JPH01238190A - 超伝導体厚膜の製造方法 - Google Patents
超伝導体厚膜の製造方法Info
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- JPH01238190A JPH01238190A JP63066465A JP6646588A JPH01238190A JP H01238190 A JPH01238190 A JP H01238190A JP 63066465 A JP63066465 A JP 63066465A JP 6646588 A JP6646588 A JP 6646588A JP H01238190 A JPH01238190 A JP H01238190A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、超伝導体酸化物を利用するセラミック厚膜印
刷体の製造方法に関するものである。
刷体の製造方法に関するものである。
(従来の技術)
従°来より超伝導材料としてPb 、Nb 、Nb3G
e等の単体金属、合金、金属間化合物が知られていた。
e等の単体金属、合金、金属間化合物が知られていた。
これらの材料は主に薄膜化、綿材化を行い加工すること
によってその超伝導性を応用したデバイスが作成されて
きた。これらの材料の超伝導転移温度はすべて23.2
に以下であったため液体ヘリウムによる冷却が必要であ
った。このため、超伝導体を応用したデバイスは限られ
たものしか適用されていなかった。近年、La−Ba−
Cu−0系のうち(Lax−xBax )2cuo4で
0.075≦X≦0.1の組成のものがTcが30Kに
、Y−Ba−Cu−0系のうちYBa2Cu30.の組
成のもののTcが90に前後をもっと相次いで報告され
ている。さらにこのYBa2Cu30yのYの位置を他
の希土類元素のうちランタン、ネオジミウム、サマリウ
ム、ユーロピウム、ガドリニウム、ジスプロシウム、ホ
ロミウム、エルビウム、ツリウム、イッテルビウム、ツ
リウムに置き換えても、またこれらの元素が2種類以上
混合されていても、はぼ同じ 90に程度のTcをもつ
ことも報告されている。
によってその超伝導性を応用したデバイスが作成されて
きた。これらの材料の超伝導転移温度はすべて23.2
に以下であったため液体ヘリウムによる冷却が必要であ
った。このため、超伝導体を応用したデバイスは限られ
たものしか適用されていなかった。近年、La−Ba−
Cu−0系のうち(Lax−xBax )2cuo4で
0.075≦X≦0.1の組成のものがTcが30Kに
、Y−Ba−Cu−0系のうちYBa2Cu30.の組
成のもののTcが90に前後をもっと相次いで報告され
ている。さらにこのYBa2Cu30yのYの位置を他
の希土類元素のうちランタン、ネオジミウム、サマリウ
ム、ユーロピウム、ガドリニウム、ジスプロシウム、ホ
ロミウム、エルビウム、ツリウム、イッテルビウム、ツ
リウムに置き換えても、またこれらの元素が2種類以上
混合されていても、はぼ同じ 90に程度のTcをもつ
ことも報告されている。
Y−Ba−Cu−0系を始めとするこれらの超伝導体の
Tcは液体窒素の沸点(77K)よりも高くなったこと
により、実用材料としての期待が大きくなってきている
。
Tcは液体窒素の沸点(77K)よりも高くなったこと
により、実用材料としての期待が大きくなってきている
。
この液体窒素の沸点以上で超伝導を示す酸化物の発見に
よって冷却装置が小型で簡便なもので済むようになるた
め、従来は用いられなかった低価格の超伝導を利用した
デバイスが作成される可能性がでてきた。そのため大型
で高価な設備が必要とされる薄膜や線材よりも安価な設
備で作成可能な印刷技術を利用した厚膜が安価な超伝導
デバイスへ応用されることが期待される。
よって冷却装置が小型で簡便なもので済むようになるた
め、従来は用いられなかった低価格の超伝導を利用した
デバイスが作成される可能性がでてきた。そのため大型
で高価な設備が必要とされる薄膜や線材よりも安価な設
備で作成可能な印刷技術を利用した厚膜が安価な超伝導
デバイスへ応用されることが期待される。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら、この酸化物を厚膜印刷で配線パターンや
SQU I D等のデバイスを作成する試みはほとんど
報告されていない。現在、スクリーン印刷法によって超
伝導体厚膜を作成した例が数件報告されている(第26
回窒素基礎討論会 講演要旨集、31頁、1988年
1月20日)。
SQU I D等のデバイスを作成する試みはほとんど
報告されていない。現在、スクリーン印刷法によって超
伝導体厚膜を作成した例が数件報告されている(第26
回窒素基礎討論会 講演要旨集、31頁、1988年
1月20日)。
一方、Y−Ba−Cu−0系を始めとするこれらの超伝
導体は超伝導の方向に大きな異方性があり、高い臨界電
流を得るためには、配向した膜を形成することが不可欠
とされる。しかし超伝導体厚膜で配向膜は得られていな
い。
導体は超伝導の方向に大きな異方性があり、高い臨界電
流を得るためには、配向した膜を形成することが不可欠
とされる。しかし超伝導体厚膜で配向膜は得られていな
い。
本発明はスクリーン印刷法により形成された超伝導体厚
