JPH01243425A - 半導体ウェーハ薬液処理装置 - Google Patents

半導体ウェーハ薬液処理装置

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Publication number
JPH01243425A
JPH01243425A JP63071407A JP7140788A JPH01243425A JP H01243425 A JPH01243425 A JP H01243425A JP 63071407 A JP63071407 A JP 63071407A JP 7140788 A JP7140788 A JP 7140788A JP H01243425 A JPH01243425 A JP H01243425A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor wafer
spin chuck
chemical liquid
chemical
processing apparatus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63071407A
Other languages
English (en)
Inventor
Yukihiro Yanabe
矢鍋 幸博
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Kyushu Ltd
Original Assignee
NEC Kyushu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Kyushu Ltd filed Critical NEC Kyushu Ltd
Priority to JP63071407A priority Critical patent/JPH01243425A/ja
Publication of JPH01243425A publication Critical patent/JPH01243425A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体ウェーハ薬液処理装置に関し、特にフォ
トレジストの塗布や目金露光後の現像等の薬液処理に用
いる半導体ウェーハ薬液処理装置に関する。
〔従来の技術〕
従来、この種の半導体ウェーハ薬液処理装置は、第4図
に示すように、上面に半導体ウェーハ1を真空吸着する
スピンチャック2.と、スピンチャック26を所定方向
に回転させるスピンモータ4と、スピンチャック2.の
上部から薬液を滴下させるノズル3と、スピンチャック
2.の外周と半導体ウェーハ1の底面との間に所定の間
隔をもって設けられ外周に薬液排出溝を有するカップ6
と、スピンチャック2.の底面側に設けられたバックブ
ロー吹出しノズル7と、バックブロー吹出しノズル7と
図示しない圧縮気体室とを連結する配管8とを含んで構
成されていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の半導体ウェーハ薬液処理装置は、スピン
チャックの底面中央部にバックブローを吹出すバックブ
ロー吹出ノズルを有する構成となっているので、装置と
は別に圧縮気体室とそれに伴う配管が必要になるという
欠点がある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の半導体ウェーハ薬液処理装置は、上面に半導体
ウェーハを真空吸着するスピンチャックと、該スピンチ
ャックを所定方向に回転させるスピンモータと、前記ス
ピンチャックの上部から薬液を滴下するノズルと、前記
スピンチャックの外周と前記半導体ウェーハの底面との
間に所定の間隔をもって設けられ外周に薬液排出溝を有
するカップとを備える半導体ウェーハ薬液処理装置にお
いて、前記スピンチャックの底面に前記スピンチャック
が回転したとき前記半導体ウェーハの外周に向って気流
を発生させる複数の溝を有している。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の縦断面図、第2図は第1図
の実施例のA−A’線線断断面図ある。
第1図及び第2図に示すように、本実施例と前述した第
4図の従来の半導体ウェーハ薬液処理装置との相違点は
、従来のバックブロー吹出し機構の代りにスピンチャッ
ク2の底面にスピンチャック2が回転したとき半導体ウ
ェーハ1の外周方向への気流を形成する複数の溝5を設
けた点で、その他の点は前述した第4図の半導体ウェー
ハ薬液処理装置の構成と同様であり、説明を省略する。
半導体ウェーハ1はスピンチャック2上に真空吸着され
上部の薬液滴下のノズル3から所望の薬液を滴下後、ス
ピンモータ4を駆動させることによりスピンチャック2
と半導体ウェーハ1を所定方向に回転運動させ、半導体
ウェーハ1上で所定の薬液処理を行う。
第3図は第2図のスピンチャックの斜視図である。
第3図に示すように、スピンチャック2の底面には(半
導体ウェーハ1の吸着面と反対側の面)スピンモータ4
の軸と連結されるボスを中心にして外周方向へ所定の曲
率をもって複数の溝5が設けられる。
上記の薬液処理の回転時に、スピンチャック2の底面に
設けられた半導体ウェーハ1の外周方向への気流作成用
の複数の満5と、周囲の大気との間に摩擦が生じ、これ
により気流aを作り、カップ6と半導体ウェーハ1の間
へと導き、半導体ウェーハ1の底面に薬液のミストが付
着することを、防止するバックブローを行う。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、スピンチャックの回転を
利用してバックブローの気流を作り、半導体ウェーハの
バックブローを行うことにより、歩留の低下なく製品の
処理ができる効果がある。
又、装置内に気体の配管と圧縮気体室を設けることを要
す、機構を簡略化できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の縦断面図、第2図は第1図
の実施例のA−A’線線断断面図第3図は第2図のスピ
ンチャックの斜視図、第4図は従来の半導体ウェーハ薬
液処理装置の一例の縦断面図である。 1・・・半導体ウェーハ、2,2.・・・スピンチャッ
ク、3・・・ノズル、4・・・スピンモータ、5・・・
溝、6・・・カップ、7・・・バックブロー吹出しノズ
ル、8・・・配管、a・・・気流。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  上面に半導体ウェーハを真空吸着するスピンチャック
    と、該スピンチャックを所定方向に回転させるスピンモ
    ータと、前記スピンチャックの上部から薬液を滴下する
    ノズルと、前記スピンチャックの外周と前記半導体ウェ
    ーハの底面との間に所定の間隔をもって設けられ外周に
    薬液排出溝を有するカップとを備える半導体ウェーハ薬
    液処理装置において、前記スピンチャックの底面に前記
    スピンチャックが回転したとき前記半導体ウェーハの外
    周に向って気流を発生させる複数の溝を有することを特
    徴とする半導体ウェーハ薬液処理装置。
JP63071407A 1988-03-24 1988-03-24 半導体ウェーハ薬液処理装置 Pending JPH01243425A (ja)

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JP63071407A JPH01243425A (ja) 1988-03-24 1988-03-24 半導体ウェーハ薬液処理装置

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JP63071407A JPH01243425A (ja) 1988-03-24 1988-03-24 半導体ウェーハ薬液処理装置

Publications (1)

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JPH01243425A true JPH01243425A (ja) 1989-09-28

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ID=13459631

Family Applications (1)

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JP63071407A Pending JPH01243425A (ja) 1988-03-24 1988-03-24 半導体ウェーハ薬液処理装置

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JP (1) JPH01243425A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030032333A (ko) * 2001-10-17 2003-04-26 삼성전자주식회사 진공발생용 중공축을 가진 모터

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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