JPH01253237A - 真空処理装置 - Google Patents
真空処理装置Info
- Publication number
- JPH01253237A JPH01253237A JP8009688A JP8009688A JPH01253237A JP H01253237 A JPH01253237 A JP H01253237A JP 8009688 A JP8009688 A JP 8009688A JP 8009688 A JP8009688 A JP 8009688A JP H01253237 A JPH01253237 A JP H01253237A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- chamber
- processing
- substrates
- vacuum
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は、真空中で基板表面に薄膜のエツチング、膜堆
積等の処理を行なう真空処理装置の構成に関するもので
ある。
積等の処理を行なう真空処理装置の構成に関するもので
ある。
[従来の技術]
従来の真空処理装置では、第4図に連続ドライエツチン
グ装置の概略図を示すように、専らベルトを使って基板
を搬送していた。
グ装置の概略図を示すように、専らベルトを使って基板
を搬送していた。
即ち、作業者はまず大気中で、複数の被処理基板54を
、上下に若干の間隙を置いて設けられた基板キャリア4
7内の多数の棚に収納される。
、上下に若干の間隙を置いて設けられた基板キャリア4
7内の多数の棚に収納される。
その基板キャリア47は収納室43内の上下機構46の
上に、搬送ベルト49を挟み込むようにして載置され、
ゲートバルブ53が閉められて収納室43の内部が排気
系(図示しない)で真空排気され、所定の真空度に達し
た後ロードロックバルブ52が開かれて収納室43と予
備室42が連通状態になる。
上に、搬送ベルト49を挟み込むようにして載置され、
ゲートバルブ53が閉められて収納室43の内部が排気
系(図示しない)で真空排気され、所定の真空度に達し
た後ロードロックバルブ52が開かれて収納室43と予
備室42が連通状態になる。
ここで上下機構46がわずかに下降す−ることで、基板
キャリア47内の最下層部の基板54aが搬送ベルト4
9上に預けられ、搬送ベルト49および50の回転によ
って、この基板54aは予備室42内の54bの位置ま
で運ばれる。
キャリア47内の最下層部の基板54aが搬送ベルト4
9上に預けられ、搬送ベルト49および50の回転によ
って、この基板54aは予備室42内の54bの位置ま
で運ばれる。
予備室42の内部では、基板上下機構55の上昇により
、搬送ベルト50上の基板54bは一旦54cの位置ま
で持ち上げられる。待機していた基板搬送機構48が矢
印480を右方向に進んで、この基板54cを受は取る
と、上下機構55は原位置に下降する。
、搬送ベルト50上の基板54bは一旦54cの位置ま
で持ち上げられる。待機していた基板搬送機構48が矢
印480を右方向に進んで、この基板54cを受は取る
と、上下機構55は原位置に下降する。
ここでゲートバルブ51が開かれ、基板搬送機構48が
さらに進んで、基板54cを処理室41内の54dの位
置まで運び、処理室41内の基板上下機構45が上昇し
て、基板54dを受は取って一旦54eの位置まで持ち
上げる。役目を終えた基板搬送機構48は矢印480を
左方向に進んで予備室42内部の原待機位置に戻る。
さらに進んで、基板54cを処理室41内の54dの位
置まで運び、処理室41内の基板上下機構45が上昇し
て、基板54dを受は取って一旦54eの位置まで持ち
上げる。役目を終えた基板搬送機構48は矢印480を
左方向に進んで予備室42内部の原待機位置に戻る。
処理室41内の基板上下機構45が下降して基板54e
を電極44の上の54fの位置へ預けると、ゲートバル
ブ51が閉められ、処理室41内部で所定の処理用装置
(図示しない)が動作しエツチング、薄膜堆積等々の処
理が始まることになる。
を電極44の上の54fの位置へ預けると、ゲートバル
ブ51が閉められ、処理室41内部で所定の処理用装置
(図示しない)が動作しエツチング、薄膜堆積等々の処
理が始まることになる。
[発明が解決しようとする問題点コ
このような従来の方式によると、基板キャリア上下機構
46、ベルト49. 50、基板搬送機構48、予備室
