JPH01251400A - Ramのチェック方法 - Google Patents
Ramのチェック方法Info
- Publication number
- JPH01251400A JPH01251400A JP63077082A JP7708288A JPH01251400A JP H01251400 A JPH01251400 A JP H01251400A JP 63077082 A JP63077082 A JP 63077082A JP 7708288 A JP7708288 A JP 7708288A JP H01251400 A JPH01251400 A JP H01251400A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ram
- block
- check
- cpu
- processing
- Prior art date
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- Pending
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- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、RAMが正常かどうかをチェックするRAM
のチェック方法に関する。
のチェック方法に関する。
(従来の技術)
コンピュータなどの電子機器においては、RAMを用い
てデータの処理などを行っている。
てデータの処理などを行っている。
第6図はこのようなコンピュータの一例を示すブロック
図である。
図である。
この図に示づコンピュータは、各種のキーを有するキー
ボード98と、CRTなどを有する表示部99と、処理
の中心となるCPU100と、このCPU100のO3
(operating system) ヤ各種の定
数データなどが格納されているROMl01と、前記C
PU100の作業エリアなどとして使用されるRAM1
02と、アプリケーションプログラムなどを入力すると
きに使用されるフロッピディスク装置103とを備えて
いる。
ボード98と、CRTなどを有する表示部99と、処理
の中心となるCPU100と、このCPU100のO3
(operating system) ヤ各種の定
数データなどが格納されているROMl01と、前記C
PU100の作業エリアなどとして使用されるRAM1
02と、アプリケーションプログラムなどを入力すると
きに使用されるフロッピディスク装置103とを備えて
いる。
そして、電源が投入されたとき、前記CPUl00は、
前記ROM101に格納されているO8に基づいて前記
フロッピディスク装置103内のアプリケーションプロ
グラムなどを処理するとともに、この処理結果を表示部
99に表示したり、RAM102や、フロッピディスク
装置103に格納したりする。
前記ROM101に格納されているO8に基づいて前記
フロッピディスク装置103内のアプリケーションプロ
グラムなどを処理するとともに、この処理結果を表示部
99に表示したり、RAM102や、フロッピディスク
装置103に格納したりする。
またこのようなコンピュータにおいては、メモリテスト
命令などが入力されたとぎ、cpu i 。
命令などが入力されたとぎ、cpu i 。
○によってRAMl0Iが正常に動作づるかどうかを1
バイト単位でチェックし、このチェック結果を表示部9
9上に表示するようにしている。
バイト単位でチェックし、このチェック結果を表示部9
9上に表示するようにしている。
第7図はこのようなメモリテスト処理の手順例を示すフ
ローチャートである。
ローチャートである。
この図に示ず如く、この処理では、まずCPLlloo
によってその内部に設けられているアドレスカウンタ1
04の1直iが“1″にセットされる(ステップ5T1
01)。
によってその内部に設けられているアドレスカウンタ1
04の1直iが“1″にセットされる(ステップ5T1
01)。
次いで、cpuiooは、ROM101内に格納されて
いる1バイトの第1チェックパターン105a (第
8図参照〉を読出しくステップ5TIO2)、これを前
記RAM102内の、前記アドレスカウンタ104の値
iによって指定された番地に書込む(ステップ5T10
3)。
いる1バイトの第1チェックパターン105a (第
8図参照〉を読出しくステップ5TIO2)、これを前
記RAM102内の、前記アドレスカウンタ104の値
iによって指定された番地に書込む(ステップ5T10
3)。
この後、CPU100は、今、書込み動作の対象となっ
た番地から1バイトだけ、データを読取るとともに、こ
の読取り動作によって得られたデータと、前記第1チェ
ックパターン105aとを比較し、これらが一致してい
るかどうかをチェックづる(ステップ5T104)。
