JPH01220238A - 光情報記録カード - Google Patents
光情報記録カードInfo
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- JPH01220238A JPH01220238A JP63046441A JP4644188A JPH01220238A JP H01220238 A JPH01220238 A JP H01220238A JP 63046441 A JP63046441 A JP 63046441A JP 4644188 A JP4644188 A JP 4644188A JP H01220238 A JPH01220238 A JP H01220238A
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- JP
- Japan
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- layer
- optical recording
- optical
- card
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- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
- Credit Cards Or The Like (AREA)
- Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、光記録層が保護層で覆われた光情報記録カー
ドに関する。
ドに関する。
[従来の技術]
追記型の光情報記録カードは、大記録容量を有し、保存
性に優れていることから、様々な分野での利用の試みが
なされている。例えは、病院のカルテや銀行の預貯金通
帳に代わる記録手段等がその代表的なものである。
性に優れていることから、様々な分野での利用の試みが
なされている。例えは、病院のカルテや銀行の預貯金通
帳に代わる記録手段等がその代表的なものである。
従来、この種の光情報記録カードに用いられる光記録手
段として、熱によりゼラチン層に銀粒子を拡散する方式
のものが提案されている。
段として、熱によりゼラチン層に銀粒子を拡散する方式
のものが提案されている。
(特開昭58−188346号)しかし、この方式もの
は、ピットサイズが5umにも達し、高い記録密度が得
られず、実用的でない。
は、ピットサイズが5umにも達し、高い記録密度が得
られず、実用的でない。
他方、ディスク状の光情報記録媒体に適用されている光
記録手段として、プラスチック板等の基板の上に、T
e、 B i、 Mn等の金属層や、シアニン、メロシ
アニン、フタロシアニン等の色素層からなる光記録層を
用い、ここにレーザビームhしを照射することによ、っ
て、前記光記録層を部分的に蒸発又は昇華させ、その跡
に直径1um前後のピット4を形成する方式のものがあ
る。さらに、この他に、色素ポリマーや金属炭化物で光
記録層を形成し、レーザービームの照射により、この光
記録層を部分的に変形させて、ピットを形成する方式の
ディスク状の光情報記録媒体も開発されている。この場
合、何れの方式のものでも、前記光記録層を汚れや傷等
から保護するための、同光記録層を保護層で覆う。
記録手段として、プラスチック板等の基板の上に、T
e、 B i、 Mn等の金属層や、シアニン、メロシ
アニン、フタロシアニン等の色素層からなる光記録層を
用い、ここにレーザビームhしを照射することによ、っ
て、前記光記録層を部分的に蒸発又は昇華させ、その跡
に直径1um前後のピット4を形成する方式のものがあ
る。さらに、この他に、色素ポリマーや金属炭化物で光
記録層を形成し、レーザービームの照射により、この光
記録層を部分的に変形させて、ピットを形成する方式の
ディスク状の光情報記録媒体も開発されている。この場
合、何れの方式のものでも、前記光記録層を汚れや傷等
から保護するための、同光記録層を保護層で覆う。
前記両者の光記録手段では、再生時にピットに照射した
レーザビームhしがピットを通過した後、その一部が前
記光記録層を覆う保護層で反射され、これが再びピット
を通過し・、ピックアップで検知される。このため、ピ
ットで検知される光量と、それ以外の部分で検知される
光量との差が小さく、得られる再生信号のC/Nが小さ
いという問題があった。また、特に後者の方式の光記録
手段では、光記録層の表面に保護層を密着させた場合、
光記録層の表面の充分な変形が行なわれず、記録感度そ
のものが低くなる。
レーザビームhしがピットを通過した後、その一部が前
記光記録層を覆う保護層で反射され、これが再びピット
を通過し・、ピックアップで検知される。このため、ピ
ットで検知される光量と、それ以外の部分で検知される
光量との差が小さく、得られる再生信号のC/Nが小さ
いという問題があった。また、特に後者の方式の光記録
手段では、光記録層の表面に保護層を密着させた場合、
光記録層の表面の充分な変形が行なわれず、記録感度そ
のものが低くなる。
このため従来に於ける光情報記録ディスクでは、スペー
サを挟んで2枚の基板を重ね合わせることにより、光記
録層2の間に空隙を介在させた、いわゆるエアサンドイ
ッチ方式と呼はれる積層構造が採用されている。
サを挟んで2枚の基板を重ね合わせることにより、光記
録層2の間に空隙を介在させた、いわゆるエアサンドイ
ッチ方式と呼はれる積層構造が採用されている。
[発明が解決しようとする問題点コ
しかし前記のようなエアサンドイッチ構造では、ディス
クが相当厚くなるという欠点があり、カードとして用い
るには適さない。また、光情報記録カートは、可撓性が
特徴であり、通常ケースにも収納せずに、使用すること
も多いため、盤面に大きな衝撃や圧力等の外力が加わる
ことも多い。そうした場合に、前記光記録手段では、光
記録層に様々な状態の傷が発生し、光記録、再生に悪い
影響を与えることが懸念される。
クが相当厚くなるという欠点があり、カードとして用い
るには適さない。また、光情報記録カートは、可撓性が
特徴であり、通常ケースにも収納せずに、使用すること
も多いため、盤面に大きな衝撃や圧力等の外力が加わる
ことも多い。そうした場合に、前記光記録手段では、光
記録層に様々な状態の傷が発生し、光記録、再生に悪い
影響を与えることが懸念される。
本発明は、前記問題点に鑑み、その第一の目的は、高い
記録感度、再生特性を得ながら、保護層による光記録層
の保護が可能な光情報記録カードを提供することにある
。その第二の目的は、前記の第一の目的を達成しながら
、なおかつより薄くすることが可能な光情報記録カード
を提供することにある。さらに、その第三の目的は、外
力によって、光記録層に傷が発生するのを防止すること
を目的とする。
記録感度、再生特性を得ながら、保護層による光記録層
の保護が可能な光情報記録カードを提供することにある
。その第二の目的は、前記の第一の目的を達成しながら
、なおかつより薄くすることが可能な光情報記録カード
を提供することにある。さらに、その第三の目的は、外
力によって、光記録層に傷が発生するのを防止すること
を目的とする。
[問題を解決するための手段]
即ち、前記目的を達成するため、本発明において採用し
た手段は、次の通りである。
た手段は、次の通りである。
すなわち、第一に、カード状の基板11の上に光記録部
14が形成された光情報記録カードにおいて、前記光記
録部14が、基板11上に形成された光記録層12から
なり、該光記録層12が保護層13で覆われ、該保護層
13にし−ザ光の反射を防止する反射防止手段が施され
たことを特徴とする光情報記録カードにある。
14が形成された光情報記録カードにおいて、前記光記
録部14が、基板11上に形成された光記録層12から
なり、該光記録層12が保護層13で覆われ、該保護層
13にし−ザ光の反射を防止する反射防止手段が施され
たことを特徴とする光情報記録カードにある。
第二に、カード状の基板11の上に光記録部14が形成
された光情報記録カードにおいて、前記光記録部14が
、基板11上に形成された光記録層12からなり、該光