内基板上下機構55、処理室内基板上下機構45等々と
、真空各室内における駆動部の構造が複雑で可動部品が
多く、そのためにゴミの発生が多く、大規模集積回路で
は半導体デバイスの歩留りを極めて悪化させていた。
46、ベルト49. 50、基板搬送機構48、予備室
内基板上下機構55、処理室内基板上下機構45等々と
、真空各室内における駆動部の構造が複雑で可動部品が
多く、そのためにゴミの発生が多く、大規模集積回路で
は半導体デバイスの歩留りを極めて悪化させていた。
さらに、処理室41内部では一般に基板は一時に1枚し
か処理できず、処理枚数を増そうとすると構造が急激に
複雑になって、ゴミの発生を一層増加させるという欠点
があ)た。
か処理できず、処理枚数を増そうとすると構造が急激に
複雑になって、ゴミの発生を一層増加させるという欠点
があ)た。
[発明の目的コ
この発明は、上記の問題を解決し、真空各室内の駆動機
構を減らして基板へのゴミの付着を大幅に減少させると
ともに、生産性を大幅に向上させることのできる真空処
理装置の提供を目的とする。
構を減らして基板へのゴミの付着を大幅に減少させると
ともに、生産性を大幅に向上させることのできる真空処
理装置の提供を目的とする。
[課題を解決するための手段]
上記目的達成のために本発明の真空処理装置は次の構成
をとる。即ち、 基板表面にエツチング、膜堆積等の薄膜処理を行なう処
理室と、該基板を大気中より取り込んで一時的に収納す
るための収納室と、これら両室に挟まれ両室とはゲート
バルブで接続される予備室と、該各室をそれぞれ排気す
る排気系と、該処理室には処理に用いるガスの導入系お
よび処理用装置とを備え、前記各室間の基板搬送は、該
予備室に配置された、所定軸につき半径方向(r)、円
周方向(θ)、軸方向(2)の3方向に自由度を有して
基板を搬送できる基板搬送ロボットで行なわしめ、該ロ
ボットは単一の導入管を通して大気側に置かれた動力装
置で駆動する構成である。
をとる。即ち、 基板表面にエツチング、膜堆積等の薄膜処理を行なう処
理室と、該基板を大気中より取り込んで一時的に収納す
るための収納室と、これら両室に挟まれ両室とはゲート
バルブで接続される予備室と、該各室をそれぞれ排気す
る排気系と、該処理室には処理に用いるガスの導入系お
よび処理用装置とを備え、前記各室間の基板搬送は、該
予備室に配置された、所定軸につき半径方向(r)、円
周方向(θ)、軸方向(2)の3方向に自由度を有して
基板を搬送できる基板搬送ロボットで行なわしめ、該ロ
ボットは単一の導入管を通して大気側に置かれた動力装
置で駆動する構成である。
さらに前記処理室には、複数面に基板を保持することが
できる多角筒状の基板ホルダーと、該基板ホルダーを該
角筒の軸のまわりに回転させる駆動装置とを備え、該角
筒の各面に逐次該ロボットから基板を授受する如くし、 またさらに前記予備室には、前記基板搬送ロボットによ
って、該基板を該ロボットのフィンガーに載せて押し付
けることにより、基板の芯を合わせることのできる機構
を備えることによって前記効果を一層高めるものである
。
できる多角筒状の基板ホルダーと、該基板ホルダーを該
角筒の軸のまわりに回転させる駆動装置とを備え、該角
筒の各面に逐次該ロボットから基板を授受する如くし、 またさらに前記予備室には、前記基板搬送ロボットによ
って、該基板を該ロボットのフィンガーに載せて押し付
けることにより、基板の芯を合わせることのできる機構
を備えることによって前記効果を一層高めるものである
。
[作用コ
かかるrθ2基板搬送ロボットを設けるときは、搬送系
の構成は格段に簡略化され、構成部品、可動部分が減少
してゴミの発生が大いに抑制されることになる。
の構成は格段に簡略化され、構成部品、可動部分が減少
してゴミの発生が大いに抑制されることになる。
さらにそれは、基板ホルダーの複数面利用、基板の芯合
わせ機構の利用を容易にし、相俟って生産性の大幅な向
上を達成することができる。
わせ機構の利用を容易にし、相俟って生産性の大幅な向
上を達成することができる。
[実施例コ
以下本発明を図面に基づいて説明する。
第1図(平面図)、第2図(その正面図)、第3図(基
板ホルダ一部分の詳細斜視図)は本発明の実施例のプラ
ズマ処理装置の概略図である。
板ホルダ一部分の詳細斜視図)は本発明の実施例のプラ
ズマ処理装置の概略図である。
収納室1、予備室2および処理室3がゲートバルブ4,
5で接続されており、収納室1には大気との間にバルブ
6が置かれている。さらに、基板7および基板キャリア