膜で配向した超伝導厚膜を得る超伝導厚膜の製造方法を
提供することにある。
膜で配向した超伝導厚膜を得る超伝導厚膜の製造方法を
提供することにある。
(課題を解決するための手段)
本発明は希土類−バリウム−銅系の酸化物を有機ビヒク
ルとともに混練することによりペーストを作成し、これ
を部分安定化ジルコニア基板上にスクリーン印刷法によ
り超伝導体厚膜を108m以下の厚さに形成し、酸化性
雰囲気中で950’ Cから1000℃の温度にて焼成
時間が10分以下であることを特徴とする超伝導体厚膜
の製造方法である。
ルとともに混練することによりペーストを作成し、これ
を部分安定化ジルコニア基板上にスクリーン印刷法によ
り超伝導体厚膜を108m以下の厚さに形成し、酸化性
雰囲気中で950’ Cから1000℃の温度にて焼成
時間が10分以下であることを特徴とする超伝導体厚膜
の製造方法である。
以下、本発明を実施例によりさらに詳細に説明する。
(実施例)
本発明において、超伝導体ペーストは以下により作成し
た。出発原料として純度93.9%以上の酸化イツトリ
ウム(Y2O2) 、炭酸バリウム(BaCO3)、酸
化第二銅(Cub)を使用し、配合比が金属イオンのモ
ル比でl:2:3となるように秤量した。これらをボー
ルミルを用いて湿式混合した後、空気中880 ” C
から920’ Cの温度で仮焼し、再びボールミルにて
再粉砕を行った粉を有機バインダーとともに有機容媒で
混練しペースト化した。ペーストの作成においてはバイ
ンダーとしてエチルセルロース系のバインダーと有機容
媒としてテルピネオールをそれぞれ適量加え、混練しペ
ースト化した。得られたペーストをスクリーンを用いて
イツトリア安定化ジルコニア基板上に108m以下の厚
さとなるように印刷を行った。次に基板上の印刷体を酸
化性もしくは中性雰囲気で脱バインダーを行い、さらに
酸化性雰囲気で950℃1980@C,1000” C
にて焼成した。焼成する温度から室温までの降温速度を
1時間当り 100” C以下となるようにコントロー
ルした。これは、イツトリウム−バリウム−銅系の酸化
物が超伝導を示すためには、酸素欠陥を少なくしてやる
必要があるため、降温を遅くし導体の酸化物に酸素を入
れるためである。ここで焼成時間を0分、5分、10分
、15分、30分、60分として焼成を行った。
た。出発原料として純度93.9%以上の酸化イツトリ
ウム(Y2O2) 、炭酸バリウム(BaCO3)、酸
化第二銅(Cub)を使用し、配合比が金属イオンのモ
ル比でl:2:3となるように秤量した。これらをボー
ルミルを用いて湿式混合した後、空気中880 ” C
から920’ Cの温度で仮焼し、再びボールミルにて
再粉砕を行った粉を有機バインダーとともに有機容媒で
混練しペースト化した。ペーストの作成においてはバイ
ンダーとしてエチルセルロース系のバインダーと有機容
媒としてテルピネオールをそれぞれ適量加え、混練しペ
ースト化した。得られたペーストをスクリーンを用いて
イツトリア安定化ジルコニア基板上に108m以下の厚
さとなるように印刷を行った。次に基板上の印刷体を酸
化性もしくは中性雰囲気で脱バインダーを行い、さらに
酸化性雰囲気で950℃1980@C,1000” C
にて焼成した。焼成する温度から室温までの降温速度を
1時間当り 100” C以下となるようにコントロー
ルした。これは、イツトリウム−バリウム−銅系の酸化
物が超伝導を示すためには、酸素欠陥を少なくしてやる
必要があるため、降温を遅くし導体の酸化物に酸素を入
れるためである。ここで焼成時間を0分、5分、10分
、15分、30分、60分として焼成を行った。
このようにして作成した超伝導体厚膜の電気的特性を測
定した結果、実施例の範囲ではおよそ90にで超伝導状
態に転移し、電気抵抗が0となるものがあった。本実施
例において作成した超伝導体厚膜の超伝導転移温度(0
抵抗開始温度)の結果を第1表にまとめる。
定した結果、実施例の範囲ではおよそ90にで超伝導状
態に転移し、電気抵抗が0となるものがあった。本実施
例において作成した超伝導体厚膜の超伝導転移温度(0
抵抗開始温度)の結果を第1表にまとめる。
焼成温度980℃にて30分以上の焼成、1000゜C
にて15分以上の焼成では印刷体は緑色に変質してしま
い絶縁体となってしまった。これを粉末X線回折法を用
いて同定した結果Y2BaCuO,に変質していること
が分かった。さらにこれら印刷体と基板の断面の形態を
走査型電子顕微鏡(SEM)を用いで観察し、印刷体と
基板の界面の元素分布をエネルギー分散型X線分析装置
(EDX)を用いて分析したところ、基板内部の界面に
Ba1rn、が生成していることが判明した。これらの
分析結果から酸化物超伝導体組成物であるYBa2Cu
30yは焼結が起こる温度でイツトリア安定化ジルコニ
アとたやすく反応し、Ba1rn3が生成し、印刷体中
のBaイオンが不足するために印刷体がY2BaCuO
5に変質したと考えられる。これらのことから、印刷体
と基板の反応を制御しながら、超伝導体厚膜の焼結を行
うには焼成時間を短くすることによって達成することが
判明した。
にて15分以上の焼成では印刷体は緑色に変質してしま
い絶縁体となってしまった。これを粉末X線回折法を用
いて同定した結果Y2BaCuO,に変質していること