記録層12が保護層13で覆われ、該保護層13と光記
録層12との間に、変形自在な緩衝層17が設けられた
ことを特徴とする光情報記録カードにある。
された光情報記録カードにおいて、前記光記録部14が
、基板11上に形成された光記録層12からなり、該光
記録層12が保護層13で覆われ、該保護層13と光記
録層12との間に、変形自在な緩衝層17が設けられた
ことを特徴とする光情報記録カードにある。
第三に、カード状の基板11の上に光記録部14が形成
された光情報記録カードにおいて、前記光記録部14が
、基板11上に形成された光記録層12からなり、該光
記録層12が保護層13で覆われ、該保護層13の光記
録層12に面した側に、該光記録層12より軟質な外力
吸収層19が形成されたことを特徴とする光情報記録カ
ードにある。
された光情報記録カードにおいて、前記光記録部14が
、基板11上に形成された光記録層12からなり、該光
記録層12が保護層13で覆われ、該保護層13の光記
録層12に面した側に、該光記録層12より軟質な外力
吸収層19が形成されたことを特徴とする光情報記録カ
ードにある。
第四に、カード状の基板11の上に光記録部14が形成
された光情報記録カードにおいて、前記光記録部14が
、基板11上に形成された光記録層12からなり、該光
記録層12が保護層13で覆われ、該保護[13と光記
録層12との間に変形自在な緩衝層17が設けられ、保
護層13または緩衝層17にレーザー光の反射を防止す
る反射防止手段が施されたことを特徴とする光情報記録
カードにある。
された光情報記録カードにおいて、前記光記録部14が
、基板11上に形成された光記録層12からなり、該光
記録層12が保護層13で覆われ、該保護[13と光記
録層12との間に変形自在な緩衝層17が設けられ、保
護層13または緩衝層17にレーザー光の反射を防止す
る反射防止手段が施されたことを特徴とする光情報記録
カードにある。
第五に、カード状の基板11の上に光記録部14が形成
された光情報記録カードにおいて、前記光記録部14が
、基板11上に形成された光記録層12からなり、該光
記録層12が保護層13で覆われ、該保護層13の光記
録層12に面した側に、該光記録層12より軟質な外力
吸収層19が形成され、該外力吸収層19にレーザー光
の反射を防止する反射防止手段が施されたことを特i敦
とする光情報記録カードにある。
された光情報記録カードにおいて、前記光記録部14が
、基板11上に形成された光記録層12からなり、該光
記録層12が保護層13で覆われ、該保護層13の光記
録層12に面した側に、該光記録層12より軟質な外力
吸収層19が形成され、該外力吸収層19にレーザー光
の反射を防止する反射防止手段が施されたことを特i敦
とする光情報記録カードにある。
[作 用]
前記第一の発明乙こよる光情報記録カードもこ於て、特
にレーザービームにより、光記録層12に孔を開設して
ビットを設ける方式の光情報記録カードでは、ピックア
ップから基板11を通して光記録層12にレーザビーム
hνを照射し、記録データを読み取る際に、前記反射防
止手段により、該光記録層12に形成されたビットを通
過した光が光記録層12側へ反射するのが防止される。
にレーザービームにより、光記録層12に孔を開設して
ビットを設ける方式の光情報記録カードでは、ピックア
ップから基板11を通して光記録層12にレーザビーム
hνを照射し、記録データを読み取る際に、前記反射防
止手段により、該光記録層12に形成されたビットを通
過した光が光記録層12側へ反射するのが防止される。
このため、光記録層12のビットとそれ以外の部分で検
知される反削光蛍の差が大きくなり、C/Nの高い再生
信号が得られる。
知される反削光蛍の差が大きくなり、C/Nの高い再生
信号が得られる。
また、光記録層12の表面を変形させてビットを設ける
形式の光情報記録カードに於いても、記録時や再生時に
、光記録層12を通過したレーザービームが保護層13
で反射されることがなく、ノイズの低い再生信号が得ら
れる。
形式の光情報記録カードに於いても、記録時や再生時に
、光記録層12を通過したレーザービームが保護層13
で反射されることがなく、ノイズの低い再生信号が得ら
れる。
また、前記第二の発明の光情報記録カードによれば、光
記録層12にレーザービームhしを即剥し、その表面を
局部的に変形させて、ビットを形成する際に、緩衝層1
7が光記録層12の表面の変形を吸収するため、ビット
の形成の障害とならず、高い記録感度が得られる。また
、この緩衝層17を介して保護層13を光記録層12の
表面に重ね合わせることができるため、従来のエアサン
トイ・ンナ方式に比べて、光記録部14の厚みを大幅に
低減できる。
記録層12にレーザービームhしを即剥し、その表面を
局部的に変形させて、ビットを形成する際に、緩衝層1
7が光記録層12の表面の変形を吸収するため、ビット
の形成の障害とならず、高い記録感度が得られる。また
、この緩衝層17を介して保護層13を光記録層12の
表面に重ね合わせることができるため、従来のエアサン
トイ・ンナ方式に比べて、光記録部14の厚みを大幅に
低減できる。
また、前記第三の発明による光情報記録媒体に於て、保
護層13を、その外側から圧迫した場合、比較的硬質な
保護層13の表層側で、前記圧迫力が広い範囲に分散さ
れる。そして、この分散された圧迫力は光記録層12に
面したこれより軟質な外力吸収層19によって吸収され
、光記録層12に加わる圧力が大きく減殺される。
護層13を、その外側から圧迫した場合、比較的硬質な
保護層13の表層側で、前記圧迫力が広い範囲に分散さ
れる。そして、この分散された圧迫力は光記録層12に
面したこれより軟質な外力吸収層19によって吸収され
、光記録層12に加わる圧力が大きく減殺される。
これによって、光記録層12に傷が付きにくい。
さらに、前記第四と第五の発明によれは、前記第一の発
明と同様、C/Nの高い信号が得られると同時に、各々
カードの厚みを薄くできる、或は外力による光記録層1
2への影響を回避できるといった、前記第一と第三の発
明の作用が併せて得られる。
明と同様、C/Nの高い信号が得られると同時に、各々
カードの厚みを薄くできる、或は外力による光記録層1
2への影響を回避できるといった、前記第一と第三の発
明の作用が併せて得られる。
[実 施 例コ
次に、第1図〜第4図を参す、?シながら、本発明の実
施例について説明すると、第1図で示すように、透明な
カード状の基板11の表面の−部に光記録部14を形成
し、これを保護層13で覆う。
施例について説明すると、第1図で示すように、透明な
カード状の基板11の表面の−部に光記録部14を形成
し、これを保護層13で覆う。
第2図〜第4図に、この光記録部14の具体的な層構造
の例を示している。第2閏は、前記カード状の基板1の
上に、金属や有機色素をもって光記録層12を形成し、
この表面側を保護+gtaで覆う場合に、この保護層1
3と光記録層との開に緩衝層17を介在させたものであ
る。
の例を示している。第2閏は、前記カード状の基板1の
上に、金属や有機色素をもって光記録層12を形成し、
この表面側を保護+gtaで覆う場合に、この保護層1
3と光記録層との開に緩衝層17を介在させたものであ
る。
また、第3図は、前記緩衝層17を挿入した場合におい
て、保護層13の光記録層12に面する側に反射防止手
段を施したものである。なお、緩衝層17が光を透過さ
せにくいものであるときは、緩衝層17の光記録層12
に面する側に反射防止手段を施す。ざらに、第4図は、
前記光記録層12と保護層13との間に緩衝層17とし
て若干の間隙をおき、保護層13の光記録層12に面す
る側に外力吸収層19を設けたものである。
て、保護層13の光記録層12に面する側に反射防止手
段を施したものである。なお、緩衝層17が光を透過さ
せにくいものであるときは、緩衝層17の光記録層12
に面する側に反射防止手段を施す。ざらに、第4図は、
前記光記録層12と保護層13との間に緩衝層17とし
て若干の間隙をおき、保護層13の光記録層12に面す
る側に外力吸収層19を設けたものである。
