の出力が反
転しないことを意味している。
ピ〕を示している。なお、角度θ−45じ]で非対称性
0.0、すなわち対称を示し、θ−〇〔°]又は90じ
]で非対称性1.0、すなわち磁気抵抗素子の出力が反
転しないことを意味している。
このため角度θ、(16〔°)<θ1〈25〔°〕)又
はθ2 (65じ]〈θ2<74(。
はθ2 (65じ]〈θ2<74(。
])とすることにより、非対称性を75%〜90%、す
なわち磁気特性を一方向にシフトすることができる。
なわち磁気特性を一方向にシフトすることができる。
第4図は本発明の各実施例に係る磁気抵抗素子の直線性
と測定範囲とを説明する図であり、θ=、15(”)の
場合を例にとっている。
と測定範囲とを説明する図であり、θ=、15(”)の
場合を例にとっている。
図において、溜軸は、規格化した測定範囲1−(、う/
H8を示し、横軸は直線性T〔%]を示している。
H8を示し、横軸は直線性T〔%]を示している。
なお、直線性Tは
の関係式で表され、Sa、Sbは磁気特性において検出
方向磁界H1に対する任意の点a、bにおける抵抗変化
率Va、Vbの傾向き量(S a−d V ax は0%で最良であり、磁気抵抗素子の出力特性は無歪に
なることを示している。
方向磁界H1に対する任意の点a、bにおける抵抗変化
率Va、Vbの傾向き量(S a−d V ax は0%で最良であり、磁気抵抗素子の出力特性は無歪に
なることを示している。
すなわち角度θ−45(’)の場合、磁気特性の直線性
γを10%になるようにするとその規格化した測定範囲
H6x/Hoは0.25となる。また、直線性Tを15
%になるようにすれば、その測定範囲は0.3に拡張で
きることを示している。
γを10%になるようにするとその規格化した測定範囲
H6x/Hoは0.25となる。また、直線性Tを15
%になるようにすれば、その測定範囲は0.3に拡張で
きることを示している。
なおθ−45(°)の場合の磁気特性は対称性であるた
め、反転方向の測定範囲一0.25と、この関係を本発
明の実施例では 直線性T−10〜15[%]かつ、測定範囲を例えば2
倍に拡張するために次のような計算を行い角度θ1.θ
2を規定している。すなわち直線性r=15c%〕を保
証する測定範囲の一方向の磁界範囲は、 となり同様に直線性γ−10〔%〕を保証する測定範囲
の一方向の磁界範囲は、 となる。
め、反転方向の測定範囲一0.25と、この関係を本発
明の実施例では 直線性T−10〜15[%]かつ、測定範囲を例えば2
倍に拡張するために次のような計算を行い角度θ1.θ
2を規定している。すなわち直線性r=15c%〕を保
証する測定範囲の一方向の磁界範囲は、 となり同様に直線性γ−10〔%〕を保証する測定範囲
の一方向の磁界範囲は、 となる。
ここで角度θと測定範囲とは比例関係にあることからθ
−45じ〕に対する測定範囲±0.5とすれば、直線性
r=15(%]かつ測定範囲0.3を拡張して0.8に
するには角度変位量θ8は、 45:θウー〇、5 : (0,3+0.5)θ、=7
2(°) となる。
−45じ〕に対する測定範囲±0.5とすれば、直線性
r=15(%]かつ測定範囲0.3を拡張して0.8に
するには角度変位量θ8は、 45:θウー〇、5 : (0,3+0.5)θ、=7
2(°) となる。
すなわちθX−72じ〕又は18じ〕となり、同様に直
線性r=IOc%]かっ、測定範囲0.25に対しては
、 θ、e−67(’)又は23r’)を得られる。
線性r=IOc%]かっ、測定範囲0.25に対しては
、 θ、e−67(’)又は23r’)を得られる。
なお、θ8の許容範囲±2〔°]を考慮すれば1G(’
)<θ1〈25〔°]又は65(°)<θ2<74(°
]となる。
)<θ1〈25〔°]又は65(°)<θ2<74(°
]となる。
第5図は、本発明の各実施例に係る単方向磁界検出用磁
気抵抗素子の断面図を示している。
気抵抗素子の断面図を示している。
図において、16はガラスやSi (シリコン)等の基
板、17はFeN1(パーマロイ)やNiC。
板、17はFeN1(パーマロイ)やNiC。
等の強磁性体から成る磁性層である。また18はTaM
o等の密着層であり、磁性層17と導体層19とを電気
的、物理的に接合している。
o等の密着層であり、磁性層17と導体層19とを電気
的、物理的に接合している。
19はバーバーポール形状を成す導体パターンであり、
Au膜等の導体層である。20は導体層19を保護する
5iJn IIり等の保護膜である。なお、13は引出
し電極であり、定電流等を通電する端子である。
Au膜等の導体層である。20は導体層19を保護する
5iJn IIり等の保護膜である。なお、13は引出
し電極であり、定電流等を通電する端子である。
これにより各実施例に係る磁気抵抗素子を構成する。
第6図は、本発明の実施例の単方向磁界検出用磁気抵抗
素子の応用例の説明図を示している。
素子の応用例の説明図を示している。
同図(a)は回転センサに用いる例を示している。図に
おいて、21は単方向磁界検出用磁気抵抗素子、22は
回転する被測定対象であり、例えば、回転体等の軸に取
付けられた外周に凸状のN極を有している磁気回転体で
ある。これにより、N極が該磁気抵抗素子21に近づく
と検出方向磁界Haxを検出しその出力電圧■が大きく
なり、遠ざかることにより電圧Vが小さくなる。この電
