JPH01253113A - 薄膜状誘電体及びその製造方法 - Google Patents
薄膜状誘電体及びその製造方法Info
- Publication number
- JPH01253113A JPH01253113A JP63082032A JP8203288A JPH01253113A JP H01253113 A JPH01253113 A JP H01253113A JP 63082032 A JP63082032 A JP 63082032A JP 8203288 A JP8203288 A JP 8203288A JP H01253113 A JPH01253113 A JP H01253113A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- dielectric
- titanium
- lead
- solution
- Prior art date
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- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
- Ceramic Capacitors (AREA)
- Formation Of Insulating Films (AREA)
- Inorganic Insulating Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈発明の利用分野〉
本発明は薄膜状誘電体及びその製造方法に係わり、更に
詳しくは比誘電率が高くかつ温度特性が良好な薄膜状誘
電体及びその製造方法に関するものである。
詳しくは比誘電率が高くかつ温度特性が良好な薄膜状誘
電体及びその製造方法に関するものである。
〈従来の技術〉
従来よりチタン酸バリウムやチタン酸鉛はその優れた誘
電特性、圧電特性より磁器コンデンサーや圧電素子とし
て利用されている。
電特性、圧電特性より磁器コンデンサーや圧電素子とし
て利用されている。
ところでコンデンサーの静電容量は、周知のごとく
C=ε。ε、□×n
(式中、Cは静電容!、Sは面積、dは電極間距離、ε
。は真空透電率、ε1は比誘電率、nは積層数を示す。
。は真空透電率、ε1は比誘電率、nは積層数を示す。
)の関係にあるので、一般に容量を大きくするためには
積層して用いられていた。
積層して用いられていた。
積層型コンデンサーの製造方法は面相反応や溶液反応で
得られた0、5μm〜5μmの誘電体粉末をバインダー
や溶剤と混合してスラリーを製造し、そのスラリーをド
クターブレード法等で薄板状に成形し、該薄板を十〜数
十層積層し、約1200〜約1300℃で焼成するとい
う工程をとっている。しかしながら該方法は誘電体粉末
を得るための焼成と成形した生ンートの焼成を必要とす
るため製造コストが高くなるという欠点を存する。
得られた0、5μm〜5μmの誘電体粉末をバインダー
や溶剤と混合してスラリーを製造し、そのスラリーをド
クターブレード法等で薄板状に成形し、該薄板を十〜数
十層積層し、約1200〜約1300℃で焼成するとい
う工程をとっている。しかしながら該方法は誘電体粉末
を得るための焼成と成形した生ンートの焼成を必要とす
るため製造コストが高くなるという欠点を存する。
また、製品のコンパクト化が要求される昨今においては
当然のことながら積層型セラミックコンデンサーも小型
化が要求されるが一枚の誘電体層の厚い上記方法におい
ては自ずと高容量化のための積層数の増加には限界を生
じる。
当然のことながら積層型セラミックコンデンサーも小型
化が要求されるが一枚の誘電体層の厚い上記方法におい
ては自ずと高容量化のための積層数の増加には限界を生
じる。
かかる要求を満たすには上記式からも明らかなように誘
電体層を薄膜化する方法が考えられる。従来の積層型コ
ンデンサーの場合1層が約20〜40μmであるが、1
μm程度に薄膜化できれば小型化のみならず、著しく容
量改善が可能となる。
電体層を薄膜化する方法が考えられる。従来の積層型コ
ンデンサーの場合1層が約20〜40μmであるが、1
μm程度に薄膜化できれば小型化のみならず、著しく容
量改善が可能となる。
この為、誘電体の薄膜化の方法としてスパッタ法、真空
蒸着法、CVD法等の気相法が試みられているが、これ
らの方法は装置が高価なことや、目的とする誘電体物質
のストイキオメトリ−を制御することが難しく所望とす
る組成の誘電体が得られないとの欠点を有する。
蒸着法、CVD法等の気相法が試みられているが、これ
らの方法は装置が高価なことや、目的とする誘電体物質
のストイキオメトリ−を制御することが難しく所望とす
る組成の誘電体が得られないとの欠点を有する。
またこれとは別に有機金属化合物の塗布、熱分解により
薄膜状誘電体を製造する方法が知られている。例えば ■ ナフテン酸バリウムとT1アルコキンドのブタノー
ル溶液を13a :Ti=1 : 1の比に混合してガ
ラス基板上に塗布後、電気炉中で焼成を行い透明な薄膜
状チタン酸バリウムを得る方法〔セラミック ブリティ
ア (Ceramic Bulletin) Vol、
55 No、l2(1976) p1064−1065
〕。
薄膜状誘電体を製造する方法が知られている。例えば ■ ナフテン酸バリウムとT1アルコキンドのブタノー
ル溶液を13a :Ti=1 : 1の比に混合してガ
ラス基板上に塗布後、電気炉中で焼成を行い透明な薄膜
状チタン酸バリウムを得る方法〔セラミック ブリティ
ア (Ceramic Bulletin) Vol、
55 No、l2(1976) p1064−1065
〕。
■ 酢酸鉛とT1ア“ルコキンドをメトキンエタノール
中でpb:Ti=1:1の比に混合、反応させ、石英ガ
ラス基板上に塗布機電気炉中で焼成を行い薄膜状チタン
酸鉛を得る方法〔ブリテラシュ セラミック プロスイ
ーディング(Brit+sh Ceramic P
roceeding(35) p l ロアー12
1) 1985)〕。
中でpb:Ti=1:1の比に混合、反応させ、石英ガ
ラス基板上に塗布機電気炉中で焼成を行い薄膜状チタン
酸鉛を得る方法〔ブリテラシュ セラミック プロスイ
ーディング(Brit+sh Ceramic P
roceeding(35) p l ロアー12
1) 1985)〕。
■ チタンアルコキシドとアルカリ土類金属アルコキシ
ドをカルボン酸存在下で有機溶媒に溶解した液を基板上
に塗布し、これを熱分解することにより5rTiOs膜
、Ca T IOy膜を得る方法(特開昭58−198
491号公報)。
ドをカルボン酸存在下で有機溶媒に溶解した液を基板上
に塗布し、これを熱分解することにより5rTiOs膜
、Ca T IOy膜を得る方法(特開昭58−198
491号公報)。
■ 金属アルコキシドまたはその多量体の1種または2
種以上と金属キレート化合物の1種または2種以上とを
溶解した溶液を基板上に塗布し、これを熱分解すること
によりBaTiO3膜を得る方法(特開昭59−213
603号公報)。
種以上と金属キレート化合物の1種または2種以上とを
溶解した溶液を基板上に塗布し、これを熱分解すること
によりBaTiO3膜を得る方法(特開昭59−213
603号公報)。
■ チタン化合物と鉛化合物の混合物、またはチタン化
合物と鉛化合物の反応生成物のβ−ジケトン溶液を耐熱
基板上に塗布、加熱焼成し、さらに該ケトン溶液の塗布
、加熱焼成を繰返すことによりPbTi0.薄膜を合成
する例(特開昭59−139617号公報)。
合物と鉛化合物の反応生成物のβ−ジケトン溶液を耐熱
基板上に塗布、加熱焼成し、さらに該ケトン溶液の塗布
、加熱焼成を繰返すことによりPbTi0.薄膜を合成
する例(特開昭59−139617号公報)。
■ β−ジケトン類等の有機溶媒にランタン化合物、有
機チタニウム化合物、有機ジルコニウム化合物および鉛
化合物の混合物または反応生成物を溶解した溶液を、基
板上に塗布、乾燥、焼成し、P ba、sos L
ao、oss (Z ro、gsT i。、ss>
03等の組成を有する薄膜を得る方法(特開昭60−2
00403号公報)。
機チタニウム化合物、有機ジルコニウム化合物および鉛
化合物の混合物または反応生成物を溶解した溶液を、基
板上に塗布、乾燥、焼成し、P ba、sos L
ao、oss (Z ro、gsT i。、ss>
03等の組成を有する薄膜を得る方法(特開昭60−2
00403号公報)。
等、種々の組成を有する薄膜およびその製造方法が知ら
れている。
れている。
しかしながら上記従来技術のうち■〜■はBaTi○s
、S rT 103 、CaT+ 03等の薄膜に関
しての合成例はあるもののそれら薄膜が如何なる誘電特
性を示すかの記載は見当たらない。
、S rT 103 、CaT+ 03等の薄膜に関
しての合成例はあるもののそれら薄膜が如何なる誘電特
性を示すかの記載は見当たらない。
また■のPbTiOs薄膜は150〜170の誘電率を
有することが示されてはいるが、この程度の誘電率では
薄膜化による高容量化のメリットは極めて少ない。
