JPH01255229A - 樹脂封止型半導体装置 - Google Patents
樹脂封止型半導体装置Info
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- JPH01255229A JPH01255229A JP63083354A JP8335488A JPH01255229A JP H01255229 A JPH01255229 A JP H01255229A JP 63083354 A JP63083354 A JP 63083354A JP 8335488 A JP8335488 A JP 8335488A JP H01255229 A JPH01255229 A JP H01255229A
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- JP
- Japan
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- lead frame
- semiconductor device
- adhesive
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- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Die Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は樹脂封止型半導体装置に関し、特に半導体素子
(以後簡単のためベレットと称す)とリードフレームの
接着剤部分間の応力を緩和することが可能な樹脂封止型
半導体装置に関する。
(以後簡単のためベレットと称す)とリードフレームの
接着剤部分間の応力を緩和することが可能な樹脂封止型
半導体装置に関する。
従来、この種の樹脂封止型半導体装置は第2図に示す様
にリードフレーム1.アイランド部2゜接着剤3.ベレ
ット4.金属ワイヤー5.封入面 −脂6からなってお
り、リードフレーム1のアイランド2上にベレット4が
接着剤3を用いて固着された後、ベレット4上の電極パ
ッドとリードフレーム1間に金属ワイヤー5がボンディ
ングされ、封入樹脂6による成形が行なわれ、外部リー
ドのメツキ処理やリード成形を経て製造されていた。
にリードフレーム1.アイランド部2゜接着剤3.ベレ
ット4.金属ワイヤー5.封入面 −脂6からなってお
り、リードフレーム1のアイランド2上にベレット4が
接着剤3を用いて固着された後、ベレット4上の電極パ
ッドとリードフレーム1間に金属ワイヤー5がボンディ
ングされ、封入樹脂6による成形が行なわれ、外部リー
ドのメツキ処理やリード成形を経て製造されていた。
上述した従来の樹脂封止型半導体装置は、最近のベレッ
ト4の大サイズ化に伴なって接着剤3の塗布面積の増加
を余儀なくされており、そのために様々な問題を引き起
こしている。
ト4の大サイズ化に伴なって接着剤3の塗布面積の増加
を余儀なくされており、そのために様々な問題を引き起
こしている。
例えば、接着剤3は元来樹脂をベースに調整されている
ので硬化収縮が避けられず、第3図の様に接着層にクラ
ック7が生じて不良に至る欠点があった。また、たとえ
接着剤3の硬化時にクラック7を生じなかった場合でも
、封入樹脂6による成形後、基板実装までの様々な熱履
歴により、接着剤3に熱膨張収縮からなるクラック7を
生じ、第4図に示す様なパッケージ外部までのクラック
を引き起こし、半導体の信頼性を極度に低下させる欠点
があった。更に、上記の不具合を改善するため第5図の
様に、故意に空洞8を設けてストレス緩和を試みたこと
もあったが、その空洞部分に水分が溜まりやすく、不純
物イオンを溶出させるだけでなく、実装時のパッケージ
のクラックを逆に増長させることに陥ってしまう欠点が
あった。
ので硬化収縮が避けられず、第3図の様に接着層にクラ
ック7が生じて不良に至る欠点があった。また、たとえ
接着剤3の硬化時にクラック7を生じなかった場合でも
、封入樹脂6による成形後、基板実装までの様々な熱履
歴により、接着剤3に熱膨張収縮からなるクラック7を
生じ、第4図に示す様なパッケージ外部までのクラック
を引き起こし、半導体の信頼性を極度に低下させる欠点
があった。更に、上記の不具合を改善するため第5図の
様に、故意に空洞8を設けてストレス緩和を試みたこと
もあったが、その空洞部分に水分が溜まりやすく、不純
物イオンを溶出させるだけでなく、実装時のパッケージ
のクラックを逆に増長させることに陥ってしまう欠点が
あった。
本発明の樹脂封止型半導体装置は、リードフレームのア
イランド部に接着剤を介して半導体素子を接着してなる
樹脂封止型半導体装置において、半導体素子とリードフ
レーム間の接着剤部分に少なくとも1つ以上の厚さ方向
の貫通孔を有する緩衝板を挿入したことを特徴としてい
る。
イランド部に接着剤を介して半導体素子を接着してなる
樹脂封止型半導体装置において、半導体素子とリードフ
レーム間の接着剤部分に少なくとも1つ以上の厚さ方向
の貫通孔を有する緩衝板を挿入したことを特徴としてい
る。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図(a)は本発明の第1の実施例の縦断面図である
。その構成として、リードフレーム11゜アイランド部
12.接着剤13.ベレット14゜金属ワイヤー15.
封入樹脂16.緩衝板17からなる。リードフレーム1
1のアイランド部12にベレット14が接着剤13を用
いて、緩衝板17を挿入して固着され、ペレット14上
の電極パッド部とリードフレーム11の間に金属ワイヤ
ー15がボンディングされ、封入樹脂16による成形が
行なわれ、外部リードがメツキ処理やリード成形される
。
。その構成として、リードフレーム11゜アイランド部
12.接着剤13.ベレット14゜金属ワイヤー15.
封入樹脂16.緩衝板17からなる。リードフレーム1
1のアイランド部12にベレット14が接着剤13を用
いて、緩衝板17を挿入して固着され、ペレット14上
の電極パッド部とリードフレーム11の間に金属ワイヤ
ー15がボンディングされ、封入樹脂16による成形が
行なわれ、外部リードがメツキ処理やリード成形される
。
第1図(b’)は第1の実施例で使用した緩衝板17の
斜視図であり、6ケの貫通孔を有している。
斜視図であり、6ケの貫通孔を有している。
第6図(a)乃至(c)は第1の実施例を製造する際の
緩衝板17を挿入する工程を示した工程順断面図であり
、第6図(a)の様に通常通り接着剤13を塗布した後
、ベレット14の位置決め機構を利用し、緩衝板17を
第6図(b)の様に接着剤13の上に置く。その後ひき
続きベレット14を通常通りもってきてスクラブをかけ
ると、接着剤13は流動して、緩衝板17の上部に回り
込み第6図(c)の状態に至り、目的の構造を得ること
ができる。
緩衝板17を挿入する工程を示した工程順断面図であり
、第6図(a)の様に通常通り接着剤13を塗布した後
、ベレット14の位置決め機構を利用し、緩衝板17を
第6図(b)の様に接着剤13の上に置く。その後ひき
続きベレット14を通常通りもってきてスクラブをかけ
ると、接着剤13は流動して、緩衝板17の上部に回り
込み第6図(c)の状態に至り、目的の構造を得ること
ができる。
本発明を実施するためには、ペレットポンディング装置
に緩衝板の供給機構と移送ヘッド部を取り付ければよく
、大掛かりな改造や新たな設備導入をする必要はない。
に緩衝板の供給機構と移送ヘッド部を取り付ければよく
、大掛かりな改造や新たな設備導入をする必要はない。
第7図は、本発明の第2実施例の緩衝板17を示す斜視
図である。この緩衝板は、線材を編んだ網状をしており
、素材自体の物性が異方性をもっている場合や、素材の
加工が難しい場合に有利である。
図である。この緩衝板は、線材を編んだ網状をしており
、素材自体の物性が異方性をもっている場合や、素材の
加工が難しい場合に有利である。
また、第8図は本発明の第3の実施例の緩衝板17を示
す斜視図であり、緩衝板の上面から下面に向けて貫通孔
が無数に存在している場合である。
す斜視図であり、緩衝板の上面から下面に向けて貫通孔
が無数に存在している場合である。
本発明では、緩衝板の材質自体が最初から貫通孔を有し
ている場合や後から加工を施した場合を問わない。第3
の実施例の場合、接着剤と緩衝板はほぼ一体化されるこ
とになり、熱ストレスの局部的集中を引き起こさないと
いう効果がある。
ている場合や後から加工を施した場合を問わない。第3
の実施例の場合、接着剤と緩衝板はほぼ一体化されるこ
とになり、熱ストレスの局部的集中を引き起こさないと
いう効果がある。
ここで言う緩衝板の材質は、金属、プラスチック、セラ
ミック等制限されるものではないが、接着剤の硬化が加
熱硬化の場合には、その硬化温度での耐熱性や接着剤と
の熱膨張と弾性率のバランスに関しては考慮する必要が
ある。例えば、プラスチックの場合200℃迄の耐熱性
と、3.0OX10−5(1/’C)以下の熱膨張(−
65℃〜+150℃の温度範囲の寸法変化率)及び15
00 kgf/ +nut以下の曲げ弾性率を兼ね備え
ることが実験的に判明している。
ミック等制限されるものではないが、接着剤の硬化が加
熱硬化の場合には、その硬化温度での耐熱性や接着剤と
の熱膨張と弾性率のバランスに関しては考慮する必要が
ある。例えば、プラスチックの場合200℃迄の耐熱性
と、3.0OX10−5(1/’C)以下の熱膨張(−
65℃〜+150℃の温度範囲の寸法変化率)及び15
00 kgf/ +nut以下の曲げ弾性率を兼ね備え
ることが実験的に判明している。
以上説明したように本発明は、接着剤層の中に緩衝板を
挿入することにより、接着剤硬化時の接着剤クラックや
熱履歴によるパッケージのクラックを抑える効果がある
