JPH01256045A - 光ディスク検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は光ディスク検査装置に関し、特に、トラッキ
ング用アクチュエータを用いたサーボ系を有する光ピッ
クアップによって情報が読取られる光ディスクの傷など
を検査するための光ディスク検査装置に関する。

［従来の技術］ 光ディスク検査装置は、光ディスクに情報を記録するた
めの溝に対してトラッキングサーボをかけ、溝全部に対
して該光ディスクの溝の傷などの検査が行なわれる。こ
れら光ディスク装置においては、トラッキング用のアク
チュエータを用いたサーボ系を有する光ピックアップが
用いられる。

このような光検査装置で検査される光ディスクはできる
限り回転軸への取付偏心量の小さいことが望まれる。

［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、通常、光ディスクを内径基準で軸に嵌め
合いする場合、数十ミクロンの偏心を避けることができ
ない。また、光ディスク自体の製作工程において、内径
に対して溝が数十ミクロン偏心してしまっている。した
がって、最悪の場合には、溝は回転中心に対して約１０
０ミクロン程度偏心していることになる。このように、
偏心を有する溝にトラッキングサーボをかけて光ディス
クの特性を検査する装置では、その光ピックアップの特
性から、許容偏心量と回転数の関係は第６図に示すよう
な関係となっている。すなわち、第６図から明らかなよ
うに、偏心量の大きな光ディスクに対しては、高速回転
での検査が不可能である。光ディスクの偏心量は各光デ
ィスクのそれぞれによって異なっており、しかも生産ロ
ットによっても異なるため、光ディスクの回転数は最悪
の場合の偏心量に対する低い回転数で行なわなければな
らず、検査に要する時間が長くなってしまうという問題
点があった。

それゆえに、この発明の主たる目的は、偏心量が大きく
ても、成る程度の高速回転で光ディスクを検査できると
ともに、検査の初期時に光ディスクの偏心量をｎ１定し
、その大小に応じて検査回転数と検査モードを最適なも
のに選定できるような光ディスク検査装置を提供するこ
とである。

［課題を解決するための具体的な手段］この発明は光デ
ィスクの溝に追従してトラックキングサーボをかけるた
めに、トラッキングサーボループを構成する粗動アクチ
ュエータと微動アクチュエータとを含み、光ディスクの
特性をｎ１定するための光ディスク検査装置であって、
測定開始時に光ディスクの偏心量を判定する偏心量判定
手段と、粗動アクチュエータの位置を検出する検出手段
と、偏心量判定手段によって光ディスクの偏心量が予め
定める値以下であることが判定されたことに応じて、粗
動アクチュエータのトラッキングサーボループを解除し
て、検出手段の検出出力を粗動アクチュエータに与える
ように切換え、偏心量が予め定める値以上であることが
判定されたことに応じて、粗動アクチュエータのサーボ
ループを閉じるように切換える切換制御手段を備えて構
成したものである。

より好ましくは、粗動アクチュエータを直線的に移動可
能な直線スライド機構と、この直線スライド機構を駆動
するためのリニアモータとを含んで構成される。

さらに、微動アクチュエータはスライド機構の上に設け
られ、光ディスクの溝に対して光ビームを照射してその
反射光を受光し、その受光出力に基づいてトラッキング
サーボをかけるための光ピックアップを含んで構成され
る。

［作用］ この発明に係る光ディスク検査装置は、測定開始時に測
定された偏心量が予め定める値以下であれば、微動アク
チュエータのみによってトラッキングサーボループを構
成して先ディスクを高速で回転させ、偏心量が予め定め
る値以上であれば粗動アクチュエータと微動アクチュエ
ータとでトラッキングサーボループを構成して光ディス
クを比較的遅い速度で回転させる。　　・ ［発明の実施例］ 第１図はこの発明の一実施例の概略ブロック図である。

まず、第１図を参照して、この発明の一実施例の概略の
構成について説明する。駆動モータ１によって光ディス
ク２が回転駆動され、光ディスク２に対してトラッキン
グサーボをかけるために粗動アクチュエータとしてのス
ライド機構３と、微動アクチュエータとしての光ピック
アップ４が設けられる。スライド機構３はスライドサー
ボ回路６によって制御され、光ピックアップ４はトラッ
キングサーボ回路５によって制御される。偏心判定回路
８は光ディスク２の検査初期時に偏心量を判定するもの
である。サーボ切換回路７は偏心判定回路によって光デ
ィスク２の偏心量が所定の値以下であることが判定され
たことに応じて、トラッキングサーボ回路５によって光
ピックアップ４をトラッキングサーボ制御させるととも
に、スライドサーボ回路６によるスライド機構３のトラ
ッキングサーボループ制御を解除する。

