JPH01254814A - 計測装置 - Google Patents
計測装置Info
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- JPH01254814A JPH01254814A JP8231688A JP8231688A JPH01254814A JP H01254814 A JPH01254814 A JP H01254814A JP 8231688 A JP8231688 A JP 8231688A JP 8231688 A JP8231688 A JP 8231688A JP H01254814 A JPH01254814 A JP H01254814A
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 16
- 230000003321 amplification Effects 0.000 abstract description 4
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 abstract description 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 8
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000000218 anomalous X-ray scattering Methods 0.000 description 1
- 210000004899 c-terminal region Anatomy 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、計測装置内の基準電圧発生回路の改良に関し
、特に、温度あるいは電源電圧等の変動による影響−を
少なくするための改良に関するものである。
、特に、温度あるいは電源電圧等の変動による影響−を
少なくするための改良に関するものである。
従来の計測装置は、第２図に示される構成で計測動作を
行ってきた。
行ってきた。
即ち、１はセンサで、検出量に応じたセンサ出力ＳＳを
増幅回路６に供給する。前記増幅回路６は、センサ出力
Ｓｓを増幅し、第４図に示す様な増幅電圧ＶｓをＡ／Ｄ
変換回路４のＸ端子に供給する。前記Ａ／Ｄ変換回路４
は積分回路４１及びカウンター回路４２より構成され、
前記増＠電圧ＶＳを積分回路４１により二重積分を行い
、そのＡ／Ｄ変換値を前記カウンター回路４２によりカ
ウントする。また、この時のセンサ１の検出感度は、セ
ンサ駆動回路２より供給されるセン″！７′駆動信号Ｓ
ｄの値に比例する。前記センサ駆動信号Ｓｄは、センサ
駆動基準電圧発生回路５１より供給されるセンサ駆動基
準電圧Ｖｄの値に比例し、通常は一定値となる。従って
、センサ出力Ｓｓは、前記センサ駆動基準電圧Ｖｄ′Ｌ
比例し、検出量をＰとすると、センサ出力ＳＳは、５ｓ
＝Ｐｘｋ−ｖｄ（ｋは比例定数）なる関係式が成り立つ
。また増幅回路３の増幅率をＡとすると、増幅電圧Ｖｓ
はＶｓ＝ＡＸＳｓ＝ＡＸＰＸｋ＠Ｖｄ＝ｌ 噛Ｖｄ（１
＝ＡｘＰｘｋ）となり、前記センサ駆動基準電圧Ｖｄに
比例した値となる。尚、５は基準電圧発生回路で、前記
センサ駆動基準電圧発生回路５１とコモン電圧発生回路
５２及び積分基準電圧発生回路５乙の３つの定電圧電源
シζより構成されている。前記コモン電圧発生回路５２
はコモン電圧Ｖｃを発生し、前記増幅回路３、及びＡ／
Ｄ変換回路４のＺ端子にそれぞれ供給している。そして
、コモン電圧Ｖｃは。
増幅回路６に供給する。前記増幅回路６は、センサ出力
