JPH01227275A - 磁気ディスク制御装置 - Google Patents
磁気ディスク制御装置Info
- Publication number
- JPH01227275A JPH01227275A JP63053993A JP5399388A JPH01227275A JP H01227275 A JPH01227275 A JP H01227275A JP 63053993 A JP63053993 A JP 63053993A JP 5399388 A JP5399388 A JP 5399388A JP H01227275 A JPH01227275 A JP H01227275A
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- JP
- Japan
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- circuit
- ecc
- magnetic disk
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- written
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Links
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Detection And Correction Of Errors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、情報処理装置に使用する磁気ディスク制御部
に閃するものである。
に閃するものである。
従来の技術
従来、磁気ディスク制御部において、磁気ディスク制御
部内のハードウェアの試験方法としては。
部内のハードウェアの試験方法としては。
電源投入時あるいはイニシャライズ動作実行時に実施す
るＴＦ（テストファームウェア）、あるいは１ｉＰＵの
プログラムにより実行するＴ＆Ｄ （テストアンドダイ
アグノスティック）が存在していた。
るＴＦ（テストファームウェア）、あるいは１ｉＰＵの
プログラムにより実行するＴ＆Ｄ （テストアンドダイ
アグノスティック）が存在していた。
発明が解決しようとする課題
上述した従来の磁気ディスク制御部の第１の方法におい
ては、エラー検出回路のチエツクは可能であるが、磁気
ディスク装置との間のインタフェース回路がチエツク出
来ないという欠点があり、第２の方法においては、イン
タフェース回路のチエ・ツクは可能であるが、磁気ディ
スク装置の媒体の不良によりエラーが発生しない限り、
ＥＣＣエラー検出回路のチエツクが出来ないという欠点
があった。
ては、エラー検出回路のチエツクは可能であるが、磁気
ディスク装置との間のインタフェース回路がチエツク出
来ないという欠点があり、第２の方法においては、イン
タフェース回路のチエ・ツクは可能であるが、磁気ディ
スク装置の媒体の不良によりエラーが発生しない限り、
ＥＣＣエラー検出回路のチエツクが出来ないという欠点
があった。
本発明は従来の技術に内在する上記諸欠点を解消する為
になされたものであり、従って本発明の目的は、磁気デ
ィスク制御部内のＥＣＣエラー検出回路の的確なチエツ
クを実行することを可能とした新規なディスク制御装置
を提供することにある。
になされたものであり、従って本発明の目的は、磁気デ
ィスク制御部内のＥＣＣエラー検出回路の的確なチエツ
クを実行することを可能とした新規なディスク制御装置
を提供することにある。
課題を解決するための手段
」−足口的を達成する為に、本発明に係る磁気ディスク
制御装置は、磁気ディスク装置のあらかじめ決められた
領域にＥＣＣデータを反転させずに書き込む手段と、上
記書き込み手段により書き込まれた磁気ディスク装置の
媒体上のデータ及びＥＣＣデータを読み出しＥＣＣエラ
ーを検出する手段とを備えて構成される。
制御装置は、磁気ディスク装置のあらかじめ決められた
領域にＥＣＣデータを反転させずに書き込む手段と、上
記書き込み手段により書き込まれた磁気ディスク装置の
媒体上のデータ及びＥＣＣデータを読み出しＥＣＣエラ
ーを検出する手段とを備えて構成される。
実施例
次に本発明をその好ましい一実施例について図面を参照
して具体的に説明する。
