JPH01243024A - パターン化された高分子膜を用いる液晶配向膜およびその製法 - Google Patents

パターン化された高分子膜を用いる液晶配向膜およびその製法

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JPH01243024A
JPH01243024A JP7119688A JP7119688A JPH01243024A JP H01243024 A JPH01243024 A JP H01243024A JP 7119688 A JP7119688 A JP 7119688A JP 7119688 A JP7119688 A JP 7119688A JP H01243024 A JPH01243024 A JP H01243024A
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film
liquid crystal
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rays
pattern
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JP7119688A
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Masakazu Kamikita
正和 上北
Hiroshi Awaji
弘 淡路
Makoto Murata
誠 村田
Satoshi Mizunuma
聡 水沼
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Kanegafuchi Chemical Industry Co Ltd
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Kanegafuchi Chemical Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、液晶表示素子の構成要素である液晶配向膜お
よびその製造方法に関するものである。
[従来技術および発明が解決しようとする課題]電界の
作用により駆動する液晶表示素子においては、液晶分子
をきれいに並べて美しい表示をするため、またはガラス
基板上の電極と液晶分子が直接接触して発生する劣化を
防ぐため、電極のついた基板上に液晶配向膜を設けてい
る。
液晶配向膜の形成方法としては、従来から行なわれてい
るラビング法がある。この方法は、電極上に塗布された
配向膜を織布などで一定方向にこすり表面に溝をつける
という単純な方法であり、その低コストとそれからえら
れる物性のために広く採用されている。ところが、この
方法では配向膜表面の広い面積に渡って均一に微細で平
行な溝を形成することは困難である。
大面積と画素数の増加が望まれるようになると表示の均
一性が不充分であったり、ラビング時の配向膜表面の傷
、駆動電極の破損により配向不良や品質低下、はこりに
よる欠陥などが重要な問題になってきている。
一方、ラビングを行なわずに液晶を配向させる方法とし
ては斜蒸着法があるが、大面積化とコスト高の問題があ
る。そこでラビングせずに良好な配向かえられる方法が
求められていた。
ラビング法に代る溝の形成方法として最近、次のような
技術が新しく提案された。ひとつは高分子被膜を逆スパ
ツタリング処理し、微細な凹凸を形成する方法(特開昭
(i2−215925号公報)である。しかし、この方
法では凹凸の大きさ、形状、密度を精密に制御すること
はできない。
もうひとつは配向膜表面に分子オーダーの凹凸を形成す
る方法(特開昭62−215926号、特開昭[12−
215927号公報)であるか、これらの公報にはその
凹凸の形成方法がなんら記載されていない。
[課題を解決するための手段] そこで本発明者らは、リソグラフィー技術を利用し、配
向膜表面に溝状のパターンを形成することにより前記問
題点を解決した。即ち、少なくとも電極層を形成した基
板上に感光性高分子のゆ布膜を形成したのち、微細な平
行縞状のパターンをもつマスクを通して紫外線、X線を
照射したのち、または細く絞った電子線を照射したのち
現像、ばあいによってはさらに閉環処理をすることによ
り、微細で平行な溝状のパターンをもつ高分子化合物の
液晶配向膜が作製できることを見出し、実用的な液晶配
向膜を完成するに至った。