基板11には、ポリカーボネート板、ポリメチルメタク
リレート板、エポキシ板等、透明なカード状の十反体か
使用される。また、保護層13には、ポリカーボネート
、ポリメチルメタクリレートポリエチレンテレフタレー
ト等が一般に使用される。
リレート板、エポキシ板等、透明なカード状の十反体か
使用される。また、保護層13には、ポリカーボネート
、ポリメチルメタクリレートポリエチレンテレフタレー
ト等が一般に使用される。
緩衝層17は、流動性のある気体、液体、粉体等の他、
伸性変形、塑性変形可能な固体を用いる。例えは、ゼラ
チン、ゴム、エラストマー、ニトロセルロース、酉乍酸
セルロース、ボリピ゛ニルアルコール、コロジオン、ア
クリル樹脂、ポリビニルホルマール、ポリビニルブチラ
ール、発泡ウレタン、粒径1〜20Bmの金属粉、粒径
1〜20 /lrnのセラミック粉、粒径1〜20 t
、t mの樹脂粉、多孔質高分子材料、及びこれらの結
合体、並びにフロンカス、空気、窒素カス、アルゴンカ
ス等である。何れにしても、安定性があり、かつ流動、
変形が容易なものがよい。
伸性変形、塑性変形可能な固体を用いる。例えは、ゼラ
チン、ゴム、エラストマー、ニトロセルロース、酉乍酸
セルロース、ボリピ゛ニルアルコール、コロジオン、ア
クリル樹脂、ポリビニルホルマール、ポリビニルブチラ
ール、発泡ウレタン、粒径1〜20Bmの金属粉、粒径
1〜20 /lrnのセラミック粉、粒径1〜20 t
、t mの樹脂粉、多孔質高分子材料、及びこれらの結
合体、並びにフロンカス、空気、窒素カス、アルゴンカ
ス等である。何れにしても、安定性があり、かつ流動、
変形が容易なものがよい。
前記緩衝層17として固体を使用した場合は、光記録層
12を形成した基板11と保護層13との間に緩衝層1
7を挿入して密着することができる。他方、緩衝層17
として、流体や粉体を使用する場合は、基板11の光記
録部14の閉囲を保護層13でシールする。
12を形成した基板11と保護層13との間に緩衝層1
7を挿入して密着することができる。他方、緩衝層17
として、流体や粉体を使用する場合は、基板11の光記
録部14の閉囲を保護層13でシールする。
外力吸収層19には、弾性変形、塑性変形が可能で、光
記録層より軟質なものを用いる。例えは、弾性体として
は、アクリルゴム、アクリル樹脂、クロロブレンゴム、
EVA、ウレタン等が適当である。また、塑性体では、
竿繊維を樹脂等のバインダで結合したもの等が適当であ
る。さらに、これらを組み合わせ、いわば複合層として
構成することも可能であり、例えは、前記のような塑性
体の表面に弾性体を薄くコーティングしたものなどであ
る。
記録層より軟質なものを用いる。例えは、弾性体として
は、アクリルゴム、アクリル樹脂、クロロブレンゴム、
EVA、ウレタン等が適当である。また、塑性体では、
竿繊維を樹脂等のバインダで結合したもの等が適当であ
る。さらに、これらを組み合わせ、いわば複合層として
構成することも可能であり、例えは、前記のような塑性
体の表面に弾性体を薄くコーティングしたものなどであ
る。
反射防止手段は、基板11から光記録層12を通して大
月するレーザービームhνを、緩衝層17や保護層13
の内部に吸収し、散乱させ、或は保護層13の中に透過
させるものである。
月するレーザービームhνを、緩衝層17や保護層13
の内部に吸収し、散乱させ、或は保護層13の中に透過
させるものである。
緩踵j層17を設ける場合は、この反り防止手段を緩衝
層17に、これを設けない場合は保護層13に施すが、
前者の場合、緩衝層17が透光性を有するのであれば、
緩衝層17と保護層13の双方、或は保護層13のみに
反射防止手段を施すこともできる。ざらに、この反射防
止手段は、その手段の特質等に応じて、保護層13(ま
たは緩衝層17)の全体に施すことも、また、保護層1
3(または緩衝層17)の光記録層12に面した側にの
み施す乙ともある。
層17に、これを設けない場合は保護層13に施すが、
前者の場合、緩衝層17が透光性を有するのであれば、
緩衝層17と保護層13の双方、或は保護層13のみに
反射防止手段を施すこともできる。ざらに、この反射防
止手段は、その手段の特質等に応じて、保護層13(ま
たは緩衝層17)の全体に施すことも、また、保護層1
3(または緩衝層17)の光記録層12に面した側にの
み施す乙ともある。
例えは、レーザー光を吸収する反射防止手段を、反射防
止層1日として緩衝層17や保護層13の表面にのみ形
成する場合は、ベルベットコーティング塗料やカーボン
ブラック塗料等により、緩衝層17や保護層13の光記
録層12と面する側を反射防止塗装する手段、或は黒色
静電植毛等、反射防止処理をしlたフィルムを緩衝層1
7や保護層13の光記録層12と面する側に貼り付けろ
手段等によることができろ。緩衝層17や保護層13全
体を反射防止層とする場合は、カーボンブラック、或は
半導体レーザー波長帯域で光吸収性を有するシアニン染
料、フタロシアニン、ナフトキノン、チタンブラック等
の染料を、保護層13の中に分散させる手段によること
ができる。
止層1日として緩衝層17や保護層13の表面にのみ形
成する場合は、ベルベットコーティング塗料やカーボン
ブラック塗料等により、緩衝層17や保護層13の光記
録層12と面する側を反射防止塗装する手段、或は黒色
静電植毛等、反射防止処理をしlたフィルムを緩衝層1
7や保護層13の光記録層12と面する側に貼り付けろ
手段等によることができろ。緩衝層17や保護層13全
体を反射防止層とする場合は、カーボンブラック、或は
半導体レーザー波長帯域で光吸収性を有するシアニン染
料、フタロシアニン、ナフトキノン、チタンブラック等
の染料を、保護層13の中に分散させる手段によること
ができる。
また、レーザー光を散乱させる反射防止層1日を緩衝層
17や保護層13に形成する手段としては、例えば、こ
れらの層の光記録層12側へ向いた表面を粗くする手段
等が採用できる。
17や保護層13に形成する手段としては、例えば、こ
れらの層の光記録層12側へ向いた表面を粗くする手段
等が採用できる。
さらに、レーザービームを緩衝層17や保護層13の内
部に透過させる反射防止層1日を形成する手段としては
、これらの層の光記録層12に面した側からその他面側
へ向かうに従って、屈折率が連続的或は断続的に高くな
るような屈折率の勾配ないしは変化を形成する手段が採
用できる。これら屈折率の変化は、屈折率の異なる物質
層の張り合わせや、積層成長、或は光学カラスの屈折率
の調整に一般に使用される金属化合物の 部分的な添加
等の手段により、容易に形成できる。なお、緩衝層17
や保護層13の表面層とこれより深層部分の屈折率の比
は、1/l/:付近であり、表面層の厚さが入/4n(
n:表面層の屈折率、λ:半導体レーザーの波長)であ
ることが望ましい。
部に透過させる反射防止層1日を形成する手段としては
、これらの層の光記録層12に面した側からその他面側
へ向かうに従って、屈折率が連続的或は断続的に高くな
るような屈折率の勾配ないしは変化を形成する手段が採
用できる。これら屈折率の変化は、屈折率の異なる物質
層の張り合わせや、積層成長、或は光学カラスの屈折率
の調整に一般に使用される金属化合物の 部分的な添加
等の手段により、容易に形成できる。なお、緩衝層17
や保護層13の表面層とこれより深層部分の屈折率の比
は、1/l/:付近であり、表面層の厚さが入/4n(
n:表面層の屈折率、λ:半導体レーザーの波長)であ
ることが望ましい。
前記レーザー光の吸収、散乱及び透過の手段は、可能な
限り適宜組み合わせることが可能である。例えは、レー
ザー光の吸収手段を備えた緩衝層17や保護層13の表
面を粗くし、該表面で光を散乱させる反射防止手段、或
は、緩衝層17や保護層13の表面側に、レーザー光の
透過手段を施し、その深層部にレーザー光の吸収手段を
施し、表面で透過させたレーザー光を、保護層13の深
層部で吸収する手段等である。
限り適宜組み合わせることが可能である。例えは、レー
ザー光の吸収手段を備えた緩衝層17や保護層13の表
面を粗くし、該表面で光を散乱させる反射防止手段、或
は、緩衝層17や保護層13の表面側に、レーザー光の