して具体的に説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す概念的構成図である。
第１図において、磁気ディスク制御部１００は、バス制
御回路ｌＯ、マイクロプロセッサ回路２０、磁気ディス
ク制御回路３０、ＥＣＣ制御回路５０、選択回路５１、
Ｓ／Ｐ変換回路５２及び反転回路５３より構成されてい
る。又、磁気ディスク制御部１００は、磁気ディスク装
置２００に接続されるとともに、バス３００を介して中
央処理装置４００及び主記憶装置５００に接続されてい
る。
御回路ｌＯ、マイクロプロセッサ回路２０、磁気ディス
ク制御回路３０、ＥＣＣ制御回路５０、選択回路５１、
Ｓ／Ｐ変換回路５２及び反転回路５３より構成されてい
る。又、磁気ディスク制御部１００は、磁気ディスク装
置２００に接続されるとともに、バス３００を介して中
央処理装置４００及び主記憶装置５００に接続されてい
る。
この様に構成された磁気ディスク制御部１００の動作は
次の通りである。中央処理装置４００より磁気ディスク
装置２００に対するダイアグツステックライト命令がバ
ス３００を介して磁気ディスク制御部１００に入力され
たとすると、マイクロプロセッサ回路２０は、磁気ディ
スク制御回路３０を介して磁気ディスク装置２００に対
してシーク動作を実行させる。シーク動作の完了を磁気
ディスク制御回路３０を介してマイクロプロセッサ回路
２０が認識すると、マイクロプロセッサ回路２０は、磁
気ディスク制御回路３０を介して磁気ディスク装置２０
０に対しヘッド番号選択動作を実行させるとともに、Ｓ
／Ｐ変換回路５２に対して磁気ディスク装置２００から
のリードデータのＩＤサーチ動作の実行を開始させる。
次の通りである。中央処理装置４００より磁気ディスク
装置２００に対するダイアグツステックライト命令がバ
ス３００を介して磁気ディスク制御部１００に入力され
たとすると、マイクロプロセッサ回路２０は、磁気ディ
スク制御回路３０を介して磁気ディスク装置２００に対
してシーク動作を実行させる。シーク動作の完了を磁気
ディスク制御回路３０を介してマイクロプロセッサ回路
２０が認識すると、マイクロプロセッサ回路２０は、磁
気ディスク制御回路３０を介して磁気ディスク装置２０
０に対しヘッド番号選択動作を実行させるとともに、Ｓ
／Ｐ変換回路５２に対して磁気ディスク装置２００から
のリードデータのＩＤサーチ動作の実行を開始させる。
ＩＤサーチ動作が完了すると、マイクロプロセッサ回路
２０は、Ｓ／Ｐ変換回路５２にＳＲ（スインクバイトパ
ターン）の書き込み動作を実行させた後に、主記憶装置
５００からバス３００、バス制御回路ｌ０１Ｓ／Ｐ変喚
回路５２を介してライトデータとして磁気ディスク装置
２００に出力するとともに、 ｇｃｃデータ作成のため
に、バス制御回路１０よりライトデータをＥＣＣｌｖＩ
ｌｌ回路５０に入力する。ｌセクタ分のライトデータの
書き込み動作が終了すると、マイクロプロセ・ソサ回路
２０は、ダイアグツステックモードが指定されているの
で、ＥＣＣデータをＥＣＣ制御回路５０、選択回路５１
．Ｓ／Ｐ変換回路５０を介して磁気ディスク装置２００
へ書き込む。この場合、もしダイアグツステックモード
が指定されていなければ、１ｉｃｃデータは、ＥＣＣ制
御回路５０、反転回路５３、選択回路５１．Ｓ／Ｐ変換
回路５２を介して磁気ディスク装置２００へ書き込まれ
るために、ＥＣＣデータは反転して書き込まれることに
なる。
２０は、Ｓ／Ｐ変換回路５２にＳＲ（スインクバイトパ
ターン）の書き込み動作を実行させた後に、主記憶装置
５００からバス３００、バス制御回路ｌ０１Ｓ／Ｐ変喚
回路５２を介してライトデータとして磁気ディスク装置
２００に出力するとともに、 ｇｃｃデータ作成のため
に、バス制御回路１０よりライトデータをＥＣＣｌｖＩ
ｌｌ回路５０に入力する。ｌセクタ分のライトデータの
書き込み動作が終了すると、マイクロプロセ・ソサ回路
２０は、ダイアグツステックモードが指定されているの
で、ＥＣＣデータをＥＣＣ制御回路５０、選択回路５１
．Ｓ／Ｐ変換回路５０を介して磁気ディスク装置２００
へ書き込む。この場合、もしダイアグツステックモード
が指定されていなければ、１ｉｃｃデータは、ＥＣＣ制
御回路５０、反転回路５３、選択回路５１．Ｓ／Ｐ変換
回路５２を介して磁気ディスク装置２００へ書き込まれ
るために、ＥＣＣデータは反転して書き込まれることに
なる。
次に、中央処理装置４００より磁気ディスク装置２００
に対するダイアグツステックライト命令で書き込まれた
セクタに対するリード命令がバス３００を介して磁気デ
ィスク制御部＋００に入力されたとすると、マイクロプ
ロセッサ回路２０は、ライト動作時と同様にシーク動作
を実行後、ＩＤサーチ動作を実行する。１０サ一チ動作
が完了すると、マイクロプロセッサ回路２０は、Ｓ／Ｐ
変換回路５２にＳＢ（スインクバイトパターン）を検出
後のデータをリードデータとしてリードさせ、バス制御
回路ｌＯ、バス３００を介して主記憶装置５００ヘリー
ドデータを転送するとともに、Ｓ／Ｐ変換回路５２より
選択回路５１を介してｇｃｃ＊Ｉ御回路５０へ入力し、
ＥＣＣチエツク動作を開始する。１セクタ分のリードデ
ータの転送が終了すると、ＥＣＣデータをＳ／Ｐ変換回
路５２、選択回路５１、反転回路５３を介してＥＣＣ制
御回路５０にＥＣＣデータを反転して入力する。ＥＣＣ
制御回路５０はＥＣＣチエツク動作終了時に、ＥＣＣ書
き込みを反転回路５３を使用してＥＣＣデータを反転し
た場合にはＥＣＣエラーとならず、ＥＣＣ書き込みをＥ
ＣＣ’データをそのまま書き込んだ場合にはＥＣＣエラ
ーとなる。
に対するダイアグツステックライト命令で書き込まれた
セクタに対するリード命令がバス３００を介して磁気デ
ィスク制御部＋００に入力されたとすると、マイクロプ
ロセッサ回路２０は、ライト動作時と同様にシーク動作
を実行後、ＩＤサーチ動作を実行する。１０サ一チ動作
が完了すると、マイクロプロセッサ回路２０は、Ｓ／Ｐ
変換回路５２にＳＢ（スインクバイトパターン）を検出
後のデータをリードデータとしてリードさせ、バス制御
回路ｌＯ、バス３００を介して主記憶装置５００ヘリー
ドデータを転送するとともに、Ｓ／Ｐ変換回路５２より
選択回路５１を介してｇｃｃ＊Ｉ御回路５０へ入力し、
ＥＣＣチエツク動作を開始する。１セクタ分のリードデ
ータの転送が終了すると、ＥＣＣデータをＳ／Ｐ変換回
路５２、選択回路５１、反転回路５３を介してＥＣＣ制
御回路５０にＥＣＣデータを反転して入力する。ＥＣＣ
制御回路５０はＥＣＣチエツク動作終了時に、ＥＣＣ書
き込みを反転回路５３を使用してＥＣＣデータを反転し
た場合にはＥＣＣエラーとならず、ＥＣＣ書き込みをＥ
ＣＣ’データをそのまま書き込んだ場合にはＥＣＣエラ
ーとなる。
つまり、ダイアグツステックライト命令で書き込んだデ
ータをリードし・た場合には、ＥＣＣエラーとなり、マ
イクロプロセッサ回路２０、バス制御回路ｌＯ、バス３
００を介して中央処理装置４００へＥＣＣエラーが通知
される。
ータをリードし・た場合には、ＥＣＣエラーとなり、マ
イクロプロセッサ回路２０、バス制御回路ｌＯ、バス３
００を介して中央処理装置４００へＥＣＣエラーが通知
される。
発明の詳細
な説明したように、本発明の磁気ディスク制御部を採用
することにより、ＥＰＵのプログラムにより実行するＴ
＆Ｄ （テストアンドダイアグノスティック）により磁
気ディスク制御部内のＥＣＣエラーチエツク回路のチエ
ツクが出来るという効果が得られる。
することにより、ＥＰＵのプログラムにより実行するＴ
＆Ｄ （テストアンドダイアグノスティック）により磁
気ディスク制御部内のＥＣＣエラーチエツク回路のチエ
ツクが出来るという効果が得られる。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック構成図である
。 １０・・・バス制御回路、２０・・・マイクロプロセッ
サ回路、３０・・・磁気ディスク制御回路、５０・・・
ＥＣＣ制御回路、５１・・・選択回路、５２・・・Ｓ／
Ｐ変換回路、５３・・・反転回路、１００・・・磁気デ
ィスク制御部、２００・・・磁気ディスク装置、３００
・・・バス、４００・・・中央処理装置、５００・・・
主記憶装置 特許出願人 日本電気株式会社 代 理 人 弁理士 熊谷雄太部
。 １０・・・バス制御回路、２０・・・マイクロプロセッ
サ回路、３０・・・磁気ディスク制御回路、５０・・・
ＥＣＣ制御回路、５１・・・選択回路、５２・・・Ｓ／
Ｐ変換回路、５３・・・反転回路、１００・・・磁気デ
ィスク制御部、２００・・・磁気ディスク装置、３００
・・・バス、４００・・・中央処理装置、５００・・・
主記憶装置 特許出願人 日本電気株式会社 代 理 人 弁理士 熊谷雄太部
Claims (1)