また、サーボ切換回路７は偏心量が所定の値以上である
ことが判定されたことに応じて、トラッキングサーボ回
路５によって光ピックアップ４をトラッキングサーボ制
御させるとともに、スライドサーボ回路６もトラッキン
グサーボループ内に含めてスライド機構３をトラッキン
グサーボ制御させる。すなわち、光ディスクの偏心量が
小さいときには、光ピックアップ４のみをトラッキング
サーボ制御する１段制御となり、偏心量が大きい場合に
はスライド機構３と光ピックアップ４をトラッキングサ
ーボ制御する２段構成となる。

第２図は第１図に示したスライド機構の一例を示す要部
斜視図であり、第３図は同じく光ピックアップの概要を
示す図である。

次に、第２図および第３図を参照して、スライド機構３
と光ピックアップ４の構成について説明する。スライド
機構３はリニアモータ３１を含む。

このリニアモータ３１はスライド部３２を光ディスク２
の中心に向けて直線的にスライドさせるものである。ス
ライド部３２の上には光ピックアップ４が載置されてい
る。

光ピックアップ４は第３図に示すように、半導体レーザ
４１とコリメータレンズ４２とビームスプリッタ４３と
１／４波長板４４と固定ミラー４５と二次元アクチュエ
ータ４６と対物レンズ４７とレンズ４８とハーフミラ−
４９と光検出器５０とシリンドリカルレンズ５１と光検
出器５２とを含んで構成される。半導体レーザ４１はレ
ーザ光を発光するものであって、このレーザ光はコリメ
ータレンズ４２．ビームスプリッタ４３．　１／４波長
板４４．固定ミラー４５および対物レンズ４７を介して
光ディスク２に照射される。光ディスク２で反射したレ
ーザ光は対物レンズ４７．固定ミラー４５．１／４波長
板４４．ビームスプリッタ４３．レンズ４８．ハーフミ
ラ−４９を介して光検出器５０で検出されるとともに、
ハーフミラ−４９で反射され、シリンドリカルレンズ５
１を介して光検出器５２によって検出される。二次元ア
クチュエータ４６は対物レンズ４７を第３図においてａ
、　　ｂ方向に移動させてフォーカス調整を行ない、ｃ
、ｄ方向に移動させてトラッキング制御を行なう。なお
、第３図に示したような光ピックアップ４は従来から既
に知られているので、詳細な説明は省略する。

第４図はこの発明の一実施例の具体的なブロック図であ
って、第１図に示した構成をより具体的に示したもので
ある。

第４図において、リニアモータ３１の近傍には、このリ
ニアモータ３１の位置を検出するための位置検出器９が
設けられる。位置検出器９によって検出されたリニアモ
ータ３１の位置は位置決め指令回路１０に与えられる。

位置決め指令回路１０には位置指令信号が与えられてい
る。位置決め指令回路１０は位置検出器９によって検出
されたリニアモータ３１の位置と位置指令信号との偏差
を出力してサーボ切換回路７に与える。サーボ切換回路
７は第１図に示した偏心判定回路８の判定出力に基づい
て、位置決め指令回路１０の出力側またはゲイン調整回
路６７の出力側に切換える。

スライドサーボ回路６はゲイン調整回路６１と位相補償
回路６２とノツチフィルタ６３とパワーアンプ６４とロ
ーパスフィルタ６６とゲイン調整回路６７とから構成さ
れ、トラッキングサーボ回路５はトラッキングエラー検
出回路５１と位相補償回路５２とゲイン調整回路５３と
パワーアンプ５４とから構成される。トラッキングエラ
ー検出回路５１は光ピックアップ４から与えられるトラ
ッキング信号に基づいて、エラーであるか否かを検出す
るものである。トラッキングエラー検出回路５１によっ
て検出されたトラッキングエラー検出信号は位相補償回
路５２に与えられて位相補償が行なわれ、ゲイン調整回
路５３によってゲインが調整された後パワーアンプ５４
に与えられる。

パワーアンプ５４はそのトラッキングエラー検出信号に
基づいて、光ピックアップ４に対してトラッキングサー
ボをかける。

また、トラッキングエラー検出回路５１によって検出さ
れたトラッキングエラー信号はローパスフィルタ６６に
与えられ、高周波成分が減衰された後、ゲイン調整回路
６７によってゲインが調整される。さらに、サーボ切換
回路７を介してゲイン調整回路６１に与えられて再びゲ
イン調整が行なわれ、位相補償回路６２によって位相補
償が行なわれた後、フィルタ６３によって共振ピークが
減衰される。さらに、トラッキングエラー検出信号はパ
ワーアンプ６４で増幅され、パワーアンプ６４の出力に
基づいてリニアモータ３１が駆動される。

第５図はこの発明の一実施例における回転数と検査可能
偏心量との関係を示す図である。

次に、第１図ないし第５図を参照して、この発明の一実
施例の具体的な動作について説明する。

偏心判定回路８は光ディスク２の検査初期時に偏心信号
に基づいて、光ディスク２がどの程度偏心しているかを
判定する。偏心判定回路８は第５図のＡ点に示すように
偏心量が比較的小さい場合、第４図に示したサーボ切換
回路７を位置決め指令回路１０側に切換える。位置決め
指令回路１０は位置検出器９によって検出されたスライ
ド部３２の位置と位置指令信号との差の偏心量に対応し
た信号を出力する。この信号はゲイン調整回路６１゜位
相補償回路６２．ノツチフィルタ６３を介してパワーア
ンプ６４に与えられる。パワーアンプ６４はリニアモー
タ３１を駆動する。

