JPS637568A - デ−タ処理方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野コ 本発明はデータ処理方法に関し、特に記録媒体検査装置
における検査データを表わすビット列に用いて好適なも
のである。

［従来の技術］ 従来、ディスク上のエラー発生位置を検出する装置が実
開昭６１−２１０６０号公報により提案されている。こ
のエラー基準位置装置はディスク１回転の間に所定のク
ロックパルスをカウントして位置情報を発生するカウン
タを備え、このディスクを検査する過程で発生するエラ
ー信号に同期して、該カウンタのカウント値をエラー位
置情報として記憶手段に記憶する。またディスク回転速
度の変動に対処するために、１回転分のカウント値をそ
の都度読取り、この１回転分のカウント値の大きさに応
じて前記記憶したエラー位置情報（カウント値）を修正
し、正しい位置情報を求めるものである。

［発明が解決しようとする問題点コ 従来のエラー基準位置装置は、エラー情報を記録するメ
モリのアドレスが、クロックパルスをカウントするカウ
ンタにより決定される。そして各アドレスにはクロック
パルスに応答してエラー識別信号が書込まれる。このた
めメモリは大容量を必要としコストの増大を招く、更に
ディスク回転速度の変動に対処するために、１回転分の
カウント値をその都度読取る必要があった。

本発明は上述の点に鑑みてなされたものであり、記録媒
体の検査データを大容量のメモリを必要とすることなく
記録することが可能なデータ処理方法を提供するもので
ある。

［問題点を解決するための手段］ 記録媒体のＥＦラン長（正しいシンボルが連続したもの
）、ソリッドバーストエラー長（誤ったシンボルが連続
したもの）及び基準位置の検出の各データを少なくとも
２ビツト以上のデジタル信号で処理するデータ処理方法
であり、前記デジタル信号は、第１及び第２のブロック
に区分される。

［作用コ 前記第１のブロックは、ＥＦクランソリッドバーストエ
ラーを判別するデータ値をとり、前記第２のブロックは
、予め決められたデータ値により前記基準位置の検出を
、またそれ以外のデータ値により前記第１のブロックで
判別されているＥＦクランはソリッドバーストエラーの
長さを表わす。

［実施例コ 以下、本発明の一実施例を図面を参照しながら詳細に説
明する。

第１図は本発明の記録媒体検査装置を示すブロック図、
また第２図（、）〜（ｃ）は第１図に示される記録媒体
検査装置の一動作例を示すタイミングチャートである。

１はデータ発生器２にデータクロックＲＤＣＫを出力す
ると共に、コントロールラインＣ工により、データ系列
Ｍ　ｓ　ａ　ｑのスタート、ストップ等の制御を行なう
記録系コントローラである。２はディスクに記録するデ
ータ系列Ｍ　ｓ　ｅ　ｑをデータクロックＲＤＣＫに同
期して出力するデータ発生器である。８ビツトのシンボ
ル単位からなる、データ系列Ｍ　ｓ　ｅ　ｑのパターン
を以下に示すが、各シンボルのデータ値は１６進法によ
る値を用いている。

・・・・・・００００００００００００　ＦＦ　ＦＦ　
ＦＦ　ＦＦ　ＦＦ　Ｍ、　Ｍ。

−一一開始パターンーーー←− Ｍ、＝−＝−Ｍｎ−、Ｍｎ　００００００００００００
００　・・・・・・−テストパターン−Ｎく終了パター
ン例上記データ系列Ｍ　ｓ　ｅ　ｑは３回以上連続する
データ［００］に続いて、データ［ＦＦｌが５回連続す
ることで示される開始パターンと、擬似ランダム系列で
ある２０次のＭ系列（周期は２”−１ビツト）で示され
るテストパターンと、データ［ＯＯ］が５回連続するこ
とで示される終了パターンから形成されている。またテ
ストパターンの長さは記録時間に合わせて決められ、記
録時間の長いときは同じ系列が繰返される。

３はＥＦＭ変調器を示し、記録系コントローラ１からの
データクロックＲＤＣＫ及びデータ発生器２から出力さ
れる８ビツトシンボルのデータ系列Ｍ　ｓ　ａ　ｑを夫
々入力してＥＦＭ変調を行なった後、データクロックＲ
ＤＣＫに同期して１４ビツトシンボルのデータ系列Ｍ、
Ｍｓｅｑを出力する。

４は光学的記録再生装置を示し、ＥＦＭＦＭ変調器ら出
力されるデータ系列Ｍ、Ｍｓｅｑを、１フレーム５８８
チヤンネルビツトからなる以下のフォーマットに従って
被検査ディスク（図示しない）に線速度−定（ＣＬＶ制
御）で記録する。

