JPH01220185A - ディスク欠陥検出方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ハードディスク・フロッピーディスクなどの
、電気的欠陥の検出方式に関する。

〔従来の技術〕

従来のディスク欠陥検出方式は、検出したいト。

ラックで第２図に示すように、５回転を行い４つの欠陥
を検出する方式が一般的であった。

４つの欠陥とは、 ａ）　ミッシングパルス トラック平均振幅の６０％以下のパルスｂ）　エキスト
ラパルス 消去後の振幅が、トラック平均振幅の３０％以上のパル
ス。

Ｃ）　ポジティブモジュレーシ黛ン トラック平均振幅に対して１２５％以上の正の振幅変調
異常箇所。

ｄ）　ネガティブモジュレーション トラック平均振幅に対して７５％以下の負の振幅変調異
常箇所と定義されていた。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかし、前述の従来技術では、４種類の欠陥検出を行う
のに１トラツクで最低５回転しなければならず、ディス
クの欠陥検出に多大な時間を必要としていた。又、従来
の欠陥検出方式では、トラック平均振幅に対して正のパ
ルス（以下スパイクパルス）という欠陥が検出不可能で
、スパイクパルスを検出しようとする七、そのトラック
で、もう１回転を必要とし、さらに時間がかかってしま
う。

そこで本発明は、このような問題点を解決するもので、
ディスク欠陥検出において、高速にかつ従来の欠陥に加
え、スパイクパルスの検出を可能とする欠陥検出方式を
提供する事を、目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

本発明のディスク欠陥検出方式は、ディスクの電気的欠
陥検出において、ある周波数で書き込み、その読ろ出し
波形の振幅値を連続した関数と考え、その関数の微分波
形により欠陥を判断する事を特徴とする。

〔実施例〕

以下、本発明について実施例に基づいて詳細に説明する
。本発明による欠陥検出方式の動作チャートを、Ｉｒ１
図に示す。まず１回転めで最高周波数で書き込みを行う
。次の２回転めで読み出しを行う。この読み出し波形を
次の手順により欠陥かどうかを判断する。

１）　各ビットの振幅値の連続信号を作る。

２）　ａ）の微分波形を作る。

３）　　ｍ分波形の振幅が設定値を越えた場合、電気的
欠陥箇所と判断する。そして最後の３回転めで消去を行
う。従来の欠陥及びスパイクパルスが、本発明のディス
ク欠陥検出方式により、欠陥と判断される様子を第３図
に示す。

以上が本発明のディスク欠陥検出方式であり、検出した
いトラックで、３回転する事により欠陥を検出する。

〔発明の効果〕

以上述べたように、本発明はディスクの電気的欠陥検出
において、ある周波数で四き込み、その読み出し波形の
振幅値を連続した関数と考え、その関数の微分波形によ
り欠陥を判断するという、検出方式により、高速にかつ
従来の欠陥に加え、スパイクパルスの検出を可能とする
欠陥検出方式を、提供できるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明のディスク欠陥検出方式の動作チャー
トを示す図。 第２図は、従来のディスク欠陥検出方式の動作チャート
を示す図。 第３図（ａ）〜（ｉ）は、本発明の欠陥検出方式により
、欠陥と判断される様子を示す図である。 （ａ）・・・ミッシングパルスの読み出し波形を示す図
。 （ｂ）・・・ミッシングパルスの振幅値の連続信号を示
す図。 （ｃ）・・・ｂの微分波形を示す図。 （ｄ）・・・ホジティブモジュレーシ３ンの読み出し波
形を示す図。 （ｅ）・・・ホジティブモジュレーシｇ７の振幅値の連
続信号を示す図。 （ｆ）・・・ｅの微分波形を示す図。 ＜ｇ＞・・・スパイクパルスの読み出し波形を示す図。 （ｈ）・・・スパイクパルスの振幅値の連続信号を示す
図。 （ｉ）・・・（ｈ）の微分波形を示す図。 以　　上 出願人　セイコーエプソン株式会社 代理人　弁理士　最　上　　務　他１名＼−

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 　ディスクの電気的欠陥検出において、ある周波数で書
   き込み、その読み出し波形の振幅値を連続した関数と考
   え、その関数の微分波形により欠陥を判断する事を特徴
   とする、ディスク欠陥検出方式。