本発明で使用する高分子化合物は、光、電子線またはX
線で架橋または分解する感光性を有しているものであれ
ばとくに限定はされない。
その望ましい一般例としては少なくとも2個の炭素原子
を有する少なくとも2価の第1の遊離基R1と、少なく
とも2個の炭素原子を有する少なくとも2価の第2の遊
離基R2とが2価の結合基によって交互に連結されてい
る線状の繰りかえし単位を有し、かつ共有結合によって
同じ繰りかえし単位へ結合した置換基を含むこともある
炭素数1〜42の炭化水素含有基または水素原子である
R3を少なくとも1つ、好ましくは2つ含む高分子化合
物である。また、炭化水素含有基はイオン結合で付与さ
れてもよい。イオン結合で炭化水素含有基を付与された
高分子化合物は、少なくとも2個の炭素原子を有する少
なくとも3価の第1の遊離基R1と、少なくとも2個の
炭素原子を存する少なくとも2価の第2の遊離基R2と
が2価の結合基によって交互に連結されている線状の繰
返し単位を有し、かつイオン結合によって同じ繰返し単
位へ結合した、置換基を含むこともある炭素数1〜42
の炭化水素含有基または水素原子R3を少な(とも1つ
含んでいる高分子化合物である。
以上の高分子化合物の中で第1および第2の遊離基R1
およびR2の一方または両方が少なくとも6個の炭素を
有するベンゼノイド構造の基であるときには、えられる
薄膜の耐熱性のすぐれたものかえられるのみならず、ベ
ンゼノイド構造の紫外部の吸収帯は紫外部の光が薄膜に
効率的に吸収されるのを助けると思われる。
さらに高分子化合物が5員環または6員環を生成する前
駆体構造を備えていると、反応させて、5員環または6
員環をもつ耐熱性の構造へ変換できるので望ましい。
本発明に用いる高分子化合物の望ましい具体例をあげる
と以下のとおりである。
[以下余白〕 (6)式中、R6は、 −0+、   −co −、−s +、   −5Oz
 +。
R7:アルキルまたはアリール基などである。
(1)〜■で、R3は水素原子または炭素数1〜42の
炭化水素含有基であり、好ましいものとして脂肪族、環
状脂肪族と脂肪族、芳香族と脂肪族の結合した基、それ
らの置換体から選ばれた1価の基があげられ、それらの
具体例としてはまた、R3が2量化または重合可能な不
飽和結合を含むばあいの具体例としてはたとえば、CH
z、=CHCCHzブ。
CH3(CHz)IC=C−C=C(CHzr「。
(l+m+1−p) CH3 CHz=C−C−0(CHz)p−。
CHz ” CHCFIzOC(GHz)p −(pは
10〜30)などがあげられる。
重合性不飽和結合を含むR3の具体例の多くの例が示す
ように、重合性不飽和結合をもつ1価の基が、−0−、
−COO−、−NIICO−1−CO−1−S−1−C
3S−、−NHO2−5−C8−などで−(C)12)
n−に置換され誘導体となった基も本発明の望ましい実
施態様である。
これらに対する置換基としてはハロゲン原子、ニトロ基
、アミノ基、シアノ基、メトキシ基、アセトキシ基など
があるが必須ではない。
本発明の高分子化合物の分子量についてはとくに限定は
ない。しかし分子量が低くても、本発明の製膜方法によ
って製膜は可能であるが、良好な耐熱性、機械的強度、
耐薬品性をうろことはできない。また一方分子量が大き
すぎると、粘度が高すぎて製膜がうまくいかない。従っ
て、数平均分子量は2,000〜300.000程度で
、好ましくは10,000〜150.000程度である
また、イオン結合により炭化水素含有基を導入した高分
子化合物の実用的な具体例をあげると以下のとおりであ
る。
[以下余白] ((23)式中、R6は(6)式の定義に同じ〕(3)
〜(34)式中、−は異性を表す。
例えば、下式(3)で説明すれば、 および を表わす。
本発明は(3−1)または(3−2)が単独であるばあ
い、(3−1)と(3−2)が共存するばあいを含んで
いる。(2υ〜(34)のR3、R4、R5の少なくと
も一つは(1)〜■のR3の定義とその例に同じであり
、他は置換基を有することもある炭素数1〜42の炭化
水素含有基または水素原子であり、好ましくは炭素数1
〜4の炭化水素含有基または水素原子である。
高分子化合物としては前記のものを使うことができるが
、市販の感光性高分子溶液を用いるほうがより簡便であ
る。たとえば、感光性ポリイミドのばあいにはバイラリ
ン(デュポンジャパンリミテッド社製)、フォトニース
(■東し製)、セレクティラックス(メルク社製)など
