JPH012316A - プラズマcvd装置 - Google Patents

プラズマcvd装置

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Publication number
JPH012316A
JPH012316A JP62-156517A JP15651787A JPH012316A JP H012316 A JPH012316 A JP H012316A JP 15651787 A JP15651787 A JP 15651787A JP H012316 A JPH012316 A JP H012316A
Authority
JP
Japan
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valve
reaction gas
airtight container
plasma cvd
pressure
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Application number
JP62-156517A
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English (en)
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JPS642316A (en
Inventor
楠部 庄三
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Publication of JPS642316A publication Critical patent/JPS642316A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明はプラズマCVD装置に関する。
(従来の技術) 半導体装置の製造工程における薄膜形成では一般にプラ
ズマCVD法が適用されている。プラズマCVD法には
高周波放電によるプラズマ反応を応用したものと、マイ
クロ波放電によるプラズマ反応を応用したものがあるが
、安定性の面から前者が適用されている。第1図は上記
前者の製造装置の一例で、気密容器(1)を有し、その
両側部(2a) 、(2b)はトンネル(3)と気密に
連結されている。上記両側部(2a) 、(2b)は開
閉自在になり、開の時には気密容器(1)がトンネル(
3)の一部を構成する。したがって、これら両者の底部
には案内レール(図示せず)が敷設されている。また、
気密容器(1)の内部には電極部(4)がガス供給管(
5a)、(5b)によって吊下されている。この電極部
(4)は第2図に示すように仕切部(6)によって相隣
接する二の空間部(7a) 、 (7b)を形成する本
体(8)と、これら空間部を閉塞し複数の流路(9)を
穿設した中間拡散板(loa) 、 (10b) (図
示せず)と、これら中間拡散板に絶縁体(11a) 、
(1lb) (図示せず)を介して取付けられ上記流路
(9)より密に穿設された流路(12)を有しかつ電極
となる拡散板(13a) 、 (13b) (図示せず
)とで構成されている。上記図示せぬ案内レールにはカ
ート(14)が載架されている。このカート(14)に
は拡散板(13a) 、 (13b)に所定の間隔をお
いて対峙するようにホルダー(15a) 、 (15b
)が相対向して立設されている。これらホルダーには矩
形状に切欠された取付部(lea) 、 (16b)が
形成され、裏板(17)を介して基板(18)が取付具
(■9)によって保持されている。一方、ガス供給管(
5a) 、(5b)はそれぞれ空間部(7a) 、(7
b)に嵌入されているとともに、開閉弁(20)に共通
に接続されている。この開閉弁には他の配管系をとうし
て3個の流量調節器(21)、(22)、(23)が並
列に接続され、これらにはそれぞれ3種の反応ガス供給
器(24) 、 (25) 、 (2B)が接続されて
いる。なお、拡散板(13a) 、 (13b)は高周
波電源(図示せず)に接続され、また気密容器(1)に
は別の配管系をとうして高性能な真空ポンプ(30)が
接続されている。
以上の構成で、基板(18)を保持したカート(14)
が気密容器(1)内に入り、両側部(2a) 、(2b
)が閉じられた後気密容器(1)は真空ポンプ(30)
によってlo−4乃至10 Torr程度に減圧される
。次に開閉弁(20)が開かれ所定の混合比にされた3
種の補助ガスを気密容器(1)内を0.4Torr程度
になるまで供給した後、拡散板(13a) 、 (13
b)に高周波電流を所定時間印加して基板(18)に薄
膜形成する。上記印加中はガス供給管(5a) 、 (
5b)から所定量反応ガスを供給するとともに、真空ポ
ンプを作動して上記供給されたガス量を排気する。
(発明が解決しようとする問題点) 基板に薄膜が形成されるとともに、基板以外にも膜が形
成される。この膜のうち、流路(9)、(12)に形成
された膜が次の様な障害を引起こしていた。すなわち、
拡散板等は定位置に固定されているため、生産が進むに
つれて膜は徐々に堆積し剥がれやすい状態となっている
。したがって、上記のように高真空時に導入された反応
ガスは急速度で流路(9) 、 (12)を通過するの
で、上記堆積状態にある膜がその勢いで脱落し、対峙し
ている基板(18)にごみとして付着する。この付着し
た基板はいうまでもなく不良品として排除されていた。
本発明は上記の事情に鑑みてなされたもので、流路に形
成された膜が脱落しないように反応ガスを供給する装置
を提供することを目的とする。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 反応ガスを導入する空間部を有しこの導入された反応ガ
