JPH01243398A - X線撮影装置 - Google Patents
X線撮影装置Info
- Publication number
- JPH01243398A JPH01243398A JP7092488A JP7092488A JPH01243398A JP H01243398 A JPH01243398 A JP H01243398A JP 7092488 A JP7092488 A JP 7092488A JP 7092488 A JP7092488 A JP 7092488A JP H01243398 A JPH01243398 A JP H01243398A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- brightness
- ray
- exposure time
- optimal
- conditions
- Prior art date
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- Granted
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、自動輝度調整を行なえるX線撮影装置に関し
、特に、管電圧の依存度を少なくして適正輝度のシネ撮
影を行なえるようにしたX線撮影装置に関する。
、特に、管電圧の依存度を少なくして適正輝度のシネ撮
影を行なえるようにしたX線撮影装置に関する。
(従来の技術)
従来、X線撮影装置に備わっている自動輝度調整は、曝
射時間(ms)を固定として最適輝度となるべく管電圧
(kV)と管電流(mA)とを適宜調整するものとなっ
ている。
射時間(ms)を固定として最適輝度となるべく管電圧
(kV)と管電流(mA)とを適宜調整するものとなっ
ている。
′ (発明が解決しようとする課題)
このような自動輝度調整を備えている従来のX線撮影装
置では、シネ撮影においてそのI!L迩輝度調整を、予
定の曝射時間、mAの下でkVを可変することにより実
現しているが、被写体の厚さによってkVの変化が大き
く、体厚が薄い場合はkVは低く、体厚が厚い場合はk
Vは高くなりすぎるという問題点があった。
置では、シネ撮影においてそのI!L迩輝度調整を、予
定の曝射時間、mAの下でkVを可変することにより実
現しているが、被写体の厚さによってkVの変化が大き
く、体厚が薄い場合はkVは低く、体厚が厚い場合はk
Vは高くなりすぎるという問題点があった。
そこで本発明の目的は、シネ撮影に際してkVの依存度
を少なくしてI&適輝度に設定できるようにしたX線撮
影装置を提供することにある。
を少なくしてI&適輝度に設定できるようにしたX線撮
影装置を提供することにある。
[発明の構成]
(諜Uを解決するための手段)
本発明は上記課題を解決し且つ目的を達成するなめに次
のような手段を講じた構成としている。
のような手段を講じた構成としている。
すなわち、本発明は、自動輝度調整を行なえるX線撮影
装置において、シネ撮影に先達つテストX線曝射にあっ
ては管電圧を固定とし且つ曝射時間を可変としてI&適
輝度となるX線条件を求め、シネ撮影にあっては前記最
適輝度条件となる曝射時間を固定とし且つ管電圧、管電
流を可変して自動輝度調整を行う制御手段を具備したこ
とを特徴とする。
装置において、シネ撮影に先達つテストX線曝射にあっ
ては管電圧を固定とし且つ曝射時間を可変としてI&適
輝度となるX線条件を求め、シネ撮影にあっては前記最
適輝度条件となる曝射時間を固定とし且つ管電圧、管電
流を可変して自動輝度調整を行う制御手段を具備したこ
とを特徴とする。
(作 用)
このような構成によれば、予め固定した管電圧で最fl
ff度となるX線条件にてシネ撮影をスタートさせるこ
とができるので、シネ撮影時には前記予め固定した管電
圧の値又はその近傍値、に管電圧を調整するだけで最適
輝度とすることができる。
ff度となるX線条件にてシネ撮影をスタートさせるこ
とができるので、シネ撮影時には前記予め固定した管電
圧の値又はその近傍値、に管電圧を調整するだけで最適
輝度とすることができる。
(実施例)
以下本発明にかかるX線撮影装置の一実施例を第1図を
参照して説明する。
参照して説明する。