を用いることができる。
次に、パターン化の方法について説明する。
まず基板上に高分子化合物の塗布膜を作製する。膜厚と
しては通常0.1〜5遍が好ましい。
塗布法としてはスピンコード、キャスト、デイツプ法な
どが採用される。ついでこの塗布膜にマスクを通して紫
外線、X線などを照射するか、電子線を照射して描画す
る。とくに紫外線が望ましく、さらにKrFなどのエキ
シマ−レーザー光を使うことは高解像度のパターンをう
ろことができ、露光時間を短縮することもできるので望
ましい。
たとえばポジマスクを通して紫外線を露光したのち、露
光部を現像剤で溶解除去することによってパターンをう
ることができる。
このばあいSJ、 Kosar rLlght Sen
sltlveSystems J  (John Wi
ley & 5ons、 Inc、 NewYork、
 1985)の9.143〜148.180〜188に
記載されている増感剤を用いることが好ましいばあいが
ある。たとえばミヒラケトン、ベンゾイルエーテル、2
−1−ブチル−9,10−アントラキノン、1.2−ベ
ンゾ−9,10−アントラキノン、4,4゛−ビス(ジ
エチルアミノ)ベンゾフェノンなどがある。
現像剤は、ジメチルアセトアミド、ジメチルホルムアミ
ド、ジメチルスルホキシド、ヘキサメチルホスホルアミ
ド、N−メチルピロリドンなどと、メタノール、エタノ
ールなどとの混合溶剤系が好ましい。また、アンモニア
水やアルカリ性溶液も使用可能なばあいがある。
かくしてえられる本発明の液晶配向膜(3)は、たとえ
ば第1〜2図に示すように、ガラス基板(1)に形成さ
れた透明電極(2)上に溝状のパターンを有するように
形成されている。第1図に示す実施態様は電極(2)面
まで溝(4)が形成されているものであるが、第2図に
示すように配向膜(3)の底部に一部高分子膜を残すよ
うに設計してもよい。
溝の深さ(ω、溝の福山)および溝の間隔、すなわちラ
イン幅(C)はいずれも10〜3000nm、生産性の
点から好ましくは50〜1000nfflの範囲に入る
のが好ましい。なおそれらの関係は必ずしも等しくなく
てもよく、用途、液晶型式、液晶材料などによって適宜
選定すればよい。
溝の深さ(ωは照射時のエネルギーによって調節するこ
とができ、溝の幅(b>とライン幅(C)、いわゆるラ
インアンドスペースのサイズは紫外線およびX線露光の
ばあいはマスクのラインアンドスペースのサイズにより
、電子線露光のばあいは電子線の線幅と描画の間隔によ
り調節できる。
さらに、これらの方法によってえられた本発明の高分子
化合物のパターンは、該高分子化合物が5員環または6
員環を生成する前駆体構造を備えているばあいには、パ
ターンをえたのち反応させて5員環または6員環の構造
へと変換して、耐熱性高分子薄膜のパターンを形成する
ことができ、分子構造の選択によって300℃以上、好
ましくは500℃以上の耐熱性を実現することができる
。(1)〜(34)の例のうち、(3)〜四、および(
2Il〜(30)かへテロ原子を含む5員環または6H
環へ部分的に、または完全に閉環させることができる例
であり、完全閉環後の構造は次のようになる。
閉環の方法についてはとくに限定されないが、たとえば
先の(5)式の具体例であるイミド化のばあいには30
0〜400℃近辺の温度に加熱することによって(5)
式の高分子化合物 (5)” + 2 R3011 の反応が起って閉環が達成される。このとき、エステル
化のために導入した基がアルコールとして脱離するが、
この脱離したアルコールは200’〜400℃近辺の温
度で必要ならガスの流れの下に置くか、真空下に置くこ
とによって飛散させることができるので非常に耐熱性の
よいポリイミド薄膜をうろことができる。
勿論、一般的なイミド化の際に使用される無水酢酸やピ
リジン、イソキノリンのような化学キュア剤、またはそ
れと熱を併用してもよい。
液晶素子は、このように作製した液晶配向膜を形成した
2枚のガラス基板の高分子膜面同志を対向させた状態に
保持して一部を残して接着し、このように接着したセル
に、この開口部から強誘電性液晶を注入したのち、開口
部を封止することによりえられる。
つぎに実施例をあげて本発明の液晶配向膜を説明するが
、本発明はかかる実施例のみに限定されるものではない
実施例 フエトニース3100 (■東し製の感光性樹脂)をネ
サパターンを形成したガラス基板上にスピンコーターを
用いて塗布しく 3000回転で30秒間)、膜厚1.