- 磁気ディスク装置のあらかじめ決められた領域にＥＣＣ
データを反転させずに書き込む手段と、上記書き込み手
段により書き込まれた磁気ディスク装置の媒体上のデー
タ及びＥＣＣデータを読み出してＥＣＣエラーを検出す
る手段とを有することを特徴とする磁気ディスク制御装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63053993A JPH01227275A (ja) | 1988-03-08 | 1988-03-08 | 磁気ディスク制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63053993A JPH01227275A (ja) | 1988-03-08 | 1988-03-08 | 磁気ディスク制御装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01227275A true JPH01227275A (ja) | 1989-09-11 |
Family
ID=12958137
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63053993A Pending JPH01227275A (ja) | 1988-03-08 | 1988-03-08 | 磁気ディスク制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01227275A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011008650A (ja) * | 2009-06-29 | 2011-01-13 | Fujitsu Ltd | エラー検証方法，エラー検証システムおよびエラー検証プログラム |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55162162A (en) * | 1979-06-06 | 1980-12-17 | Hitachi Ltd | Diagnostic system for error detecting-correcting circuit |
| JPS60171525A (ja) * | 1984-02-17 | 1985-09-05 | Mitsubishi Electric Corp | 記憶装置の制御装置 |
| JPS61110243A (ja) * | 1984-11-02 | 1986-05-28 | Hitachi Ltd | 誤り訂正及び検出回路の診断方式 |
| JPS61128320A (ja) * | 1984-11-28 | 1986-06-16 | Toshiba Corp | 磁気デイスク制御装置 |
-
1988
- 1988-03-08 JP JP63053993A patent/JPH01227275A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55162162A (en) * | 1979-06-06 | 1980-12-17 | Hitachi Ltd | Diagnostic system for error detecting-correcting circuit |
| JPS60171525A (ja) * | 1984-02-17 | 1985-09-05 | Mitsubishi Electric Corp | 記憶装置の制御装置 |
| JPS61110243A (ja) * | 1984-11-02 | 1986-05-28 | Hitachi Ltd | 誤り訂正及び検出回路の診断方式 |
| JPS61128320A (ja) * | 1984-11-28 | 1986-06-16 | Toshiba Corp | 磁気デイスク制御装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011008650A (ja) * | 2009-06-29 | 2011-01-13 | Fujitsu Ltd | エラー検証方法，エラー検証システムおよびエラー検証プログラム |
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