透過手段を施し、その深層部にレーザー光の吸収手段を
施し、表面で透過させたレーザー光を、保護層13の深
層部で吸収する手段等である。
次に、本発明の具体的な実施例について説明する。
(実施例1)
シアニン系色素の一つである3−メチル−2−[7−(
3’−メチル−2′−ベンゾチアゾリン)−1−3−5
−ヘブタトリエニル]−ベンゾチアソールバークロレイ
トを、メタノールに2重量%溶解した。この溶液をスピ
ンナー法により、縦55mm、長さ85mm、厚さ50
0umのカード形のプリグループ付ポリメチルメタクリ
レート基板11の上に塗布して乾燥し、厚さ約60nm
の光記録層12を形成した。
3’−メチル−2′−ベンゾチアゾリン)−1−3−5
−ヘブタトリエニル]−ベンゾチアソールバークロレイ
トを、メタノールに2重量%溶解した。この溶液をスピ
ンナー法により、縦55mm、長さ85mm、厚さ50
0umのカード形のプリグループ付ポリメチルメタクリ
レート基板11の上に塗布して乾燥し、厚さ約60nm
の光記録層12を形成した。
さらに、縦55mm、長さ85mm、厚さ1100Ji
のポリエチレンテレフタレートフィルムの光記録部14
(第1図参照)に対応する部分の片面にベルベットコー
テイング膜(住友3M社製2010)をグラビアコート
して反射防止層1日を形成した。そして、これを反射防
止層1日が光記録層12側に面するよう同記録層12の
上に重ねて置き、前記光記録部14以外の部分を基板1
1に固着し、保護層13とした。こうして、第1図で示
すような光記録部14の構造を有する光情報記録カード
を製造した。
のポリエチレンテレフタレートフィルムの光記録部14
(第1図参照)に対応する部分の片面にベルベットコー
テイング膜(住友3M社製2010)をグラビアコート
して反射防止層1日を形成した。そして、これを反射防
止層1日が光記録層12側に面するよう同記録層12の
上に重ねて置き、前記光記録部14以外の部分を基板1
1に固着し、保護層13とした。こうして、第1図で示
すような光記録部14の構造を有する光情報記録カード
を製造した。
この光情報記録カードは、保護層13の反射防止層18
側が光記録層12に密着しておらず、単に接触している
だけであり、その間の僅かな空気層が緩衝層17となる
。なお、分光光度計により測定した前記反飼防止層18
の積分反射率は1%であった。
側が光記録層12に密着しておらず、単に接触している
だけであり、その間の僅かな空気層が緩衝層17となる
。なお、分光光度計により測定した前記反飼防止層18
の積分反射率は1%であった。
前記光情報記録カードに、波長780nmの半導体レー
ザを用い、線速2.0m/Se(:’、記録周波数50
OkHzのレーザビームhしを基板11側から光記録層
12にす、!躬し、同層12にビットを形成し、記録を
行った。このとき、記録面で測定、確認された前記レー
ザビームhνの最適記録パワーは4.0mWであった。
ザを用い、線速2.0m/Se(:’、記録周波数50
OkHzのレーザビームhしを基板11側から光記録層
12にす、!躬し、同層12にビットを形成し、記録を
行った。このとき、記録面で測定、確認された前記レー
ザビームhνの最適記録パワーは4.0mWであった。
また記録後、光記録層12に出力0.3mWのレーザビ
ームh、νを当て、記録面のC/Nを測定したところ、
43dBであった。
ームh、νを当て、記録面のC/Nを測定したところ、
43dBであった。
(実施例2)
実施例1に於いて、ベルベットコーテイング膜による反
射防止層1日の形成手段に代えて、カーボンブラックと
アクリル系樹脂とからなるペーストをスプレー法で塗布
したこと以外は、同実施例1と同じ方法と条件で光情報
記録カードを作った。なお、分光光度計により測定した
反射防止層1日の積分反射率は4%であった。
射防止層1日の形成手段に代えて、カーボンブラックと
アクリル系樹脂とからなるペーストをスプレー法で塗布
したこと以外は、同実施例1と同じ方法と条件で光情報
記録カードを作った。なお、分光光度計により測定した
反射防止層1日の積分反射率は4%であった。
また、前記光情報記録カードについて実施例1と同様に
して、記録と再生を行ったところ、記録パワーは4.0
mW、再生信号のC/Nは、42dBであった。
して、記録と再生を行ったところ、記録パワーは4.0
mW、再生信号のC/Nは、42dBであった。
(実施例3)
色素として前記実施例1で用いたのと同じ3−メチル−
2−[7−(3’−メチル−2′−ベンゾチアゾリン)
−1−3−5−ヘブタトリエニル]−ベンゾチアゾール
バークロレイトを用い、これをエタノールに3重量%溶
解した。
2−[7−(3’−メチル−2′−ベンゾチアゾリン)
−1−3−5−ヘブタトリエニル]−ベンゾチアゾール
バークロレイトを用い、これをエタノールに3重量%溶
解した。
また、基板11として、前記実施例と同じ寸法のカード
形のプレグルーブ付きポリカーボネート基板11を用い
、この片面に前記実施例1と同様の手段で厚さ約60n
mの光記録層12を形成した。
形のプレグルーブ付きポリカーボネート基板11を用い
、この片面に前記実施例1と同様の手段で厚さ約60n
mの光記録層12を形成した。
ざらに、前記カードと同形の厚さ150um…のポリエ
チレンテレフタレートフィルムの片面に反射防止アクリ
ル塗料(アサヒペン社製)をスプレーコートして反射防
止層18を形成し、前記実施例と同様にしてこれで光記
録層12を覆い、保護層13を形成した。なお、分光光
度計により測定した反射防止層18の積分反射率は1%
であった。
チレンテレフタレートフィルムの片面に反射防止アクリ
ル塗料(アサヒペン社製)をスプレーコートして反射防
止層18を形成し、前記実施例と同様にしてこれで光記
録層12を覆い、保護層13を形成した。なお、分光光
度計により測定した反射防止層18の積分反射率は1%
であった。
前記光情報記録カードの光記録層12に、実施例1と同
じ方法(但し、レーザービームの線速2.2m/sec
、記録周波数450kH2)でピットを形成し、記録を
行った。このとき、記録面で測定、確認された前記レー
ザビームhνの最適記録パワーは、4.0mWであった
。また記録後、同様にして記録面のC/Nを測定したと
ころ45 d Bであった。
じ方法(但し、レーザービームの線速2.2m/sec
、記録周波数450kH2)でピットを形成し、記録を
行った。このとき、記録面で測定、確認された前記レー
ザビームhνの最適記録パワーは、4.0mWであった
。また記録後、同様にして記録面のC/Nを測定したと
ころ45 d Bであった。
(実施例4)
前記実施例3と同じ種類の基板11を用い、この表面の
光記録部14にTe合金を真空蒸着し、厚さ45nmの
光記録層12を形成した。
光記録部14にTe合金を真空蒸着し、厚さ45nmの
光記録層12を形成した。
この光記録層12の表面にカーボンブラックを分散した
エラストマー塗料をスプレーし、約20ノ1mの厚さの
緩衝層17を形成した。この緩衝層17の上にベルベッ
トコーティング(住友3M社製2010)をスプレーコ
ートし、予め反射防止層18を形成した後、真空蒸着に
よりアルミニュウム層を施し、さらにアクリルハードコ
ーティングを施し、保護層13を形成した。これにより
、光情報記録カードを製造しIた。
エラストマー塗料をスプレーし、約20ノ1mの厚さの
緩衝層17を形成した。この緩衝層17の上にベルベッ
トコーティング(住友3M社製2010)をスプレーコ
ートし、予め反射防止層18を形成した後、真空蒸着に
よりアルミニュウム層を施し、さらにアクリルハードコ
ーティングを施し、保護層13を形成した。これにより
、光情報記録カードを製造しIた。
前記光情報記録カードについて実施例3と同じ方法で記
録とその再生を行った。このときの最適記録パワーは5
.5mW、再生信号のC/Nは48dBであった。
録とその再生を行った。このときの最適記録パワーは5
.5mW、再生信号のC/Nは48dBであった。
(実施例5)
前記実施例3において、保護層13を形成するポリエチ
レンテレフタレートフィルムに代えて、反射防止層1日