3虜とする。次に、クリーンオーブンを用いて80℃で
60分間プリベークする。この前駆体の薄膜を1虜のラ
インアンドスペースを持つフォトマスクを通して超高圧
水銀灯(10Ilv/C112)テ3秒間露光する。
次いで、専用現像液DV−140(−東し製)を用いて
超音波現像しく35秒間、25°C)、インプロパツー
ルを用いて超音波リンスをする(15秒間、25℃)。
最後に、窒素雰囲気中で熱キユアしイミド化する(18
0℃30分間+ 300℃30分間+ 400’030
分間)。
えられた配向膜の溝状パターンの溝の深さは550na
+、溝の幅は11000n、ライン幅は11000nで
ある。
このように作製した液晶配向膜を形成した2枚のガラス
基板のポリイミド膜面同志を対向させた状態に保持して
、一部を残して接着する。
このように接着したセルに、この開口部から強誘電性液
晶(メルク社製、ZL13489)を注入したのち、開
口部を封止して液晶素子を作製する。
このセルを用いて液晶の配向性を評佑したところ配向む
らのない良好な配向性を示した。
液晶として強誘電性液晶を用いたが、必ずしもこれに限
定されるものではなく、ツィステッドネマチック型およ
びスーパーツィステッドネマチック型でもよい。
[発明の効果コ この発明は以上説明したように、感光性高分子化合物の
塗布膜に紫外線、電子線、またはX線を照射して露光し
、現像、ばあいによっては閉環することで作製したパタ
ーン化された高分子膜を液晶配向膜に応用することで、
従来のラビング法で生じていた配向膜表面の傷や膜のは
がれ、駆動電極の破損とそれによる配向不良や表示素子
の品質低下を防ぐことが可能であり、良好な配向性と高
い耐熱性を有する液晶配向膜を作製することが可能であ
る。
【図面の簡単な説明】
第1〜2図はいずれも本発明の液晶配向膜を基板上に設
けたときの概略斜視図である。 (図面の主要符号) (1)ニガラス基板 (21=透明電極 (3):配向膜 (4):溝 (a):溝の深さ 山):溝の幅 (C)ニライン幅 特許出願人  鐘淵化学工業株式会社

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 少なくとも電極層が形成された基板上に形成されて
    いる平行な溝状のパターンをもつ高分子膜である液晶配
    向膜。 2 溝状のパターンの溝の垂直方向の深さが10nm〜
    3000nm、好ましくは50nm〜1000nmとな
    っていることを特徴とする請求項1記載の液晶配向膜。 3 溝状のパターンの溝の水平方向の幅が10nm〜3
    000nm、好ましくは50nm〜1000nmとなっ
    ていることを特徴とする請求項1記載の液晶配向膜。 4 溝状のパターンの溝の間隔が10nm〜3000n
    m、好ましくは50nm〜1000nmとなっているこ
    とを特徴とする請求項1記載の液晶配向膜。 5 感光性高分子化合物の塗布膜に紫外線、電子線、ま
    たはX線を照射したのち、現像、ばあいよっては閉環処
    理をしてえられた請求項1、請求項2、請求項3または
    請求項4記載の液晶配向膜の製造法。
JP7119688A 1988-03-24 1988-03-24 パターン化された高分子膜を用いる液晶配向膜およびその製法 Pending JPH01243024A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5587822A (en) * 1994-01-28 1996-12-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Liquid crystal orientation control layer method and apparatus for manufacturing the same and mask for use in the manufacturing

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5587822A (en) * 1994-01-28 1996-12-24 Samsung Electronics Co., Ltd. Liquid crystal orientation control layer method and apparatus for manufacturing the same and mask for use in the manufacturing

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