JPH01256138A - キャリアテープおよびその使用方法 - Google Patents

キャリアテープおよびその使用方法

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JPH01256138A
JPH01256138A JP63082887A JP8288788A JPH01256138A JP H01256138 A JPH01256138 A JP H01256138A JP 63082887 A JP63082887 A JP 63082887A JP 8288788 A JP8288788 A JP 8288788A JP H01256138 A JPH01256138 A JP H01256138A
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JP
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carrier tape
holes
tape
sprocket
rows
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Takashi Hiraide
平出 隆
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Casio Computer Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、キャリアテープおよびその使用方法に関す
る。
[従来技術] 近時、ICデバイスを搭載するキャリアテープが知られ
ている。このキャリアテープは、両側縁部に所定間隔を
置いて形成されたスプロケット穴に噛合する送り南を有
するスプロケットにて移送されるとともに、ICデバイ
スは中央部に形成されたICデバイス穴部分にTAB 
(丁apeAutomated Bonding )方
式により装着されるようになっている。従来のキャリア
テープの場合、ICデバイスは巾方向に1行塔佐される
ものであり、キャリアテープの1回の処理は1列のIC
デバイスに対して行なわれるようになっている。この場
合、1回の処理に対してのキャリアテープの送り賃はス
プロケットの送り南が噛合するスズロケット穴により設
定される。すなわち、所定の処理が完了したキャリアテ
ープはスプロケット穴に噛合するスプロケットを予め定
められた角度だけ回転させることにより移送されて次に
処理される列のICデバイス部分が位置決めされるので
ある。
[発明が解決しようとする課題] しかし、上記従来のテープキャリアのようにICデバイ
スがIj1方向に1行PS儀され、しかもスプロケット
穴により送り量が設定されて1回の処理がICデバイス
1列に対して行なわれるものでは、1回の処理がICデ
バイス1個分のみであるから生産能率が川だ低いもので
あった。
この発明は、上述の如き事情に鑑みてなされたもので、
その目的とするところは、キャリアテープへの1回の処
理がICデバイス複数個分−度に行なえるようにして生
産能率を大巾に向上させることを可詣としたキャリアテ
ープおよびその使用方法を提供することにある。
[課題を解決するための手段] 」―記目的を達成するため、この発明のキャリアテープ
は、巾方向に複数行のICデバイス穴を形成するととも
に、前記ICデバイス穴の複数列毎にスプロケット穴と
は別のテープ送り量設定穴又はマークを設けたものであ
る。
また、この発明のキャリアテープの使用方法は、上記構
成のキャリアテープを前記スプロケット穴に噛合する送
り歯を有するスプロケットで移送し、センサにより前記
テープ送り量設定穴又はマークを検出して1回の送り量
を設定するようにしたものである。
[作 用] 上記の如く構成されたこの発明のキャリアテープによれ
ば、テープ送り量設定穴又はマークをセンサで検出して
1回の送り量を設定することにより、キャリアテープへ
の1回の処理がICデバイス複数個分−度に行なえるよ
うになり、従って。
生産能率の大rlJな向上が図れる。
[実施例] 以下、この発明の一実施例を図面に基づいて説’51す
る。
第1図(A)はこの発明によるキャリアテープを示して
いる0図示されたキャリアテープlは、既にポンディン
グ工程を終えて各ICデバイス穴2部分にfJS1図(
B)に示す如<ICデバイス3を搭載法の状態にある。
キャリアテープlは、例えばポリエステル樹脂、ポリイ
ミド樹脂等の可撓性および絶縁性を有した樹脂フィルム
からなり、かつ、相当11】広な寸法とされている。こ
のようなキャリアテープlは1両側縁部にそれぞれ二列
のスプロケット穴4.5を有し、中央部に多数のICデ
バイス穴2を有している。二列のスプロケット穴4.5
は対向配置されており、それぞれ長手方向に所定間隔を
置いて形成されている。ここでは外側に配置されたスプ
ロケット穴4は円形穴とされ、内側に配置されたスプロ
ケット穴5は角形穴とされている。ICデバイス穴2は
キャリアテープ1の巾方向に所定間隔を置いて複数行配
置されており、これらの各ICデバイス穴2部分には第
1図(B)に示すようにICデバイス3が#&載されて
いる。
ICデバイス3はキャリアテープlの下側に配置され、
キャリアテープlの上面にICデバイス穴2の内方迄延
出して形成されているフィンガーリード7に図示しない
電極がポンディングされる。
この場合、フィンガーリード7はキャリアテープ1の」
二面にラミネートされた銅箔をエツチング処理して形成
されるものである。このエツチング処理ではフィンガー
リード7に錫又は半田メツキをする際、各フィンガーリ
ード7にメツキ用のアース電位を印加するためICデバ
イス3を1個分ごとに囲む格子状の銅箔パターン8も形
成される。
格子状の銅箔パターン8は全体的に連続するように形成
されており、この銅箔パターン8に各ICデバイス3の
フィンガーリード7が接続されている。
また、このキャリアテープlの両側縁部には、スプロケ
ット穴4.5の他複数列のICデバイス穴2毎(F)に
テープの送り量を設定するためのテープ送り量設定穴(
又はマーク)9.9が設けられている。
上記構成にあるこの発明のキャリアテープlは第2図に
示す工程(a)〜(k)を経て製造される。すなわち、
まず、プレス工程(a)において、キャリアテープ1に
、二列のスプロケット穴4.5およびICデバイス穴2
.テープ送り量設定穴9が穿設される。この場合、IC
デバイス穴2は、図面上では一部省略しであるが、実際
には銅箔パターン8によって形成される格子部内のすべ
てに形成されるものである0次に、このプレス工程(a
)で所定の穴が穿設されたキャリアテープlは銅箔ラミ
ネート工程に送られ、ここで上面にフィンガーリード7
および銅箔パターン8を構成するための銅箔がラミネー
トされる。この銅箔ラミネート工程(b)を終えたキャ
リアテープlはフォトレジスt”&a+工程(C)に送
られ、ここで感光面を構成するフォトレジストが銅箔上
に塗布される。このフォトレジスト塗布工程(C)を終
えたキャリアテープ1は露光工程(d)に送られ、ここ
でフォトレジストに光を照射してフィンガーリード7と
銅箔パターン8の露光がなされる。なお、この露光工程
(d)についての詳細は後述する0次にキャリアテープ
lは現像工程(e)に送られ、ここでフィンガーリード
7および銅箔パターン8の所定の画像を現わすための現
像処理がなされる。この現像工程(e)を終えたキャリ
アテープlはデバイスホール被覆工程(f)に送られ、
ここでキャリアテープ1の下面側からICデバイス穴2
を被覆して、次段のエツチング工程(g)においてフィ
ンガーリード7のICCデイイス穴の内方に延出する部
分のエツチングが正しく行なえるようにする。このデバ
イスホール被覆工程(f)を終えたキャリアテープ1は
エツチング工程(g)に送られ、ここで現像工程(e)
において現像された画像(フィンガーリード7および銅
箔パターン8)以外の銅箔を除去するためのエツチング
処理がなされる。このエツチング工程(g)を終えたキ
ャリアテープlはレジスト剥離工程(h)に送られ、こ
こでフォトレジストの剥離除去がなされる0次いで、キ
ャリアテープlはメツキ工程(i)に送られ、ここでフ
ィンカーリ−ドアに錫又は半田メツキ等のメツキが施さ
れる0次に、キャリアテープ1はポンディング工程(D
に送られ、ここで各ICデバイス穴2下に配置されたI
Cデバイス3の図示しない電極がフィンガーリード7に
ポンディングされ、ICデバイス3はキャリアテープ1
に搭載される。このようにして、ICデバイス3が搭載
されて第1図(A)の状j8にあるキャリアテープlは
切断工程(k)に送られ、ここで通常はICデバイス3
が1個分ごとに分離する大きさ(銅箔パターン8の格子
口に沿う大きさ)に切断され、多数のICユニットが製
作される。
なお、上記においてプレス工程(a)を終えたキャリア
テープlはポンディング工程(Dに至るまで、両側縁部
に形成された一方のスプロケット穴(ここでは円形のス
プロケット穴4)に噛合する送り歯を有するスプロケッ
トにて移送され、ポンディング工程(Dでは他方のスプ
ロケット穴(ここでは角形のスプロケット穴5)に噛合
する送り歯を有するスプロケットにて移送される。
このように、銅箔ラミネートニ[程(b)〜メッキ工程
(i)までの移送とポンディング工程(Dでの移送でそ
のスプロケット穴を変える理由は、キャリアテープlが
変形し易い材質からなる場合、メツキ工程(i)までに
はスプロケット穴が変形する可能性が高く、従って、高
い位置決め精度が要求されるポンディング工程(j)に
おいても変形したスプロケット穴を用いて移送したので
は正しい位置決めができないからであり、このためにポ
ンディング工程(j)においては変形のない未使用のス
プロケット穴を用いて高い精度を得るようにするのであ
る。
また、L記の各処理工程において、銅箔ラミネート工程
(b)、現像工程(e)、エッチング工程(g)、レジ
スト剥離工程(h)およびメツキ工程(i)等は、位置
合わせを必要とせず、キャリアテープを移送しながら処
理できるため、その処理速度は、各処理装置の性能によ
って一義的に決定される。しかし、プレス工程(a)、