として黒色静電植毛を施したアルミナセラミックシート
を用い、光情報記録カードを製造した。なお、前記反射
防止層1日の積分及利率は1.2%であった。
レンテレフタレートフィルムに代えて、反射防止層1日
として黒色静電植毛を施したアルミナセラミックシート
を用い、光情報記録カードを製造した。なお、前記反射
防止層1日の積分及利率は1.2%であった。
前記光情報記録カードについて実売例3と同じ方法で記
録とその再生を行った。このときの最適記録パワーは4
.1mW、再生信号のC/Nは42dBであった。
録とその再生を行った。このときの最適記録パワーは4
.1mW、再生信号のC/Nは42dBであった。
(実施例6)
前記実施例4において、反射防止層18を形成するベル
ベットコーテイング膜に代えて、チタンブラックとシリ
カゲルを主成分とした多孔性反射防止アクリル塗料スプ
レー膜を使用し、光情報記録カードを製造した。
ベットコーテイング膜に代えて、チタンブラックとシリ
カゲルを主成分とした多孔性反射防止アクリル塗料スプ
レー膜を使用し、光情報記録カードを製造した。
前記光情報記録カードについて実施例3と同じ方法で記
録とその再生を行った。このときの@適記録パワーは5
、0 +nW、再生信号のC/Nは46dBであった
。
録とその再生を行った。このときの@適記録パワーは5
、0 +nW、再生信号のC/Nは46dBであった
。
(実施例7)
プリグループを施した厚さ700umのポリカーボネー
ト基板11上に、ナフトールグリーン染料で染めたエポ
キシ樹脂をスピンナー法により塗布し、厚さ約50nm
の光記録層12を形成した。
ト基板11上に、ナフトールグリーン染料で染めたエポ
キシ樹脂をスピンナー法により塗布し、厚さ約50nm
の光記録層12を形成した。
さらに、厚さ約2001t m、屈折率1.59の透明
なポリカーボネートフィルムに、屈折率1,38のMg
F2を真空蒸着法で、130nmの膜厚に成膜し、Mg
F2膜側を前記光記録層12の上に重ね合わせ、光記録
部14の周辺部を基板11に固着した。以上により、光
情報記録カードを作った。
なポリカーボネートフィルムに、屈折率1,38のMg
F2を真空蒸着法で、130nmの膜厚に成膜し、Mg
F2膜側を前記光記録層12の上に重ね合わせ、光記録
部14の周辺部を基板11に固着した。以上により、光
情報記録カードを作った。
この光情報記録カードについて、波長780nmの半導
体レーザを用い、線速2.2m/sec、記録周波数5
00kHzのレーザビームhvを基板11側から光記録
層12に照射し、記録を行なった。このときの最適化さ
れた記録レーザーパワーは、4、 3n+Wであった。
体レーザを用い、線速2.2m/sec、記録周波数5
00kHzのレーザビームhvを基板11側から光記録
層12に照射し、記録を行なった。このときの最適化さ
れた記録レーザーパワーは、4、 3n+Wであった。
その後、光記録層12に出力0.3m−のレーザビーム
hしを当て、記録面のC/Nを測定したところ、45d
Bであった。
hしを当て、記録面のC/Nを測定したところ、45d
Bであった。
(実施例8)
予め表面に微細な凹凸を形成した厚さ5001Lmのエ
ポキシ基板の表面に、Te合金を50nmの厚さに真空
蒸着し、光記録層12を形成した。さらに、カーボンブ
ラックを分散させたポリビニルアルコール上にアクリル
ハードコートを施し、前記光記録層12の上に緩衝層1
7と保護層13とを形成し、光情報記録カードを作った
。
ポキシ基板の表面に、Te合金を50nmの厚さに真空
蒸着し、光記録層12を形成した。さらに、カーボンブ
ラックを分散させたポリビニルアルコール上にアクリル
ハードコートを施し、前記光記録層12の上に緩衝層1
7と保護層13とを形成し、光情報記録カードを作った
。
この光情報記録カードについて、前記実施例1と同様に
して、記録と再生を行ったところ、再生信号のC/Nは
、46dB、最適化された記録パワーは5.4mWであ
った。
して、記録と再生を行ったところ、再生信号のC/Nは
、46dB、最適化された記録パワーは5.4mWであ
った。
(実施例9)
シアニン系色素の一つである1−1′−ジブチル−3−
3−3’−3’テトラメチル4−5−4’−5’ジベン
ゾインドジカーボシアニンバークロレートを3重量%、
及びNi−ビス(トリクロロペンセノシチオーノリテト
ラ(1,−ブチル)アンモニウム(三井東圧ファイン社
製のPA−1006’)を0.6重量%、メチルエチル
ケトンに溶解した。透明なアクリル系UV硬化樹脂を塗
布した後、硬化した。縦横55mm、 85mm、厚さ
500Jimのカード形のプリグループ付ポリカーボネ
ート基板11の上に、前記溶液をスピンナー法により塗
布して乾燥し、厚さ約70nmの光記録層12を形成し
た。
3−3’−3’テトラメチル4−5−4’−5’ジベン
ゾインドジカーボシアニンバークロレートを3重量%、
及びNi−ビス(トリクロロペンセノシチオーノリテト
ラ(1,−ブチル)アンモニウム(三井東圧ファイン社
製のPA−1006’)を0.6重量%、メチルエチル
ケトンに溶解した。透明なアクリル系UV硬化樹脂を塗
布した後、硬化した。縦横55mm、 85mm、厚さ
500Jimのカード形のプリグループ付ポリカーボネ
ート基板11の上に、前記溶液をスピンナー法により塗
布して乾燥し、厚さ約70nmの光記録層12を形成し
た。
さらに、ヒートシーラントとアルミニウムをラミネート
した縦横55mm、 85mm、厚さ200J1mのポ
リカーボネートフィルムの片面の前記光記録層12と対
応する部分に、カーボンを分散したウレタン系塗料をス
プレー塗装し、これを前記塗装面が光記録層12側に面
するよう置き、光記録部14を除く部分を基板11にヒ
ートシールした。これにより、保護層13と反射防止層
18を有する光情報記録カードを製造した。なお、分光
光度計により測定した前記反射防止層1日の積分反射率
は1%であった。
した縦横55mm、 85mm、厚さ200J1mのポ
リカーボネートフィルムの片面の前記光記録層12と対
応する部分に、カーボンを分散したウレタン系塗料をス
プレー塗装し、これを前記塗装面が光記録層12側に面
するよう置き、光記録部14を除く部分を基板11にヒ
ートシールした。これにより、保護層13と反射防止層
18を有する光情報記録カードを製造した。なお、分光
光度計により測定した前記反射防止層1日の積分反射率
は1%であった。
この光情報記録カードに、波長780nmの半導体レー
ザを用い、線速2.2m/secでレーザビームhしを
基板11側から光記録層12に照射し、データを記録し
た。記録後、光記録層12に0、3mWのレーザービー
ムを当てて、上記信号を再生したところ、再生信号は4
7dBであった。
ザを用い、線速2.2m/secでレーザビームhしを
基板11側から光記録層12に照射し、データを記録し
た。記録後、光記録層12に0、3mWのレーザービー
ムを当てて、上記信号を再生したところ、再生信号は4
7dBであった。
(実施例10)
シアニン系色素であるところの1−1′−ジエチル3−
3−3’−3’テトラメチルインドトリカーポジアニン
アイオダイドを4重量%エタノールに溶解した。透明な
アクリル板にrJV硬化樹脂でプリグループ付を施した
縦横55mm、85mm、厚さ5001Jmのカード形
の基板11の上に、前記溶液をスピンナー法により塗布
して乾燥し、厚さ約70nmの光記録層12を形成した
。
3−3’−3’テトラメチルインドトリカーポジアニン
アイオダイドを4重量%エタノールに溶解した。透明な
アクリル板にrJV硬化樹脂でプリグループ付を施した
縦横55mm、85mm、厚さ5001Jmのカード形
の基板11の上に、前記溶液をスピンナー法により塗布
して乾燥し、厚さ約70nmの光記録層12を形成した
。
さらに、カーボンブラックを分散したアクリルフィルム
の表面をサンドブラストして適当な表面粗さとした前記
基板と同じ形状のフィルムを用意し、これをサンドブラ
ストした面が光記録層12側に面するよう、中心を合わ
せて基板11の上に置き、高温溶融性の接着剤で基板1