ｌ　　５ｙｎｃ＋Ｓｕｂ　ｃｏｄｅ　Ｉ　Ｄｔ　ｌ　Ｄ
２１０３　ｌ　・＝　・・・・・・・＝　Ｉ　Ｄｙ　ｓ
　ｌ　Ｄｉ　２１１（４４ｃｈａｎｎｅｌ　ｂｉｔ氷−
３２Ｘ１７　ｃｈａｎｎｅｌ　ｂｉｔ→に−Ｉ　Ｆｒａ
ｍｅ　（５８８ｃｈａｎｎｅｌ　ｂｉｔ）−一上記フオ
ーマットの各データＤ工〜Ｄ３２はデータ系列Ｍ、Ｍｓ
ｅｑの各データ（１４ビツト）しこエキストラビット（
３ビツト）を付は加えたちのである。この記録フォーマ
ットはコンパクトディスク（ＣＤ）フォーマットに準じ
たもので、主に光学的記録再生装置４の再生時における
ＣＬ■制御を正確に動作させる為に必要とする。

また光学的記録再生装置４は、再生時において位置検出
手段（図示しない）により、ディスク１回転毎に１パル
スのディスク基準位置検出信号Ｒ８ＹＮＣを、後述する
再生系コントローラ８に出力する。この位置検出手段は
１例えば被検査ディスクのレーベル部に貼られたラベル
を光学的に検出することにより実現できる。また、ディ
スク駆動方式がダイレクトドライブ方式の場合はモータ
から信号を得ることも可能であるがディスクのエラー位
置を検出するためには前者が好ましい。

５はデータクロックＰＤＣＫを出力すると共に、光学的
記録再生装置４から出力される再生データＭ、ＰＢＤ　
（１４ビツト）を再生データＰＢＤ（８ビツト）にＥＦ
Ｍ復調するＥＦＭ復調器である。

６はＥＦＭＦＭ復調器ら出力されるデータクロックＰＤ
ＣＫに同期して、データ系列Ｍ　ｓ　ｅ　ｑを出力する
データ発生器であるが、このデータ系列Ｍ　ｓ　ｅ　ｑ
はデータ発生器２から出力されるデータ系列Ｍｓｅｑの
テストパターンと同一のものである。

７はＥ　Ｆ　Ｍ復調器５から、データクロックＰＤＣＫ
に同期してパラレル状態で出力される再生データＰＢＤ
と、データ発生器６からパラレル状態で出力されるデー
タ系列Ｍ　ｓ　ｓ　ｑを、シンボル単位（８ビツト）毎
に比較するデータ比較器であり、再生データＰＢＤとデ
ータ系列Ｍ　ｓ　ｅ　ｑが同一の場合はＩＰＨＩ＋信号
に、異なる場合はｌ？ＬＩ＋信号になるエラーパターン
ＣＯＭＰを出力する。

８は再生系コントローラ、９は１６ビツトのラン長カウ
ンタ、１０は１４ビツトのアドレスカウンタ、１１は４
にワード（１ワード＝１６ビツト）のランダムアクセス
メモリ（以下ＲＡＭＩＩと略す）を夫々示す。

再生系コントローラ８は、ＥＦＭＦＭ復調器ら出力され
るデータクロックＰＤＣＫ、再生データＰＢＤが夫々入
力され、再生データＰＢＤを読取ることにより開始パタ
ーン、終了パターンを検出する。そしてコントロールラ
インＣ２によりデータ発生器６から出力されるデータ系
列Ｍ　ｓ　ｅ　ｑのスタート、ストップ制御を行なう。

再生系コントローラ８とラン長カウンタ９間、及びアド
レスカウンタ１０間は夫々コントロールラインＣ，，Ｃ
４で接続され、再生系コントローラ８からは初期リセッ
ト信号が、またアドレスカウンタ１ｏ、ラン長カウンタ
９からはオーバーフロー検出信号が夫々出力される。

また再生系コントローラ８はカウントクロックＥＣＫを
ラン長カウンタ９の入力端子に、クリア信号ＣＬＲをラ
ン長カウンタ９のクリア端子とアドレスカウンタ１０の
入力端子に夫々出力する。

カウントクロックＥＣＫはデータクロックＰＤＣＫと同
一周期で所定時間遅延された信号であり、エラーパター
ンの測定中出力される。クリア信号ＣＬＲは、エラーパ
ターンＧＯＭＰの極性反転時またはラン長カウンタ９の
オーバーフロー検出時には１パルスのパルス信号として
、また基準位置検出信号ＲＳＹＮＣの入力時には２パル
スのパルス信号として、夫々後述するタイミングで出力
される。