8の交換のために、大気中の90位置に回転可能である
ような、基板キャリア交換用テーブル9が設けられてい
る。
5で接続されており、収納室1には大気との間にバルブ
6が置かれている。さらに、基板7および基板キャリア
8の交換のために、大気中の90位置に回転可能である
ような、基板キャリア交換用テーブル9が設けられてい
る。
予備室2には、詳細を後述するrθ2基板搬送ロボット
10と、基板芯出し機構11とが設けられている。
10と、基板芯出し機構11とが設けられている。
処理室3には、その壁面を利用して、基板ホルダー12
と、基板ホルダーの各回毎に1つ宛の基板ホルダー上下
機構14(第3図参照)と、基板ホルダー回転機構15
と、2つの向き合った処理用装置(ここではプラズマ発
生装置)13,13′が取り付けられている。
と、基板ホルダーの各回毎に1つ宛の基板ホルダー上下
機構14(第3図参照)と、基板ホルダー回転機構15
と、2つの向き合った処理用装置(ここではプラズマ発
生装置)13,13′が取り付けられている。
基板ホルダー12はその表裏両面を基板保持面(A面と
B面)としており、ともに静電吸着機構16(第3図参
照)が設けられている。
B面)としており、ともに静電吸着機構16(第3図参
照)が設けられている。
図示しないが、収納室1、予備室2、処理室3はそれぞ
れ排気系、処理室にはざらに処理ガス導入系を備えてい
る。
れ排気系、処理室にはざらに処理ガス導入系を備えてい
る。
この装置の動作は次の通りである。
ゲートバルブ4を閉めてリークバルブ(図示せず)によ
ってガスを導入大気圧にした後バルブ6を開く、基板キ
ャリア交換用テーブル9を90位置に倒して、基板キャ
リア交換用テーブル90上に、複数の基板7を従来同様
に収容した基板キャリア8を載せる。
ってガスを導入大気圧にした後バルブ6を開く、基板キ
ャリア交換用テーブル9を90位置に倒して、基板キャ
リア交換用テーブル90上に、複数の基板7を従来同様
に収容した基板キャリア8を載せる。
次いで、基板キャリア交換テーブル90を9の位置に起
こしてバルブ6を閉め、収納室1の内部を高真空に排気
し、所定の真空度まで排気が完了すると、ゲートバルブ
4を開き、rθ2基板搬送ロボット10が動作してその
フィンガー100の先端に基板の1枚7a(基板キャリ
ア8内部の任意の棚から基板を取り出すことができる)
を乗せ、これを(2方向に)若干持ち上げて棚から外す
。
こしてバルブ6を閉め、収納室1の内部を高真空に排気
し、所定の真空度まで排気が完了すると、ゲートバルブ
4を開き、rθ2基板搬送ロボット10が動作してその
フィンガー100の先端に基板の1枚7a(基板キャリ
ア8内部の任意の棚から基板を取り出すことができる)
を乗せ、これを(2方向に)若干持ち上げて棚から外す
。
「θ2基板搬送ロボットlOは、さらに基板7aをr、
θ、2方向に移送して基板芯出し機構11にフィンガー
100上の基板7aを押し付け、基板位置の必要な修正
を行なうことができる。
θ、2方向に移送して基板芯出し機構11にフィンガー
100上の基板7aを押し付け、基板位置の必要な修正
を行なうことができる。
この開にバルブ4は閉められ、バルブ5が開かれる。
処理室3内部では既に基板ホルダー回転機構15が動い
て、第1図の基板ホルダー12を矢印150の方向に1
80°回転させて、その表面(A面)を所定の水平位置
に置いて待機している。
て、第1図の基板ホルダー12を矢印150の方向に1
80°回転させて、その表面(A面)を所定の水平位置
に置いて待機している。
「θZ基板搬送ロボット10は、r、θ、2方向に動作
してそのフィンガー100の先端の基板7aを、前記し
た基板ホルダー12の入面上に預けると、A面はその静
電吸着機構16で基板7を保持する。このとき基板ホル
ダー12のA面に近接して設けられた基板ホルダー上下
機構14が小量の上下動作(従来の上下機構の動作同様
)を行ない基板の受渡しと保持を助ける。
してそのフィンガー100の先端の基板7aを、前記し
た基板ホルダー12の入面上に預けると、A面はその静
電吸着機構16で基板7を保持する。このとき基板ホル
ダー12のA面に近接して設けられた基板ホルダー上下
機構14が小量の上下動作(従来の上下機構の動作同様
)を行ない基板の受渡しと保持を助ける。
rθ2基板搬送ロボット10がそのフィンガー100を
予備室内部に納める。そして、ロボット10が前記同様
の動作を行なって、次の基板7b(図示しない)を収納