が分かった。さらにこれら印刷体と基板の断面の形態を
走査型電子顕微鏡(SEM)を用いで観察し、印刷体と
基板の界面の元素分布をエネルギー分散型X線分析装置
(EDX)を用いて分析したところ、基板内部の界面に
Ba1rn、が生成していることが判明した。これらの
分析結果から酸化物超伝導体組成物であるYBa2Cu
30yは焼結が起こる温度でイツトリア安定化ジルコニ
アとたやすく反応し、Ba1rn3が生成し、印刷体中
のBaイオンが不足するために印刷体がY2BaCuO
5に変質したと考えられる。これらのことから、印刷体
と基板の反応を制御しながら、超伝導体厚膜の焼結を行
うには焼成時間を短くすることによって達成することが
判明した。
なお希土類元素がイツトリウムでな(ランタン、ネオジ
ミウム、サマリウム、ユーロピウム、ガドリニウム、ジ
スプロシウム、ホロミウム、エルビウム、ツリウム、イ
ッテルビウム、ルテチウムなどである酸化物超伝導の一
種以上でも同様の効果を確認した。
ミウム、サマリウム、ユーロピウム、ガドリニウム、ジ
スプロシウム、ホロミウム、エルビウム、ツリウム、イ
ッテルビウム、ルテチウムなどである酸化物超伝導の一
種以上でも同様の効果を確認した。
第1表
また作成した超伝導体厚膜の結晶の配向性を粉末X線回
折法によって調べた結果(00又)に配向した厚膜が得
られた。
折法によって調べた結果(00又)に配向した厚膜が得
られた。
第1図(a)、(b)、(C)は実施例において印刷塗
布厚みを10μm115μm130μmと変化させた場
合の厚膜のX線回折図を示したものである。
布厚みを10μm115μm130μmと変化させた場
合の厚膜のX線回折図を示したものである。
第1図の図中において、O印をつけたものはYBa2C
u307−δの(00又)回折線のピークを示すもので
、塗布膜厚が10μm以下に著しく配向が進んでいるこ
とが確認される。
u307−δの(00又)回折線のピークを示すもので
、塗布膜厚が10μm以下に著しく配向が進んでいるこ
とが確認される。
(発明の効果)
このように本方法によれば配向した結晶性の高い超伝導
性厚膜が製造することができる。
性厚膜が製造することができる。
本発明によれば従来用いられていた超伝導体薄膜に比べ
て安価にデバイスを作成することができ、ジョセフソン
素子や超伝導トランジスタや超伝導配線のLSI等を実
装することができる配線基板や5QUIDに応用が期待
されるものである。
て安価にデバイスを作成することができ、ジョセフソン
素子や超伝導トランジスタや超伝導配線のLSI等を実
装することができる配線基板や5QUIDに応用が期待
されるものである。
第1図ケ兵勃士山社は実施例において得られた超伝導厚
膜のX線回折図である。
膜のX線回折図である。
Claims (1)
- (1)希土類−バリウム−銅系の酸化物からなる超伝導
体を有機ビヒクルとともに混練したペーストを、スクリ
ーン印刷により所望の形状に部分安定化ジルコニア基板
上に形成し、塗布厚さを10μm以下の厚さとし、酸化
性雰囲気中950℃以上1000℃以下の温度で、焼成
時間が10分以下の条件で焼成することを特徴とする超
伝導体厚膜の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63066465A JPH01238190A (ja) | 1988-03-18 | 1988-03-18 | 超伝導体厚膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63066465A JPH01238190A (ja) | 1988-03-18 | 1988-03-18 | 超伝導体厚膜の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01238190A true JPH01238190A (ja) | 1989-09-22 |
Family
ID=13316559
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63066465A Pending JPH01238190A (ja) | 1988-03-18 | 1988-03-18 | 超伝導体厚膜の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01238190A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0269990A (ja) * | 1988-09-05 | 1990-03-08 | Mitsubishi Mining & Cement Co Ltd | セラミック超伝導体配線板の製造方法 |
-
1988
- 1988-03-18 JP JP63066465A patent/JPH01238190A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0269990A (ja) * | 1988-09-05 | 1990-03-08 | Mitsubishi Mining & Cement Co Ltd | セラミック超伝導体配線板の製造方法 |
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