ラン長カウンタ９は、カウントクロックＥＣＫを逐次カ
ウントしてこのカウントデータを常時ＲＡＭ１１のデー
タ入力端子に出力するが、クリア信号ＣＬＲの入力毎に
０スタートを繰り返す、−方アドレスカウンタ１０はク
リア信号ＣＬＲを逐次カウントし、このカウント値をア
ドレスとして常時ＲＡＭＩＩのアドレス入力端子に出力
する。

ＲＡＭＩＩはラン長カウンタ９のカウントデータと共に
、エラーパターンＧＯＭＰを遅延回路１５及びインバー
タエＮＶ１６を介して形成された極性信号ＫＳを書込み
データとして入力する。そして、再生系コントローラ８
から出力される書込み制御信号ＷＥがＩＩＬ１１信号に
なったときに、アドレスカウンタ１０のカウントデータ
により指定されるアドレスに書込みデータを書込む。

なおＲＡＭＩＩは、再生系コントローラ８から出力され
る読出し制御信号○ＥがＩＩＬＩ＋信号の時に、指定さ
れるアドレスのデータを出力する。また書込み制御信号
ＷＥはデータクロックＰＤＣＫと同一周期で遅延された
反転パルス信号であるが、基準位置検出信号Ｒ３ＹＮＣ
の入力時には、２パルスの反転信号が後述するタイミン
グで重畳される。

ＲＡＭＩＩに書込まれる書込みデータは、１６ビツトの
データをビット列とし、最上位ビットをビット極性信号
ＫＳのデータとする第１のブロックと、下位１５ビツト
をラン長カウンタ９のカウントデータとする第２のブロ
ックとからなる。このビット列の最上位ビットのｌ＋　
Ｏ”、′１”は。

ビット極性信号ＫＳのＩＩ　Ｌ　ＩＩ　、　ＩＩ　Ｈ”
に夫々対応し、後述する如く、下位１５ビツトのデータ
種類を表わしている。また下位１５ビツトが全てＯの場
合は最上位ビットに関係なく基準位置検出信号を示す。

次に、データクロックＰＤＣＫの１周期間において、上
記再生系コントローラ８から出力されるカウントクロッ
クＥＣＫ、クリア信号ＣＬＲ及び書込み制御信号ＷＥの
出力順序を説明する。

１）エラーパターンＧＯＭＰの極性が同一の時は、カウ
ントクロックＥＣＫ、書込み制御信号ＷＥの順序で出力
される。

２）エラーパターンＧＯＭＰの極性反転時またはラン長
カウンタ９のオーバーフロー検出時は、クリア信号ＣＬ
Ｒ、カウントクロックＥＣＫ、書込み制御信号ＷＥの順
序で出力される。

３）基準位置検出信号ＲＳＹＮＣが入力された時は、後
述するタイミングでクリア信号ＣＬＲ１書込み制御信号
ＷＥの順序で交互に２回づつ、追加出力される。

１２はコンピュータであり、コンピュータ１２と再生系
コントローラ８はコントロールラインＣ６により相互の
制御が行なわれる。コンピュータ１２はアドレスカウン
タ１０のカウントデータが入力され、テストデータの測
定終了時にそのカウント値をアドレスの最終値として読
取る。またコンピュータ１２はＲＡＭＩＩに書込まれた
データを取込むべく順次そのアドレスを出力し、またコ
ントロールラインＣｓにより再生系コントローラ８から
出力される読出し制御信号○Ｅを制御して、ＲＡＭＩＩ
のデータを取込む。

１３はプリンタ、１４はデイスプレィであり、コンピュ
ータ１２が取込んだデータのデータ処理結果を表示する
。

以下、第２図（ａ）〜（ｃ）のタイミングチャートに従
ってこれ等の一動作例を説明する。

なお、〈　〉内に付した番号は動作順序を示し、［］内
に付した値はデータ値を示す。

再生データＰＢＤはそのシンボル値［Ｄ□］〜［Ｄｎコ
に記号′が付されるとエラーが発生したシンボル値とし
、またラン長カウンタ９及びアドレスカウンタ１０のカ
ウント値表現には１ｏ違法による値を用いている。

（１）データ系列の記録 データ発生器２は記録系コントローラ１の制御により、
開始パターン、テストパターン、終了パターンの順序で
データ系列Ｍ　ｓ　ｅ　ｑを出力する。

このデータ系列Ｍ　ｓ　ａ　ｑはＥＦＭ変調器３でＥＦ
Ｍ変調され、光学的記録再生装置４により前記した規定
のフォーマットで被検査ディスク（図示しない）に記録
される。