Ｓｓを増幅し、第４図に示す様な増幅電圧ＶｓをＡ／Ｄ
変換回路４のＸ端子に供給する。前記Ａ／Ｄ変換回路４
は積分回路４１及びカウンター回路４２より構成され、
前記増＠電圧ＶＳを積分回路４１により二重積分を行い
、そのＡ／Ｄ変換値を前記カウンター回路４２によりカ
ウントする。また、この時のセンサ１の検出感度は、セ
ンサ駆動回路２より供給されるセン″！７′駆動信号Ｓ
ｄの値に比例する。前記センサ駆動信号Ｓｄは、センサ
駆動基準電圧発生回路５１より供給されるセンサ駆動基
準電圧Ｖｄの値に比例し、通常は一定値となる。従って
、センサ出力Ｓｓは、前記センサ駆動基準電圧Ｖｄ′Ｌ
比例し、検出量をＰとすると、センサ出力ＳＳは、５ｓ
＝Ｐｘｋ−ｖｄ（ｋは比例定数）なる関係式が成り立つ
。また増幅回路３の増幅率をＡとすると、増幅電圧Ｖｓ
はＶｓ＝ＡＸＳｓ＝ＡＸＰＸｋ＠Ｖｄ＝ｌ 噛Ｖｄ（１
＝ＡｘＰｘｋ）となり、前記センサ駆動基準電圧Ｖｄに
比例した値となる。尚、５は基準電圧発生回路で、前記
センサ駆動基準電圧発生回路５１とコモン電圧発生回路
５２及び積分基準電圧発生回路５乙の３つの定電圧電源
シζより構成されている。前記コモン電圧発生回路５２
はコモン電圧Ｖｃを発生し、前記増幅回路３、及びＡ／
Ｄ変換回路４のＺ端子にそれぞれ供給している。そして
、コモン電圧Ｖｃは。
全てのアナログ信号の基準となり、第４図に示される様
に増幅電圧Ｖｓもコモン電圧Ｖｃからの絶対値となり、
また、積分波形もコモン電圧Ｖｃを基準としている。ま
た、前記積分基準電圧発生回路５６は積分基準電圧Ｖｉ
を発生し、前記Ａ／Ｄ変換回路４のＸ端子に供給してい
る。
に増幅電圧Ｖｓもコモン電圧Ｖｃからの絶対値となり、
また、積分波形もコモン電圧Ｖｃを基準としている。ま
た、前記積分基準電圧発生回路５６は積分基準電圧Ｖｉ
を発生し、前記Ａ／Ｄ変換回路４のＸ端子に供給してい
る。
尚、第３図は前記Ａ／Ｄ変換回路４の構成を示したもの
で、以下その構成に従って各部の動作説明を行う。先づ
１．４１ａ及び４１ｂはアナログスイッチで、Ｃ端子に
Ｈレベルの信号が入力されると、φ端子の入力信号をＣ
端子より出力する。
で、以下その構成に従って各部の動作説明を行う。先づ
１．４１ａ及び４１ｂはアナログスイッチで、Ｃ端子に
Ｈレベルの信号が入力されると、φ端子の入力信号をＣ
端子より出力する。
４１Ｃｋ−！、バッファで、前記アナログスイッチ４１
ａあるいは４１ｂからの出力電圧を電流バッファする。
ａあるいは４１ｂからの出力電圧を電流バッファする。
４１ｄは抵抗値Ｒの積分抵抗、４１ｅは容量値Ｃの積分
コンデンサであり、いずれも４１ｆの演算増幅器との組
み合わせで積分動作を行い積分波形Ｓｉを出力する。４
１ｇは演算増幅器でコンパレータとして機能し、コンパ
レータ信号Ｓｅを出力する。そして、前記演算増幅器４
１ｆの出力する積分波形Ｓｉの電圧値がＳｉ〉ＶＣのと
きコンパレータ信号ＳｅはＬレベルで、Ｓｉ＜ＶＣのと
きコンパレータ信号ＳｅはＨレベルとなる。また、４２
ａは積分切換回路で、第４図のタイミングチャートに示
される様に、ＣＩＸ端子Ｈレベルのスタート信号３ｔが
入力されるとその立ち上がりに同期してＨレベルの第１
積分信号ＳｘをＱ１端子より出力する。そして、第１積
分信号Ｓｘはなり、その立ち下がりでＨレベルの第２ｆ
Ｗ分信号ＳｙをＱ２端子より出力する。そして、Ｃ２端
子ルに切り換わった時、第２積分信号ＳｙはＬレベルと
なる。４２ｂはカウンターで、Ｒ端子に入力される第１
積分信号ＳｘがＨレベルの時、カウンターの内容がリセ
ットされ、第１積分信号ＳｘがＬレベルの時、カウント
可能状態となり、アンドゲート４２ｅを介してφ端子に
入力−されるクロックパルスＰｃをカウントする。４２