。また、緩衝板自体の体積により、接着剤の必要量を低
減させる効果がある。
挿入することにより、接着剤硬化時の接着剤クラックや
熱履歴によるパッケージのクラックを抑える効果がある
。また、緩衝板自体の体積により、接着剤の必要量を低
減させる効果がある。
更に、緩衝板の厚みが半導体素子とリードフレーム間の
間隔を一定に保ち品質を安定させる点がある。
間隔を一定に保ち品質を安定させる点がある。
第1図(a)は本発明の第1の実施例の半導体装置の縦
断面図、第1図(b)は該第1の実施例に使用される緩
衝板の斜視図、第2図は従来の半導体装置の縦断面図、
第3図、第4図及び第5図はそれぞれ従来の半導体装置
の問題点を説明するための半導体装置の縦断面図、第6
図(a)乃至(c)は本発明の第1の実施例の緩衝板を
挿入する工程を示した工程順縦断面図、第7図は本発明
の第2の実施例の緩衝板の斜視図、第8図は本発明の第
3の実施例の緩衝板の斜視図である。 l、11・・・・・・リードフレーム、2.12・・・
・・・アイランド部、3.13・・・・・・接着剤、4
,14・・・・・・ペレット、5.15・・・・・・金
属ワイヤー、6.16・・・・・・封入樹脂、7・・・
・・・クラック、8空洞、17・・・・・・緩衝板。 代理人 弁理士 内 原 音
断面図、第1図(b)は該第1の実施例に使用される緩
衝板の斜視図、第2図は従来の半導体装置の縦断面図、
第3図、第4図及び第5図はそれぞれ従来の半導体装置
の問題点を説明するための半導体装置の縦断面図、第6
図(a)乃至(c)は本発明の第1の実施例の緩衝板を
挿入する工程を示した工程順縦断面図、第7図は本発明
の第2の実施例の緩衝板の斜視図、第8図は本発明の第
3の実施例の緩衝板の斜視図である。 l、11・・・・・・リードフレーム、2.12・・・
・・・アイランド部、3.13・・・・・・接着剤、4
,14・・・・・・ペレット、5.15・・・・・・金
属ワイヤー、6.16・・・・・・封入樹脂、7・・・
・・・クラック、8空洞、17・・・・・・緩衝板。 代理人 弁理士 内 原 音
Claims (1)
- リードフレームのアイランド部に接着剤を介して半導
体素子を接着してなる樹脂封止型半導体装置において、
半導体素子とリードフレームの間の接着剤部分に少なく
とも1つ以上の厚さ方向の貫通孔を有する緩衝板を挿入
したことを特徴とする樹脂封止型半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63083354A JPH01255229A (ja) | 1988-04-04 | 1988-04-04 | 樹脂封止型半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63083354A JPH01255229A (ja) | 1988-04-04 | 1988-04-04 | 樹脂封止型半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01255229A true JPH01255229A (ja) | 1989-10-12 |
Family
ID=13800101
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63083354A Pending JPH01255229A (ja) | 1988-04-04 | 1988-04-04 | 樹脂封止型半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01255229A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018006449A (ja) * | 2016-06-29 | 2018-01-11 | 富士通株式会社 | 電子機器の筐体および電子機器 |
-
1988
- 1988-04-04 JP JP63083354A patent/JPH01255229A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018006449A (ja) * | 2016-06-29 | 2018-01-11 | 富士通株式会社 | 電子機器の筐体および電子機器 |
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