フォトレジスト塗布工程(C)、露光工程(d)および
デバイスホール被覆工程(f)等は、各処理を実行する
には、キャリアテープを一旦停止して位置決めを行なう
必要がある。従来では、上記の各処理工程は、スプロケ
ット穴4を1列分移送して実行していたため、処理IP
、率が大変低いものであった。
このため、本発明では、上記の各処理工程を複数列単位
で処理する(以下、複数列単位処理という)ようにして
ず妃率を飛躍的に向上させている。
すなわち、キャリアテープlの両側縁部にはテープ送り
量設定穴(又はマーク)9が形成されている。このテー
プ送り量設定穴9は、ICデバイス穴2の複数(F)列
毎に設けてあり、位置決めの際には、このテープ送り量
設定穴9がセンサで検出される。つまり、(F)列全体
に対して所定の処理を終えると、スプロケットが回転し
キャリアテープlが移送される0次のテープ送り量設定
穴9がセンサによって検出されるとスプロケットの回転
が停止し、キャリアテープ1が位置決めされ、次の(f
)列に対する処理が繰り返えされ、このようにして、複
数列単位処理が実行される。実施例の場合、10行×9
列=:90個のrcデバイス分に対し、−度に処理が実
行され、位置決めは僅か一度で済むものである。
次に、この具体的な実施例として、上記露光工程(d)
を採り」二げ、第3図とともに詳細に説明する。
ここにおいて使用される露光装置IOはその装置本体1
1内に、光源ランプ12とXYOテーブル13とTVカ
メラ(センサ)14とを備えている。この場合、装置本
体11の上方に配置された光源ランプ12と装置本体1
1の中央部に配置されたXYfl?テーブル13は装置
本体11に対し水平状態に設置され、また、装置本体1
1の下部に配置されたTV右カメラ4は装置本体11に
対しxYOテーブル13の中央部を検出するように斜状
態に59置されている。XYθテーブル13は枠構造を
なしていてその開口部15にマスク16を備えている。
このマスク16は」二記したlO行×9列=90個のI
Cデバイス3分を一度に処理できる構成とされている。
このようなXYOテーブル13はX方向、Y方向および
0方向に移動可能であり、xyOテーブル13下に移送
されたキャリアテープlの位置検出を例えば図示しない
もう一つのTVカメラでICデバイス穴2の検出をもっ
て行ない、位置ズレがある場合に適当な方向に移動して
テーブル補正が行なわれる。
フォトレジスト塗布工程(C)において銅箔上にフォト
レジストが塗布されたキャリアテープlは、リール17
に巻回され、テープ供給軸18に装着されており、露光
装置10内のXYOテーブル13とTV右カメラ4との
間を通過してテープ巻取軸19に装着されたリール20
に巻き取られている。このようにセットされているキャ
リアテープlは露光装置lOの両側に配置されているス
プロケット21.22によって移送される。この場合、
スプロケット21.22の送り歯21a、22aは円形
をなしたスプロケット穴4に噛合している。
キャリアテープ1は、スジロケ−2ト21.22が矢印
方向に回転すると、リール20に巻き取られながら露光
装置IO内を移送される。この移送によって次のテープ
送り量設定穴9をTV右カメラ4が認識(検出)すると
スプロケッ)21.22が回転停止され、キャリアテー
プlは露光装置lO内に位置決めされる0次いで、光源
ランプ12が点灯し、その光を矢印のようにxYOテー
ブル13内のマスク16に向けて照射する。この照射光
によって複数列単位処理が実行され、実施例の場合、9
0個のICデバイス分のフィンガーリード7および銅箔
パターン8の露光処理がなされる。このような、複数列
単位処理は、露光工程のみならず上述した他の工程でも
全く同様に行なうことができるものである。
[発明の効果] 以上説明したように、この発明に係るキャリアテープは
、巾方向に複数行のICデバイス穴を形成するとともに
、前記ICデバイス穴の複数列毎にスプロケット穴とは
別のテープ送り精設定穴又はマークを設けたので、前記
スプロケット穴に噛合する送り歯を有するスプロケット
で移送中において、テープ送り精設定穴又はマークをセ
ンサで検出して1回の処理にて送る量を設定するように
すれば、キャリアテープへの1回の処理がICデバイス
複数個分−度に行なえることになり、従って、1回の処
理にICデバイス1個を対象としていた従来のキャリア
テープに比べて生産能率の大10な向上を図ることがで
きる。
【図面の簡単な説明】
図面はそれぞれこの発明の一実施例を示し、第1図(A
)はこの発明によるキャリアテープの斜視図、第1図(
B)は第1図(A)の要部拡大図、第2図は同キャリア
テープの製造工程図、第3図は同キャリアテープの露光
工程を示した構成図である。 ■・・・・・・キャリアテープ、2・・・・・・ICデ
バイス穴、4.5・・・・・・スズロケット穴、9・・
・・・・テープ送り精設定穴(又はマーク)、14・・
・・・・TVカメラ(センサ)、21.22・・・・・
・スプロケット、21a、22a・・・・・・送り歯。 特許出願人  カシオ計算機株式会社 i、=−一、j