1に接着した。これにより、反射防止処理を施した保護
層13を有する厚さ80C1cmの光記録カードを製造
した。
の表面をサンドブラストして適当な表面粗さとした前記
基板と同じ形状のフィルムを用意し、これをサンドブラ
ストした面が光記録層12側に面するよう、中心を合わ
せて基板11の上に置き、高温溶融性の接着剤で基板1
1に接着した。これにより、反射防止処理を施した保護
層13を有する厚さ80C1cmの光記録カードを製造
した。
(比較例1)
四塩化炭素に、その重量の3%に相当するニトロセルロ
ーズを溶解させた溶液に、実施例1と同様にして基板1
の上に形成した光記録層2を浸漬し、該光記録層2の上
に多孔質ニトロセルロース膜からなる保護層を形成し、
光情報記録カードを作った。
ーズを溶解させた溶液に、実施例1と同様にして基板1
の上に形成した光記録層2を浸漬し、該光記録層2の上
に多孔質ニトロセルロース膜からなる保護層を形成し、
光情報記録カードを作った。
前記光情報記録カードについて実施例1と同じ方法と条
件で試験を行ったところ、最適記録パワーは4.2mW
、再生信号のC/Nは、32dBであった。
件で試験を行ったところ、最適記録パワーは4.2mW
、再生信号のC/Nは、32dBであった。
(比較例2)
前記実施例3に於て、保護層を形成するポリエチレンテ
レフタレートフィルムに反射防止処理を施さずに光情報
記録カードを作った。
レフタレートフィルムに反射防止処理を施さずに光情報
記録カードを作った。
前記光情報記録カードについて実施例3と同じ方法と条
件で試験を行ったところ、最適記録パワーは4.0mW
、再生信号のC/Nは34dBであった。
件で試験を行ったところ、最適記録パワーは4.0mW
、再生信号のC/Nは34dBであった。
(比較例3)
前記実施例3に於て、反射防止層18を形成する反射防
止アクリル塗料に代えて、光沢黒色塗料を用いて光情報
記録カードを作った。なお、この場合の保護層の光記録
層との界面側の積分反射率は6.2%であった。
止アクリル塗料に代えて、光沢黒色塗料を用いて光情報
記録カードを作った。なお、この場合の保護層の光記録
層との界面側の積分反射率は6.2%であった。
前記光情報記録カードについて実施例3と同じ方法と条
件で試験を行ったところ、最適記録パワーは3.8mW
、再生信号のC/Nは、36dBであった。
件で試験を行ったところ、最適記録パワーは3.8mW
、再生信号のC/Nは、36dBであった。
(比較例4)
前記実施例6に於て、多孔性反射防止アクリル塗料にチ
タンブラックを添加せず、光情報記録カードを作った。
タンブラックを添加せず、光情報記録カードを作った。
前記光情報記録カードについて実施例3と同じ方法と条
件で試験を行ったところ、最適記録パワーは5.0mW
、再生信号のC/Nは、34dBであった。
件で試験を行ったところ、最適記録パワーは5.0mW
、再生信号のC/Nは、34dBであった。
(比較例5)
前記実施例7において、光記録層12の上にM g F
2層を設けずに、基板11の上に形成した記録層12
の上に、厚さ約200 tt mのポリカーボネートフ
ィルムを重ね合わせ、その内外周縁を基板11に固着し
、光情報記録カードを作った。
2層を設けずに、基板11の上に形成した記録層12
の上に、厚さ約200 tt mのポリカーボネートフ
ィルムを重ね合わせ、その内外周縁を基板11に固着し
、光情報記録カードを作った。
この光情報記録カードについて、波長780nmの半導
体レーザを用い、線速2.2IIマ/sec、記録周波
数500kHzのレーザビームhνを基板11側から光
記録層12に曜利し、同層12に記録を試みたところ、
最適記録パワーは4.5…W、再生信号のC/Nは、3
5dBであった。
体レーザを用い、線速2.2IIマ/sec、記録周波
数500kHzのレーザビームhνを基板11側から光
記録層12に曜利し、同層12に記録を試みたところ、
最適記録パワーは4.5…W、再生信号のC/Nは、3
5dBであった。
(比較例6)
前記実施例9において、保護層の表面にカーボンを分散
したウレタン系塗料を塗装せず、それ以外は同実施例と
同様にして、光情報記録カードを作った。
したウレタン系塗料を塗装せず、それ以外は同実施例と
同様にして、光情報記録カードを作った。
これについて、前記実施例9と同様の試験を実施したと
ころ、C/Nは38dBであった。
ころ、C/Nは38dBであった。
(実施例11)
プリグループ及びプリピットを施した厚さ500μmの
カード形ポリカーボネート基板11上に、ナフトールグ
リーン染料で染めたエポキシ樹脂をスピンナー法により
塗布し、厚さ約1100nの光記録層12を形成した。
カード形ポリカーボネート基板11上に、ナフトールグ
リーン染料で染めたエポキシ樹脂をスピンナー法により
塗布し、厚さ約1100nの光記録層12を形成した。
この光記録層12の表面にウレタンフオームをスプレー
し、約30umの厚さの緩衝層17を形成した。さらに
、この緩衝層17の上に、保護層として、厚さ約200
μmのポリカーボネートフィルムを全面接着した。
し、約30umの厚さの緩衝層17を形成した。さらに
、この緩衝層17の上に、保護層として、厚さ約200
μmのポリカーボネートフィルムを全面接着した。
以上により、カード状の光情報記録カードを作った。
この光情報記録カードについて、波長780nmの半導
体レーザを用い、線速2.Om/seC,記録周波数5
00ktLzのレーザビームhしを基板11側から光記
録層12に1.?利し、記録を行なった。このときの最
適化された記録レーザーパワーは、4.3mWであった
。その後、光記録層12に出力0.3mWのレーザビー
ム11νを当て、記録時と同じ線速で記録面のC/Nを
測定したところ、41dBであった。
体レーザを用い、線速2.Om/seC,記録周波数5
00ktLzのレーザビームhしを基板11側から光記
録層12に1.?利し、記録を行なった。このときの最
適化された記録レーザーパワーは、4.3mWであった
。その後、光記録層12に出力0.3mWのレーザビー
ム11νを当て、記録時と同じ線速で記録面のC/Nを
測定したところ、41dBであった。
(実施例12)
予め表面に微細な凹凸を形成した厚さ500μmのカー
ド形のエポキシ基板の表面に、Te合金を50nmの厚
さに真空蒸着し、光記録層12を形成した。スプレー法
によって、ポリビニルアルコールを光記録層12の上に
塗布し、緩衝層17とした。そして、保護層として、前
記緩衝層12の上にアクリルハードコートを施した。
ド形のエポキシ基板の表面に、Te合金を50nmの厚
さに真空蒸着し、光記録層12を形成した。スプレー法
によって、ポリビニルアルコールを光記録層12の上に
塗布し、緩衝層17とした。そして、保護層として、前
記緩衝層12の上にアクリルハードコートを施した。
この光情報記録カードについて、前記実施例1と同様に
して、記録と再生を行ったところ、再生信号のC/Nは
、40dB、最適化された記録パワーは5.4mWであ
った。
して、記録と再生を行ったところ、再生信号のC/Nは
、40dB、最適化された記録パワーは5.4mWであ
った。
(比較例7)
前記実施例11において、光記録層12の表面にウレタ
ンフオームをスプレーせずに、光記録層12の上に、厚
さ約200Jimのポリカーネートフィルムを直接接着
剤で全面接着し、光情報記録カードを作った。
ンフオームをスプレーせずに、光記録層12の上に、厚
さ約200Jimのポリカーネートフィルムを直接接着
剤で全面接着し、光情報記録カードを作った。
この光情報記録カードについて、波長7800…の半導
体レーザを用い、線速1.4m/sec、記録周波数5
00kHzのレーザビームhνを基板11側から光記録
層12に照射し、同層12に記録を試みたが、8mWの
記録パワーでも完全な記録ができなかった。
体レーザを用い、線速1.4m/sec、記録周波数5
00kHzのレーザビームhνを基板11側から光記録
層12に照射し、同層12に記録を試みたが、8mWの
記録パワーでも完全な記録ができなかった。
(実施例13)
シアニン系色素の一つである1、1′ジエチル3,3.