第1図において、1はX線を曝射するX線管で、高電圧
発生装置2に接続されている。X線管1は、高電圧発生
装置2がXIl制御系の信号を受けて決まるX線条件(
kV、mA、ms)によりX線を曝射し、そのX線は被
検体3を透過してイメージインテンシャファイヤ4に入
射し、光電変換されて被検体透過像を生成させる。この
像は光学分配器(光学系)5によりシネカメラ6とテレ
ビカメラ7に光学的に分配され、それぞれシネカメラ6
ではシネフィルムに、またテレビカメラ7ではテレビカ
メラ制御ユニット8を経てTVモニタ9に画像として映
し出される。
発生装置2に接続されている。X線管1は、高電圧発生
装置2がXIl制御系の信号を受けて決まるX線条件(
kV、mA、ms)によりX線を曝射し、そのX線は被
検体3を透過してイメージインテンシャファイヤ4に入
射し、光電変換されて被検体透過像を生成させる。この
像は光学分配器(光学系)5によりシネカメラ6とテレ
ビカメラ7に光学的に分配され、それぞれシネカメラ6
ではシネフィルムに、またテレビカメラ7ではテレビカ
メラ制御ユニット8を経てTVモニタ9に画像として映
し出される。
ここで、これらの画像が常に一定輝度で観察でるように
自動輝度調整機構が具備されているが、その動作原理は
、次のようになっている。光学系5の内部には、画像の
明るさを検出するフォトマルが内蔵されており、光量す
なわち画像の輝度が電気信号に変換される。この信号は
アンプ10により増幅される。アンプ11は、アンプ1
0により増幅された信号をコンデンサ11により積分す
るための演算増幅器である。スイッチ13は、X線曝射
がスタートすると開き、X線曝射が終了して閉じるよう
になっている。このアンプ11とコンデンサ12、スイ
ッチ13にて構成される回路は、サンプルホールド回路
であり、このサンプルホールド回路により画像の輝度を
検出することができる。検出された輝度はCPU14に
より制御されているマルチプレクサ15を経てA /
D変換器16によりアナログ/デジタル変換されてCP
U14にデータとして取り込まれる。
自動輝度調整機構が具備されているが、その動作原理は
、次のようになっている。光学系5の内部には、画像の
明るさを検出するフォトマルが内蔵されており、光量す
なわち画像の輝度が電気信号に変換される。この信号は
アンプ10により増幅される。アンプ11は、アンプ1
0により増幅された信号をコンデンサ11により積分す
るための演算増幅器である。スイッチ13は、X線曝射
がスタートすると開き、X線曝射が終了して閉じるよう
になっている。このアンプ11とコンデンサ12、スイ
ッチ13にて構成される回路は、サンプルホールド回路
であり、このサンプルホールド回路により画像の輝度を
検出することができる。検出された輝度はCPU14に
より制御されているマルチプレクサ15を経てA /
D変換器16によりアナログ/デジタル変換されてCP
U14にデータとして取り込まれる。
一方、輝度が最適になるための設定値は、その入力端子
17より入力し、画像の輝度信号と同様にマルチプレク
サ15を経てCPU14に取り込まれる。ここで、CP
U14では、サンプルホールド回路からの輝度信号の積
分値と入力端子17からの輝度設定値の両者を比較し、
輝度設定値に対して輝度信号の積分値が高い場合にはX
MA条件を低くするように、また低い場合にはX4を条
件を高くするように動作する。これにより、被写体厚の
変化、すなわちX線吸収の大小によらず、常に一定の輝
度で画素を観察することができる。
17より入力し、画像の輝度信号と同様にマルチプレク
サ15を経てCPU14に取り込まれる。ここで、CP
U14では、サンプルホールド回路からの輝度信号の積
分値と入力端子17からの輝度設定値の両者を比較し、
輝度設定値に対して輝度信号の積分値が高い場合にはX
MA条件を低くするように、また低い場合にはX4を条
件を高くするように動作する。これにより、被写体厚の
変化、すなわちX線吸収の大小によらず、常に一定の輝
度で画素を観察することができる。
この場合、X線条件は、CPU14により制御され、k
V、mAそれぞそれD /’ A変換器18゜18によ
りデジタル/アナログ変換されて高電圧発生装置2に信
号として送出される。
V、mAそれぞそれD /’ A変換器18゜18によ