このとき、トラッキングエラー検出回路５１は光ピック
アップ４から出力された信号に基づいてトラッキングエ
ラーを検出し、トラッキングエラー検出信号を位相補償
回路５２．ゲイン調整回路５３を介してパワーアンプ５
４に与える。応じて、パワーアンプ５４は光ピックアッ
プ４を駆動する。

この場合、第５図に示すように、光ディスク２を比較的
高速で回転させても、トラッキングサーボだけでも偏心
に対して光ピックアップ４を十分に追従させることがで
きる。

逆に、第５図のＢ点に示すように偏心量が比較的大きい
場合には、偏心判定回路８はサーボ切換回路７をゲイン
調整回路６７の出力側に切換える。

トラッキグエラー検出回路５１によって検出されたトラ
ッキングエラー信号はトラッキングサーボ回路５に与え
られるとともに、ローパスフィルタ６６、ゲイン調整回
路６７、サーボ切換回路７゜ゲイン調整回路６１１位相
補償回路６２．ノツチフィルタ６３を介してパワーアン
プ６４に与えられる。パワーアンプ６４はトラッキング
エラー検出信号を増幅してリニアモータ３１を駆動する
。

一方、トラッキングサーボ回路５はトラッキングエラー
検出信号に応じて光ピックアップ４をトラッキングサー
ボしている。すなわち、偏心量が大きい場合には、スラ
イドサーボ回路６によるサーボとトラッキングサーボ回
路５によるトラッキングサーボの２段階のサーボをかけ
ることになる。

この場合、第５図に示すように、光ディスク２を比較的
低速で回転させ、トラッキングサーボとスライドサーボ
をかけることにより、偏心に対して十分に追従させるこ
とができる。

［発明の効果］ 以上のように、この発明によれば、偏心量が小さい場合
には粗動アクチュエータをトラッキングサーボループ系
から切り離し、粗動アクチュエータの位置検出出力に基
づいて粗動アクチュエータを制御するとともに、微動ア
クチュエータにトラッキングサーボをかけ、偏心量が大
きい場合には粗動アクチュエータと微動アクチュエータ
にトラッキングサーボをかけるようにしたので、検査回
転数と検査モードを最適なものに選ぶことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例の概略ブロック図である。 第２図は光ディスクを検査するための直線スライド機構
を示す外観斜視図である。第３図はトラッキングアクチ
ュエータを示す図である。 第４図はこの発明の一実施例の具体的なブロック図であ
る。第５図はこの発明の一実施例における光ディスクの
回転数と検査可能偏心量との関係を示す図である。第６
図は従来のディスク検査装置における回転数と検査可能
な偏心量との関係を示す図である。 図において、１は駆動モータ、２は光ディスク、３はス
ライド機構、４は光ピックアップ、５はトラッキングサ
ーボ回路、６はスライドサーボ回路、判 ７はサーボ切換回路、８は偏心錯定回路、９は位置検出
器、５１はトラッキングエラー検出回路、５２．６２は
位相補償回路、５３．６１．６７はゲイン調整回路、５
４．６４はパワーアンプ、６６はローパスフィルタを示
す。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）光ディスクの溝に追従してトラックキングサーボ
   をかけるために、トラッキングサーボループを構成する
   粗動アクチュエータと微動アクチュエータとを含み、前
   記光ディスクの特性を測定するための光ディスク検査装
   置であって、測定開始時に前記光ディスクの偏心量を判
   定する偏心量判定手段と、 前記粗動アクチュエータの位置を検出する検出手段と、 前記偏心量判定手段によって前記光ディスクの偏心量が
   予め定める値以下であることが判定されたことに応じて
   、前記粗動アクチュエータのトラッキングサーボループ
   を解除して、前記検出手段の検出出力を該粗動アクチュ
   エータに与えるように切換え、前記偏心量が予め定める
   値以上であることが判定されたことに応じて、前記粗動
   アクチュエータのサーボループを閉じるように切換える
   切換制御手段を備えた、光ディスク検査装置。
2. （２）前記粗動アクチュエータは、 直線的に移動可能な直線スライド機構と、 前記直線スライド機構を駆動するためのリニアモータと
   を含む、請求項１項記載の光ディスク検査装置。
3. （３）前記微動アクチュエータは、前記スライド機構の
   上に設けられ、前記光ディスクの溝に対して光ビームを
   照射してその反射光を受光し、その受光出力に基づいて
   トラッキングサーボをかけるための光ピックアップを含
   む、請求項２項記載の光ディスク検査装置。