（２）テストデータの測定 次にデータ系列Ｍ　ｓ　ｅ　ｑが記録された被検査ディ
スクは光学的記録再生装置４により再生される。

光学的記録再生装置４から出力される再生データＭ、Ｐ
ＢＤはＥＦＭ復調器５によりＥＦＭ復調され、再生デー
タＰＢＤとなる。

再生系コントローラ８はＥＦＭ復調器５から出力される
データクロツタＰＤＣＫのタイミングで再生データＭ、
ＰＢＤの値を読取り、その開始パターンの検出を行なう
。再生系コントローラ８は開始パターンを検出すると、
コントロールラインＣ２によりデータ発生器６を制御し
、再生データＰＢＤとデータ発生器６から出力されるデ
ータ系列Ｍ　ｓ　ａ　ｑのテストパターンの同期を取る
。以後再生データＰＢＤとデータ系列Ｍ　ｓ　ｅ　ｑは
データクロックＦＤＧＫに同期して出力される。

また再生系コントローラ８は再生データＰＢＤの開始パ
ターンを検出すると、コントロールラインＣ１、Ｃ３に
よりラン長カウンタ９及びアドレスカウンタ１０を夫々
初期リセットし、そのカウント値をクリアする。

データ比較器７は、同期した再生データＰＢＤとデータ
系列Ｍ　ｓ　ｅ　ｑのデータ値を比較し、再生データＰ
ＢＤのエラーを判別する。

第２図（ａ）に示されるように、データ比較器７はデー
タクロックＰＤＣＫ＜Ｏ＞に同期する再生データＰＢＤ
＜１＞のシンボル値［Ｄ１］とデータ系列Ｍｓ　ｅｑ＜
１＞のシンボル値［ｄ□コを同一と判断し、エラーパタ
ーンＧＯＭＰ＜２＞をＩＩ　ＨＩＰ信号とする。次に、
ラン長カウンタ９は再生系コントローラ８から出力され
るカウントクロックＥＣＫ＜３＞により、そのカウント
値く４〉を［１コとする。ＲＡＭＩＩは書込み制御信号
ＷＥく５〉により、アドレスカウンタ１０のカウント値
（以下アドレス値と称す）［０］のアドレスに書込みデ
ータを書込むが、このとき書込みデータの第１のブロッ
クである最上位ビットは極性信号ＫＳの”Ｌ″信号に対
応する［０］となり、また第２のブロックである下位１
５ビツトで示す値はラン長カウンタ９のカウント値［１
］となる。

次にデータ比較器７はデータクロックＰＤＣＫく６〉に
同期する再生データＰＢＤ＜７＞のシンボル値［Ｄ、’
　］とデータ系列Ｍｓｅｑ＜７＞のシンボル値［ｄ２］
を異なると判断し、エラーパターンＣＯＭＰ＜８＞を”
Ｌ”信号とする。これに伴って再生系コントローラ８か
らクリア信号ＣＬＲ＜９＞が出力され、ラン長カウンタ
９のカウント値く１０〉はクリアされて［０コとなり、
アドレスカウンタ１０のカウント値く１１〉は〔１］と
なる。次にラン長カウンタ９はカウントクロックＥＣＫ
＜１２＞により、そのカウント値〈１３〉を［１］とす
る。ここでエラーパターンＣＯＭＰく８〉が”Ｌ”信号
になってからの経過時間が遅延回路１５で設定した遅延
時間となり、極性信号ＫＳ＜１４）がＩＩ　Ｈ１＃信号
となる。次にＲＡＭ１１は書込み制御信号ＷＥ＜１５）
により、アドレス値［１］のアドレスに、第１のブロッ
クの値［１コ、第２のブロックの値［１］の書込みデー
タを書込む。

次にデータ比較器７はデータクロックＰＤＣＫく１６〉
に同期する再生データＰＢＤ＜１７＞のシンボル値［Ｄ
３’　］とデータ系列Ｍｓｅｑ＜１７〉のシンボル値［
ｄ、］を異なると判断し、エラーパターンＣＯＭＰ＜１
８＞を”Ｌ”信号とする。従って、ラン長カウンタ９は
カウントクロックＥＣＫ＜１９＞により、そのカウント
値＜２０〉を［２コとする。ＲＡＭ１１は書込み制御信
号ＷＥ＜２１＞により、アドレス値［１コのアドレスに
、第１のブロックの値［１コ、第２のブロックの値［２
コの書込みデータを書き込んで、その書込みデータを更
新する。

次にデータ比較器７はデータクロックＰＤＣＫく２２〉
に同期する再生データＰＢＤ＜２３＞のシンボル値［Ｄ
４コとデータ系列Ｍｓａｑ＜２３〉のシンボル値［ｄ、
］を同一と判断し、エラーパターンＣＯＭＰ＜２４＞を
ＩＩ　Ｈ”信号とする。

この極性反転に伴って出力されるクリア信号ＣＬＲ＜２
５＞により、ラン長カウンタ９のカウント値〈２６〉が
クリアされて［０］となり、アドレスカウンタ１ｏのカ
ウント値く２７〉は〔２］となる。次にラン長カウンタ
９はカウントクロックＥＣＫ＜２８＞により、そのカウ
ント値く２９〉を［１］とする。ここでエラーパターン
ＧＯＭＰく２４〉の極性反転から所定時間経過し、極性
信号ＫＳ＜３０＞が＋ｌＬ＋＋信号となる。ＲＡＭＩＩ
は書込み制御信号ＷＥ＜３１＞により、アドレス値［２
コのアドレスに、第１のブロック値［０］、第２のブロ
ック値［１コの書込みデータを書込む。

次にデータ比較器７はデータクロックＰＤＣＫく３２〉
に同期する再生データＰＢＤ＜３３＞のシンボル値〔Ｄ
、コとデータ系列Ｍｓｅｑ＜３３〉のシンボル値［ｄ、
］を同一と判断し、エラーパターンＣＯＭＰ＜３４＞を
’Ｈ”信号とする。

従ってラン長カウンタ９はカウントクロックＥＣＫ＜３
５＞により、そのカウント値く３６〉を［２コとする。

以下同様にデータ比較器７はデータクロックＰＤＣＫ＜
３８＞、く４４〉に同期する両シンボル値を同一と判断
するもので、ラン長カウンタ９はカウントクロックＥＣ
Ｋ＜４１＞、〈４７〉によりそのカウント値〈４２〉、
く４８〉を［３］、［４］とし、書込み制御信号ＷＥ＜
４３＞、く４９〉によりＲＡＭＩＩのアドレス値［２コ
のアドレスに書き込まれる、書込みデータの第２のブロ
ックの値は［３］、［４］と更新される。

次にデータ比較器７はデータクロックＰＤＣＫく５０〉
に同期する再生データＰＢＤ＜５１＞のシンボル値［Ｄ
８′コとデータ系列Ｍｓｅｑ（５１〉のシンボル値［ｄ
、］を異なると判断し、エラーパターンＧＯＭＰ＜５２
＞を”Ｌ”信号とする。この極性反転に伴って出力され
るクリア信号ＣＬＲ＜５３＞により、ラン長カウンタ９
のカウント値〈５４〉がクリアされて［Ｏ］となり、ア
ドレスカウンタ１ｏのカウント値く５５〉は［３］とな
る。次にラン長カウンタ９はカウントクロックＥＣＫ＜
５６＞により、そのカウント値＜５７〉を［１コとする
。ここでエラーパターンＣＯＭＰ＜５２＞の極性反転か
ら所定時間が経過し、極性信号ＫＳ＜５８＞が”Ｈ”信
号となる。ＲＡＭ１１は書込み制御信号ＷＥ＜５９＞に
より、アドレス値［３］のアドレスに第１のブロックの
値［１コ、第２のブロックの値［１コの書込みデータを
書込む。

以上のようにＲＡＭＩＩにはＥＦラン長及びソリッドバ
ーストエラー長の書込みデータが順次書込まれていく。

次にＥＦラン長をカウント中に基準位置検出信号Ｒ３Ｙ
ＮＣが入力された場合を第２図（ｂ）に想定して説明す
る。

データ比較器７はデータクロックＰＤＣＫ＜６０〉に同
期する再生データＰＢＤ＜６１＞のシンボル値［Ｄ、］
とデータ系列Ｍｓｅｑ（６１）のシンボル値［ｄ、］を
同一と判断し、エラーパターンＣ−ＯＭＰ＜６２＞を１
７　Ｈ１１信号とする。この極性反転に伴って出力され
るクリア信号ＣＬＲ＜６３〉により、ラン長カウンタ９
のカウント値く６４〉がクリアされて［０］となり、ア
ドレスカウンタ１０のカウント値〈６５〉は［４コとな
る。

次にラン長カウンタ９はカウントクロックＥＣＫく６６
〉により、そのカウント値く６７〉を［１コとする。こ
こでエラーパターンＧＯＭＰ＜６２＞の極性反転から所
定時間が経過し、極性信号ＫＳく６８〉がＩＩＬ１１信
号となる。ＲＡＭＩＩは書込み制御信号ＷＥ＜７４＞に
より、アドレス値［４コのアドレスに第１のブロックの
値［０コ、第２のブロックの値［１］の書込みデータを
書込む。