3“、3′テトラメチル4,5.4′、5′ジベンゾイ
ンドジカーボシアニンアイオダイドを、エタノールに4
重量%溶解した。
3“、3′テトラメチル4,5.4′、5′ジベンゾイ
ンドジカーボシアニンアイオダイドを、エタノールに4
重量%溶解した。
この溶液をスピンナー法により、縦55mm、長さ85
mm、厚さ500u…のカード形のアリグループ付ポリ
メチルメタクリレート基板11の上に塗布して乾燥し、
厚さ約60nmの光記録層12を形成した。
mm、厚さ500u…のカード形のアリグループ付ポリ
メチルメタクリレート基板11の上に塗布して乾燥し、
厚さ約60nmの光記録層12を形成した。
さらに、前記基板11と同形の厚さ75μmのポリエチ
レンテレフタレートフィルムの片面の光記録部14とな
る部分に、カーボンを分散したアクリルゴムをグラビア
コートして外力吸収層19を形成した。これを外力吸収
層19が光記録層12側に面するよう同記録層12の上
に重ねて置き、その前記光記録部14を除く部分を基板
11に固着し、保護層13とし、光情報記録カードを製
造した。
レンテレフタレートフィルムの片面の光記録部14とな
る部分に、カーボンを分散したアクリルゴムをグラビア
コートして外力吸収層19を形成した。これを外力吸収
層19が光記録層12側に面するよう同記録層12の上
に重ねて置き、その前記光記録部14を除く部分を基板
11に固着し、保護層13とし、光情報記録カードを製
造した。
この光情報記録カードは、保護層13の外力吸収層19
側が光記録層12に密着しておらず、単に接触している
だけであり、その間に僅かな間隙が存在する。
側が光記録層12に密着しておらず、単に接触している
だけであり、その間に僅かな間隙が存在する。
前記光情報記録カードに、波長780nmの半導体レー
ザを用い、線速2.2m/secのレーザビームhしを
基板11側から光記録層12に照射し、同層12にビッ
トを形成し、記録を行った。その後、カードの周辺部を
固定し、0.7回/secのサイクルで中央部が±5m
m変形するよう繰り返し104回湾白させる曲げ試験を
実施したところ、C/Nの劣化は0.5dBであった。
ザを用い、線速2.2m/secのレーザビームhしを
基板11側から光記録層12に照射し、同層12にビッ
トを形成し、記録を行った。その後、カードの周辺部を
固定し、0.7回/secのサイクルで中央部が±5m
m変形するよう繰り返し104回湾白させる曲げ試験を
実施したところ、C/Nの劣化は0.5dBであった。
(実施例14)
前記実施例13に於いて、保護層13を形成するシート
として、厚さ1501tmのポリカーボネートフィルム
に代えて、厚さ1100ttのカーボンブラック入りの
ポリカーボネートフィルムを用い、これにカーボンを分
散したウレタン塗料をスプレー法で塗布し、外力吸収層
19を形成した以外は、同実施例と同様にして、光記録
カードを製造した。
として、厚さ1501tmのポリカーボネートフィルム
に代えて、厚さ1100ttのカーボンブラック入りの
ポリカーボネートフィルムを用い、これにカーボンを分
散したウレタン塗料をスプレー法で塗布し、外力吸収層
19を形成した以外は、同実施例と同様にして、光記録
カードを製造した。
これについても、前記実施例と同様にして記録後、曲げ
試験を実施したところ、C/Nの劣化は、1.0dBで
あった。
試験を実施したところ、C/Nの劣化は、1.0dBで
あった。
(実施例15)
色素として、3−メチル−2−[7−(3’−メチル−
2′−ベンゾチアゾリン)−1−3−5−へブタトリエ
ニル]−ベンゾチアゾールパークロレイトを用い、これ
をエタノールに3重量%溶解した。また、基板11とし
て、前記実施例13と同形のプレグルーブ付きポリカー
ボネート基板11を用い、この片面に前記実施例1と同
様の手段で厚さ約60nmの光記録112を形成した。
2′−ベンゾチアゾリン)−1−3−5−へブタトリエ
ニル]−ベンゾチアゾールパークロレイトを用い、これ
をエタノールに3重量%溶解した。また、基板11とし
て、前記実施例13と同形のプレグルーブ付きポリカー
ボネート基板11を用い、この片面に前記実施例1と同
様の手段で厚さ約60nmの光記録112を形成した。
さらに、前記基板1と同形の厚さ125μmのポリエチ
レンテレフタレートフィルムの片面の記録部14の部分
に、ウレタンセルロース単繊維 ′を分散した
塗料をスプレー塗装し、この上にカーボンを分散したウ
レタンを同様の方法で塗装し、外力吸収層19を形成し
た。そして、前記実施例と同様にしてこれで光記録層1
2を覆い、保護層13を形成した。
レンテレフタレートフィルムの片面の記録部14の部分
に、ウレタンセルロース単繊維 ′を分散した
塗料をスプレー塗装し、この上にカーボンを分散したウ
レタンを同様の方法で塗装し、外力吸収層19を形成し
た。そして、前記実施例と同様にしてこれで光記録層1
2を覆い、保護層13を形成した。
これについても、前記実施例と同様にして記録後、曲げ
試験を実施したところ、C/Nの劣化は、0.8dBで
−あった。
試験を実施したところ、C/Nの劣化は、0.8dBで
−あった。
(比較例日)
前記実施例13に於いて、保護層13を形成するシート
として、厚さ150μmのポリカーボネートフィルムに
代えて、厚さ125umのカーボンブラック入りのポリ
カーボネートフィルムを用い、これに同実施例のような
外力吸収層19を形成しなかったこと以外は、同実施例
と同様にして、光記録カードを製造した。
として、厚さ150μmのポリカーボネートフィルムに
代えて、厚さ125umのカーボンブラック入りのポリ
カーボネートフィルムを用い、これに同実施例のような
外力吸収層19を形成しなかったこと以外は、同実施例
と同様にして、光記録カードを製造した。
これについても、前記実施例と同様にして記録後、曲げ
試験を実施したところ、C/Nの劣化は、5.2dBで
あった。
試験を実施したところ、C/Nの劣化は、5.2dBで
あった。
これら実施例と比較例から明かな通り、実施例13〜1
5では、曲げ試験前後のC/Nの劣化が何れも1.Od
8以下であるのに対し、比較例では、この数倍ものC/
Nの劣化が認められた。
5では、曲げ試験前後のC/Nの劣化が何れも1.Od
8以下であるのに対し、比較例では、この数倍ものC/
Nの劣化が認められた。
[発明の効果コ
以上説明したように、第一の発明によれは、保護層13
に施された反射防止手段により、光記録層12を通過し
たレーザビームが反射し、再びピットを通過してピック
アップ側で検知されないので、C/Nの高い再生信号が
得られる。
に施された反射防止手段により、光記録層12を通過し
たレーザビームが反射し、再びピットを通過してピック
アップ側で検知されないので、C/Nの高い再生信号が
得られる。
第二の発明によれは、レーザー光を照射することによっ
て、光記録層12を局部的に変形させて記録を行なう方
式の光情報記録媒体に於て、緩衝層17が光記録層12
の変形を容易にするため、記録感度を落とすことなく、
保護層13によって光記録層12が保護され、なおかつ
従来の同方式のものに比べて薄い光情報記録媒体が得ら
れる。
て、光記録層12を局部的に変形させて記録を行なう方
式の光情報記録媒体に於て、緩衝層17が光記録層12
の変形を容易にするため、記録感度を落とすことなく、
保護層13によって光記録層12が保護され、なおかつ
従来の同方式のものに比べて薄い光情報記録媒体が得ら
れる。
第三の発明によれば、外力による記録、再生特性の大幅
な劣化を伴うような光記録層12の傷を防止することが