圧パルスを計測することにより回転体の回転数nを測定
することができる。
おいて、21は単方向磁界検出用磁気抵抗素子、22は
回転する被測定対象であり、例えば、回転体等の軸に取
付けられた外周に凸状のN極を有している磁気回転体で
ある。これにより、N極が該磁気抵抗素子21に近づく
と検出方向磁界Haxを検出しその出力電圧■が大きく
なり、遠ざかることにより電圧Vが小さくなる。この電
圧パルスを計測することにより回転体の回転数nを測定
することができる。
同図(b)は位置検出に用いる例を示している。
図において、23は磁気を有する被測定対象であり、被
測定対象23が磁気抵抗素子21に近づくことにより、
その出力電圧が直線性良く変化する。
測定対象23が磁気抵抗素子21に近づくことにより、
その出力電圧が直線性良く変化する。
これを予め被測定対象23と磁気抵抗素子21との距離
(位置)の関係を、出力電圧として規格化することによ
り、位置を検出することができる。
(位置)の関係を、出力電圧として規格化することによ
り、位置を検出することができる。
同図(C)は磁気インクのセンサに利用する例を示して
いる。
いる。
図において、24は磁気インクを使用する紙幣等であり
、25は紙幣磁化用磁石である。なお紙幣24の磁気イ
ンクは紙幣磁化用磁石により磁化され、さらに移動して
磁気抵抗素子21により磁気が検出される。
、25は紙幣磁化用磁石である。なお紙幣24の磁気イ
ンクは紙幣磁化用磁石により磁化され、さらに移動して
磁気抵抗素子21により磁気が検出される。
これにより、紙幣等の偽造等をチエツクすることができ
る。
る。
このようにして、磁気抵抗素子の強磁性FjI膜パター
ン11に流れる電流l、又はI2の方向と、初期磁化方
向M。との間の角度θ1又はθ2を、+6(°)<θ、
<25(’:l又は65 〔’:]<θ2〈74 じ〕
にしている。
ン11に流れる電流l、又はI2の方向と、初期磁化方
向M。との間の角度θ1又はθ2を、+6(°)<θ、
<25(’:l又は65 〔’:]<θ2〈74 じ〕
にしている。
このため、該磁気抵抗素子の磁気特性を非対称にするこ
とができ、例えば直線性T−10〜15〔%〕の磁気検
出測定範囲を従来例に比べて2倍程度に拡大することが
可能となる。
とができ、例えば直線性T−10〜15〔%〕の磁気検
出測定範囲を従来例に比べて2倍程度に拡大することが
可能となる。
〔発明の効果]
以上説明したように本発明によれば磁気特性を非対称に
することにより単方向の磁気を検出する測定範囲、すな
わち線形範囲及びダイナミック幅を拡大することが可能
となる。
することにより単方向の磁気を検出する測定範囲、すな
わち線形範囲及びダイナミック幅を拡大することが可能
となる。
このため、ピーク値を有する磁気等の検出に用いる磁気
検出装置等を製造することが可能となる。
検出装置等を製造することが可能となる。
第1図は、本発明の第1の実施例の単方向磁界検出用磁
気抵抗素子に係る説明図、 第2図は、本発明の第2の実施例の単方向磁界検出用磁
気抵抗素子に係る説明図、 第3図は、各実施例に係る磁気抵抗素子の非対称性を説
明する図、 第4図は、本発明の各実施例に係る磁気抵抗素子の直線
性と測定範囲とを説明する図、第5図は、本発明の各実
施例に係る単方向磁界検出用磁気抵抗素子の断面図、 第6図は、本発明の実施例の単方向磁界検出用磁気抵抗
素子の応用例の説明図、 第7図は、従来例の単方向磁界検出用磁気抵抗素子に係
る説明図である。 (符号の説明) 1.11・・・強磁性薄膜(磁気的異方性材料又は強磁
性薄膜パターン)、 22122121・・・導体パターン、3.13・・・
引出し電極、 14・・・従来例の測定範囲、 15・・・本発明の測定範囲、 l 6 ・・・基+λ;(, 17・・・磁性層、 18・・・密着層、 19・・・導電層、 20・・・保護膜、 21・・・単方向磁界検出用磁気抵抗素子、22223
・・・被測定対象、 24・・・紙幣、 25・・・紙幣磁化用磁石、 θ、θ1.θ2・・・初期磁化方向と電流の方向のなす
角度、 θ。、θ11.θ2□・・・バーバーポールの角度、H
a・・・飽和磁界、 Hex・・・検出方向磁界、 ■、△R,/R・・・抵抗変化率、 ■。・・・電流源、 r、1.、I2・・・電流。 ^ −公 −Ho Q 従来例の単方向磁界検出。 第 C) H6x−−−−一 検出方向磁界用磁
気抵抗素子に係る説明図 7図
気抵抗素子に係る説明図、 第2図は、本発明の第2の実施例の単方向磁界検出用磁
気抵抗素子に係る説明図、 第3図は、各実施例に係る磁気抵抗素子の非対称性を説
明する図、 第4図は、本発明の各実施例に係る磁気抵抗素子の直線
性と測定範囲とを説明する図、第5図は、本発明の各実
施例に係る単方向磁界検出用磁気抵抗素子の断面図、 第6図は、本発明の実施例の単方向磁界検出用磁気抵抗
素子の応用例の説明図、 第7図は、従来例の単方向磁界検出用磁気抵抗素子に係
る説明図である。 (符号の説明) 1.11・・・強磁性薄膜(磁気的異方性材料又は強磁
性薄膜パターン)、 22122121・・・導体パターン、3.13・・・
引出し電極、 14・・・従来例の測定範囲、 15・・・本発明の測定範囲、 l 6 ・・・基+λ;(, 17・・・磁性層、 18・・・密着層、 19・・・導電層、 20・・・保護膜、 21・・・単方向磁界検出用磁気抵抗素子、22223