Ｃはクロック発生回路で、クロックパルスｐｃを出力す
る。
コンデンサであり、いずれも４１ｆの演算増幅器との組
み合わせで積分動作を行い積分波形Ｓｉを出力する。４
１ｇは演算増幅器でコンパレータとして機能し、コンパ
レータ信号Ｓｅを出力する。そして、前記演算増幅器４
１ｆの出力する積分波形Ｓｉの電圧値がＳｉ〉ＶＣのと
きコンパレータ信号ＳｅはＬレベルで、Ｓｉ＜ＶＣのと
きコンパレータ信号ＳｅはＨレベルとなる。また、４２
ａは積分切換回路で、第４図のタイミングチャートに示
される様に、ＣＩＸ端子Ｈレベルのスタート信号３ｔが
入力されるとその立ち上がりに同期してＨレベルの第１
積分信号ＳｘをＱ１端子より出力する。そして、第１積
分信号Ｓｘはなり、その立ち下がりでＨレベルの第２ｆ
Ｗ分信号ＳｙをＱ２端子より出力する。そして、Ｃ２端
子ルに切り換わった時、第２積分信号ＳｙはＬレベルと
なる。４２ｂはカウンターで、Ｒ端子に入力される第１
積分信号ＳｘがＨレベルの時、カウンターの内容がリセ
ットされ、第１積分信号ＳｘがＬレベルの時、カウント
可能状態となり、アンドゲート４２ｅを介してφ端子に
入力−されるクロックパルスＰｃをカウントする。４２
Ｃはクロック発生回路で、クロックパルスｐｃを出力す
る。
４２ｄはスタートスイッチで、通常ＯＦＦとなっており
、スタート信号Ｓｔはプルダウン抵抗によりＬレベルと
なっている。そして、前記スタートスイッチ４２ｄをＯ
Ｎすると、スタート信号３ｔはＬ −＋ Ｈレベルに切
り換わり、Ａ／Ｄ変換を開始する。
、スタート信号Ｓｔはプルダウン抵抗によりＬレベルと
なっている。そして、前記スタートスイッチ４２ｄをＯ
Ｎすると、スタート信号３ｔはＬ −＋ Ｈレベルに切
り換わり、Ａ／Ｄ変換を開始する。
次に、第４図のタイミングチャートに従って第３図のＡ
／Ｄ変換回路４の動作説明を行う。
／Ｄ変換回路４の動作説明を行う。
先づ、前記スタートスイッチ４２ｄをＯＮする。
この時、前記積分コンデンサ４１ｅの両端の電位差は零
であり、積分波形Ｓｉは、３ｉ＝Ｖｃであるとする。そ
して次に、前記積分切換回路４２ａはＨレベルの第１積
分信号Ｓｘを出力し、前記アナログスイッチ４１ａをＯ
Ｎすると共に、前記カウンター４２ｂをリセットする。
であり、積分波形Ｓｉは、３ｉ＝Ｖｃであるとする。そ
して次に、前記積分切換回路４２ａはＨレベルの第１積
分信号Ｓｘを出力し、前記アナログスイッチ４１ａをＯ
Ｎすると共に、前記カウンター４２ｂをリセットする。
すると、Ｘ端子より入力される増幅電圧Ｖｓは、前記ア
ナログスイッチ４１ａを介し、前記バック７４１Ｃで電
流バッファされて、前記積分抵抗４１ｄに入力される。
ナログスイッチ４１ａを介し、前記バック７４１Ｃで電
流バッファされて、前記積分抵抗４１ｄに入力される。
この時の積分波形ＳｉはＳ １＝Ｖｃ−（Ｖｓ−Ｖｃ
）／Ｒ−ＣＸｌｌ （ｔ ｌは第１積分時間）で表わさ
れる。
）／Ｒ−ＣＸｌｌ （ｔ ｌは第１積分時間）で表わさ
れる。
この時、コンパレータ信号ＳｅはＨレベルとなっており
、アンドゲート４２ｅはＯＮ状態となって、クロックパ
ルスＰｃを前記カウンター４２ｂのφ端子に供給するが
、Ｒ端子に供給される第１積分信号Ｓ ｘが１］レベル
のため、前記カウンター４２ｂはリセット状態となって
いる。次に、第１積分信号Ｓｘが第１積分時間ｔ１でＨ
−＋Ｌレベルに切り換わり、前記アナログスイッチ４１
ａを０ＦＦ−ｉると共に前記カウンター４２ｂのリセッ
ト状態を解除する。そして、前記第１積分信号Ｓｘの立
ち下がりで第２積分信号ＳｙがＬ−＋Ｈレベルに切り換
わりアナログスイッチ４１ｂをＯＮと共に前記ガウンタ