室1から取り寄せて来る間に、処理室3では基板ホルダ
ー回転機構15が働いて、基板ホルダー12は180°
回転し、今度はB面を先の所定水平位置に置いて待機す
る。
予備室内部に納める。そして、ロボット10が前記同様
の動作を行なって、次の基板7b(図示しない)を収納
室1から取り寄せて来る間に、処理室3では基板ホルダ
ー回転機構15が働いて、基板ホルダー12は180°
回転し、今度はB面を先の所定水平位置に置いて待機す
る。
前記同様にして、rθ2基板搬送ロボット10はこのB
面にも基板7bを搬送する。
面にも基板7bを搬送する。
これで基板の搬送を終了すし、基板ホルダー12は矢印
150方向に90′回転して第1,2図の位置に戻り、
両基板7a、7bを垂直に立てる。
150方向に90′回転して第1,2図の位置に戻り、
両基板7a、7bを垂直に立てる。
この後は、バルブ5を閉めプラズマ発生装置13.13
′で発生したプラズマによって、基板7a、7bの同時
平行プラズマ処理が行なわれる。
′で発生したプラズマによって、基板7a、7bの同時
平行プラズマ処理が行なわれる。
処理終了後の基板の返戻動作は、基板の芯合わせが不要
となることを除けば、上述の順序と丁度逆である。
となることを除けば、上述の順序と丁度逆である。
さて、上記した本発明の基板搬送の主役を担う、rθ2
基板搬送ロボット10であるが、このロボットとしては
、例えば、「ウェハー搬送ユニット”RR8121”の
ロボット”RR302”」 (月刊雑誌 「自動化技術
」第19巻第8号(1987)54−(30頁)等を改
造して利用することができる。
基板搬送ロボット10であるが、このロボットとしては
、例えば、「ウェハー搬送ユニット”RR8121”の
ロボット”RR302”」 (月刊雑誌 「自動化技術
」第19巻第8号(1987)54−(30頁)等を改
造して利用することができる。
ロボット駆動用の機器、電気的諸装置も同様である。
但しこの本で述べるロボットは、第1,2図のr、θの
2方向だけに自由度を有するの基板搬送ロボットである
ため、これに2方向の運動を可能にする簡単な機構(簡
単であるため図示を省略)を加味して用いることができ
る。それらr、θ。
2方向だけに自由度を有するの基板搬送ロボットである
ため、これに2方向の運動を可能にする簡単な機構(簡
単であるため図示を省略)を加味して用いることができ
る。それらr、θ。
2の各方向用の駆動用モータ、歯車機構、ベルト機構は
すべて単一の導入管101の内部に収容され、大気中に
置かれる。真空と大気の境界に位置する運動の摺動面は
、0リングおよび磁気流体シールによって密封される。
すべて単一の導入管101の内部に収容され、大気中に
置かれる。真空と大気の境界に位置する運動の摺動面は
、0リングおよび磁気流体シールによって密封される。
処理室3の内部における駆動力の導入も上記と同様であ
る。
る。
本発明の真空処理装置は上記のような構造になっている
ので、真空各室内の運動部品、その運動量はともに大幅
に減少する。また実施例に示したように、収容室におけ
る基板キャリア交換用装置は、図示の交換テーブル9の
ように、軸動の一挙動で収納動作が完了するような単純
なものにてきるほか、処理室の諸機構も、1つの基板ホ
ルダーの表裏を使って2枚の基板を同時に処理するよう
にすることが容易にとなる。その構成が、基板ホルダー
周辺での極めて僅かな機構の追加で達成される。
ので、真空各室内の運動部品、その運動量はともに大幅
に減少する。また実施例に示したように、収容室におけ
る基板キャリア交換用装置は、図示の交換テーブル9の
ように、軸動の一挙動で収納動作が完了するような単純
なものにてきるほか、処理室の諸機構も、1つの基板ホ
ルダーの表裏を使って2枚の基板を同時に処理するよう
にすることが容易にとなる。その構成が、基板ホルダー
周辺での極めて僅かな機構の追加で達成される。
また、本実施例では基板ホルダーとして表裏を用いる二
面構成のもを示したが、基板ホルダーに多角筒体(例え
ば、4角筒)を用いてその各面に基板を置き、必要な角
度(90°)宛回転させて基板の授受を行なう構成も容
易に可能であり、そのときもやはり、基板ホルダー周辺
の構成は、極めて僅かな機構の追加だけですむ。
面構成のもを示したが、基板ホルダーに多角筒体(例え
ば、4角筒)を用いてその各面に基板を置き、必要な角
度(90°)宛回転させて基板の授受を行なう構成も容
易に可能であり、そのときもやはり、基板ホルダー周辺
の構成は、極めて僅かな機構の追加だけですむ。