た番地から1バイトだけ、データを読取るとともに、こ
の読取り動作によって得られたデータと、前記第1チェ
ックパターン105aとを比較し、これらが一致してい
るかどうかをチェックづる(ステップ5T104)。
そして、これらが一致していなければ、CPU100は
、この番地が正常に動作していないと判断して、エラー
処理を実行する。
、この番地が正常に動作していないと判断して、エラー
処理を実行する。
また前記読取り動作によって得られたデータと、t)η
記第1チェックパターン105aとが一致していれば、
CPU100は、未だ使用していないチェックパターン
があるかどうかをチェックする(ステップ5T105)
。
記第1チェックパターン105aとが一致していれば、
CPU100は、未だ使用していないチェックパターン
があるかどうかをチェックする(ステップ5T105)
。
この場合、第2〜第4のチェックパターン105b〜1
05dが残っているから、CP(J 100は、次のス
テップにおいて、ROM101から第2チェックパター
ン105bを読出しくステップ5T106)、この後前
記ステップST103に戻り、前記番地に対して上述し
た動作を繰り返す。
05dが残っているから、CP(J 100は、次のス
テップにおいて、ROM101から第2チェックパター
ン105bを読出しくステップ5T106)、この後前
記ステップST103に戻り、前記番地に対して上述し
た動作を繰り返す。
そして、前記番地に対して第4チェックパターン105
dの書込み動作、読込み動作が終了して、この番地が正
常であることが確認されれば、CPU100は、前記カ
ウンタ104の値iをインクリメントしくステップ5T
107)、この後前記ROM101から第1チェックパ
ターン105aを読出すくステップ5T108)。
dの書込み動作、読込み動作が終了して、この番地が正
常であることが確認されれば、CPU100は、前記カ
ウンタ104の値iをインクリメントしくステップ5T
107)、この後前記ROM101から第1チェックパ
ターン105aを読出すくステップ5T108)。
この後、CPLll 00は、前記カウンタ104の値
1に基づいて、RAM102の全番地に対して上述した
処理が終了したかどうかをチェックし、まだ処理してい
ない番地があれば、前記ステップ5T103に戻り、残
りの番地に対して上述した処理を実行する(ステップ5
T109)。
1に基づいて、RAM102の全番地に対して上述した
処理が終了したかどうかをチェックし、まだ処理してい
ない番地があれば、前記ステップ5T103に戻り、残
りの番地に対して上述した処理を実行する(ステップ5
T109)。
そして、RAM102の全番地に対して上述した処理が
終了したとき、CPU 100は、このチェック処理を
終了して、元の処理に戻る。
終了したとき、CPU 100は、このチェック処理を
終了して、元の処理に戻る。
(発明が解決しようとする課題)
ところでこのような、従来のRAMチェック方法に、1
3いては、チェック対象となるRAMIO2の全番地に
対して、第1〜第4チェックパターン1058〜105
dを3込んだり、読出したりするようにしているので、
RAM102のチェックに時間がかかりすぎるという問
題があった。
3いては、チェック対象となるRAMIO2の全番地に
対して、第1〜第4チェックパターン1058〜105
dを3込んだり、読出したりするようにしているので、
RAM102のチェックに時間がかかりすぎるという問
題があった。
本発明は上記の事情に鑑み、RAMチェックに要する時
間を大幅に短縮することができるRAMのチェック方法
を提供することを目的としている[発明の構成〕 (jm題を解決するための手段) 上記の目的を達成するために本発明によるRAMのチェ
ック方法は、RAMが正常かどうかをチェックするRA
Mのチェック方法において、前記RAMを均等な大きさ
に区分して複数のブロックを形成するとともに、最初の
ブロックから最後のブロックまで、チェックパターンを
順次、ブロック間転送させ、この後最後のブロックを経
たパターンと6tI記チェックパターンとを比較し、こ
の比較結果に基づいて前記RAMが正常かどうかを判定
することを特徴としている。
間を大幅に短縮することができるRAMのチェック方法
を提供することを目的としている[発明の構成〕 (jm題を解決するための手段) 上記の目的を達成するために本発明によるRAMのチェ
ック方法は、RAMが正常かどうかをチェックするRA
Mのチェック方法において、前記RAMを均等な大きさ
に区分して複数のブロックを形成するとともに、最初の
ブロックから最後のブロックまで、チェックパターンを
順次、ブロック間転送させ、この後最後のブロックを経
たパターンと6tI記チェックパターンとを比較し、こ
の比較結果に基づいて前記RAMが正常かどうかを判定
することを特徴としている。