ー４２ｂのリセットを解除する。するとＸ端子より入力
される積分基準電圧Ｖｉは、前記アナログスイッチ４１
ｂを介し、前記パック７４１Ｃで電流バッファされて、
前記積分抵抗４１ｄに入力される。この時の積分波形Ｓ
ｉは、Ｓ １＝Ｖｃ （（Ｖｓ−Ｖｃ ）／ＲＣｘ ｔ
１＋（Ｖ １−Ｖｃ ）／ＲＣｘ ｔ ２ ）（ｔ２
は第２積分時間）で表わされる。またこの時、前記カウ
ンター４２ｂはクロックパルスＰｃのカウントを開始し
ている。そして、積分波形Ｓｉが、５ｉ＝Ｖｃとなった
時、コンパレータ信ト４２ｅをＯＦＦすると共に、前記
積分切換回路４２ａの０２端子をＬレベルにする。これ
により、前記アナログスイッチ４１ｂをＯＦＦさせ、第
２積分を終了し、また前記カウンター４２ｂもカウント
をストップする。この時の第２積分時間ｔ２は、５ｉ＝
Ｖｃより、Ｖｃ＝Ｖｃ−（（Ｖｓ−Ｖｃ ）／ＲＣＸ
ｔ ｌ十（Ｖｉ−Ｖｃ）／ＲＣｘｔ２）−＋ｔ２＝（Ｖ
ｃ−Ｖｉ）／（Ｖａ−Ｖｃ）ｘｔｌで表わされ、時定数
ＲＣＫ依存しない値となる。
、アンドゲート４２ｅはＯＮ状態となって、クロックパ
ルスＰｃを前記カウンター４２ｂのφ端子に供給するが
、Ｒ端子に供給される第１積分信号Ｓ ｘが１］レベル
のため、前記カウンター４２ｂはリセット状態となって
いる。次に、第１積分信号Ｓｘが第１積分時間ｔ１でＨ
−＋Ｌレベルに切り換わり、前記アナログスイッチ４１
ａを０ＦＦ−ｉると共に前記カウンター４２ｂのリセッ
ト状態を解除する。そして、前記第１積分信号Ｓｘの立
ち下がりで第２積分信号ＳｙがＬ−＋Ｈレベルに切り換
わりアナログスイッチ４１ｂをＯＮと共に前記ガウンタ
ー４２ｂのリセットを解除する。するとＸ端子より入力
される積分基準電圧Ｖｉは、前記アナログスイッチ４１
ｂを介し、前記パック７４１Ｃで電流バッファされて、
前記積分抵抗４１ｄに入力される。この時の積分波形Ｓ
ｉは、Ｓ １＝Ｖｃ （（Ｖｓ−Ｖｃ ）／ＲＣｘ ｔ
１＋（Ｖ １−Ｖｃ ）／ＲＣｘ ｔ ２ ）（ｔ２
は第２積分時間）で表わされる。またこの時、前記カウ
ンター４２ｂはクロックパルスＰｃのカウントを開始し
ている。そして、積分波形Ｓｉが、５ｉ＝Ｖｃとなった
時、コンパレータ信ト４２ｅをＯＦＦすると共に、前記
積分切換回路４２ａの０２端子をＬレベルにする。これ
により、前記アナログスイッチ４１ｂをＯＦＦさせ、第
２積分を終了し、また前記カウンター４２ｂもカウント
をストップする。この時の第２積分時間ｔ２は、５ｉ＝
Ｖｃより、Ｖｃ＝Ｖｃ−（（Ｖｓ−Ｖｃ ）／ＲＣＸ
ｔ ｌ十（Ｖｉ−Ｖｃ）／ＲＣｘｔ２）−＋ｔ２＝（Ｖ
ｃ−Ｖｉ）／（Ｖａ−Ｖｃ）ｘｔｌで表わされ、時定数
ＲＣＫ依存しない値となる。
即ち、前記積分抵抗４１ｄの抵抗値Ｒ１及び積分コンデ
ンサ４１ｅの容量値Ｃが、温度変化等の影響により変化
しても、第２積分時間ｔ２は常に一定値となる。そして
、この第２積分時間ｔ２の間にカウントしたクロックパ
ルスＰｃの数がそのままＡ／Ｄ変換値となる。
ンサ４１ｅの容量値Ｃが、温度変化等の影響により変化
しても、第２積分時間ｔ２は常に一定値となる。そして
、この第２積分時間ｔ２の間にカウントしたクロックパ
ルスＰｃの数がそのままＡ／Ｄ変換値となる。
しかしながら、従来の基準電圧発生回路を有する計測装
置では、温度あるいは電源電圧等の変動により、センサ
駆動電圧Ｖｄ、コモン電圧Ｖｃ、及び積分基準電圧Ｖｉ
がそれぞれ、ｙ％、ｙ％、及び２％の変動をしていた。
置では、温度あるいは電源電圧等の変動により、センサ
駆動電圧Ｖｄ、コモン電圧Ｖｃ、及び積分基準電圧Ｖｉ
がそれぞれ、ｙ％、ｙ％、及び２％の変動をしていた。
このため、増＠電圧ＶＳも、ＶＳ＝ｌＩＩＶｄＸｘ／１
００と、ｙ％の変動をすることになる。従って、Ａ／Ｄ
変換値の基となる第２積分時間ｔ２は、 ｔ ２＝（ＶｃＸｙ／１００−ＶｉＸｚ／１００ ）／
（ＶＳＸＸ／１００−ＶＣＸｙ／１００）ｘｉ １＝（
ｙ＠Ｖｃ−ｚ−Ｖｉ ）／（ｘａＶｓ−ｙｌｌｖｃ）ｘ
ｔ １と、変動してしまうことになる。従って、Ａ／Ｄ
変換値も変動してしまうという問題があった。
００と、ｙ％の変動をすることになる。従って、Ａ／Ｄ
変換値の基となる第２積分時間ｔ２は、 ｔ ２＝（ＶｃＸｙ／１００−ＶｉＸｚ／１００ ）／
（ＶＳＸＸ／１００−ＶＣＸｙ／１００）ｘｉ １＝（
ｙ＠Ｖｃ−ｚ−Ｖｉ ）／（ｘａＶｓ−ｙｌｌｖｃ）ｘ
ｔ １と、変動してしまうことになる。従って、Ａ／Ｄ
変換値も変動してしまうという問題があった。
本発明の目的は、温度あるいは電源電圧等の変動忙も関
わらず、常に一定値の計測を可能とする計測装置を提供
するものである。
わらず、常に一定値の計測を可能とする計測装置を提供
するものである。
上記目的を達成するための本発明の構成は、センサと、
センサ駆動回路、増幅回路、Ａ／Ｄ変換回路、及び前記
センサ駆動回路と増幅回路とＡ／Ｄ変換回路とに各々基
準電圧を供給するための基準電圧発生回路を有する計測
装置に於いて、前記基準電圧発生回路が単一の定電圧電
源と、該定電圧電源の出力電圧を分割する抵抗分割で構
成されていることを特徴とする。
センサ駆動回路、増幅回路、Ａ／Ｄ変換回路、及び前記
センサ駆動回路と増幅回路とＡ／Ｄ変換回路とに各々基
準電圧を供給するための基準電圧発生回路を有する計測
装置に於いて、前記基準電圧発生回路が単一の定電圧電
源と、該定電圧電源の出力電圧を分割する抵抗分割で構
成されていることを特徴とする。
以下図面に基づいて本発明の実施例を詳述する。
第１図は本発明による基準電圧発生回路を有する計測装
置の構成図であり、第１図の構成図に於いて第２図の構
成図との共通部分には同一番号を付し、説明を省略する
。第１図に於いて第２図と異なった部分は、５０基準電
圧発生回路の構成であり、定電圧電源は５２のコモン電
圧発生回路のみとなり、コモン電圧Ｖｃを抵抗値Ｒ１の
抵抗５４と抵抗値Ｒ２の抵抗５５と抵抗値Ｒ３の抵抗５
６でそれぞれ分割した構成となっている。ここで、抵抗
値Ｒ１，Ｒ２、Ｒ３は、 Ｖｃｌ−（Ｒ２＋Ｒ３）／（Ｒｔ＋Ｒ２＋Ｒ３）ｘＶｃ
及びＶｉ＝Ｒ３／（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３）ｘＶｃ （Ｄ
両式を満たすように設定すれば良い。即ち、Ｒ１：Ｒ２
：Ｒ３＝（Ｖｃ−Ｖｄ）：（Ｖｄ−Ｖｉ）：Ｖｉ と
な；６゜次に、上記構成を有する計測装置の動作を説明
する。但し、第１図の構成図に於ける第２図の構成図と
の共通部分についての動作説明は省略する。
置の構成図であり、第１図の構成図に於いて第２図の構
成図との共通部分には同一番号を付し、説明を省略する
。第１図に於いて第２図と異なった部分は、５０基準電
圧発生回路の構成であり、定電圧電源は５２のコモン電
圧発生回路のみとなり、コモン電圧Ｖｃを抵抗値Ｒ１の
抵抗５４と抵抗値Ｒ２の抵抗５５と抵抗値Ｒ３の抵抗５
６でそれぞれ分割した構成となっている。ここで、抵抗
値Ｒ１，Ｒ２、Ｒ３は、 Ｖｃｌ−（Ｒ２＋Ｒ３）／（Ｒｔ＋Ｒ２＋Ｒ３）ｘＶｃ
及びＶｉ＝Ｒ３／（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３）ｘＶｃ （Ｄ
両式を満たすように設定すれば良い。即ち、Ｒ１：Ｒ２
：Ｒ３＝（Ｖｃ−Ｖｄ）：（Ｖｄ−Ｖｉ）：Ｖｉ と
な；６゜次に、上記構成を有する計測装置の動作を説明
する。但し、第１図の構成図に於ける第２図の構成図と
の共通部分についての動作説明は省略する。