有することが示されてはいるが、この程度の誘電率では
薄膜化による高容量化のメリットは極めて少ない。
他方、■の実施例1には厚み2,5μmで比誘電率98
8、誘電損失0,05と優れた比誘電率を有するP t
)o、sos Lao、oss (Z ro、gsT
j。、ss) O*組成の薄膜が得られているが、該
薄膜誘電体はよい誘電特性を示すものの、キュリー点が
室温付近に存在するため、誘電率の温度変化は極めて悪
いという欠点がある(25〜125℃で静電容量の温度
係数3000〜4000 ppm/ t’)。 周知の
如く誘電率の温度変化(静電容量の温度係数)が大きい
場合にはコンデンサーとしての適用において実用的温度
範囲では安定した蓄電量が得られないことや、コイルや
抵抗と組合せて回路を組むとき、回路定数が大きく変化
するため、電子機器への適用に於いて欠陥や故障の原因
になりやすいとの致命的欠点となる。
8、誘電損失0,05と優れた比誘電率を有するP t
)o、sos Lao、oss (Z ro、gsT
j。、ss) O*組成の薄膜が得られているが、該
薄膜誘電体はよい誘電特性を示すものの、キュリー点が
室温付近に存在するため、誘電率の温度変化は極めて悪
いという欠点がある(25〜125℃で静電容量の温度
係数3000〜4000 ppm/ t’)。 周知の
如く誘電率の温度変化(静電容量の温度係数)が大きい
場合にはコンデンサーとしての適用において実用的温度
範囲では安定した蓄電量が得られないことや、コイルや
抵抗と組合せて回路を組むとき、回路定数が大きく変化
するため、電子機器への適用に於いて欠陥や故障の原因
になりやすいとの致命的欠点となる。
〈発明が解決しようとする課題〉
かかる事情下に温み、本発明者は約10μm以下の薄膜
で、かつ約300以上の比誘電率と−l OOOppm
/l: 〜+ l OOOρpm/’Cの静電容量の温
度係数を有する誘電特性に優れた薄膜状誘電体、並びに
その製造方法を見出すべ(鋭意検討した結果、遂に本発
明を完成するに至った。
で、かつ約300以上の比誘電率と−l OOOppm
/l: 〜+ l OOOρpm/’Cの静電容量の温
度係数を有する誘電特性に優れた薄膜状誘電体、並びに
その製造方法を見出すべ(鋭意検討した結果、遂に本発
明を完成するに至った。
く課題を解決するための手段〉
即ち本発明は
(1)組成式(P bl−++ Mw ) T i O
*(式中、0.1≦x≦0.9.Mはアルカリ土類金属
のうち一種以上を示す。)で表される平均膜厚み0.1
μm〜10μm、比誘電率300以上、静電容量の温度
係数−100Qppm/l:〜+10QQppm、/l
:の物性を有する薄膜状誘電体、および (2)有機溶媒に可溶な鉛化合物、アルカリ土類金属化
合物、チタニウム化合物をを機溶媒中で溶解もしくは反
応させて誘電体形成溶液を合成し、次いで該溶液を平滑
基板上に塗布して薄膜を形成し、該薄膜を加熱処理する
か、あるいは基板上に該溶液の塗布、加熱処理を繰返し
、平均膜厚0.1μm〜10μmの 組成式(P b +−w MX ) T I Os(式
中、0.1≦x≦0.9.Mはアルカリ土類金属のうち
一種以上を示す。)で表される金属酸化物で薄膜を形成
したことを特徴とする薄膜状誘電体の製造方法、を提供
するにある。
*(式中、0.1≦x≦0.9.Mはアルカリ土類金属
のうち一種以上を示す。)で表される平均膜厚み0.1
μm〜10μm、比誘電率300以上、静電容量の温度
係数−100Qppm/l:〜+10QQppm、/l
:の物性を有する薄膜状誘電体、および (2)有機溶媒に可溶な鉛化合物、アルカリ土類金属化
合物、チタニウム化合物をを機溶媒中で溶解もしくは反
応させて誘電体形成溶液を合成し、次いで該溶液を平滑
基板上に塗布して薄膜を形成し、該薄膜を加熱処理する
か、あるいは基板上に該溶液の塗布、加熱処理を繰返し
、平均膜厚0.1μm〜10μmの 組成式(P b +−w MX ) T I Os(式
中、0.1≦x≦0.9.Mはアルカリ土類金属のうち
一種以上を示す。)で表される金属酸化物で薄膜を形成
したことを特徴とする薄膜状誘電体の製造方法、を提供
するにある。
以下、本発明を更に詳細に説明する。
本発明の実施に際し用いられる有機溶媒に可溶な鉛化合
物は 式PbXn (式中、Xはアルキル基、アルコキシ基、アシロキシ基
、β−ジケント基より選ばれた一種以上を表し、nは2
または4を示す。)で表される化合物を用いることが出
来るが、好ましくはXが炭素数14以下、更に好ましく
は8以下のものであることが望ましい。 炭素数が14
を越える場合には熱分解時に有機物が分解しにくくまた
、孔が出きやすいために、誘導特性が悪くなる。
物は 式PbXn (式中、Xはアルキル基、アルコキシ基、アシロキシ基
、β−ジケント基より選ばれた一種以上を表し、nは2
または4を示す。)で表される化合物を用いることが出
来るが、好ましくはXが炭素数14以下、更に好ましく
は8以下のものであることが望ましい。 炭素数が14
を越える場合には熱分解時に有機物が分解しにくくまた
、孔が出きやすいために、誘導特性が悪くなる。
具体的には、モノアセトキンモノメチル鉛、モノアセト
キンモノエチル鉛、モノプロピルオキシモノプロピル鉛
等のモノオキンモノアルキル鉛順、モノアセトキシモノ
メトキシ鉛、モノアセトキシモノエトキン鉛、モノプロ
ピルオキシモノプロポキシ鉛等のモノアシルオキシモノ
アルコキシ鉛類、ジメチル鉛、ジエチル鉛、ジプロピル
鉛等のジアルキル鉛類、ジメトキシ鉛、ジェトキシ鉛、
ジプロポキシ鉛、ジブトキシ鉛等の鉛アルコキシド類、
モノメチルモノエトキシ鉛、モノエチルモノプロポキシ
鉛、モノブチルモノペントキシ鉛等のモノアルキルモノ
アルコキシ鉛類、モノアセトキシトリエチル鉛、モノプ
ロピルオキシトリブチル鉛等のモノアシルオキシトリア
ルキル鉛類、ジアセトキシジメチル鉛、ジプロピルオキ
シジプロピル鉛等のジアシルオキシジアルキル鉛類、ト
リアセトキシモノエチル鉛、トリプロピルオキシモノブ
チル鉛等のトリアジルオキシモノアルキル鉛類、モノメ
トキシトリエチル鉛、モノプロポキントリブチル鉛等の
モノアルコキシトリアルキル鉛類、ジェトキシジメチル
鉛、ジプロポキンジブロピル鉛等のジアルコキシジアル
キル鉛類、トリメトキンモノエチル鉛、トリブトキシモ
ノブチル鉛等のトリアルコキシモノアルキル鉛類、モノ
アセトキントリエトキン鉛、モノプロビルオキントリブ
トキン鉛等のモノアンルオキシトリアルコキシ鉛類、ジ
アセトキシジメトキシ鉛、ジブロビルオキンジプロポキ
シ鉛等のジアンルオキンジアルコキン鉛類、トリアセト
キンモノエトキノ鉛、トリプロピルオキシモノブトキシ
鉛等のトリアンルオキシモノアルコキシ鉛類、テトラメ
チル鉛、テトラエチル鉛、テトラブチル鉛等のテトラア
ルキル鉛類、テトラメトキシ鉛、テトラメトキシ鉛、テ
トラプロポキシ鉛等のテトラアルコキン鉛類、酢酸鉛、
プロピオン酸鉛、カプロン酸鉛、安息香酸鉛2−エチル
ヘキサン酸鉛等のカルボン酸鉛、鉛アセチルアセトナー
ト、鉛ベンゾイルアセトナート等のβ−ジケトン類等が
挙げられる。
キンモノエチル鉛、モノプロピルオキシモノプロピル鉛
等のモノオキンモノアルキル鉛順、モノアセトキシモノ
メトキシ鉛、モノアセトキシモノエトキン鉛、モノプロ
ピルオキシモノプロポキシ鉛等のモノアシルオキシモノ
アルコキシ鉛類、ジメチル鉛、ジエチル鉛、ジプロピル
鉛等のジアルキル鉛類、ジメトキシ鉛、ジェトキシ鉛、
ジプロポキシ鉛、ジブトキシ鉛等の鉛アルコキシド類、
モノメチルモノエトキシ鉛、モノエチルモノプロポキシ
鉛、モノブチルモノペントキシ鉛等のモノアルキルモノ
アルコキシ鉛類、モノアセトキシトリエチル鉛、モノプ
ロピルオキシトリブチル鉛等のモノアシルオキシトリア
ルキル鉛類、ジアセトキシジメチル鉛、ジプロピルオキ
シジプロピル鉛等のジアシルオキシジアルキル鉛類、ト
リアセトキシモノエチル鉛、トリプロピルオキシモノブ
チル鉛等のトリアジルオキシモノアルキル鉛類、モノメ
トキシトリエチル鉛、モノプロポキントリブチル鉛等の
モノアルコキシトリアルキル鉛類、ジェトキシジメチル
鉛、ジプロポキンジブロピル鉛等のジアルコキシジアル
キル鉛類、トリメトキンモノエチル鉛、トリブトキシモ
ノブチル鉛等のトリアルコキシモノアルキル鉛類、モノ
アセトキントリエトキン鉛、モノプロビルオキントリブ
トキン鉛等のモノアンルオキシトリアルコキシ鉛類、ジ
アセトキシジメトキシ鉛、ジブロビルオキンジプロポキ
シ鉛等のジアンルオキンジアルコキン鉛類、トリアセト
キンモノエトキノ鉛、トリプロピルオキシモノブトキシ
鉛等のトリアンルオキシモノアルコキシ鉛類、テトラメ
チル鉛、テトラエチル鉛、テトラブチル鉛等のテトラア
ルキル鉛類、テトラメトキシ鉛、テトラメトキシ鉛、テ
トラプロポキシ鉛等のテトラアルコキン鉛類、酢酸鉛、
プロピオン酸鉛、カプロン酸鉛、安息香酸鉛2−エチル
ヘキサン酸鉛等のカルボン酸鉛、鉛アセチルアセトナー
ト、鉛ベンゾイルアセトナート等のβ−ジケトン類等が
挙げられる。
有機溶媒に可溶なアルカリ土類金属化合物としては、
