JPH0125341Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この考案は、ICの端子に接触させてICの端子
をIC試験器の端子に接続するIC試験器用接触装
置に関する。

「従来の技術」 IC（半導体集積回路）の試験システムにおいて
は、ICをIC試験器が設けられた測定部に順次供
給してIC試験器に順次接続し、ICを動作状態に
してICが正常に動作するか否かを試験し、ICの
良否を判定する。

このようにICをIC試験器に接続するために、
従来、第１図に示すように、保持具１にIC４の
端子５に接触させる接触子２が複数並んで取り付
けられ、この接触子２の一端側が駆動手段３によ
つて図の左右方向に動かされることによつて、接
触子２がIC４の端子５に接触し、端子５から離
隔するようにされた接触装置が用いられている。

この場合、接触子２がプリント基板１ａに半田
付けされるとともに、プリント基板１ａの上側に
接触子２の取付位置を取り囲む孔６が形成された
絶縁板７が取り付けられ、その孔６に接着材８が
充填されて接触子２が補強される。

「考案が解決しようとする課題」 しかしながら、上述した従来の接触装置におい
ては、接触子２がプリント基板１ａに半田付けさ
れるとともに接着材８で固着されるため、接触子
２の一部のみが不良になつたときでも保持具１を
含めて接触装置全体を交換しなければならず、接
触子２は接触を良好にし、バネ性を長期にわたつ
て安定に保持させるために金メツキなどが施され
た高価なものが用いられ、しかもその数は多いも
ので数10本にもなるので、非常に不経済である。

そこで、この考案は、一部の接触子のみを容易
に交換することができるとともに、IC試験器の
端子を接触子に容易かつ確実に接続することがで
きるようにしたものである。

「課題を解決するための手段」 この考案においては、複数の接触子を、それぞ
れ、所定方向に動かされることによつてICの端
子に接触させられる接触部と、この接触部に対し
て延長して形成された被挟持部と、この被挟持部
に対してほぼ垂直に折り曲げられた底板部とを有
する形状にするとともに、この複数の接触子の被
挟持部を挟持する複数の絶縁体によつて構成され
る保持具を設け、この保持具によつて、複数の接
触子の接触部と底板部が複数の絶縁体の互いに反
対の面側に臨む状態で複数の接触子を一列に配列
して保持する。

「作用」 上記のように構成された、この考案のIC試験
器用接触装置においては、それぞれの接触子の保
持具を構成する絶縁体の一面側に臨んだ底板部に
IC試験器の端子を接触させることによつて、IC
試験器の端子を接触子に容易かつ確実に接続する
ことができるとともに、一部の接触子が不良にな
つたときには、保持具を構成する複数の絶縁体を
一旦分離することによつて、その不良になつた接
触子のみを容易に交換することができる。

また、それぞれの接触子は複数の絶縁体によつ
て挟持されるだけでなく、その底板部が絶縁体に
係止されるので、接触子ががたついたり、保持具
から抜けてしまうことがない。

「実施例」 第２図は、この考案の接触装置の一例で、絶縁
体９ａ，９ｂおよび９ｃによつて構成される保持
具９に接触子２が複数、一列に配列されて保持さ
れる。

この例においては、接触子２は、第３図に示す
ように、ICの端子を挟持してICの端子に接触す
る接触部２ａ，２ｂと、接触部２ａ，２ｂに対し
て延長して形成された被挟持部２ｃ，２ｄと、被
挟持部２ｃ，２ｄに対してほぼ垂直に折り曲げら
れた底板部２ｅとを有する形状にされる。

そして、第２図においては接触子２の上述した
各部の符号が省略されているが、接触子２は、上
記の底板部２ｅが絶縁体９ｂの下面側に臨み、被
狭持部2cが絶縁体9a、9b間に介在され、被挟持
部２ｄが絶縁体９ｂ，９ｃ間に介在される状態
で、絶縁体９ａ，９ｂおよび９ｃの三者がボルト
とナツトにより締め付け合体されることによつ
て、被挟持部２ｃおよび２ｄが絶縁体９ａ，９ｂ
間および９ｂ，９ｃ間に挟持されて、保持具９に
保持される。

このように接触子２は絶縁体９ｂの下面側に臨
んだ底板部２ｅを有するので、IC試験器の端子
を接触子２に接続するにあたつてはIC試験器の
端子を接触子２の底板部２ｅに直接、接触させれ
ばよく、半田付けやコネクタによる接続などを要
することなくIC試験器の端子を接触子２に容易
かつ確実に接続することができる。

また、接触子２の一部が不良になつたときに
は、絶縁体９ａ，９ｂおよび９ｃを一旦分離する
ことによつて、その不良になつた接触子のみを容
易に交換することができる。

さらに、接触子２は絶縁体９ａ，９ｂおよび９
ｃによつて挟持されるだけでなく、その底板部２
ｅが絶縁体９ｂに係止されるので、接触子２がが
たついたり、保持具９から抜けてしまうことがな
い。

なお、第２図および第３図に示す例は、接触子
２の被挟持部２ｃおよび２ｄが外側に突出した部
分を有し、これに対応して絶縁体９ａ，９ｃおよ
び９ｂに凹部および凸部が形成される場合であ
る。

第４図および第５図に示す例は、接触子２の被
挟持部２ｃおよび２ｄが内側に突出した部分を有
し、これに対応して絶縁体９ａ，９ｃおよび９ｂ
に凸部および凹部が形成される場合で、この例に
おいても、第２図および第３図に示した例と同様
の作用を生じ、同様の効果が得られる。

第６図は、ICの端子が二列に配列されるのに
対応して、それぞれ接触子２を一列に配列して保
持した保持具９が間に間隙片１２を挟んで二つ配
置される場合で、この場合、間隙片１２を交換す
ることによつて端子間の寸法が異なるICに対応
させることができる。

なお、第７図および第８図に示すように、接触
子２はICの端子の片側において端子に接触する
一つの接触部のみを有するものでもよい。

「考案の効果」 上述したように、この考案によれば、それぞれ
の接触子を接触部のほかに被挟持部と底板部を有
する形状にして、その底板部を絶縁体の一面側に
臨ませ、その被挟持部を複数の絶縁体によつて挟
持する状態で複数の接触子を一列に配列して保持
するので、IC試験器の端子を接触子に容易かつ
確実に接続することができ、一部の接触子が不良
になつたときには、その不良になつた接触子のみ
を容易に交換することができるとともに、接触子
の保持が安定かつ確実になる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の接触装置の一例を示す断面図、
第２図はこの考案の接触装置の一例を示す斜視
図、第３図はその接触子を示す正面図、第４図は
この考案の接触装置の他の例の接触子を示す正面
図、第５図はこの考案の接触装置の他の例を示す
正面図、第６図、第７図および第８図はそれぞれ
この考案の接触装置のさらに他の例を示す正面図
である。 ２は接触子、２ａ，２ｂは接触部、２ｃ，２ｄ
は被挟持部、２ｅは底板部、９は保持具、９ａ，
９ｂ，９ｃは絶縁体である。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 それぞれ、所定方向に動かされることによつて
   ICの端子に接触させられる接触部と、この接触
   部に対して延長して形成された被挟持部と、この
   被挟持部に対してほぼ垂直に折り曲げられた底板
   部とを有する複数の接触子と、 この複数の接触子の上記被挟持部を挟持する複
   数の絶縁体によつて構成され、上記複数の接触子
   の上記接触部と上記底板部が上記複数の絶縁体の
   互いに反対の面側に臨む状態で上記複数の接触子
   を一列に配列して保持した保持具と、 を備えるIC試験器用接触装置。