さらに上記のような、複数基板の同時処理が可能になる
と、本発明の構成の装置では、実施例に示すように、プ
ラズマ発生装置3.3′を1個の予備室2に2個(一般
には複数個)取り付けそれぞれで別々の処理を行なわせ
ることも可能であって、その場合も基板搬送機構の増設
は必要でない。
と、本発明の構成の装置では、実施例に示すように、プ
ラズマ発生装置3.3′を1個の予備室2に2個(一般
には複数個)取り付けそれぞれで別々の処理を行なわせ
ることも可能であって、その場合も基板搬送機構の増設
は必要でない。
そしてそうした複数の処理用装置を設けた場合も、1枚
の基板のみを処理したい場合は、1個所の処理用装置だ
けを動作させればよいし、常時1枚処理だけという場合
は残りの処理用装置を取り除いて直ちに目的を達成する
ことができる。
の基板のみを処理したい場合は、1個所の処理用装置だ
けを動作させればよいし、常時1枚処理だけという場合
は残りの処理用装置を取り除いて直ちに目的を達成する
ことができる。
なお、基板処理に当たって基板の芯合わせがそれ程重要
でない場合は、芯合わせの機構は省略してもよい。
でない場合は、芯合わせの機構は省略してもよい。
また、基板キャリア交換時に、基板キャリア交換用テー
ブル9に基板7の方向を、オリフラ(オリエンテーショ
ン・フラット)を利用して、ローラー機構とビームセン
サーを用いて一度に揃えるようにしても芯合わせの目的
は達成できる。(例えば市販品として”FLAT FI
NDERmodel FFTBiM”長瀬産業四 があ
る。) 実施例では述べなかフたが、基板処理中に該基板ホルダ
ーに直流電圧バイアスあるいは高周波電力を印加するな
ど真空処理装置で従来行なわれていることは、プロセス
の必要に応じてすべて採用することが出来、この際もr
θ2基板搬送ロボットは構造の改変なしでそれに充分対
応出来る。
ブル9に基板7の方向を、オリフラ(オリエンテーショ
ン・フラット)を利用して、ローラー機構とビームセン
サーを用いて一度に揃えるようにしても芯合わせの目的
は達成できる。(例えば市販品として”FLAT FI
NDERmodel FFTBiM”長瀬産業四 があ
る。) 実施例では述べなかフたが、基板処理中に該基板ホルダ
ーに直流電圧バイアスあるいは高周波電力を印加するな
ど真空処理装置で従来行なわれていることは、プロセス
の必要に応じてすべて採用することが出来、この際もr
θ2基板搬送ロボットは構造の改変なしでそれに充分対
応出来る。
[発明の効果コ
本発明の真空処理装置は真空室内のゴミ発生を防止し、
生産性の向上をはかることができる。
生産性の向上をはかることができる。
第1図は本発明の実施例のプラズマ処理装置の平面図。
第2図はその正面図。
第3図はその基板ホルダ一部分の詳細斜視図。
第4図は従来のプラズマ処理装置の概略図である。
1・・・収納室、2・・・予備室、3・・・処理室、4
.5・・・ゲートバルブ、6・・・バルブ、°7・・・
基板、8・・・基板キャリア、9・・・基板キャリア交
換テーブル、 10・・・rθ2基板搬送ロボット、 11・・・基板芯出し機構、12・・・基板ホルダー、
13・・・処理用装置、14・・・基板上下機構、15
・・・静電吸着機構。 特許出願人 日電アネルバ株式会社 代理人 弁理士 村上 健次
.5・・・ゲートバルブ、6・・・バルブ、°7・・・
基板、8・・・基板キャリア、9・・・基板キャリア交
換テーブル、 10・・・rθ2基板搬送ロボット、 11・・・基板芯出し機構、12・・・基板ホルダー、
13・・・処理用装置、14・・・基板上下機構、15
・・・静電吸着機構。 特許出願人 日電アネルバ株式会社 代理人 弁理士 村上 健次
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 [1]真空中で基板表面にエッチング、膜堆積等の薄膜
処理を行なう処理室と、該基板を大気中より取り込んで
一時的に収納するための収納室と、これら両室に挟まれ
両室とはゲートバルブで接続される予備室と、該各室を
それぞれ排気する排気系と、該処理室には処理に用いる
ガスの導入系および処理用装置とを備え、前記各室間の
基板搬送は、該予備室に配置された、所定軸につき半径
方向(r)、円周方向(θ)、軸方向(2)の3方向に
自由度を有して基板を搬送できる基板搬送ロボットで行
なわしめ、該ロボットは単一の導入管を通して大気側に
置かれた動力装置で駆動したことを特徴とする真空処理
装置。 [2]前記処理室には、複数面に基板を保持することが
できる多角筒状の基板ホルダーと、該基板ホルダーを該
角筒の軸のまわりに回転させる駆動装置とを備え、該角
筒の各面に逐次該ロボットから基板を授受する如くした
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の真空処理
装置。 [3]前記予備室には、前記基板搬送ロボットによって
、該基板を該ロボットのフィンガーに載せて押し付ける
ことにより、基板の芯を合わせることのできる機構を備
えたことを特徴とする特許請求の範囲第1または2項記
載の真空処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8009688A JPH01253237A (ja) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | 真空処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8009688A JPH01253237A (ja) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | 真空処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01253237A true JPH01253237A (ja) | 1989-10-09 |
Family
ID=13708662
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8009688A Pending JPH01253237A (ja) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | 真空処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01253237A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03155619A (ja) * | 1989-11-14 | 1991-07-03 | Anelva Corp | 真空処理装置 |
| JPH04124274A (ja) * | 1990-09-13 | 1992-04-24 | Hitachi Electron Eng Co Ltd | 気相反応装置 |
| JPH04137613A (ja) * | 1990-09-28 | 1992-05-12 | Handotai Process Kenkyusho:Kk | 半導体装置の製造装置 |
| JPH04226048A (ja) * | 1990-04-19 | 1992-08-14 | Applied Materials Inc | 二重カセット装填ロック装置 |
| JPH05304197A (ja) * | 1992-04-27 | 1993-11-16 | Hitachi Ltd | マルチチャンバシステム |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57149748A (en) * | 1981-03-12 | 1982-09-16 | Anelva Corp | Treating device for substrate |
| JPS629643A (ja) * | 1985-07-08 | 1987-01-17 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 基板搬送装置 |
-
1988
- 1988-03-31 JP JP8009688A patent/JPH01253237A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57149748A (en) * | 1981-03-12 | 1982-09-16 | Anelva Corp | Treating device for substrate |
| JPS629643A (ja) * | 1985-07-08 | 1987-01-17 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 基板搬送装置 |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03155619A (ja) * | 1989-11-14 | 1991-07-03 | Anelva Corp | 真空処理装置 |
| JPH04226048A (ja) * | 1990-04-19 | 1992-08-14 | Applied Materials Inc | 二重カセット装填ロック装置 |
| EP0452939B1 (en) * | 1990-04-19 | 2000-11-02 | Applied Materials, Inc. | Apparatus and method for loading workpieces in a processing system |
| US6454519B1 (en) | 1990-04-19 | 2002-09-24 | Applied Materials, Inc. | Dual cassette load lock |
| US6454508B2 (en) | 1990-04-19 | 2002-09-24 | Applied Materials, Inc. | Dual cassette load lock |
| US6599076B2 (en) | 1990-04-19 | 2003-07-29 | Applied Materials, Inc. | Dual cassette load lock |
| JPH04124274A (ja) * | 1990-09-13 | 1992-04-24 | Hitachi Electron Eng Co Ltd | 気相反応装置 |
| JPH04137613A (ja) * | 1990-09-28 | 1992-05-12 | Handotai Process Kenkyusho:Kk | 半導体装置の製造装置 |
| JPH05304197A (ja) * | 1992-04-27 | 1993-11-16 | Hitachi Ltd | マルチチャンバシステム |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN101395711B (zh) | 纵式基板运送装置及成膜装置 | |
| JP2637730B2 (ja) | ウエハ状物品を輸送して少くとも一つの処理工程にかけるための装置及び方法 | |
| JPS6130030B2 (ja) | ||
| JP2598353B2 (ja) | 基板処理装置、基板搬送装置及び基板交換方法 | |
| KR20220054271A (ko) | 멀티-스테이션 프로세싱 및 전-프로세싱 스테이션 및/또는 후-프로세싱 스테이션을 갖는 컴팩트 기판 프로세싱 툴 | |
| JPH09176857A (ja) | ワークピースを表面処理するための真空装置 | |
| JPH0828411B2 (ja) | 半導体ウェハ製造装置、半導体ウェハ処理装置及びチャック装置 | |
| JP2002517055A (ja) | 基板取扱いおよび処理システムと方法 | |
| JPH0621357B2 (ja) | 移送プレート回転装置 | |
| TW201214607A (en) | Substrate processing apparatus | |
| JPH01253237A (ja) | 真空処理装置 | |
| JPS6169966A (ja) | 真空処理装置 | |
| JP2553074B2 (ja) | ウエ−フア−状材料の運搬方法および装置 | |
| US11694913B2 (en) | Hybrid system architecture for thin film deposition | |
| JPH03155619A (ja) | 真空処理装置 | |
| JPH098094A (ja) | 真空処理装置 | |
| JPH01157547A (ja) | 半導体ウエハ処理装置 | |
| JPWO2020252476A5 (ja) | ||
| TWI734305B (zh) | 用於沉積薄膜的複合系統架構 | |
| JPH05179428A (ja) | 薄膜形成装置 | |
| JP2004221610A (ja) | 半導体処理装置 | |
| CN112249685B (zh) | 进行基板快速交互搬送的机构及其搬送方法 | |
| JPH01261843A (ja) | ウェハースハンドリング用チャック | |
| JP3971081B2 (ja) | 真空処理装置 | |
| TW202114025A (zh) | 具有雙模式移動基板載具的系統 |