式M Y2
(式中、Mはバリウム、ストロンチウム、カルンウムよ
り選ばれた一種以上を表し、Yはアルキル基、アルコキ
シ基、アシロキシ基、β−ジケトン基より選ばれた一種
以上を示す。)で表される化合物を用いることが出来る
が、Yは炭素数14以下、好ましくは8以下のものであ
ることが好ましい。
り選ばれた一種以上を表し、Yはアルキル基、アルコキ
シ基、アシロキシ基、β−ジケトン基より選ばれた一種
以上を示す。)で表される化合物を用いることが出来る
が、Yは炭素数14以下、好ましくは8以下のものであ
ることが好ましい。
炭素数が14を越える場合には、焼成後の成形体中に有
機物が残存しやすく、また孔が出来やすいため誘電特性
が悪くなる。
機物が残存しやすく、また孔が出来やすいため誘電特性
が悪くなる。
このようなりa化合物として具体的には、モノアセトキ
ンモノメチルバリウム、モノアセトキシモノエチルバリ
ウム、モノアセトキシモノプロビルバリウム、モノプロ
ビオニルオキンモノメチルバリウム、モノプロビオニル
オキタモ/エチルバリウム等のモノアンルオキシモノア
ルキルバリウム類、モノアセトキシモノメトキンバリウ
ム、モノアセトキシモノエトキンバリウム、モノアセト
キンモノプロポキンバリウム、モノプロピオニルオキシ
モノメトキシバリウム、モノプロピオニルオキシモノメ
トキシバリウム等のモノアシルオキシモノアルコキシバ
リウム頚、ジメチルバリウム、ジエチルバリウム、ジプ
ロピルバリウム等のアルキルバリウム類、ジメトキシバ
リウム、ジェトキシバリウム、ジェトキシバリウム、ジ
ブトキシバリウム等のバリウムアルコキンド類、モノメ
チルモノエトキ/バIJ ’+ム、モノエチル、モノプ
ロキンバリウム、モノブチルモノベントキンバリウム等
のモノアルキルモノアルコキシバリウム、酢酸バリウム
、プロピオン酸バリウム、吉草酸バリウム、カプロン酸
バリウム、安息香酸バリウム等のカルボン酸バリウム類
、バリウムアセチルアセトナート、バリウムベンゾイル
アセトナートのβ−ジケトン類等が挙げられる。
ンモノメチルバリウム、モノアセトキシモノエチルバリ
ウム、モノアセトキシモノプロビルバリウム、モノプロ
ビオニルオキンモノメチルバリウム、モノプロビオニル
オキタモ/エチルバリウム等のモノアンルオキシモノア
ルキルバリウム類、モノアセトキシモノメトキンバリウ
ム、モノアセトキシモノエトキンバリウム、モノアセト
キンモノプロポキンバリウム、モノプロピオニルオキシ
モノメトキシバリウム、モノプロピオニルオキシモノメ
トキシバリウム等のモノアシルオキシモノアルコキシバ
リウム頚、ジメチルバリウム、ジエチルバリウム、ジプ
ロピルバリウム等のアルキルバリウム類、ジメトキシバ
リウム、ジェトキシバリウム、ジェトキシバリウム、ジ
ブトキシバリウム等のバリウムアルコキンド類、モノメ
チルモノエトキ/バIJ ’+ム、モノエチル、モノプ
ロキンバリウム、モノブチルモノベントキンバリウム等
のモノアルキルモノアルコキシバリウム、酢酸バリウム
、プロピオン酸バリウム、吉草酸バリウム、カプロン酸
バリウム、安息香酸バリウム等のカルボン酸バリウム類
、バリウムアセチルアセトナート、バリウムベンゾイル
アセトナートのβ−ジケトン類等が挙げられる。
Sr化合物として具体的には、モノアセトキンモノメチ
ルストロンチウム、モノアセトキシモノエチルストロン
チウム、モノアセトキシモノプロピルストロンチウム、
モノプロビオニルオキンモノメチルストロンチウム、モ
ノプロピオニルオキシモノエトキンストロンチウム等の
七ノアシルオキンモノアルキルストロンチウム順、モノ
アセトキシモノメトキシストロンチウム、モノアセトキ
ンモノエトキシストロンチウム、モノアセトキンモノプ
ロポキンストロンチウム、モノプロピオニルオキシモノ
メトキシストロンチウム、モノプロピオニルオキシモノ
エトキンストロンチウム等のモノアルキルモノアルコキ
ンストロンチウム類、ジメチルストロンチウム、ジエチ
ルストロンチウム、ジプロピルストロンチウム等のアル
キルストロンチウム類、ジブトキシストロンチウム、シ
ェドキンストロンチウム、ジプロポキシストロンチウム
、ジブトキシストロンチウム等のストロンチウムアルコ
キシド類、モノメチルモノエトキンストロンチウム、モ
ノエチル、モノプロポキシストロンチウム、モノブチル
モノベントキンストロンチウム等のモノアルキルモノア
ルコキンストロンチウム類、酢酸ストロンチウム、プロ
ピオン酸ストロンチウム、吉草酸ストロンチウム、カプ
ロン酸ストロンチウム、安息香酸ストロンチウム等のカ
ルボン酸ストロンチウム頚、ストロンチウムアセチルア
セトナート、ストロンチウムベンゾイルアセトナートの
β−ジケトン類等が挙げられる。
ルストロンチウム、モノアセトキシモノエチルストロン
チウム、モノアセトキシモノプロピルストロンチウム、
モノプロビオニルオキンモノメチルストロンチウム、モ
ノプロピオニルオキシモノエトキンストロンチウム等の
七ノアシルオキンモノアルキルストロンチウム順、モノ
アセトキシモノメトキシストロンチウム、モノアセトキ
ンモノエトキシストロンチウム、モノアセトキンモノプ
ロポキンストロンチウム、モノプロピオニルオキシモノ
メトキシストロンチウム、モノプロピオニルオキシモノ
エトキンストロンチウム等のモノアルキルモノアルコキ
ンストロンチウム類、ジメチルストロンチウム、ジエチ
ルストロンチウム、ジプロピルストロンチウム等のアル
キルストロンチウム類、ジブトキシストロンチウム、シ
ェドキンストロンチウム、ジプロポキシストロンチウム
、ジブトキシストロンチウム等のストロンチウムアルコ
キシド類、モノメチルモノエトキンストロンチウム、モ
ノエチル、モノプロポキシストロンチウム、モノブチル
モノベントキンストロンチウム等のモノアルキルモノア
ルコキンストロンチウム類、酢酸ストロンチウム、プロ
ピオン酸ストロンチウム、吉草酸ストロンチウム、カプ
ロン酸ストロンチウム、安息香酸ストロンチウム等のカ
ルボン酸ストロンチウム頚、ストロンチウムアセチルア
セトナート、ストロンチウムベンゾイルアセトナートの
β−ジケトン類等が挙げられる。
Ca化合物として具体的には、モノアセトキンモノメチ
ルカルシウム、モノアセトキシモノエチルカルシウム、
モノアセトキシモノプロビルカルシウム、モノプロピオ
ニルオキシモノエチルカルシウム、モノプロピオニルオ
キシモノエチルカルシウム等のモノアシルオキシモノア
ルキルカルシウム類、モノアセトキンモノメトキンカル
シウム、モノアセトキンモノメトキンカルシウム、モノ
アセトキシモノプロボキシ力ルンウム、モノプロピオニ
ルオキシモノメトキシカル/ラム、モノプロピオニルオ
キシモノエトキンカルシウム等のモノアシルオキシモノ
アルキルカルシウム類、ジメチルカルシウム、ジエチル
カルシウム、ジエチルカルシウム等のアルキルカルシウ
ム類、ジメトキシカルシウム、ジェトキシカルシウム、
ジェトキシカルシウム、ジブトキシカルシウム等のカル
ンウムアルコキシド順、モノメチルモノエトキシ力ルン
ウム、モノエチル、モノプロキン力ルンウム、モノブチ
ルモノベントキンカルシウム等のモノアルキルモノアル
コキシ力ルンウム類、酢酸カルシウム、プロピオン酸カ
ルンウム、吉草酸力ルンウム、カプロン酸カルシウム、
安息香酸カルンウム等のカルボン酸カルシウム類、カル
シウムアセチルアセトナート、カルシウムベンゾイルア
セトナートのβ−ジケトン類等が挙げられる。
ルカルシウム、モノアセトキシモノエチルカルシウム、
モノアセトキシモノプロビルカルシウム、モノプロピオ
ニルオキシモノエチルカルシウム、モノプロピオニルオ
キシモノエチルカルシウム等のモノアシルオキシモノア
ルキルカルシウム類、モノアセトキンモノメトキンカル
シウム、モノアセトキンモノメトキンカルシウム、モノ
アセトキシモノプロボキシ力ルンウム、モノプロピオニ
ルオキシモノメトキシカル/ラム、モノプロピオニルオ
キシモノエトキンカルシウム等のモノアシルオキシモノ
アルキルカルシウム類、ジメチルカルシウム、ジエチル
カルシウム、ジエチルカルシウム等のアルキルカルシウ
ム類、ジメトキシカルシウム、ジェトキシカルシウム、
ジェトキシカルシウム、ジブトキシカルシウム等のカル
ンウムアルコキシド順、モノメチルモノエトキシ力ルン
ウム、モノエチル、モノプロキン力ルンウム、モノブチ
ルモノベントキンカルシウム等のモノアルキルモノアル
コキシ力ルンウム類、酢酸カルシウム、プロピオン酸カ
ルンウム、吉草酸力ルンウム、カプロン酸カルシウム、
安息香酸カルンウム等のカルボン酸カルシウム類、カル
シウムアセチルアセトナート、カルシウムベンゾイルア
セトナートのβ−ジケトン類等が挙げられる。
有機溶媒に可溶なチタニウム化合物としては式TiZs
(式中、Zはアルキル基、アルコキシ基、ハロゲン基、
アンルキン基、β−ジケトン基より選ばれた一種以上を
示す。)で表される化合物及びまたはその縮合物を用い
ることが出来るが、Zは炭素数14以下、好ましくは8
以下のものであることが望ましい。
アンルキン基、β−ジケトン基より選ばれた一種以上を
示す。)で表される化合物及びまたはその縮合物を用い