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)所定間隔のスプロケット穴を両側縁部に配置した
    キャリアテープにおいて、巾方向に複数行のICデバイ
    ス穴を形成するとともに、前記ICデバイス穴の複数列
    毎に前記スプロケット穴とは別のテープ送り量設定穴又
    はマークを設けたことを特徴とするキャリアテープ。
  2. (2)所定間隔のスプロケット穴が両側縁部に配置され
    るとともに巾方向に複数行のICデバイス穴が形成され
    且つ前記ICデバイスの複数列毎に前記スプロケット穴
    とは別のテープ送り量設定穴又はマークを設けたキャリ
    アテープを、前記スプロケット穴に噛合する送り歯を有
    するスプロケットで移送し、センサにより前記テープ送
    り量設定穴又はマークを検出して1回の送り量を設定す
    ることを特徴とするキャリアテープの使用方法。
JP63082887A 1988-04-06 1988-04-06 キャリアテープおよびその使用方法 Granted JPH01256138A (ja)

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US07/332,608 US4980219A (en) 1988-04-06 1989-03-31 Carrier tape for bonding IC devices and method of using the same
KR1019890004474A KR920005451B1 (ko) 1988-04-06 1989-04-04 Ic 데바이스를 본딩하기 위한 캐리어 테이프 및 그 사용 방법
US07/580,262 US5019209A (en) 1988-04-06 1990-09-10 Method of manufacturing and using a carrier tape for bonding IC devices

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JPH0513538B2 JPH0513538B2 (ja) 1993-02-22

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003282649A (ja) * 2002-03-27 2003-10-03 Shindo Denshi Kogyo Kk テープキャリアおよびその製造方法、テープキャリアへの電子部品の実装方法、ならびにテープキャリアパッケージの製造方法
US7045392B2 (en) 1998-07-28 2006-05-16 Seiko Epson Corporation Semiconductor device and method of fabrication thereof, semiconductor module, circuit board, and electronic equipment
US8037597B2 (en) 2007-04-09 2011-10-18 Nitto Denko Corporation Manufacturing method of tape carrier for TAB

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US8037597B2 (en) 2007-04-09 2011-10-18 Nitto Denko Corporation Manufacturing method of tape carrier for TAB

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JPH0513538B2 (ja) 1993-02-22

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