りデジタル/アナログ変換されて高電圧発生装置2に信
号として送出される。
また、XIl曝射時間はCPU14により制御されてお
り、プログラマブルタイマ19に設定された時間だけX
線曝信号を高電圧発生袋!2に送出する。高電圧発生装
置2は、これらのkV傷信号mA傷信号X線唱射信号に
応じてX線管1よりX線を発生させる。
り、プログラマブルタイマ19に設定された時間だけX
線曝信号を高電圧発生袋!2に送出する。高電圧発生装
置2は、これらのkV傷信号mA傷信号X線唱射信号に
応じてX線管1よりX線を発生させる。
上記の如くのX線制御系において、シネ撮影の開始前に
その最3+1X線条件を求めるために、あらかじめ設定
された管電圧でテストxis射を行ない、その輝度信号
の積分値を設定値と比較するが、第2図(a)(b)に
示すように、最初、最短X線曝射時間での信号比較を行
ない、設定値に対して信号出力が小さい場合、その次の
2番目のテストX線曝射はその許容される最長X線曝射
時間で行なう。
その最3+1X線条件を求めるために、あらかじめ設定
された管電圧でテストxis射を行ない、その輝度信号
の積分値を設定値と比較するが、第2図(a)(b)に
示すように、最初、最短X線曝射時間での信号比較を行
ない、設定値に対して信号出力が小さい場合、その次の
2番目のテストX線曝射はその許容される最長X線曝射
時間で行なう。
2番目のX線曝射での信号比較で設定値に対して信号出
力が大きい場合、3番目のX線X線曝射は、その信号出
力の設定値との比に応じてX線曝射時間を雉<シて行な
い、フォトマル出力信号の積分値が輝度設定値である最
適出力値になったらテストX線曝射を停止する。この時
のxiai射時間は、プログラマブルタイマ1つにセッ
トされ、撮影のX!l[l射時間とする。
力が大きい場合、3番目のX線X線曝射は、その信号出
力の設定値との比に応じてX線曝射時間を雉<シて行な
い、フォトマル出力信号の積分値が輝度設定値である最
適出力値になったらテストX線曝射を停止する。この時
のxiai射時間は、プログラマブルタイマ1つにセッ
トされ、撮影のX!l[l射時間とする。
撮影がスタートすると、このX1!曝射時間は固定され
、従来通りkV、mAを制御しながら自動輝度調整が行
なわれる。
、従来通りkV、mAを制御しながら自動輝度調整が行
なわれる。
2番目のテストX線曝射による信号比較で、まだ設定値
に対して信号出力が小さい場合、3番目のテストX線曝
射はあらかじめ決められた値(数kV)だけ管電圧を高
くし、最短X線曝射時間での信号比較を行なう、この場
合を第3図(a) (b)に示す、それ以後、a*X線
条件を求めるまでの方法は前述した場合と同じである。
に対して信号出力が小さい場合、3番目のテストX線曝
射はあらかじめ決められた値(数kV)だけ管電圧を高
くし、最短X線曝射時間での信号比較を行なう、この場
合を第3図(a) (b)に示す、それ以後、a*X線
条件を求めるまでの方法は前述した場合と同じである。
kVを高くして、その最長XR曝射時間でも最適信号出
力が得られない場合は、撮影できないものとしてテスト
曝射を停止して撮影シーケンスも停止させる。
力が得られない場合は、撮影できないものとしてテスト
曝射を停止して撮影シーケンスも停止させる。
最初のテストX線曝射による信号比較で、設定値に対し
て信号出力が大きい場合、2番目のテストX線曝射は、
あらかじめ決められた値(数kV)だけ管電圧を低くし
て、]&短X線唱射時間での信号比較を行なう、この場
合を第4図(a)(b )に示す。それ以後、f&適X
線条件を求めるまでの方法は前述した場合と同じである
。2番目のf&短X線曝射時間での信号比較でまだ設定
値に対して信号出力が大きい場合は、撮影できないもの
としてテストX線曝射を停止して撮影シーケンスも停止
させる。
て信号出力が大きい場合、2番目のテストX線曝射は、
あらかじめ決められた値(数kV)だけ管電圧を低くし
て、]&短X線唱射時間での信号比較を行なう、この場
合を第4図(a)(b )に示す。それ以後、f&適X
線条件を求めるまでの方法は前述した場合と同じである
。2番目のf&短X線曝射時間での信号比較でまだ設定
値に対して信号出力が大きい場合は、撮影できないもの
としてテストX線曝射を停止して撮影シーケンスも停止