・・・被測定対象、 24・・・紙幣、 25・・・紙幣磁化用磁石、 θ、θ1.θ2・・・初期磁化方向と電流の方向のなす
角度、 θ。、θ11.θ2□・・・バーバーポールの角度、H
a・・・飽和磁界、 Hex・・・検出方向磁界、 ■、△R,/R・・・抵抗変化率、 ■。・・・電流源、 r、1.、I2・・・電流。 ^ −公 −Ho Q 従来例の単方向磁界検出。 第 C) H6x−−−−一 検出方向磁界用磁
気抵抗素子に係る説明図 7図
Claims (2)
- (1)両端に電流源(I_0)を接続する引出し電極(
13)を設け、かつ導体パターン(12又は121)を
有する磁気的異方性材料(11)を具備し、 前記磁気的異方性材料(11)に流れる電流(I_1、
又はI_2)の方向と、初期磁化方向(M_0)との間
の角度(θ_1又はθ_2)が最小16〔゜〕、最大2
5〔゜〕又は最小65〔゜〕、最大74〔゜〕の関係を
有することを特徴とする単方向磁界検出用磁気抵抗素子
。 - (2)同一基板(16)上の磁性層(17)に、バーバ
ーポール角度(θ_1_1、又はθ_2_2)に従って
、密着層(16)を介して導電層(19)が形成され、
さらに該導電層(19)上に引出電極(13)を有する
保護膜(20)を具備していることを特徴とする請求項
1に記載する単方向磁界検出用磁気抵抗素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63043216A JPH01217283A (ja) | 1988-02-25 | 1988-02-25 | 単方向磁界検出用磁気抵抗素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63043216A JPH01217283A (ja) | 1988-02-25 | 1988-02-25 | 単方向磁界検出用磁気抵抗素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01217283A true JPH01217283A (ja) | 1989-08-30 |
Family
ID=12657719
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63043216A Pending JPH01217283A (ja) | 1988-02-25 | 1988-02-25 | 単方向磁界検出用磁気抵抗素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01217283A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5341118A (en) * | 1991-02-08 | 1994-08-23 | International Business Machines Corporation | Multilayer magnetic structure wherein the magnitude of the structure magnetoresistance is a function of nonmagnetic layer thickness |
| WO2014080634A1 (ja) * | 2012-11-22 | 2014-05-30 | 公立大学法人大阪市立大学 | 磁気抵抗効果素子 |
-
1988
- 1988-02-25 JP JP63043216A patent/JPH01217283A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5341118A (en) * | 1991-02-08 | 1994-08-23 | International Business Machines Corporation | Multilayer magnetic structure wherein the magnitude of the structure magnetoresistance is a function of nonmagnetic layer thickness |
| WO2014080634A1 (ja) * | 2012-11-22 | 2014-05-30 | 公立大学法人大阪市立大学 | 磁気抵抗効果素子 |
| JP2014107293A (ja) * | 2012-11-22 | 2014-06-09 | Osaka City Univ | 磁気抵抗効果素子 |
| CN104919611A (zh) * | 2012-11-22 | 2015-09-16 | 株式会社Sirc | 磁阻效应元件 |
| EP2924749A4 (en) * | 2012-11-22 | 2016-09-07 | Sirc Co Ltd | Magnetoresistance effect element |
| US9689902B2 (en) | 2012-11-22 | 2017-06-27 | Sirc Co., Ltd | Magnetoresistance effect element |
| CN104919611B (zh) * | 2012-11-22 | 2017-08-04 | 株式会社Sirc | 磁阻效应元件 |
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