でき、もって衝撃や圧迫に強い光情報記録媒体を提供す
ることができる。
な劣化を伴うような光記録層12の傷を防止することが
でき、もって衝撃や圧迫に強い光情報記録媒体を提供す
ることができる。
第四の発明によれは、緩衝層17と反射防止層18とに
よって、前記第一の発明と第二の発明が奏する効果が併
せて得られる。
よって、前記第一の発明と第二の発明が奏する効果が併
せて得られる。
第五の発明によれは、外力吸収層19と反射防止層18
とによって、前記第一の発明と第三の発明が奏する効果
が併せて得られる。
とによって、前記第一の発明と第三の発明が奏する効果
が併せて得られる。
第1図は、本発明の実施例を示す光情報記録カードの一
部縦断斜視図、第2図〜第4図は、前記カードの光記録
部の各実施態様を示す第1図のA部を拡大した要部縦断
面図である。 11・・・基板 12・・・光記録層 13・・・保護
層17・・・緩衝層 1日・・・反射防止層 19・・
・外力吸収層
部縦断斜視図、第2図〜第4図は、前記カードの光記録
部の各実施態様を示す第1図のA部を拡大した要部縦断
面図である。 11・・・基板 12・・・光記録層 13・・・保護
層17・・・緩衝層 1日・・・反射防止層 19・・
・外力吸収層
Claims (5)
- (1)カード状の基板11の上に光記録部14が形成さ
れた光情報記録カードにおいて、前記光記録部14が、
基板11上に形成された光記録層12からなり、該光記
録層12が保護層13で覆われ、該保護層13にレーザ
光の反射を防止する反射防止手段が施されたことを特徴
とする光情報記録カード。 - (2)カード状の基板11の上に光記録部14が形成さ
れた光情報記録カードにおいて、前記光記録部14が、
基板11上に形成された光記録層12からなり、該光記
録層12が保護層13で覆われ、該保護層13と光記録
層12との間に変形自在な緩衝層17が設けられたこと
を特徴とする光情報記録カード。 - (3)カード状の基板11の上に光記録部14が形成さ
れた光情報記録カードにおいて、前記光記録部14が、
基板11上に形成された光記録層12からなり、該光記
録層12が保護層13で覆われ、該保護層13の光記録
層12に面した側に、該光記録層12より軟質な外力吸
収層19が形成されたことを特徴とする光情報記録カー
ド。 - (4)カード状の基板11の上に光記録部14が形成さ
れた光情報記録カードにおいて、前記光記録部14が、
基板11上に形成された光記録層12からなり、該光記
録層12が保護層13で覆われ、該保護層13と光記録
層12との間に変形自在な緩衝層17が設けられ、緩衝
層17または保護層13にレーザー光の反射を防止する
反射防止手段が施されたことを特徴とする光情報記録カ
ード。 - (5)カード状の基板11の上に光記録部14が形成さ
れた光情報記録カードにおいて、前記光記録部14が、
基板11上に形成された光記録層12からなり、該光記
録層12が保護層13で覆われ、該保護層13の光記録
層12に面した側に、該光記録層12より軟質な外力吸
収層19が形成され、該外力吸収層19にレーザー光の
反射を防止する反射防止手段が施されたことを特徴とす
る光情報記録カード。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63046441A JPH07107755B2 (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | 光情報記録カード |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63046441A JPH07107755B2 (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | 光情報記録カード |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01220238A true JPH01220238A (ja) | 1989-09-01 |
| JPH07107755B2 JPH07107755B2 (ja) | 1995-11-15 |
Family
ID=12747253
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63046441A Expired - Lifetime JPH07107755B2 (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | 光情報記録カード |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07107755B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5714748A (en) * | 1992-10-02 | 1998-02-03 | Goldstar Co., Ltd. | Magnetic cards employing optical recording material |
| WO2004063978A1 (ja) * | 2003-01-16 | 2004-07-29 | Shiseido Co., Ltd. | 情報を刻印した積層材料、それを貼付した物品、及び情報コードの観察方法 |
| JP2008269703A (ja) * | 2007-04-19 | 2008-11-06 | Taiyo Yuden Co Ltd | 光情報記録媒体 |
| CN100461208C (zh) * | 2003-01-16 | 2009-02-11 | 株式会社资生堂 | 刻印了信息的层叠材料、粘贴该材料的物品及信息码的观察方法 |
| JP2010125737A (ja) * | 2008-11-28 | 2010-06-10 | Toppan Printing Co Ltd | カード |
-
1988
- 1988-02-29 JP JP63046441A patent/JPH07107755B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5714748A (en) * | 1992-10-02 | 1998-02-03 | Goldstar Co., Ltd. | Magnetic cards employing optical recording material |
| WO2004063978A1 (ja) * | 2003-01-16 | 2004-07-29 | Shiseido Co., Ltd. | 情報を刻印した積層材料、それを貼付した物品、及び情報コードの観察方法 |
| CN100461208C (zh) * | 2003-01-16 | 2009-02-11 | 株式会社资生堂 | 刻印了信息的层叠材料、粘贴该材料的物品及信息码的观察方法 |
| JP2008269703A (ja) * | 2007-04-19 | 2008-11-06 | Taiyo Yuden Co Ltd | 光情報記録媒体 |
| JP2010125737A (ja) * | 2008-11-28 | 2010-06-10 | Toppan Printing Co Ltd | カード |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07107755B2 (ja) | 1995-11-15 |
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