(作用)
上記の構成において、RAMを均等な大きさに区分して
複数のブロックを形成するとともに、最初のブロックか
ら最後のブロックまで、チェックパターンを順次、ブロ
ック間転送させ、この後最後のブロックを経たパターン
と前記チェックパターンとを比較し、この比較結果を基
づいて前記RAMが正常かどうかを判定する。
複数のブロックを形成するとともに、最初のブロックか
ら最後のブロックまで、チェックパターンを順次、ブロ
ック間転送させ、この後最後のブロックを経たパターン
と前記チェックパターンとを比較し、この比較結果を基
づいて前記RAMが正常かどうかを判定する。
(実施例)
第1図は本発明によるRAMのチェック方法の一実施例
を適用したコンピュータのブロック図である。
を適用したコンピュータのブロック図である。
この図に示すコンピュータは、各種キーを有するキーボ
ード1と、CRTなどを有する表示部2と、処理の中心
となるCPU3と、このCPU3のO8や各種の定数デ
ータなどが格納されているROM4と、前記CPU3の
作業エリアなどとして使用されるRAM5と、アプリケ
ーションプログラムなどを入力するときに使用されるフ
ロッピディスク装置6とを備えている。
ード1と、CRTなどを有する表示部2と、処理の中心
となるCPU3と、このCPU3のO8や各種の定数デ
ータなどが格納されているROM4と、前記CPU3の
作業エリアなどとして使用されるRAM5と、アプリケ
ーションプログラムなどを入力するときに使用されるフ
ロッピディスク装置6とを備えている。
そして、電源が投入されたとき、前記CPtJ3は、前
記ROM4に格納されているO8に基づいて前記フロッ
ピディスク装置6内のアプリケーションプログラムなど
を処理するとともに、この処理結果を表示部2に表示し
たり、RAM5や、フロッピディスク装置6に格納した
りする。
記ROM4に格納されているO8に基づいて前記フロッ
ピディスク装置6内のアプリケーションプログラムなど
を処理するとともに、この処理結果を表示部2に表示し
たり、RAM5や、フロッピディスク装置6に格納した
りする。
またメモリテスト命令などが入力されたとき、CPU3
はRAMヂエック処理を行ってRAM5が正常に動作す
るかどうかをブロック単位でチェックし、このチェック
結采を表示部2上に表示させる。
はRAMヂエック処理を行ってRAM5が正常に動作す
るかどうかをブロック単位でチェックし、このチェック
結采を表示部2上に表示させる。
第2図はこのようなメモリテスト処理の手順例を示ずフ
ローチャートである。
ローチャートである。
この図に示1如く、この処理では、まず第3図に示す如
く、CPU3によってRAM5内の番地が均等な大きさ
を持つn個のブロック7に区分される。
く、CPU3によってRAM5内の番地が均等な大きさ
を持つn個のブロック7に区分される。
この後、CPU3は、ROM4から1ブロツクの大きさ
を持つ第1チェックパターンを読み出づとともに〈ステ
ップ5T1)、内部レジスタなどによって構成されてい
るアドレスカウンタ8の値nを°゛1′にする(ステッ
プST2>。
を持つ第1チェックパターンを読み出づとともに〈ステ
ップ5T1)、内部レジスタなどによって構成されてい
るアドレスカウンタ8の値nを°゛1′にする(ステッ
プST2>。
次いで、CPU3は、RAM5内の、前記アドレスカウ
ンタ8の値nによって指定されたブロック7に前記第1
チェックパターンを書込む(ステップ5T3)。
ンタ8の値nによって指定されたブロック7に前記第1
チェックパターンを書込む(ステップ5T3)。
この後、CPU3は、このブロック7の内容を読出し、
これを次のブロック7に転送するとともに(ステップ5
T4)、前記アドレスカウンタ8の値nをインクリメン
トさせ(ステップ5T5)、この後、今、行った転送動
作の転送先が最後のブロック7かどうかをチェックする
(ステップ5T6)。
これを次のブロック7に転送するとともに(ステップ5
T4)、前記アドレスカウンタ8の値nをインクリメン
トさせ(ステップ5T5)、この後、今、行った転送動
作の転送先が最後のブロック7かどうかをチェックする
(ステップ5T6)。
そして、この転送先が最後のブロックでなければ、CP
U3は、前記ステップST4に戻り、上述した動作を繰
り返す(ステップ5T6)。
U3は、前記ステップST4に戻り、上述した動作を繰
り返す(ステップ5T6)。
これによって、第3図に示づ如く、最初のブロック7に
書込まれた第1チェックパターンがブロック単位で順次
、次のブロック7に転送される。
書込まれた第1チェックパターンがブロック単位で順次
、次のブロック7に転送される。
そして、この第1チェックパターンが最後のブロック7
に転送されれば、CPU3は、この最終ブロック7の内
容を読み出すとともに、この内容と、1llI記ROM
4に格納されている第1チェックパターンとを比較し、
これらが一致しているかどうかをチェックする(ステッ
プ5T7)。
に転送されれば、CPU3は、この最終ブロック7の内
容を読み出すとともに、この内容と、1llI記ROM
4に格納されている第1チェックパターンとを比較し、
これらが一致しているかどうかをチェックする(ステッ
プ5T7)。
そして、これらが一致していなければ、CPU3は、各
ブロック7のいずれかを異常であると判断して、予め決
められたエラー処理を実行する。
ブロック7のいずれかを異常であると判断して、予め決
められたエラー処理を実行する。
また、最終ブロック7の内容と、前記ROM4に格納さ
れている第1チェックパターンとが一致していれば、C
PU3は、未だ使用していないチェックパターンが残っ
ているかどうかをチェックする(ステップ5T8)。
れている第1チェックパターンとが一致していれば、C
PU3は、未だ使用していないチェックパターンが残っ
ているかどうかをチェックする(ステップ5T8)。
この場合、チェックパターンとして、mgのパターンが
用意されているのでCPU3は、未だ使用していないチ
ェックパターンが残っていると判断して、ROM4から
次のチェックパターンを読み出すくステップ5T9)。
用意されているのでCPU3は、未だ使用していないチ
ェックパターンが残っていると判断して、ROM4から
次のチェックパターンを読み出すくステップ5T9)。
この後、CP U 3は、前記ステップST2に戻り、
上述した処理を再度、実行する。
上述した処理を再度、実行する。
そして、RAM5の全ブロック7に対して、用意されて
いる全部のチェックパターンによるチェックが終□了し
たとき、CPU3は、ステップST8でこれを検知して
、RAM5が全て正常であると判断する。
いる全部のチェックパターンによるチェックが終□了し
たとき、CPU3は、ステップST8でこれを検知して
、RAM5が全て正常であると判断する。
この後、CPtJ3は、このRAMチェック処理を終了
して、通常の処理に戻る。
して、通常の処理に戻る。
このようにこの実施例においては、RAM5に対して、
ブロック単位でチェックパターンの書込み、読出しを行
い、かつ最終ブロックに書込まれた内容に対してのみ、
比較処理を行うので、RAMチェックに要する時間を大
幅に短縮することができる。
ブロック単位でチェックパターンの書込み、読出しを行
い、かつ最終ブロックに書込まれた内容に対してのみ、
比較処理を行うので、RAMチェックに要する時間を大
幅に短縮することができる。
また上述した実施例においては、各ブロック7の内容が
保護されていないが、これら各ブロック7の内容を保護
しながら上述したRAMチェック処理を行うようにして
も良い。
保護されていないが、これら各ブロック7の内容を保護
しながら上述したRAMチェック処理を行うようにして
も良い。
第4図はこのような処理手順の一例を示すフローチャー
トである。なおこの図において、第2図の各ステップと
対応する部分には同じ符号が付しである。
トである。なおこの図において、第2図の各ステップと
対応する部分には同じ符号が付しである。
この図に示す処理が、第2図に示す処理と異なる点は、
ステップST2と、ステップST3との間に、ステップ
5T10を設けて、第5図に示す如くアドレスカウンタ
8のfjrinによって指定されたブロック7の内容を
一旦、退避させるとともに、ステップST4の前後に、
ステップ5T11、ステップ5T12を設けて、チェッ
クパターンの転送先ブロック7の内容を一旦、保存する
とともに、このブロック7に対する転送動作が終了した
とき、前記ステップ5T10で退避させた内容を元のブ
ロックに戻すようにしたことである。
ステップST2と、ステップST3との間に、ステップ
5T10を設けて、第5図に示す如くアドレスカウンタ
8のfjrinによって指定されたブロック7の内容を
一旦、退避させるとともに、ステップST4の前後に、
ステップ5T11、ステップ5T12を設けて、チェッ
クパターンの転送先ブロック7の内容を一旦、保存する
とともに、このブロック7に対する転送動作が終了した
とき、前記ステップ5T10で退避させた内容を元のブ
ロックに戻すようにしたことである。
このようにすることによって、各ブロック7の内容を保
護しながら、RAM5が正常に動作り°るかどうかをチ
ェックすることができる。
護しながら、RAM5が正常に動作り°るかどうかをチ
ェックすることができる。
〔発明の効果1
以上説明したように本発明によれば、RAMPニックに
要7るrf間を大幅に短縮することができる。
要7るrf間を大幅に短縮することができる。
第1図は本発明によるRAMのチェック方法の一実施例
を適用したコンピュータのブロック図、図、第4図は本
発明によるRAMのチェック方法の他の実施例を説明す
るためのフローチャート、第5図は第4図で示される処