以下同様にデータ比較器７は、データクロックＰＤＣＫ
＜７０＞、＜７６＞に同期する両シンボル値を夫々同一
と判断し、ラン長カウンタ９はカウントクロックＥＣＫ
＜７３＞、〈７９〉によりそのカウント値く７４〉、〈
８ｏ〉を［２］。

［３］とし、ＲＡＭＩＩアドレス値［４］のアドレスに
書き込まれる書込みデータの第２のブロックの値は、書
込み制御信号ＷＥ＜７５＞、＜８１〉により［２コ、　
［３コと更新される。

次にデータ比較器７はデータクロックＰＤＣＫく８２〉
に同期して再生データＰＢＤ＜８３＞のシンボル値［Ｄ
工２コとデータ系列Ｍｓｓｑ（８３〉のシンボル値［ｄ
１□コを同一と判断し、エラーパターンＣＯＭＰ＜８５
＞を”Ｈ”信号とする。

再生系コントローラ８は、光学的記録再生装置４から出
力される基準位置検出信号Ｒ３ＹＮＣを。

書込み制御信号ＷＥの立下りのタイミングで取込む。そ
して次のカウントクロックＥＣＫを出力する間にクリア
信号ＣＬＲ１書込み制御信号ＷＥの順序で交互に２同各
パルス信号を出力するが、１回目のクリア信号の出力タ
イミングは、エラーパターンＣＯＭＰの極性反転時に出
力するクリア信号のタイミングと一致するように設定さ
れている。

従って書込み制御信号ＷＥ＜８１＞の立下り時に、基準
位置検出信号５ＹＮＣを取込むと、１パルス目のクリア
信号ＣＬＲ＜８５＞により、そのカウント値く８６〉が
クリアされて［０］となり、アドレスカウンタ１０のカ
ウント値く８７〉は［５］となる。ＲＡＭ１１はクリア
信号ＣＬＲ＜８５＞の後に出力される書込み制御信号Ｗ
Ｅ＜８８＞により、アドレス値［５］のアドレスに第１
のブロックの値［０コ、第２のブロックの値［０１の書
込みデータを書込む。そして２パルス目のクリア信号Ｃ
ＬＲ＜８９＞により、ラン長カウンタ９のカウント値く
９０〉は再度クリアされて［０１となり、アドレスカウ
ンタ１０はそのカウント値く９１〉は［６コとなる。Ｒ
ＡＭ１１はクリア信号ＣＬＲ＜８９＞の後に出力される
書込み制御信号ＷＥ＜９２＞により、アドレス値［６］
のアドレスに第１のブロックの値［０］、第２のブロッ
クの値［０１の書込みデータを書込む。そしてラン長カ
ウンタ９はカウントクロックＥＣＫ＜９３＞により、そ
のカウント値く９４〉を［１］とする。

ＲＡＭＩＩは書込み制御信号ＷＥ＜９５＞により、アド
レスカウンタ１０のカウント値［６］のアドレスに、第
１のブロックの値［０］、第２のブロックの値［１］の
書込みデータを再び書込む。

以下同様にして、書込みデータの書込みが行なわれ、カ
ウントクロックＥＣＫ＜１１４＞の出力までに、ＲＡＭ
ＩＩのアドレス値［６］のアドレスに書き込まれる書込
みデータの第２のブロックの値は［４］となる。

次にＥＦシラン連続し、ラン長カウンタ９の下位１５ビ
ツトがオーバーフロー（カウント値［３２７６７］）Ｌ
、た場合を第２図（Ｃ）に想定して説明する。

データ比較器７はデータクロックＰＤＣＫ＜１１４〉に
同期する再生データＰＢＤ＜１１５＞のシンボル値［Ｄ
よ、］とデータ系列Ｍｓｅｑ（１１５〉のシンボル値［
ｄ、、］を同一と判断し、エラーパターンＧＯＭＰ＜１
１６＞を”Ｈ”信号とする。その後もＥＦシラン連続す
ることにより、データ比較器７は両データを同一と判断
し続ける。

そして書込み制御信号ＷＥ＜１２３＞が出力された段階
において、ＲＡＭＩＩのアドレス値［６］のアドレスに
書き込まれる書込みデータの第２のブロックの値は［３
２７６６］となる。

更に、データ比較器７はデータクロックＰＤＣＫ＜１２
４＞に同期する再生データＰＢＤ＜１２５〉のシンボル
値［Ｄ、２□７゜］とデータ系列Ｍｓｅｑ＜１２５＞の
シンボル値［ｄ、、、、、］を同一と判断し、エラーパ
ターンＧＯＭＰ＜１２６＞を”Ｈ”信号とする。ラン長
カウンタ９はカウントクロックＥＣＫ＜１２７＞により
、そのカウント値＜１２８＞を［３２７６７コとする。

この時点で、ラン長カウンタ９はオーバーフロー検出信
号を再生系コントローラ８に出力する。再生系コントロ
ーラ８はこのオーバーフロー検出信号を入力すると、エ
ラーパターン信号ＣＯＭＰの極性反転時に出力するクリ
ア信号の出力タイミングでクリア信号ＣＬＲ＜１３３＞
を出力する。ＲＡＭＩＩは書込み制御信号ＷＥ＜１２９
＞により、アドレス値［６］のアドレスに第１のブロッ
クの値［０コ、第２のブロックの値［３２７６７］の書
込みデータを書込む。

次にデータ比較器７はデータクロックＰＤＣＫ＜１３０
＞に同期する再生データＰＢＤ＜１３１〉のシンボル値
ＣＤｓ＊ｑｔｓ］とデータ系列Ｍｓｅｑ’＜１３１＞の
シンボル値［ｄ３□ｆｆ７ｓコを同一と判断し、エラー
パターンＧＯＭＰ＜１３２＞を”Ｈ”信号とする。ここ
で前述したラン長カウンタ９のオーバーフロー検出によ
るクリア信号ＣＬＲ＜１３３＞により、ラン長カウンタ
９のカウント値＜１３４＞がクリアされて［０］となり
、アドレスカウンタ１ｏのカウント値＜１３５＞は［７
］となる。次にラン長カウンタ９はカウントクロックＥ
ＣＫ＜１３６＞により、そのカウント値＜１３７＞を［
１コとする。ＲＡＭＩＩは書込み制御信号ＷＥ＜１３８
＞により、アドレス値［７］のアドレスに、第１のブロ
ック値［０１、第２のブロックの値［１コの書込みデー
タを書込む。

以下同様にデータ比較器７はデータクロックＰＤＣＫ＜
１３９＞、＜１４５＞、＜１６１＞に同期する両シンボ
ル値を夫々同一と判断するもので、ＲＡＭＩＩのアドレ
ス値［７］のアドレスに書き込まれる書込みデータの第
２のブロックの値は［２］、［３コ、［４］と更新され
る。

以上のようにテストデータが順次比較され、ＲＡＭＩＩ
は本発明のビット列表示方法による書込みデータを記録
していく。そして再生系コントローラ８が再生データＰ
ＢＤの終了パターンを検出するとテストデータの測定を
終了する。

上記動作例においてＲＡＭＩＩに記録された書込みデー
タ内容を表１に示す。

なお、アドレス［７］のデータ値ｃｏｏｏｏ。

００００００００１００コは必ずしも最終値ではなく、
例えば次の再生データＰ　Ｂ　Ｄ　［Ｄ、２−３１とデ
ータ系列Ｍｓａｑ［ｄａ□７．３コが同一であれば増加
する。

表１に示されるように、ＲＡＭＩＩの各アドレスにはテ
ストデータの肥定開始後、ＥＦラン長が１シンボル、ソ
リッドバーストエラー長が２シンボル、ＥＦラン長が４
シンボル、ソリッドバーストエラー長が１シンボル、Ｅ
Ｆラン長が３シンボル、基準位置検出信号、ＥＦラン長
が３２７６７シンボル、ＥＦラン長が４シンボル、・・
・・・・と記録媒体の検査結果が順次記録されている。

（３）データ処理 テストデータの測定が終了するとコンピュータ１２はＲ
ＡＭＩＩのデータを取込み、各種のプログラムによりデ
ータ処理を行なう。

コンピュータ１２はＲＡＭＩＩの使用されたアドレスの
最終値を知るためアドレスカウンタＩＱのカウントデー
タを読み取る。次に、コンピュータ１２は所要のプログ
ラムにより、順次アドレスをＯから最終値まで指定し、
また再生系コントローラ８から出力される読出し制御信
号○Ｅを所要のタイミングで”Ｌ”信号にして、ＲＡＭ
ＩＩに記録されたデータを読出し、内部ＲＡＭ　（図示
しない）に取込む０次にコンピュータ１２は所要の評価
プログラムによりデータ処理を行ない、その結果をプリ
ンタ１３、デイスプレィ１４に表示をする。

第３図、第４図は実際の測定結果を表示したもので、そ
のときの測定データは以下の通りである。

ディスク　　　　　　：　追記型光デイスク記録レーザ
ーパワー　：　　４．８　（ｍＷ）再生レーザーパワー
　：　　０．３　（ｍＷ）線速度　　　　　　　：　　
１．８　（ｍ／ｓ）測定時間　　　　　　：　　５９　
　（ｓｅｃ）総データ数　　　　：　　４０９６ 総シンボル数　　　　：　　１４０４６３５９誤りシン
ボル数　　　：　　２８９６ シンボル誤り率　　　：　　２．０６Ｄ−０４基準位置
検出信号　　＝　５９１ 第３図（ａ）は横軸をシンボル数、縦軸をトラック数と
し以下の条件によりディスク上のエラー分布を示したも
のである。