させる。
最短X線曝射時間による信号比較をした場合、フォーマ
ル出力信号波形が!&適出出力近い値になった時には、
その次のX線曝射を最長xi曝射時間に設定せずに、そ
の信号出力と最適出力との比でX線曝射時間を設定して
f!kaX線条件を求めることは言うまでもない。
ル出力信号波形が!&適出出力近い値になった時には、
その次のX線曝射を最長xi曝射時間に設定せずに、そ
の信号出力と最適出力との比でX線曝射時間を設定して
f!kaX線条件を求めることは言うまでもない。
以上のように本実施例では、あらかじめ設定されたkV
にて撮影時間を変化させながらテストX線曝射を行なう
時、その設定可能な最大曝射時間と最小曝射時間でテス
トX線曝射し、その2つのX線曝射時間の範囲内でfk
週X線曝射条件が求められる場合に、3回目のテストX
線曝射は、最適条件になったら途中でX!I@射をスト
ップさせ、その曝射時間を記憶し、そのaax4tq射
時間により撮影をスタートさせるようにしたことにより
、撮影部位などに応じた任意のkVと撮影がスタートで
き、スタート後の自動輝度調整もスタート時のkV付近
で撮影することができる。
にて撮影時間を変化させながらテストX線曝射を行なう
時、その設定可能な最大曝射時間と最小曝射時間でテス
トX線曝射し、その2つのX線曝射時間の範囲内でfk
週X線曝射条件が求められる場合に、3回目のテストX
線曝射は、最適条件になったら途中でX!I@射をスト
ップさせ、その曝射時間を記憶し、そのaax4tq射
時間により撮影をスタートさせるようにしたことにより
、撮影部位などに応じた任意のkVと撮影がスタートで
き、スタート後の自動輝度調整もスタート時のkV付近
で撮影することができる。
従って、自動輝度調整は、kV、mAにて行なうため、
大きな被写体厚変化にも従でき、撮影目的に応じて常に
安定した濃度の写真を得ることができる。
大きな被写体厚変化にも従でき、撮影目的に応じて常に
安定した濃度の写真を得ることができる。
本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明
の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施できるもの
である。
の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施できるもの
である。
[発明の効果〕
以上のように本発明では、シネ撮影に先立つテストX線
曝射にあっては管電圧を固定とし且つ曝射時間を可変と
して最Wi輝度となるX線条件を求め、シネ撮影にあっ
ては前記最3i!!!1度条件となる曝射時間を固定と
し且つ管電圧、管を流を可変して自動輝度調整を行うこ
とにより、予め固定した管電圧で最″i!i輝度となる
X線条件でシネ撮影をスタートさせることができるので
、シネ撮影時には予め固定−した゛管電圧の値又はその
近傍値に管電圧を調整するだけでfiWi輝度とするこ
とができる。 ゛従って、本発明によれば、シネ撮影を
、kVの依存度を少なくして最適輝度に設定できるよう
にしたX線撮影袋!を提供できる。
曝射にあっては管電圧を固定とし且つ曝射時間を可変と
して最Wi輝度となるX線条件を求め、シネ撮影にあっ
ては前記最3i!!!1度条件となる曝射時間を固定と
し且つ管電圧、管を流を可変して自動輝度調整を行うこ
とにより、予め固定した管電圧で最″i!i輝度となる
X線条件でシネ撮影をスタートさせることができるので
、シネ撮影時には予め固定−した゛管電圧の値又はその
近傍値に管電圧を調整するだけでfiWi輝度とするこ
とができる。 ゛従って、本発明によれば、シネ撮影を
、kVの依存度を少なくして最適輝度に設定できるよう
にしたX線撮影袋!を提供できる。
第1図は本発明にかかるx4tm影装置の一実施例の構
成を示す図、第2図〜第4図はそれぞれ同時実施例の動
作波形図である。 1・・・X線源、2・・・高電圧発生装置、3・・・被
検体、4・・・イメージインテンシファイヤ、5・・・
光学分配器、6・・・シネカメラ、7・・・テレビカメ
ラ、8・・・テレビカメラ制御ユニット、9・・・TV
モニタ、10゜11・・・アンプ、12・・・コンデン
サ、13・・・スイッチ、14・・・CPU、15・・