理手順を説明するための模式図、第6図は一般的なコン
ピュータの一例を示ずブロック図、第7図は第6図に示
すコンピュータのRAMチェック助作例を示すフローチ
ャート、第8図はこのRAMチェック動作で使用される
チェックパターンの一例を示す模式図である。 1・・・キーボード 2・・・表示部 3・・・CPU 4・・・ROM5・・・RAM
を適用したコンピュータのブロック図、図、第4図は本
発明によるRAMのチェック方法の他の実施例を説明す
るためのフローチャート、第5図は第4図で示される処
理手順を説明するための模式図、第6図は一般的なコン
ピュータの一例を示ずブロック図、第7図は第6図に示
すコンピュータのRAMチェック助作例を示すフローチ
ャート、第8図はこのRAMチェック動作で使用される
チェックパターンの一例を示す模式図である。 1・・・キーボード 2・・・表示部 3・・・CPU 4・・・ROM5・・・RAM
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 RAMが正常かどうかをチェックするRAMのチェック
方法において、 前記RAMを均等な大きさに区分して複数のブロックを
形成するとともに、最初のブロックから最後のブロック
まで、チェックパターンを順次、ブロック間転送させ、 この後最後のブロックを経たパターンと前記チェックパ
ターンとを比較し、この比較結果に基づいて前記RAM
が正常かどうかを判定すること、を特徴とするRAMの
チェック方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63077082A JPH01251400A (ja) | 1988-03-30 | 1988-03-30 | Ramのチェック方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63077082A JPH01251400A (ja) | 1988-03-30 | 1988-03-30 | Ramのチェック方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01251400A true JPH01251400A (ja) | 1989-10-06 |
Family
ID=13623857
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63077082A Pending JPH01251400A (ja) | 1988-03-30 | 1988-03-30 | Ramのチェック方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01251400A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04275654A (ja) * | 1991-03-01 | 1992-10-01 | Nec Corp | 情報処理装置の記憶部診断方式 |
| FR2919401A1 (fr) * | 2007-07-24 | 2009-01-30 | Thales Sa | Procede de test des chemins de donnees dans un circuit electronique |
| JP2009289374A (ja) * | 2008-05-30 | 2009-12-10 | Elpida Memory Inc | 半導体記憶装置、及び該半導体記憶装置のテスト方法 |
-
1988
- 1988-03-30 JP JP63077082A patent/JPH01251400A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04275654A (ja) * | 1991-03-01 | 1992-10-01 | Nec Corp | 情報処理装置の記憶部診断方式 |
| FR2919401A1 (fr) * | 2007-07-24 | 2009-01-30 | Thales Sa | Procede de test des chemins de donnees dans un circuit electronique |
| US7913129B2 (en) | 2007-07-24 | 2011-03-22 | Thales | Method of testing data paths in an electronic circuit |
| JP2009289374A (ja) * | 2008-05-30 | 2009-12-10 | Elpida Memory Inc | 半導体記憶装置、及び該半導体記憶装置のテスト方法 |
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