前記基準電圧発生回路５は、内蔵する３つの抵抗５４．
５５．５６が全く等しい温度及び電気的特性を持ってい
れば、その抵抗値Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３も等しく変動するは
ずである。この時の変動率をα％とすると、 Ｖｄ＝（Ｒ２Ｘα／１００＋Ｒ３×α／１００）／（Ｒ
ＩＸα／１００＋Ｒ２×α／１００十ＲＸｄ／１００）
ＸＶｃ ＝ （Ｒ２＋Ｒ３）／（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３）Ｘ
Ｖｃ及ヒＶ ｉ ＝Ｒ３ｘａ／ｌ ＯＯ／（Ｒ１ｘｃｔ
／１００＋Ｒ２ｘｃｔ／１００＋Ｒ３ｘ（１／１００
）とＶｃ＝Ｒ３／（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３）ＸＶｃ以上の様
に相殺し問題にならない。即ち、温度あるいは電源電圧
等の変動により、コモン電圧Ｖｃがβ％変動したとする
と、前記コモン電圧Ｖｃの抵抗分割により発生するセン
サ駆動基準電圧Ｖｄ及び積分基準電圧Ｖｉも共にβ％の
変動となるはずである。ここで、増幅電圧ＶｓはＶＳ＝
Ｊ・Ｖｄであるから、センサ駆動電圧ｖｄがβ％変動す
れば、前記増幅電圧ＶＳも等しくβ％変動するはずであ
る。従って、Ａ／Ｄ変換値の基となる第２積分時間ｔ２
は、 ｔ２＝（ＶＣＸ／／１００−ＶｉＸ／／１００）／（Ｖ
ｓｘ／／１００−ＶｃＸ、＆／１００）Ｘｉ１＝（Ｖｃ
−Ｖｉ）／（Ｖｓ−Ｖｃ）Ｘｔｌ 以上（Ｄ様ＦＣ相
殺される。これにより、Ａ／Ｄ変換値は全く変動しない
こと忙なる。
５５．５６が全く等しい温度及び電気的特性を持ってい
れば、その抵抗値Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３も等しく変動するは
ずである。この時の変動率をα％とすると、 Ｖｄ＝（Ｒ２Ｘα／１００＋Ｒ３×α／１００）／（Ｒ
ＩＸα／１００＋Ｒ２×α／１００十ＲＸｄ／１００）
ＸＶｃ ＝ （Ｒ２＋Ｒ３）／（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３）Ｘ
Ｖｃ及ヒＶ ｉ ＝Ｒ３ｘａ／ｌ ＯＯ／（Ｒ１ｘｃｔ
／１００＋Ｒ２ｘｃｔ／１００＋Ｒ３ｘ（１／１００
）とＶｃ＝Ｒ３／（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３）ＸＶｃ以上の様
に相殺し問題にならない。即ち、温度あるいは電源電圧
等の変動により、コモン電圧Ｖｃがβ％変動したとする
と、前記コモン電圧Ｖｃの抵抗分割により発生するセン
サ駆動基準電圧Ｖｄ及び積分基準電圧Ｖｉも共にβ％の
変動となるはずである。ここで、増幅電圧ＶｓはＶＳ＝
Ｊ・Ｖｄであるから、センサ駆動電圧ｖｄがβ％変動す
れば、前記増幅電圧ＶＳも等しくβ％変動するはずであ
る。従って、Ａ／Ｄ変換値の基となる第２積分時間ｔ２
は、 ｔ２＝（ＶＣＸ／／１００−ＶｉＸ／／１００）／（Ｖ
ｓｘ／／１００−ＶｃＸ、＆／１００）Ｘｉ１＝（Ｖｃ
−Ｖｉ）／（Ｖｓ−Ｖｃ）Ｘｔｌ 以上（Ｄ様ＦＣ相
殺される。これにより、Ａ／Ｄ変換値は全く変動しない
こと忙なる。
以上の説明で明らかなよ５に１本発明によれば全ての基
準電圧の、温度あるいは電源電圧等の変動に対する変動
率を統一し、互いに相殺し合うことにより、誤計測の少
ない信頼性に優れた計測装置の実現を可能としている。
準電圧の、温度あるいは電源電圧等の変動に対する変動
率を統一し、互いに相殺し合うことにより、誤計測の少