スを上記空間部外へ拡散する拡散孔を形成した電極部と
成膜処理を施す基板を上記拡散孔に対峙させて取着する
ホルダーと上記空間部に反応ガスを開閉バルブを介して
供給するガス供給装置と上記電極部とホルダーとを収容
する気密容器とこの気密容器内を減圧する減圧装置と上
記電極部に放電を生じさせる電源部とを備えたプラズマ
CVD装置において、上記開閉バルブとガス供給装置間
の配管から分岐し調圧用バルブを介して上記気密容器内
に反応ガスを供給する手段と、上記開閉バルブと調圧用
バルブのどちらか一方を開閉する制御部とを儲けた構成
にしたものである。
(作用) 高真空時におけるガスの供給が基板表面と関係のない部
所に供給され、供給後の調圧された状態で定量的にガス
を流路から供給するようにしたので、流路におけるガス
の勢いは弱まり膜を脱落させることがなくなった。
(実施例) 以下、実施例を示す図面に基づいて本発明を説明する。
なお、第2図と共通する部分には同一符号を付して説明
は省略する。すなわち、第1図に示すように、従来の装
置である第2図と異なる点は、ホルダー(15a) 、
 (15b)の裏面側に一対の調圧用の供給ノズル(3
5a) 、 (35b)を反応ガスが裏板(17)の近
傍に吹き出すように設けたことにある。
これら供給ノズルは開閉弁(20)と流量調節器(21
)、 (22) 、 (23)との間の配管系から分岐
した分岐管(3B)に共通に接続されている。分岐管(
36)の中途部には電磁弁(37)が接続されている。
この電磁弁(37)は気密容器(1)内に設けられ、設
定された所定圧を電気信号に変換された信号を入力して
制御信号を出力する制御部(39)によって開閉動作さ
れるようになっている。一方、開閉弁(20)は電磁弁
(37)が閉のときにおける成膜形成時のみ開動作され
るようになりでいる。
次に、上記構成による薄膜形成について説明する。真空
ポンプ(30)によって10  乃至10”−5TOR
R程度に減圧するまでの過程は上記従来例と同様である
が、この圧力に減圧後、制御部(39)からの信号で電
磁弁(37)が開き反応ガスが供給ノズル(35a) 
(35b)からのみ気密容器(1)内に供給される。こ
こで、圧力検出器(38)は予め1o−1Torrで信
号を発するように設定しておけば、この圧力に達した時
点で電磁弁(37)が閉じ、供給弁(20)が開くとと
もに、真空ポンプ(30)が作動して所定量反応ガスが
流路(9)、(12)から供給されその供給量分排気さ
れる。上記供給および排気が所定時間続けられ基板(1
8)に対し成膜が形成される。
なお、上記実施例では供給ノズル(35a) 、 (3
5b)の吹出口が裏板(17)の近くに成るように設け
られたが、これに限定されることなく他の部所に設置し
てもよい。
[発明の効果] 高真空時から低真空時に至る調圧の間、反応ガスを拡散
板すなわち、膜が形成された流路を通して基板に直接噴
射せずに基板の膜形成に関係の無い部所に反応ガスを供
給するようにしたので、流路における膜の脱落現象はな
くなり、したがって脱落した膜がごみとして付着したま
ま、薄膜が形成された従来の問題は解消され、清浄状態
でがつ均一に成膜がなされた。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示す構成図、第2図は従来例
を示す構成図、第3図は電極部の断面図である。 (1) ・・・気密容器 (4) ・・・電極部 (5a) 、 (5b)・・・ガス供給管(9)、(1
2)・・・流路 (15a)、(15b)・・φホルダー(20)・・・
開閉弁 (35a) 、 (35b)供給ノズル(37)・・・
電磁弁

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  反応ガスを導入する空間部を有しこの導入された反応
    ガスを上記空間部外へ拡散する拡散孔を形成した電極部
    と成膜処理を施す基板を上記拡散孔に対峙させて取着す
    るホルダーと上記空間部に反応ガスを開閉バルブを介し
    て供給するガス供給装置と上記電極部とホルダーとを収
    容する気密容器とこの気密容器内を減圧する減圧装置と
    上記電極部に放電を生じさせる電源部とを備えたプラズ
    マCVD装置において、上記開閉バルブとガス供給装置
    間の配管から分岐し調圧用バルブを介して上記気密容器
    内に反応ガスを供給する手段と、上記開閉バルブと調圧
    用バルブのどちらか一方を開閉する制御部とを設けたこ
    とを特徴とするプラズマCVD装置。
JP15651787A 1987-06-25 1987-06-25 Plasma cvd device Pending JPS642316A (en)

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Publication Number Publication Date
JPH012316A true JPH012316A (ja) 1989-01-06
JPS642316A JPS642316A (en) 1989-01-06

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ID=15629512

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JP15651787A Pending JPS642316A (en) 1987-06-25 1987-06-25 Plasma cvd device

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