１）ＲＡＭＩＩの各アドレスに記録された書込みデータ
の第２ブロツクのカウント値を、横軸のスケールに従っ
て左から右ヘアドレス順に並べる。

２）書込みデータの第１のブロックの値が［Ｏコの場合
、即ち第２のカウント値がＥＦラン長を示すときは、相
当する長さだけ黒印字し、第１のブロックの値が［１ゴ
の場合、即ち第２のブロックのカウント値がバーストエ
ラー長を示すときは、相当する長さだけ空白とする。

３）書込みデータの第２のブロックの値が［０］の基準
位置検出信号のときは、次のトラックに移る。

以上の条件で表示することにより、ディスク上のキズ、
ホコリ等による記録再生時のエラー部分を視覚的に確認
できる。また各トラック毎のシンボル数（グラフ上の右
端部の位置）を比較することで光学的記録再生装置４の
ＣＬＶ制御状態が判る。

第３図（ｂ）は第３図（ａ）の横軸をディスクの回転角
度として表示したもので、この表示方法によればエラー
位置およびその大きさがトラック数及び角度から正確に
検出することができる。

第４図（ａ）及び（ｂ）は、夫々横軸をシンボル数、縦
軸をその発生回数としたＥＦラン長全分布びソリッドバ
ーストエラー長分布を示している。

また、図中の実線Ａ、Ｂはエラーがランダムに発生する
場合の分布を計算によって求めたものである。第４図の
例ではこの実線から大きくはずれており、バースト状の
エラーが多く発生していることが判る。

なお、本発明は上記実施例に限定されることなく１種々
の態様を取得るものである。

例えば、上記実施例ではＲＡＭＩＩに書込まれる１６ビ
ツトのデータをビット列としているが、そのビット列は
少なくとも２ビット以上であればよく、また第１のブロ
ックを最上位ビットで、第２のブロックを下位１５ビツ
トで構成したことにも限定されない。

また実施例では最上位ビットが０の場合はＥＦシラン示
し、１の場合はソリッドバーストエラーを示しているが
逆にすることも勿論できる。

［発明の効果コ 以上のように本発明のデータ処理方法によると、記録媒
体の検査データを大容量のメモリを必要とすることなく
記録することができる。

また本発明のデータ処理方法はＥＦラン長、ソリッドバ
ースト長以外に基準位置検出信号を示すことができるた
め、コンピュータで本装置が取込んだデータを演算処理
、作図することによって、ディスク上でエラーがどのよ
うに発生しているかを調べ、エラーの分布を知ることが
できる。またＥＦラン長、ソリッドバースト長分布を作
図することによって、エラーがランダムに発生している
ものか、キズ等によりバースト上に発生しているものな
のかを知ることができるなど、種々の評価、検討に用い
ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係るデータ処理方法を用いた記録媒体
検査装置の一実施例を示すブロック図。 第２図（ａ）〜（Ｑ）は第１図に示される記録媒体検査
装置の一動作例を示すタイミングチャート、第３図（ａ
）、（ｂ）及び第４図（ａ）、　　（ｂ）は第１図に示
される記録媒体検査装置の表示例を示す図である。 １・・・記録系コントローラ、２．６・・・データ発生
器、３・・・変調器、４・・・光学的記録再生装置、５
・・・復調器、７・・・データ比較器、８・・・再生系
コントローラ、９・・・ラン長カウンタ、１０・・・ア
ドレスカウンタ、１１・・・ＲＡＭ、１２・・・コンピ
ュータ、１３・・・プリンタ、１４・・・デイスプレィ
、１５・・・遅延回路、１６・・・インバータＩＮＶ。 手続補正書（自発）

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）記録媒体のＥＦラン長、ソリッドバーストエラー
   長及び基準位置の検出の各データを少なくとも２ビット
   以上のデジタル信号で処理するデータ処理方法であり、 前記デジタル信号は、第１及び第２のブロックに区分さ
   れ、 前記第１のブロックは、ＥＦランとソリッドバーストエ
   ラーを判別するデータ値をとり、 前記第２のブロックは、予め決められたデータ値により
   前記基準位置の検出を、 またそれ以外のデータ値により前記第１のブロックで判
   別されているＥＦラン又はソリッドバーストエラーの長
   さを表わすことを特徴とするデータ処理方法。
2. （２）前記第１のブロックは最上位ビットで構成され、
   また前記第２のブロックは残る下位のビットで構成され
   たことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載のデータ
   処理方法。