ない信頼性に優れた計測装置の実現を可能としている。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明による計測装置の構成図、第２図は従来
技術による計測装置の構成図、第３図はＡ／Ｄ変換回路
の構成図、第４図は第３図に示されたＡ／Ｄ変僕変格回
路作状態な表わすタイミングチャートである。 １・・・・・・センサ、 ２・・・・・・センサ駆動回路、 ３・・・・・・増幅回路、 ４・・・・・・Ａ／Ｄ変換回路。 ５・・・・・・基準電圧発生回路、 ５２・・・・・・コモン電圧発生回路、５４．５５．５
６・・・・・・抵抗。 第 ４ 図
技術による計測装置の構成図、第３図はＡ／Ｄ変換回路
の構成図、第４図は第３図に示されたＡ／Ｄ変僕変格回
路作状態な表わすタイミングチャートである。 １・・・・・・センサ、 ２・・・・・・センサ駆動回路、 ３・・・・・・増幅回路、 ４・・・・・・Ａ／Ｄ変換回路。 ５・・・・・・基準電圧発生回路、 ５２・・・・・・コモン電圧発生回路、５４．５５．５
６・・・・・・抵抗。 第 ４ 図
Claims (1)
- センサとセンサ駆動回路、増幅回路、Ａ／Ｄ変換回路、
及び前記センサ駆動回路と増幅回路とＡ／Ｄ変換回路と
に各々基準電圧を供給するための基準電圧発生回路を有
する計測装置に於いて、前記基準電圧発生回路が単一の
定電圧電源と、該定電圧電源の出力電圧を分割する抵抗
分割で構成されていることを特徴とする計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8231688A JPH01254814A (ja) | 1988-04-05 | 1988-04-05 | 計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8231688A JPH01254814A (ja) | 1988-04-05 | 1988-04-05 | 計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01254814A true JPH01254814A (ja) | 1989-10-11 |
Family
ID=13771164
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8231688A Pending JPH01254814A (ja) | 1988-04-05 | 1988-04-05 | 計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01254814A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4230827A1 (de) * | 1991-09-16 | 1993-03-18 | Engel Gmbh Maschbau | Einrichtung zur elektrischen messung einer nichtelektrischen messgroesse |
-
1988
- 1988-04-05 JP JP8231688A patent/JPH01254814A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4230827A1 (de) * | 1991-09-16 | 1993-03-18 | Engel Gmbh Maschbau | Einrichtung zur elektrischen messung einer nichtelektrischen messgroesse |
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