ることが出来るが、Zは炭素数14以下、好ましくは8
以下のものであることが望ましい。
14を越える場合には焼成後の成形体中にを搬物が残存
しやすく、また孔が出来やすいので導通の原因になった
り、誘電特性悪化の原因になる。
しやすく、また孔が出来やすいので導通の原因になった
り、誘電特性悪化の原因になる。
具体的には、モノアセトキシトリメチルチタニウム、モ
ノアセトキシトリエチルチタニウム、モノアセトキシト
リプロピルチタニウム、モノプロピオニルオキシトリエ
チルチタニウム、モノプロピオニルオキシトリエチルチ
タニウム等のモノアンレオキントリアルキルチタニウム
類、モノアセトキシトリメトキシチタニウム、モノアセ
トキントリエトキンチタニウム、モノアセトキントリプ
ロポキンチタニウム、モノプロピオニルオキシトリエチ
ルチタニウム、モノプロピオニルオキシトリエチルチタ
ニウム等のモノアンルオキントリアルコキンチタニウム
類、モノアセトキノトリクロルチタニウム、モノアセト
キシトリブロムチタニウム等のモノアセトキシトリチタ
ニウムハライド類、ジアセトキシジメチルチタニウム、
ジブロピオニルオキシジエチルチタニウム、ジブチリル
オキシジプロピルチタニウム等のジアシルオキシジアル
キルチタニウム類、ジアセトキシジクロルチタニウム、
ジブロピオニルオキンジエトキシチタニウム、ジブチリ
ルオキシジプロポキシチタニウム等のジアシルオキシジ
アルキルチタニウム類、ジアセトキシジクロルチタニウ
ム、ジアセトキシジブロムチタニウム等のジアシルオキ
シジチタニウムハライド類、トリアセトキンモノメチル
チタニウム、トリプロピオニルオキシモノエチルチタニ
ウム、トリブチリルオキンモノプロピルチタニウム等の
トリアシルオキンモノアルキルチタニウム類、トリアセ
トキシモノメトキンチタニウム、トリプロピオニルオキ
シモノエチルチタニウム、トリブチリルオキシモノプロ
ポキンチタニウム類のトリアシルオキンモノアルコキシ
チタニウム類、トリアセトキンモノクロルチタニウム、
トリアセトキシモノブロムチタニウム等のトリアシルオ
キンモノチタニウムハライド類、モノメチルトリエトキ
シチタニウム、モノプロピルトリブトキシチタニウム、
モノブチルトリペントキンチタニウム等のモノアルキル
トリアルコキンチタニウム類、ジメチルジェトキシチタ
ニウム、ジプロピルジブトキシチタニウム、ジメチルジ
ェトキシチタニウム等のジアルキルジアルコキシチタニ
ウム類、トリメチルモノエトキシチタニウム、トリプロ
ピルモノブトキシチタニウム、トリブチルモノペントキ
シチタニウム等のトリアルキルモノアルコキシチタニウ
ム類、モノメチルトリクロルチタニウム、モノブチルト
リブロムチタニウム等のモノアルキルトリチタニウムハ
ライド順、ジエチルジクロルチタニウム、ジブチルジブ
ロムチタニウム等のジアルキルジチタニウムハライド類
、トリエチルモノクロルチタニウム、トリペンチルモノ
ブロムチタニウム等のトリアルキルモノチタニウムハラ
イド類、モノエトキシトリクロルチタニウム、モノブト
キシトリブロムチタニウム等のモノアルコキシトリチタ
ニウムハライド類、ジメトキシジクロルチタニウム、ジ
プロポキシジブロムチタニウム等のジアルコキシジチタ
ニウムハライド類、トリプロポキンモノクロルチタニウ
ム、トリペントキシモノブロムチタニウム等のトリアル
コキシモノチタニウムハライド類、テトラメチルチタニ
ウム、テトラエチルチタニウム等のアルキルチタニウム
類、メチルチタネート、エチルチタネート、プロピルチ
タネート、ブチルチタネート、オクチルチタネート等の
チタニウムアルコキンド類、四塩化チタン、四臭化チタ
ン等のハロゲン化チタニウム類、酢酸チタニウム、プロ
ピオン酸チタニウム、吉草酸チタニウム、カプロン酸チ
タニウム、安息香酸チタニウム等のカルボキシ酸チタニ
ウム、チタニウムアセチルアセトナート、チタニウムベ
ンゾイルアセテート等のβ−ジケトン類及びこれらの縮
合物等が挙げられる。
ノアセトキシトリエチルチタニウム、モノアセトキシト
リプロピルチタニウム、モノプロピオニルオキシトリエ
チルチタニウム、モノプロピオニルオキシトリエチルチ
タニウム等のモノアンレオキントリアルキルチタニウム
類、モノアセトキシトリメトキシチタニウム、モノアセ
トキントリエトキンチタニウム、モノアセトキントリプ
ロポキンチタニウム、モノプロピオニルオキシトリエチ
ルチタニウム、モノプロピオニルオキシトリエチルチタ
ニウム等のモノアンルオキントリアルコキンチタニウム
類、モノアセトキノトリクロルチタニウム、モノアセト
キシトリブロムチタニウム等のモノアセトキシトリチタ
ニウムハライド類、ジアセトキシジメチルチタニウム、
ジブロピオニルオキシジエチルチタニウム、ジブチリル
オキシジプロピルチタニウム等のジアシルオキシジアル
キルチタニウム類、ジアセトキシジクロルチタニウム、
ジブロピオニルオキンジエトキシチタニウム、ジブチリ
ルオキシジプロポキシチタニウム等のジアシルオキシジ
アルキルチタニウム類、ジアセトキシジクロルチタニウ
ム、ジアセトキシジブロムチタニウム等のジアシルオキ
シジチタニウムハライド類、トリアセトキンモノメチル
チタニウム、トリプロピオニルオキシモノエチルチタニ
ウム、トリブチリルオキンモノプロピルチタニウム等の
トリアシルオキンモノアルキルチタニウム類、トリアセ
トキシモノメトキンチタニウム、トリプロピオニルオキ
シモノエチルチタニウム、トリブチリルオキシモノプロ
ポキンチタニウム類のトリアシルオキンモノアルコキシ
チタニウム類、トリアセトキンモノクロルチタニウム、
トリアセトキシモノブロムチタニウム等のトリアシルオ
キンモノチタニウムハライド類、モノメチルトリエトキ
シチタニウム、モノプロピルトリブトキシチタニウム、
モノブチルトリペントキンチタニウム等のモノアルキル
トリアルコキンチタニウム類、ジメチルジェトキシチタ
ニウム、ジプロピルジブトキシチタニウム、ジメチルジ
ェトキシチタニウム等のジアルキルジアルコキシチタニ
ウム類、トリメチルモノエトキシチタニウム、トリプロ
ピルモノブトキシチタニウム、トリブチルモノペントキ
シチタニウム等のトリアルキルモノアルコキシチタニウ
ム類、モノメチルトリクロルチタニウム、モノブチルト
リブロムチタニウム等のモノアルキルトリチタニウムハ
ライド順、ジエチルジクロルチタニウム、ジブチルジブ
ロムチタニウム等のジアルキルジチタニウムハライド類
、トリエチルモノクロルチタニウム、トリペンチルモノ
ブロムチタニウム等のトリアルキルモノチタニウムハラ
イド類、モノエトキシトリクロルチタニウム、モノブト
キシトリブロムチタニウム等のモノアルコキシトリチタ
ニウムハライド類、ジメトキシジクロルチタニウム、ジ
プロポキシジブロムチタニウム等のジアルコキシジチタ
ニウムハライド類、トリプロポキンモノクロルチタニウ
ム、トリペントキシモノブロムチタニウム等のトリアル
コキシモノチタニウムハライド類、テトラメチルチタニ
ウム、テトラエチルチタニウム等のアルキルチタニウム
類、メチルチタネート、エチルチタネート、プロピルチ
タネート、ブチルチタネート、オクチルチタネート等の
チタニウムアルコキンド類、四塩化チタン、四臭化チタ
ン等のハロゲン化チタニウム類、酢酸チタニウム、プロ
ピオン酸チタニウム、吉草酸チタニウム、カプロン酸チ
タニウム、安息香酸チタニウム等のカルボキシ酸チタニ
ウム、チタニウムアセチルアセトナート、チタニウムベ
ンゾイルアセテート等のβ−ジケトン類及びこれらの縮
合物等が挙げられる。
チタニウム化合物の縮合物のポリチタノキサンは、アシ
ルオキ/アルキルチタニウム、アシルオキ/アルキルチ
タニウム、アルコキシハロゲン化チタニウム、アルコキ
ンチタニウム、アルコキシハロゲン化チタニウム等を出
発物質として、これらを縮合させて製造することも出来
るし、アルキルチタニウム、アルコキシチタニウムまた
はハロゲン化チタニウムを縮合させて得られたポリチタ
ノキサンにカルボン酸を反応させることによっても製造
可能である。
ルオキ/アルキルチタニウム、アシルオキ/アルキルチ
タニウム、アルコキシハロゲン化チタニウム、アルコキ
ンチタニウム、アルコキシハロゲン化チタニウム等を出
発物質として、これらを縮合させて製造することも出来
るし、アルキルチタニウム、アルコキシチタニウムまた
はハロゲン化チタニウムを縮合させて得られたポリチタ
ノキサンにカルボン酸を反応させることによっても製造
可能である。
本発明の実施にあたり用いられる有機溶媒としては、前
記鉛化合物、アルカリ土類金属化合物及びチタニウム化
合物を溶解するものならばどのような物を用いても良い
が、好ましくはメタノール、エタノール、プロパツール
、ブタノール、ペンタノール等のアルコール類、ベンゼ
ン、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素類、ペンタ
ン、へキサン、ヘプタン、オクタン等の脂肪族炭化水素
類、ジオキサン、テトラヒドロフラン等のエーテル類、
アセトン、メチルエチルケトン、ジエチルケトン等のケ
トン類、酢酸メチル、酢酸エチル、蟻酸エチル等のカル
ボン酸エステル類、アセチルアセトン、ベンゾイルアセ
トン、ジベンゾイルアセトン等のβ−ジケトン類、ジメ
チルホルムアミド、ジメチルアセトアミド等のアミド類
等が挙げられ、これら溶媒は単独、あるいは2種以上を
併用することもできる。
記鉛化合物、アルカリ土類金属化合物及びチタニウム化
合物を溶解するものならばどのような物を用いても良い
が、好ましくはメタノール、エタノール、プロパツール
、ブタノール、ペンタノール等のアルコール類、ベンゼ
ン、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素類、ペンタ
ン、へキサン、ヘプタン、オクタン等の脂肪族炭化水素
類、ジオキサン、テトラヒドロフラン等のエーテル類、
アセトン、メチルエチルケトン、ジエチルケトン等のケ
トン類、酢酸メチル、酢酸エチル、蟻酸エチル等のカル
ボン酸エステル類、アセチルアセトン、ベンゾイルアセ
トン、ジベンゾイルアセトン等のβ−ジケトン類、ジメ
チルホルムアミド、ジメチルアセトアミド等のアミド類
等が挙げられ、これら溶媒は単独、あるいは2種以上を
併用することもできる。
本発明の実施に当たり、先ず誘電体の形成溶液が合成さ
れるが、該誘電体形成溶液の合成方法としては、原料金
属化合物としての前記鉛化合物と前記アルカリ金属化合
物をモル比でPb:M=1−K :X (0,1≦
x≦0.9>、更にPb+M11!:T iのモル比が
l;1になるように前記チタン化合物を混合し、有機溶
媒中に適当な割合で溶解するか、あるいは前記原料金属
化合物を有機溶媒中で反応せしめる方法が挙げられる。
れるが、該誘電体形成溶液の合成方法としては、原料金
属化合物としての前記鉛化合物と前記アルカリ金属化合
物をモル比でPb:M=1−K :X (0,1≦
x≦0.9>、更にPb+M11!:T iのモル比が
l;1になるように前記チタン化合物を混合し、有機溶
媒中に適当な割合で溶解するか、あるいは前記原料金属
化合物を有機溶媒中で反応せしめる方法が挙げられる。
鉛化合物とアルカリ金属化合物のモル比Xは0.1〜0
.9、好ましくは0.2〜0.8の範囲にあることがよ
い。
.9、好ましくは0.2〜0.8の範囲にあることがよ
い。
0.1未満では誘電率が低く、また0、9を越える場合
にも同様となるため好ましくない。
にも同様となるため好ましくない。
本発明で用いられる薄膜状誘電体の形成溶液中の金属化
合物の濃度は、金属化合物の種類によっても異なるが、
あまり希釈しすぎると目的とする膜厚を得るのに多数回
塗布しなければならず経済的でないし、一方濃すぎると
作業性が低下するため、−船釣には酸化物に換算して2
〜80重量%、好ましくは5〜50重量%で適用させる
。
合物の濃度は、金属化合物の種類によっても異なるが、
あまり希釈しすぎると目的とする膜厚を得るのに多数回
塗布しなければならず経済的でないし、一方濃すぎると
作業性が低下するため、−船釣には酸化物に換算して2
〜80重量%、好ましくは5〜50重量%で適用させる
。
通常目的とする薄膜状誘電体の膜厚により、形成溶液の
濃度は決定させる。
濃度は決定させる。
本発明で用いられる誘電体形成溶液には膜厚を安定化す
るためにCs C2Qのカルボン酸、グリコール、ア
ミン等を添加することが出来る。
るためにCs C2Qのカルボン酸、グリコール、ア
ミン等を添加することが出来る。
具体的にはカプロン酸、カプリル酸、カプリン酸、ラウ
リル酸、バルミチン酸、ステアリン酸等の1価カルボン
酸、アジピン酸、ピメリン酸、フタル酸、セバシン酸等
の2価カルボン酸、エチレングリコール、プロピレング
リコール、ジエチレングリコール等のグリコール類、モ
ノエタノールアミン、ノエタノールアミン、トリエタノ
ールアミン等のアミン類等が挙げられる。
リル酸、バルミチン酸、ステアリン酸等の1価カルボン
酸、アジピン酸、ピメリン酸、フタル酸、セバシン酸等
の2価カルボン酸、エチレングリコール、プロピレング
リコール、ジエチレングリコール等のグリコール類、モ
ノエタノールアミン、ノエタノールアミン、トリエタノ
ールアミン等のアミン類等が挙げられる。
上記物質をT1に対して0.1〜3.0モル好ましくは
0.1〜2.0モルの範囲で添加することが出来る。
0.1〜2.0モルの範囲で添加することが出来る。
0.1モル未満では膜厚を安定化する効果は少なく、ま
た3、0モルを越える添加では有機物が増すために焼成
後に緻密で平滑な膜が得難い。
た3、0モルを越える添加では有機物が増すために焼成
後に緻密で平滑な膜が得難い。
また誘電特性をコントロールするためのMg、B1、Z
r5NbSTa、Nd、Sb等の化合物、還元防止のた
めのMn、A1、Si等の化合物を添加しても良い。
r5NbSTa、Nd、Sb等の化合物、還元防止のた
めのMn、A1、Si等の化合物を添加しても良い。
また塗膜の厚さを均一にするために例えば、ポリオール
やエチルセルロースのような高分子物質、メチルセロソ
ルブ、エチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、アセチル
アセトン、グリセリンのような高沸点化合物、ノニオン
系またはアニオン系の界面活性剤等を添加するこも出来
る。
やエチルセルロースのような高分子物質、メチルセロソ
ルブ、エチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、アセチル
アセトン、グリセリンのような高沸点化合物、ノニオン
系またはアニオン系の界面活性剤等を添加するこも出来
る。
このようにして合成された誘電体形成溶液は次いで基板
上に塗布し、乾燥焼成し薄膜状誘電体を形成するか、あ
るいは塗布、乾燥焼成を数回繰返し所望とする厚みの薄
膜状誘電体を形成する。
上に塗布し、乾燥焼成し薄膜状誘電体を形成するか、あ
るいは塗布、乾燥焼成を数回繰返し所望とする厚みの薄
膜状誘電体を形成する。
誘電体形成溶液の塗布に使用する基板は平滑性があり、
400℃以上の温度に耐えるものならばどのようなもの
でも用いることが出来るが、例えばガラス基板、セラミ
ック基板、金属薄膜あるいは導電性酸化物で被覆された
ガラスまたはセラミック基板、金属板、金属箔、半導性
基板等が挙げられる。
400℃以上の温度に耐えるものならばどのようなもの
でも用いることが出来るが、例えばガラス基板、セラミ
ック基板、金属薄膜あるいは導電性酸化物で被覆された
ガラスまたはセラミック基板、金属板、金属箔、半導性
基板等が挙げられる。
具体的には石英ガラス、アルミナ、ジルコニア、マイカ
、ンリコン、金、白金、パラジウム、銀、銅、クロム、
アルミニウム、タンタル、金−クロム、パラジウム−銀
、ニッケルークロム、スズまたはアンチモンをドープし
た酸化インジウム等の薄膜で被覆された石英ガラス、ア
ルミナ、ジルコニア、マイカ、シリコン、金、白金、パ
ラジウム、銀、銅、ニッケル、ニッケルークロム等の基
板等が挙げられる。
、ンリコン、金、白金、パラジウム、銀、銅、クロム、
アルミニウム、タンタル、金−クロム、パラジウム−銀
、ニッケルークロム、スズまたはアンチモンをドープし
た酸化インジウム等の薄膜で被覆された石英ガラス、ア
ルミナ、ジルコニア、マイカ、シリコン、金、白金、パ
ラジウム、銀、銅、ニッケル、ニッケルークロム等の基
板等が挙げられる。
また基板表面はできるだけ平滑であることが望ましく、
好ましくは表面粗さRa < 0.1μであることが良
い。
好ましくは表面粗さRa < 0.1μであることが良
い。
塗布液の基板への塗布法としては、浸漬法、スプレー法
、スピンナー法、刷毛塗り法等の公知の塗布方法を用い
ることが出来る。
、スピンナー法、刷毛塗り法等の公知の塗布方法を用い
ることが出来る。
薄膜の膜厚制御は塗布液の濃度と、浸漬法ならば引き上
げ速度、スピンナー法ならばスピンナーの回転数等によ
り制御することが出来る。
げ速度、スピンナー法ならばスピンナーの回転数等によ
り制御することが出来る。
基板へ塗布して得た塗膜の加熱処理温度は溶媒中の金属
化合物の濃度、溶媒の種類、基板の種類等により異なる
が、誘電体の結晶化以上の温度にする必要があり、通常
約400〜約1200℃、好ましくは約500〜約10
00℃である。
化合物の濃度、溶媒の種類、基板の種類等により異なる
が、誘電体の結晶化以上の温度にする必要があり、通常
約400〜約1200℃、好ましくは約500〜約10
00℃である。
400℃未満では有機物が分解せず、また1200℃を
越える場合にはPb化合物の蒸発等でストイキオメトリ
−にずれが生じ所望とする誘電特性を有するyJ誘電体
得難い。
越える場合にはPb化合物の蒸発等でストイキオメトリ
−にずれが生じ所望とする誘電特性を有するyJ誘電体
得難い。
焼成雲囲気は空気中、不活性ガス中、還元雰囲気中もし
くは誘電体が還元されやすい物質の場合は酸素雰囲気で
も焼成することが出来る。
くは誘電体が還元されやすい物質の場合は酸素雰囲気で
も焼成することが出来る。
本発明の薄膜状誘電体の厚さは0.1〜10μm、好ま
しくは0.2〜5μmである。
しくは0.2〜5μmである。
0.1μm未満では耐電圧が低く、絶縁破壊が起こりや
すく、また10μmを越える場合には1層あたりの静電
容量が小さ(なるため、高容量化しにくくなるので好ま
しくない。
すく、また10μmを越える場合には1層あたりの静電
容量が小さ(なるため、高容量化しにくくなるので好ま
しくない。
〈発明の効果〉
以上詳述した本発明の薄膜状誘電体は、薄膜状PbTi
0z 、BaTiO3,5rTiOzに比較し極めて優
れた比誘電率を有すると伴に、良好な温度特性を有する
ものであり、誘電損失も低く耐電圧にも優れるため小型
、大容量コンデンサーへの適用を可能とする。
0z 、BaTiO3,5rTiOzに比較し極めて優
れた比誘電率を有すると伴に、良好な温度特性を有する
ものであり、誘電損失も低く耐電圧にも優れるため小型
、大容量コンデンサーへの適用を可能とする。
また、その製造方法は従来の誘電体粉末をスラリー化し
ドクターブレード法等で得る方法に比較して製造コスト
が廉価であると共に高容量化が可能で有りまたスパッタ
ー法等にくらベモル比のコントロールが正確に出来るた
め、優れた誘電特性を有する薄膜状誘電体の提供を可能
ならしめたもので、その工業的価値は頗る大なるもので
ある。尚、本発明に於いて、電器特性の測定はJI55
102電子機器用固体コンデンサの試験方法に準拠した
。
ドクターブレード法等で得る方法に比較して製造コスト
が廉価であると共に高容量化が可能で有りまたスパッタ
ー法等にくらベモル比のコントロールが正確に出来るた
め、優れた誘電特性を有する薄膜状誘電体の提供を可能
ならしめたもので、その工業的価値は頗る大なるもので
ある。尚、本発明に於いて、電器特性の測定はJI55
102電子機器用固体コンデンサの試験方法に準拠した
。
〈実施例〉
以下、本発明を実施例により更に詳細に説明するが、本
発明の範囲は下記実施例により、何ら限定されるもので
はない。
発明の範囲は下記実施例により、何ら限定されるもので
はない。
実施例1
鉛イソプロポキンドとバリウムイソプロポキンドとチタ
ニウムイソプロポキシドを第1表に示すような割合に調
合し、イソプロパツール−トルエンの1:1 (重量
比)混合溶媒中に溶解し、イソステアリン酸をT1に対
して0.2モル添加して酸化物換算で20重量%の誘電
体形成液を合成した。
ニウムイソプロポキシドを第1表に示すような割合に調
合し、イソプロパツール−トルエンの1:1 (重量
比)混合溶媒中に溶解し、イソステアリン酸をT1に対
して0.2モル添加して酸化物換算で20重量%の誘電
体形成液を合成した。
この液をAu/Cr (0,610,05μm)膜で被
覆されたアルミナ基板上に2000回転の条件でスピン
ナーにより塗布後450℃X30分、酸素中での焼成行
い、上記塗布、焼成を4回繰り返し、最終的に800℃
x lHr、酸素中で焼成して膜厚が1.0μmの緻密
で透明な薄膜状誘電体を得た。
覆されたアルミナ基板上に2000回転の条件でスピン
ナーにより塗布後450℃X30分、酸素中での焼成行
い、上記塗布、焼成を4回繰り返し、最終的に800℃
x lHr、酸素中で焼成して膜厚が1.0μmの緻密
で透明な薄膜状誘電体を得た。
この膜にAu電極をスパッターにより形成した後、lK
H2,25℃での比誘電率と誘電損失を横河ヒニーレッ
トバッカード社 LCRメーター4262Aにより測定
した。
H2,25℃での比誘電率と誘電損失を横河ヒニーレッ
トバッカード社 LCRメーター4262Aにより測定
した。
また静電容量の温度係数は25〜125℃までの範囲で
試料を恒温槽中に挿入して前証LCRメーターにより測
定した。
試料を恒温槽中に挿入して前証LCRメーターにより測
定した。
また直流電圧を印加して耐電圧を測定した。
その結果を第1表に示す。
尚、得られた薄膜状成形体のX線回折の結果、原料調整
組成と同等の構造を有する薄膜であることが確認された
。
組成と同等の構造を有する薄膜であることが確認された
。
第1表
※表中Xは、Pb:Ba=l−x:xのXを意味する。
また、試料Nα中Rは比較例を意味する。(以下同じ)
実施例2
鉛エトキサイドとストロンチウムイソプロポキサイドと
チタニウムブトキサイドを第2表に示すような割合に調
合し、メチルセロソルブ溶媒中に溶解し、ジェタノール
アミンをT1に対して1.5モル加えて酸化物換算で1
5重量%の誘電体形成液を合成した。
チタニウムブトキサイドを第2表に示すような割合に調
合し、メチルセロソルブ溶媒中に溶解し、ジェタノール
アミンをT1に対して1.5モル加えて酸化物換算で1
5重量%の誘電体形成液を合成した。
この液をPt/Ni膜で被覆されたシリコン基板上に4
00Orpm回転条件でスピンナーにより塗布後450
℃x30分、酸素中での焼成行い上記の塗布焼成を8回
繰り返し、最終的に800℃x1時間、酸素中で焼成し
て膜厚が2.0μmの緻密で透明な薄膜状誘電体を得た
。
00Orpm回転条件でスピンナーにより塗布後450
℃x30分、酸素中での焼成行い上記の塗布焼成を8回
繰り返し、最終的に800℃x1時間、酸素中で焼成し
て膜厚が2.0μmの緻密で透明な薄膜状誘電体を得た
。
この薄膜の電気特性を実施例1と同様の方法で測定した
。
。
結果を第2表に示す。
第2表
※)表中XはPb:5r=l−x:xのXを表す。
またPb+Sr/Ti=1.0
実施例3
鉛ブトキサイド21.2 gとカルンウムエトキサイド
5.2gとチタニウムエトキサイド13.8gをPb
:Ca=0.6 :0.4、Pb+Ca/Ti=lにな
るように調合し、インプロパツール溶媒中に溶解し、2
エチルヘキサン酸をT1に対して1.0モル加えて酸化
物換算で10重量%の誘電体形成液を合成した。
5.2gとチタニウムエトキサイド13.8gをPb
:Ca=0.6 :0.4、Pb+Ca/Ti=lにな
るように調合し、インプロパツール溶媒中に溶解し、2
エチルヘキサン酸をT1に対して1.0モル加えて酸化
物換算で10重量%の誘電体形成液を合成した。
この液をITO膜で被覆された石英ガラス基板上に50
00rpm回転条件でスピンナーにより塗布後450℃
X30分、空気中での焼成を行い、同様の操作を5回繰
り返し、最終的に900℃X1時間、空気中で焼成して
膜厚が1゜5μmの緻密で透明な薄膜状誘電体を得た。
00rpm回転条件でスピンナーにより塗布後450℃
X30分、空気中での焼成を行い、同様の操作を5回繰
り返し、最終的に900℃X1時間、空気中で焼成して
膜厚が1゜5μmの緻密で透明な薄膜状誘電体を得た。
この薄膜の電気特性を実施例1と同様の方法で測定した
所、比誘電率=490、誘電損失二〇、OL温度係数:
6001)pm/l:、耐電圧・15の特性が得られた
。
所、比誘電率=490、誘電損失二〇、OL温度係数:
6001)pm/l:、耐電圧・15の特性が得られた
。
実施例4
2エチルヘキサン酸鉛12.33 gとバリウムアセチ
ルアセトナ−) 8.38 gとチタニウムニドキサイ
ド6.9gをトルエン溶媒中に溶解し、(Pb/Ba=
lPb+Ba/T 1=1) 、酸化物換算で30重量
%の誘電体形成液を合成した。
ルアセトナ−) 8.38 gとチタニウムニドキサイ
ド6.9gをトルエン溶媒中に溶解し、(Pb/Ba=
lPb+Ba/T 1=1) 、酸化物換算で30重量
%の誘電体形成液を合成した。
この液をPt/Ni膜で被覆されたアルミナ基板上に焼
成後の膜厚が第3表に示すような膜−になるようにスピ
ンナーにより回転数を調節して塗布後、900℃X1時
間、空気中で焼成して薄膜状誘電体を得た。
成後の膜厚が第3表に示すような膜−になるようにスピ
ンナーにより回転数を調節して塗布後、900℃X1時
間、空気中で焼成して薄膜状誘電体を得た。
この薄膜の電気特性を実施例1と同様の方法で測定した
。
。
結果を第3表に示す。
第3表
0.08は導通のため測定不可
実施例5
チタニウムテトライソプロポキサイド28.4gをイン
プロパツール中に溶解し、これに蒸留水を1.8g滴下
して、ポリチタノキサンを合成した。
プロパツール中に溶解し、これに蒸留水を1.8g滴下
して、ポリチタノキサンを合成した。
次いで該ポリチタノキサン溶液に酢酸鉛22゜75gと
ストロンチウムイソプロポキンドロ、15gを混合し、
(Pb : 5r=0.7 :0.3、Pb+Sr/T
、イソステアリン酸を(Tiに対して0.5mo l/
Ti=1)添加して、酸化物換算で15重量%の誘電体
形成液を合成した。
ストロンチウムイソプロポキンドロ、15gを混合し、
(Pb : 5r=0.7 :0.3、Pb+Sr/T
、イソステアリン酸を(Tiに対して0.5mo l/
Ti=1)添加して、酸化物換算で15重量%の誘電体
形成液を合成した。
この液を白金板上に4000rpm回転条件でスピンナ
ーにより塗布後450℃X30分、酸素中での焼成を行
い、同様の操作を3回繰り返して、最終的に800℃X
1時間、空気中で焼成して膜厚が0.8μmの緻密な薄
膜状誘電体を得た。
ーにより塗布後450℃X30分、酸素中での焼成を行
い、同様の操作を3回繰り返して、最終的に800℃X
1時間、空気中で焼成して膜厚が0.8μmの緻密な薄
膜状誘電体を得た。
この薄膜の電気特性を実施例1と同様の方法で測定した
所、比誘電率:820、誘電損失:0.018、温度係
数:6001)pm/l:、耐電圧;lOの特性が得ら
れた。
所、比誘電率:820、誘電損失:0.018、温度係
数:6001)pm/l:、耐電圧;lOの特性が得ら
れた。
実施例6
鉛インプロポキサイド16.25gとストロンチウムエ
トキシド8.85g、四塩化チタン19゜Ogをインプ
ロパツール溶媒中に混合し、(Pb :5r=1 :L
Pb+Sr/Ti=1)、ジェタノールアミンをTi
に対して1,5モル/Ti添加して、酸化物換算で20
重量%の誘電体形成液を合成した。
トキシド8.85g、四塩化チタン19゜Ogをインプ
ロパツール溶媒中に混合し、(Pb :5r=1 :L
Pb+Sr/Ti=1)、ジェタノールアミンをTi
に対して1,5モル/Ti添加して、酸化物換算で20
重量%の誘電体形成液を合成した。
この液をPb/Ni膜で被覆されたアルミナ基板上に4
000rpmの条件でスピンナーにより塗布後450℃
x30分、空気中での焼成を行い、同様の操作を5回繰
り返して、最終的に800℃XIHr、空気中で焼成し
て膜厚が1.5μmの緻密な薄膜状誘電体を得た。
000rpmの条件でスピンナーにより塗布後450℃
x30分、空気中での焼成を行い、同様の操作を5回繰
り返して、最終的に800℃XIHr、空気中で焼成し
て膜厚が1.5μmの緻密な薄膜状誘電体を得た。
この薄膜の電気特性を実施例1と同様な方法で測定した
所、比誘電率=690、誘電損失:0.015、温度係
数:650ppm/l、耐電圧:15vの特性が得られ
た。
所、比誘電率=690、誘電損失:0.015、温度係
数:650ppm/l、耐電圧:15vの特性が得られ
た。
実施例7
ストロンチウムアセチルアセトナートとチタニウムブト
キサイドと第4表に示すようなPb化合物を混合し、(
Pb:5r=l:1、Pb+Sr/Ti=1) 、)ル
エン溶媒中に溶解して、酸化物換算で10重量%の誘電
体形成液を合成した。
キサイドと第4表に示すようなPb化合物を混合し、(
Pb:5r=l:1、Pb+Sr/Ti=1) 、)ル
エン溶媒中に溶解して、酸化物換算で10重量%の誘電
体形成液を合成した。
この液をpt/Ni膜で被覆されたチタン酸ストロンチ
ウム単結晶基板上4000rpmの条件でスピンナーに
より塗布後450℃x30分、空気中で焼成を行い、同
様の操作を2回繰り返して、最終的に800℃x1時間
、空気中で焼成を行い、膜厚が0.5μmの薄膜状誘電
体を得た。
ウム単結晶基板上4000rpmの条件でスピンナーに
より塗布後450℃x30分、空気中で焼成を行い、同
様の操作を2回繰り返して、最終的に800℃x1時間
、空気中で焼成を行い、膜厚が0.5μmの薄膜状誘電
体を得た。
この薄膜の電気特性を実施例1と同様な方法で測定した
。
。
結果を第4表に示す。
実施例8
鉛エトキシド29.7 gとバリウムイソプロポキシド
25.7 gとチタニウムイソプロポキサイド56.8
gをインプロパ/−ル溶媒中に溶解しくPb : B
a=0.4 : O96、Pb羊Ba/Ti−1)、更
に窒素中で反応温度50℃で蒸留水を5.4g(Tiに
対して1.5モル)滴下しながら、2時間還流して酸化
物換算で10重量%の誘電体形成液を合成した。
25.7 gとチタニウムイソプロポキサイド56.8
gをインプロパ/−ル溶媒中に溶解しくPb : B
a=0.4 : O96、Pb羊Ba/Ti−1)、更
に窒素中で反応温度50℃で蒸留水を5.4g(Tiに
対して1.5モル)滴下しながら、2時間還流して酸化
物換算で10重量%の誘電体形成液を合成した。
この液をPt/Cr膜で被覆されたアルミナ基板上に3
000rpmの条件でスピンナーにより塗布後450℃
x30分、酸素中の焼成を行い同様の操作を2回繰り返
して最終的に900℃xi時間、酸素中で焼成して緻密
で透明な膜厚1.0μmの薄膜状誘電体を得た。
000rpmの条件でスピンナーにより塗布後450℃
x30分、酸素中の焼成を行い同様の操作を2回繰り返
して最終的に900℃xi時間、酸素中で焼成して緻密
で透明な膜厚1.0μmの薄膜状誘電体を得た。
この薄膜の電気特性を実施例1と同様の方法で測定した
所、比誘電率コ500、誘電損失二o、ott、温度係
数:400ppm/l、耐電圧、15の特性が得られた
。
所、比誘電率コ500、誘電損失二o、ott、温度係
数:400ppm/l、耐電圧、15の特性が得られた
。
比較例1
鉛インプロポキシド32.5 gとチタニウムイソプロ
ポキシド28.4 gをPb/Ni膜1.0の割合に調
合し、イソプロパツール−トルエンの1:1 (重量比
)混合溶媒中に溶解し、イソステアリン酸をTiに対し
て0.2モル添加して酸化物換算で15重量%の誘電体
形成液を合成しナー この液をA u/Cr (0,610,05μm)膜で
被覆されたアルミナ基板場に2000回転の条件でスピ
ンナーにより塗布後450℃×30分、酸素中での焼成
を行い上言己の塗布焼成を4回繰り返し、最終的に80
0℃xlHr、酸素中で焼成して膜厚が1.0μmの薄
膜状誘電体を得た。
ポキシド28.4 gをPb/Ni膜1.0の割合に調
合し、イソプロパツール−トルエンの1:1 (重量比
)混合溶媒中に溶解し、イソステアリン酸をTiに対し
て0.2モル添加して酸化物換算で15重量%の誘電体
形成液を合成しナー この液をA u/Cr (0,610,05μm)膜で
被覆されたアルミナ基板場に2000回転の条件でスピ
ンナーにより塗布後450℃×30分、酸素中での焼成
を行い上言己の塗布焼成を4回繰り返し、最終的に80
0℃xlHr、酸素中で焼成して膜厚が1.0μmの薄
膜状誘電体を得た。
この薄膜の電気特性を実施例1と同様の方法で測定した
。その結果を第5表に示す。
。その結果を第5表に示す。
比較例2
バリウムイソプロポキサイド5.1gとチタニウムブト
キサイド6.8gをBa/Ti=1.0の割合でメチル
セロンルブ溶媒中で溶解混合しジェタノールアミンをT
1に対して1.5モル加えて酸化物換算で15重量%の
誘電体形成液を合成した。
キサイド6.8gをBa/Ti=1.0の割合でメチル
セロンルブ溶媒中で溶解混合しジェタノールアミンをT
1に対して1.5モル加えて酸化物換算で15重量%の
誘電体形成液を合成した。
この液をP t / N i膜で被覆されたシリコン基
板上に400Orpm回転条件でスピンナーにより塗布
後450℃×30分、酸素中での焼成を行い上記の塗布
焼成を6回繰り返し、最終的に800℃×1時間、酸素
中で焼成して膜厚が1.2μmの薄膜状誘電体を得た。
板上に400Orpm回転条件でスピンナーにより塗布
後450℃×30分、酸素中での焼成を行い上記の塗布
焼成を6回繰り返し、最終的に800℃×1時間、酸素
中で焼成して膜厚が1.2μmの薄膜状誘電体を得た。
この薄膜の電気特性を実施例1と同様の方法で測定した
。その結果を第5表に示す。
。その結果を第5表に示す。
比較例3
ストロンチウムニドキサイド17.8 gとチタニウム
ニドキサイド22.8gをSr/Ti=l。
ニドキサイド22.8gをSr/Ti=l。
0の割合でインプロパツール溶媒中に溶解し、2エチル
ヘキサン酸をTiに対して1,0モル加えて酸化物換算
で10重量%の誘電体形成液を合成した。
ヘキサン酸をTiに対して1,0モル加えて酸化物換算
で10重量%の誘電体形成液を合成した。
この液をITO膜で被覆された石英ガラス基板上に50
0Orpm回転条件でスピンナーにより塗布後450℃
X30分、空気中での焼成を行い、同様の操作を5回繰
り返し、最終的に900℃×1時間、空気中で焼成して
膜厚が1゜5μmの薄膜状誘電体を得た。
0Orpm回転条件でスピンナーにより塗布後450℃
X30分、空気中での焼成を行い、同様の操作を5回繰
り返し、最終的に900℃×1時間、空気中で焼成して
膜厚が1゜5μmの薄膜状誘電体を得た。
この薄膜の電気特性を実施例1と同様の方法で測定した
。その結果を第5表に示す。
。その結果を第5表に示す。
比較例4
カルンウムイソプロポキサイド7.9gとチタニウムニ
ドキサイド11.4 gをトルエン溶媒中に溶解しくC
a/Ti=1.0)、酸化物換算で10重量%の誘電体
形成液を合成した。
ドキサイド11.4 gをトルエン溶媒中に溶解しくC
a/Ti=1.0)、酸化物換算で10重量%の誘電体
形成液を合成した。
この液をPt/Ni膜で被覆されたアルミナ基板上に0
.5μmの膜厚になるようにスピンナーにより回転数を
調節して塗布後、900℃×1時間、空気中で焼成して
薄膜状誘電体を得た。
.5μmの膜厚になるようにスピンナーにより回転数を
調節して塗布後、900℃×1時間、空気中で焼成して
薄膜状誘電体を得た。
この薄膜の電気特性を実施例1と同様の方法で測定した
。その結果を第5表に示す。
。その結果を第5表に示す。
比較例5
酢酸鉛84gとランタンイソプロポキシド0゜859g
とチタニウムイソプロポキシド2.84gとジルコニウ
ムイソプロポキンド6.082 gをPb:La=0.
905:0.095. T+:Zr=0.35:0.6
5. (Pb+La)/(Ti+Zr)・1.0の割合
に調合し、イソプロパツール−トルエンの1=1 (重
量比)混合溶媒中に溶解し、15重量%の誘電体形成液
を合成した。
とチタニウムイソプロポキシド2.84gとジルコニウ
ムイソプロポキンド6.082 gをPb:La=0.
905:0.095. T+:Zr=0.35:0.6
5. (Pb+La)/(Ti+Zr)・1.0の割合
に調合し、イソプロパツール−トルエンの1=1 (重
量比)混合溶媒中に溶解し、15重量%の誘電体形成液
を合成した。
この液を白金基板上に2000回転の条件でスピンナー
により塗布後450℃×30分、酸素中での焼成を行い
、上記の塗布焼成を4回繰り返し、最終的800℃XI
Hr、酸素中で焼成して膜厚が1.0μmの薄膜状誘電
体を得た。
により塗布後450℃×30分、酸素中での焼成を行い
、上記の塗布焼成を4回繰り返し、最終的800℃XI
Hr、酸素中で焼成して膜厚が1.0μmの薄膜状誘電
体を得た。
この薄膜の電気特性を実施例1と同様の方法で測定した
。その結果を第5表に示す。
。その結果を第5表に示す。
第5表
−ε
Claims (2)
- (1)組成式(Pb_1_−_xM_x)TiO_3(
式中、0.1≦x≦0.9、Mはアルカリ土類金属のう
ち一種以上を示す。)で表される平均膜厚み0.1μm
〜10μm、比誘電率300以上、静電容量の温度係数
−1000ppm/℃〜+1000ppm/℃の物性を
有する薄膜状誘電体。 - (2)有機溶媒に可溶な鉛化合物、アルカリ土類金属化
合物、チタニウム化合物を有機溶媒中で溶解もしくは反
応させて誘電体形成溶液を合成し、次いで該溶液を平滑
基板上に塗布して薄膜を形成し、該薄膜を加熱処理する
か、あるいは基板上に該溶液の塗布、加熱処理を繰返し
、平均膜厚み0.1μm〜10μmの 組成式(Pb_1_−_xM_x)TiO_3(式中、
0.1≦x≦0.9、Mはアルカリ土類金属のうち一種
以上を示す。)で表される金属酸化物で薄膜を形成した
ことを特徴とする薄膜状誘電体の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63082032A JP2676775B2 (ja) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | 薄膜状誘電体及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63082032A JP2676775B2 (ja) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | 薄膜状誘電体及びその製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01253113A true JPH01253113A (ja) | 1989-10-09 |
| JP2676775B2 JP2676775B2 (ja) | 1997-11-17 |
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ID=13763187
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63082032A Expired - Fee Related JP2676775B2 (ja) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | 薄膜状誘電体及びその製造方法 |
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|---|---|
| JP (1) | JP2676775B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04319204A (ja) * | 1991-04-18 | 1992-11-10 | Fuji Xerox Co Ltd | 誘電体薄膜の製造方法 |
| US5717157A (en) * | 1993-12-01 | 1998-02-10 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Ferroelectric thin film and method of manufacturing the same |
| JP2008091904A (ja) * | 2006-09-30 | 2008-04-17 | Samsung Electronics Co Ltd | 誘電薄膜組成物、これを用いた金属酸化物誘電薄膜およびその製造方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS521499A (en) * | 1975-06-24 | 1977-01-07 | Hitachi Ltd | Thick film capacitor |
| JPS5510448A (en) * | 1978-07-07 | 1980-01-24 | Nippon Electric Co | Oxide permittivity material |
| JPS60236404A (ja) * | 1984-05-10 | 1985-11-25 | 日本曹達株式会社 | 薄膜強誘電体の製造方法 |
-
1988
- 1988-03-31 JP JP63082032A patent/JP2676775B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS521499A (en) * | 1975-06-24 | 1977-01-07 | Hitachi Ltd | Thick film capacitor |
| JPS5510448A (en) * | 1978-07-07 | 1980-01-24 | Nippon Electric Co | Oxide permittivity material |
| JPS60236404A (ja) * | 1984-05-10 | 1985-11-25 | 日本曹達株式会社 | 薄膜強誘電体の製造方法 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04319204A (ja) * | 1991-04-18 | 1992-11-10 | Fuji Xerox Co Ltd | 誘電体薄膜の製造方法 |
| US5717157A (en) * | 1993-12-01 | 1998-02-10 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Ferroelectric thin film and method of manufacturing the same |
| US5989395A (en) * | 1993-12-01 | 1999-11-23 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Ferroelectric thin film and method of manufacturing the same |
| JP2008091904A (ja) * | 2006-09-30 | 2008-04-17 | Samsung Electronics Co Ltd | 誘電薄膜組成物、これを用いた金属酸化物誘電薄膜およびその製造方法 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2676775B2 (ja) | 1997-11-17 |
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| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
| R370 | Written measure of declining of transfer procedure |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370 |
|
| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
| S533 | Written request for registration of change of name |
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|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
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