・マルチプレクサ、16A/D変換器、17・・・入力
端子、18・・・A/D変換器、19・・・プログラマ
ブルタイマ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦
成を示す図、第2図〜第4図はそれぞれ同時実施例の動
作波形図である。 1・・・X線源、2・・・高電圧発生装置、3・・・被
検体、4・・・イメージインテンシファイヤ、5・・・
光学分配器、6・・・シネカメラ、7・・・テレビカメ
ラ、8・・・テレビカメラ制御ユニット、9・・・TV
モニタ、10゜11・・・アンプ、12・・・コンデン
サ、13・・・スイッチ、14・・・CPU、15・・
・マルチプレクサ、16A/D変換器、17・・・入力
端子、18・・・A/D変換器、19・・・プログラマ
ブルタイマ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦
Claims (1)
- 自動輝度調整を行なえるX線撮影装置において、シネ撮
影に先立つテストX線曝射にあっては管電圧を固定とし
且つ曝射時間を可変として最適輝度となるX線条件を求
め、シネ撮影にあつては前記最適輝度条件となる曝射時
間を固定とし且つ管電圧、管電流を可変して自動輝度調
整を行う制御手段を具備したことを特徴とするX線撮影
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63070924A JP2680334B2 (ja) | 1988-03-25 | 1988-03-25 | X線撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63070924A JP2680334B2 (ja) | 1988-03-25 | 1988-03-25 | X線撮影装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01243398A true JPH01243398A (ja) | 1989-09-28 |
| JP2680334B2 JP2680334B2 (ja) | 1997-11-19 |
Family
ID=13445543
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63070924A Expired - Fee Related JP2680334B2 (ja) | 1988-03-25 | 1988-03-25 | X線撮影装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2680334B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105072791A (zh) * | 2015-08-06 | 2015-11-18 | 南宁一举医疗电子有限公司 | 医用诊断x射线高频高压发生器摄透控制系统及控制方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6362197A (ja) * | 1986-08-30 | 1988-03-18 | Shimadzu Corp | X線シネ自動撮影装置 |
-
1988
- 1988-03-25 JP JP63070924A patent/JP2680334B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6362197A (ja) * | 1986-08-30 | 1988-03-18 | Shimadzu Corp | X線シネ自動撮影装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105072791A (zh) * | 2015-08-06 | 2015-11-18 | 南宁一举医疗电子有限公司 | 医用诊断x射线高频高压发生器摄透控制系统及控制方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2680334B2 (ja) | 1997-11-19 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |