JPH0770568B2 - エッチングレジスト供給方法およびその装置 - Google Patents
エッチングレジスト供給方法およびその装置Info
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- JPH0770568B2 JPH0770568B2 JP4112386A JP11238692A JPH0770568B2 JP H0770568 B2 JPH0770568 B2 JP H0770568B2 JP 4112386 A JP4112386 A JP 4112386A JP 11238692 A JP11238692 A JP 11238692A JP H0770568 B2 JPH0770568 B2 JP H0770568B2
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- Japan
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- etching resist
- carrier tape
- etching
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- filled
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-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/02—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
- H05K3/06—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding the conductive material being removed chemically or electrolytically, e.g. by photo-etch process
- H05K3/061—Etching masks
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- ing And Chemical Polishing (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、キャリアテープに形
成されたICデバイス穴にこれを被覆するためのエッチ
ングレジストを供給する方法およびその装置に関する。
成されたICデバイス穴にこれを被覆するためのエッチ
ングレジストを供給する方法およびその装置に関する。
【0002】
【従来の技術】キャリアテープにラミネートされた金属
箔(一般には銅箔)をエッチングして、キャリアテープ
上にICデバイスのフィンガリードとされる配線パター
ンを形成する場合、このエッチング工程の前工程におい
てキャリアテープに形成されたICデバイス穴を被覆す
ることが必要である。これは、ICデバイスがICデバ
イス穴の内方に延出されているフィンガリード部分にボ
ンディングされるために、エッチング工程においてIC
デバイス穴の内方まで延出されるフィンガリード部分を
正しく形成できるようにするためである。このようなた
めになされるICデバイス穴の被覆はICデバイス穴に
エッチングレジストを充填することで達成される。これ
に使用される従来のエッチングレジスト供給方法はキャ
リアテープの下面側からICデバイス穴部分の金属箔上
にディスペンサによってエッチングレジストを滴下(ポ
ッティング)させてICデバイス穴に充填する方法であ
った。
箔(一般には銅箔)をエッチングして、キャリアテープ
上にICデバイスのフィンガリードとされる配線パター
ンを形成する場合、このエッチング工程の前工程におい
てキャリアテープに形成されたICデバイス穴を被覆す
ることが必要である。これは、ICデバイスがICデバ
イス穴の内方に延出されているフィンガリード部分にボ
ンディングされるために、エッチング工程においてIC
デバイス穴の内方まで延出されるフィンガリード部分を
正しく形成できるようにするためである。このようなた
めになされるICデバイス穴の被覆はICデバイス穴に
エッチングレジストを充填することで達成される。これ
に使用される従来のエッチングレジスト供給方法はキャ
リアテープの下面側からICデバイス穴部分の金属箔上
にディスペンサによってエッチングレジストを滴下(ポ
ッティング)させてICデバイス穴に充填する方法であ
った。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来のエ
ッチングレジスト供給方法によって供給されるエッチン
グレジストは滴下充填であることから、デバイス穴内に
おいて金属箔上に山形状となってしまい、このために不
必要に厚くなり、従って、乾燥処理に時間を要する上、
その厚みも一様ではないので乾燥時間にバラツキがあ
り、乾燥処理に対してのメンテナンスが面倒であると云
った問題があった。また、ICデバイス穴へのエッチン
グレジストの供給も1個のICデバイス分に対してであ
るので、処理時間が多大にかかり、このために一度に複
数個のICデバイス分に対してエッチングレジストを供
給することができる方法が検討されている。この発明
は、上述の如き事情に鑑みてなされたもので、その目的
とするところは、所定厚さでのエッチングレジストの充
填ができ、しかも一度に複数個のICデバイス分に対し
てのエッチングレジストの供給を可能とするエッチング
レジスト供給方法およびその装置を提供することにあ
る。
ッチングレジスト供給方法によって供給されるエッチン
グレジストは滴下充填であることから、デバイス穴内に
おいて金属箔上に山形状となってしまい、このために不
必要に厚くなり、従って、乾燥処理に時間を要する上、
その厚みも一様ではないので乾燥時間にバラツキがあ
り、乾燥処理に対してのメンテナンスが面倒であると云
った問題があった。また、ICデバイス穴へのエッチン
グレジストの供給も1個のICデバイス分に対してであ
るので、処理時間が多大にかかり、このために一度に複
数個のICデバイス分に対してエッチングレジストを供
給することができる方法が検討されている。この発明
は、上述の如き事情に鑑みてなされたもので、その目的
とするところは、所定厚さでのエッチングレジストの充
填ができ、しかも一度に複数個のICデバイス分に対し
てのエッチングレジストの供給を可能とするエッチング
レジスト供給方法およびその装置を提供することにあ
る。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1記載の発明に係るエッチングレジスト供給
方法は、陥入部が形成されたエッチングレジスト充填台
にエッチングレジストを充填し、平滑化部材によりこの
エッチングレジスト充填台の上面を摺動して、陥入部に
充填されたエッチングレジストの表面を平坦にし、エッ
チングレジスト転写台に形成された多数の突出状転写台
座に陥入部内のエッチングレジストを接させることによ
り、この転写台座にエッチングレジストを転写させ、転
写台座に転写されたエッチングレジストをICデバイス
穴に充填するものである。また、請求項2記載の発明に
係るエッチングレジスト供給装置は、エッチングレジス
トが充填される陥入部が形成されたエッチングレジスト
充填台と、これの上面を摺動して陥入部に充填されたエ
ッチングレジストの表面を平坦にする平滑化部材と、前
記陥入部内のエッチングレジストに接してエッチングレ
ジストを転写する多数の突出状転写台座が形成されたエ
ッチングレジスト転写台とを具備したものである。
め、請求項1記載の発明に係るエッチングレジスト供給
方法は、陥入部が形成されたエッチングレジスト充填台
にエッチングレジストを充填し、平滑化部材によりこの
エッチングレジスト充填台の上面を摺動して、陥入部に
充填されたエッチングレジストの表面を平坦にし、エッ
チングレジスト転写台に形成された多数の突出状転写台
座に陥入部内のエッチングレジストを接させることによ
り、この転写台座にエッチングレジストを転写させ、転
写台座に転写されたエッチングレジストをICデバイス
穴に充填するものである。また、請求項2記載の発明に
係るエッチングレジスト供給装置は、エッチングレジス
トが充填される陥入部が形成されたエッチングレジスト
充填台と、これの上面を摺動して陥入部に充填されたエ
ッチングレジストの表面を平坦にする平滑化部材と、前
記陥入部内のエッチングレジストに接してエッチングレ
ジストを転写する多数の突出状転写台座が形成されたエ
ッチングレジスト転写台とを具備したものである。
【0005】
【作用】かかる構成にあるこの発明のエッチングレジス
ト供給方法およびその装置によれば、エッチングレジス
ト転写台の多数の突出状転写台座がエッチングレジスト
充填台の陥入部に充填されているエッチングレジストを
転写してこれをICデバイス穴に充填供給するので、I
Cデバイス穴に充填されたエッチングレジストは平坦状
となって所定の厚みを有するようになり、従って、乾燥
時間が短かく、また、一様な状態に充填されるので乾燥
処理に対するメンテナンスも楽になる。しかも一度に複
数個のICデバイス分に対してエッチングレジストの供
給がなされるので処理時間が大幅に短縮され処理能率を
著しく向上させることができる。
ト供給方法およびその装置によれば、エッチングレジス
ト転写台の多数の突出状転写台座がエッチングレジスト
充填台の陥入部に充填されているエッチングレジストを
転写してこれをICデバイス穴に充填供給するので、I
Cデバイス穴に充填されたエッチングレジストは平坦状
となって所定の厚みを有するようになり、従って、乾燥
時間が短かく、また、一様な状態に充填されるので乾燥
処理に対するメンテナンスも楽になる。しかも一度に複
数個のICデバイス分に対してエッチングレジストの供
給がなされるので処理時間が大幅に短縮され処理能率を
著しく向上させることができる。
【0006】
【実施例】以下、この発明の一実施例を図面に基づいて
説明する。この発明によるエッチングレジスト供給方法
およびその装置を説明する前にまず、この発明によるエ
ッチングレジスト供給方法およびその装置によってIC
デバイス穴の被覆処理がなされるキャリアテープの一例
とそのキャリアテープの製造工程について述べる。
説明する。この発明によるエッチングレジスト供給方法
およびその装置を説明する前にまず、この発明によるエ
ッチングレジスト供給方法およびその装置によってIC
デバイス穴の被覆処理がなされるキャリアテープの一例
とそのキャリアテープの製造工程について述べる。
【0007】<キャリアテープ>図3(A)はこの発明
によるエッチングレジスト供給方法およびその装置によ
ってICデバイス穴の被覆処理がなされるキャリアテー
プを示したものである。図示されたキャリアテープ1
は、既にボンディング工程を終えて各ICデバイス穴2
部分に図3(B)に示す如くICデバイス3を搭載済の
状態にある。
によるエッチングレジスト供給方法およびその装置によ
ってICデバイス穴の被覆処理がなされるキャリアテー
プを示したものである。図示されたキャリアテープ1
は、既にボンディング工程を終えて各ICデバイス穴2
部分に図3(B)に示す如くICデバイス3を搭載済の
状態にある。
【0008】キャリアテープ1は、例えばポリエステル
樹脂、ポリイミド樹脂等の可撓性および絶縁性を有した
樹脂フィルムからなり、かつ、相当巾広な寸法とされて
いる。このようなキャリアテープ1は、両側縁部にそれ
ぞれ二列のスプロケット穴4、5を有し、中央部に多数
のICデバイス穴2を有している。二列のスプロケット
穴4、5は対向配置されており、それぞれ長手方向に所
定間隔を置いて形成されている。ここでは外側に配置さ
れたスプロケット穴4は円形穴とされ、内側に配置され
たスプロケット穴5は角形穴とされている。ICデバイ
ス穴2はキャリアテープ1の巾方向に所定間隔を置いて
複数行配置されており、これらの各ICデバイス穴2部
分には図3(B)に示すようにICデバイス3が搭載さ
れている。ICデバイス3はキャリアテープ1の下側に
配置され、キャリアテープ1の上面にICデバイス穴2
の内方迄延出して形成されているフィンガリード7に図
示しない電極がボンディングされる。この場合、フィン
ガリード7はキャリアテープ1の上面にラミネートされ
た銅箔をエッチング処理して形成されるものである。こ
のエッチング処理ではフィンガリード7に錫又は半田メ
ッキをする際、各フィンガリード7にメッキ用のアース
電位を印加するためICデバイス3を1個分ごとに囲む
格子状の銅箔パターン8も形成される。格子状の銅箔パ
ターン8は全体的に連続するように形成されており、こ
の銅箔パターン8に各ICデバイス3のフィンガリード
7が接続されている。
樹脂、ポリイミド樹脂等の可撓性および絶縁性を有した
樹脂フィルムからなり、かつ、相当巾広な寸法とされて
いる。このようなキャリアテープ1は、両側縁部にそれ
ぞれ二列のスプロケット穴4、5を有し、中央部に多数
のICデバイス穴2を有している。二列のスプロケット
穴4、5は対向配置されており、それぞれ長手方向に所
定間隔を置いて形成されている。ここでは外側に配置さ
れたスプロケット穴4は円形穴とされ、内側に配置され
たスプロケット穴5は角形穴とされている。ICデバイ
ス穴2はキャリアテープ1の巾方向に所定間隔を置いて
複数行配置されており、これらの各ICデバイス穴2部
分には図3(B)に示すようにICデバイス3が搭載さ
れている。ICデバイス3はキャリアテープ1の下側に
配置され、キャリアテープ1の上面にICデバイス穴2
の内方迄延出して形成されているフィンガリード7に図
示しない電極がボンディングされる。この場合、フィン
ガリード7はキャリアテープ1の上面にラミネートされ
た銅箔をエッチング処理して形成されるものである。こ
のエッチング処理ではフィンガリード7に錫又は半田メ
ッキをする際、各フィンガリード7にメッキ用のアース
電位を印加するためICデバイス3を1個分ごとに囲む
格子状の銅箔パターン8も形成される。格子状の銅箔パ
ターン8は全体的に連続するように形成されており、こ
の銅箔パターン8に各ICデバイス3のフィンガリード
7が接続されている。
【0009】また、このキャリアテープ1の両側縁部に
は、スプロケット穴4、5の他、複数(F)列のICデ
バイス穴2毎にテープの送り量を設定するためのテープ
送り量設定穴(又はマーク)9、9が設けられている。
は、スプロケット穴4、5の他、複数(F)列のICデ
バイス穴2毎にテープの送り量を設定するためのテープ
送り量設定穴(又はマーク)9、9が設けられている。
【0010】<製造工程>上記構成にあるキャリアテー
プ1は図4に示す工程(a)〜(k)を経て製造され
る。すなわち、まず、プレス工程(a)において、キャ
リアテープ1に、二列のスプロケット穴4、5およびI
Cデバイス穴2、テープ送り量設定穴9が穿設される。
この場合、ICデバイス穴2は、図面上では一部省略し
てあるが、実際には銅箔パターン8によって形成される
格子部内のすべてに形成されるものである。次に、この
プレス工程(a)で所定の穴が穿設されたキャリアテー
プ1は銅箔ラミネート工程(b)に送られ、ここで上面
にフィンガリード7および銅箔パターン8を構成するた
めの銅箔がラミネートされる。この銅箔ラミネート工程
(b)を終えたキャリアテープ1はフォトレジスト塗布
工程(c)に送られ、ここで感光面を構成するフォトレ
ジストが銅箔上に塗布される。このフォトレジスト塗布
工程(c)を終えたキャリアテープ1は露光工程(d)
に送られ、ここでフォトレジストに光を照射してフィン
ガリード7と銅箔パターン8の露光がなされる。次にキ
ャリアテープ1は現像工程(e)に送られ、ここでフィ
ンガリード7および銅箔パターン8の所定の画像を現わ
すための現像処理がなされる。この現像工程(e)を終
えたキャリアテープ1はデバイスホール被覆工程(f)
に送られ、ここでキャリアテープ1の下面側からICデ
バイス穴2をエッチングレジストにて被覆する。このデ
バイスホール被覆工程(f)には後述する本発明のエッ
チングレジスト供給方法およびその装置10が用いられ
る。このデバイスホール被覆工程(f)を終えたキャリ
アテープ1はエッチング工程(g)に送られ、ここで現
像工程(e)において現像された画像(フィンガリード
7および銅箔パターン8)以外の銅箔を除去するための
エッチング処理がなされる。このエッチング工程(g)
を終えたキャリアテープ1はレジスト剥離工程(h)に
送られ、ここでフォトレジストおよびエッチングレジス
トの剥離除去がなされる。次いで、キャリアテープ1は
メッキ工程(i)に送られ、ここでフィンガリード7に
錫又は半田メッキ等のメッキが施される。次に、キャリ
アテープ1はボンディング工程(j)に送られ、ここで
各ICデバイス穴2下に配置されたICデバイス3の図
示しない電極がフィンガリード7にボンディングされ、
ICデバイス3はキャリアテープ1に搭載される。この
ようにして、ICデバイス3が搭載されて図3(A)の
状態にあるキャリアテープ1は切断工程(k)に送ら
れ、ここで通常はICデバイス3が1個分ごとに分離す
る大きさ(銅箔パターン8の格子目に沿う大きさ)に切
断され、多数のICユニットが製作される。
プ1は図4に示す工程(a)〜(k)を経て製造され
る。すなわち、まず、プレス工程(a)において、キャ
リアテープ1に、二列のスプロケット穴4、5およびI
Cデバイス穴2、テープ送り量設定穴9が穿設される。
この場合、ICデバイス穴2は、図面上では一部省略し
てあるが、実際には銅箔パターン8によって形成される
格子部内のすべてに形成されるものである。次に、この
プレス工程(a)で所定の穴が穿設されたキャリアテー
プ1は銅箔ラミネート工程(b)に送られ、ここで上面
にフィンガリード7および銅箔パターン8を構成するた
めの銅箔がラミネートされる。この銅箔ラミネート工程
(b)を終えたキャリアテープ1はフォトレジスト塗布
工程(c)に送られ、ここで感光面を構成するフォトレ
ジストが銅箔上に塗布される。このフォトレジスト塗布
工程(c)を終えたキャリアテープ1は露光工程(d)
に送られ、ここでフォトレジストに光を照射してフィン
ガリード7と銅箔パターン8の露光がなされる。次にキ
ャリアテープ1は現像工程(e)に送られ、ここでフィ
ンガリード7および銅箔パターン8の所定の画像を現わ
すための現像処理がなされる。この現像工程(e)を終
えたキャリアテープ1はデバイスホール被覆工程(f)
に送られ、ここでキャリアテープ1の下面側からICデ
バイス穴2をエッチングレジストにて被覆する。このデ
バイスホール被覆工程(f)には後述する本発明のエッ
チングレジスト供給方法およびその装置10が用いられ
る。このデバイスホール被覆工程(f)を終えたキャリ
アテープ1はエッチング工程(g)に送られ、ここで現
像工程(e)において現像された画像(フィンガリード
7および銅箔パターン8)以外の銅箔を除去するための
エッチング処理がなされる。このエッチング工程(g)
を終えたキャリアテープ1はレジスト剥離工程(h)に
送られ、ここでフォトレジストおよびエッチングレジス
トの剥離除去がなされる。次いで、キャリアテープ1は
メッキ工程(i)に送られ、ここでフィンガリード7に
錫又は半田メッキ等のメッキが施される。次に、キャリ
アテープ1はボンディング工程(j)に送られ、ここで
各ICデバイス穴2下に配置されたICデバイス3の図
示しない電極がフィンガリード7にボンディングされ、
ICデバイス3はキャリアテープ1に搭載される。この
ようにして、ICデバイス3が搭載されて図3(A)の
状態にあるキャリアテープ1は切断工程(k)に送ら
れ、ここで通常はICデバイス3が1個分ごとに分離す
る大きさ(銅箔パターン8の格子目に沿う大きさ)に切
断され、多数のICユニットが製作される。
【0011】なお、上記においてプレス工程(a)を終
えたキャリアテープ1はボンディング工程(j)に至る
まで、両側縁部に形成された一方のスプロケット穴(こ
こでは円形のスプロケット穴4)に噛合する送り歯を有
するスプロケットにて移送され、ボンディング工程
(j)では他方のスプロケット穴(ここでは角形のスプ
ロケット穴5)に噛合する送り歯を有するスプロケット
にて移送される。このように、銅箔ラミネート工程
(b)〜メッキ工程(i)までの移送とボンディング工
程(j)での移送でそのスプロケット穴を変える理由
は、キャリアテープ1が変形し易い材質からなる場合、
メッキ工程(i)までにはスプロケット穴が変形する可
能性が高く、従って、高い位置決め精度が要求されるボ
ンディング工程(j)においても変形したスプロケット
穴を用いて移送したのでは正しい位置決めができないか
らであり、このためにボンディング工程(j)において
は変形のない未使用のスプロケット穴を用いて高い精度
を得るようにするのである。
えたキャリアテープ1はボンディング工程(j)に至る
まで、両側縁部に形成された一方のスプロケット穴(こ
こでは円形のスプロケット穴4)に噛合する送り歯を有
するスプロケットにて移送され、ボンディング工程
(j)では他方のスプロケット穴(ここでは角形のスプ
ロケット穴5)に噛合する送り歯を有するスプロケット
にて移送される。このように、銅箔ラミネート工程
(b)〜メッキ工程(i)までの移送とボンディング工
程(j)での移送でそのスプロケット穴を変える理由
は、キャリアテープ1が変形し易い材質からなる場合、
メッキ工程(i)までにはスプロケット穴が変形する可
能性が高く、従って、高い位置決め精度が要求されるボ
ンディング工程(j)においても変形したスプロケット
穴を用いて移送したのでは正しい位置決めができないか
らであり、このためにボンディング工程(j)において
は変形のない未使用のスプロケット穴を用いて高い精度
を得るようにするのである。
【0012】また、上記の各処理工程において、銅箔ラ
ミネート工程(b)、現像工程(e)、エッチング工程
(g)、レジスト剥離工程(h)およびメッキ工程
(i)等は、位置合わせを必要とせず、キャリアテープ
1を移送しながら処理できるため、その処理速度は、各
処理装置の性能によって一義的に決定される。しかし、
プレス工程(a)、フォトレジスト塗布工程(c)、露
光工程(d)およびデバイスホール被覆工程(f)等
は、各処理を実行するには、キャリアテープ1を一旦停
止して位置決めを行なう必要がある。従来では、上記の
各処理工程は、スプロケット穴4を1列分移送して実行
していたため、処理能率が大変低いものであった。この
ため、ここでは、上記の各処理工程を複数列単位で処理
する(以下、複数列単位処理という)ようにして能率を
飛躍的に向上させている。
ミネート工程(b)、現像工程(e)、エッチング工程
(g)、レジスト剥離工程(h)およびメッキ工程
(i)等は、位置合わせを必要とせず、キャリアテープ
1を移送しながら処理できるため、その処理速度は、各
処理装置の性能によって一義的に決定される。しかし、
プレス工程(a)、フォトレジスト塗布工程(c)、露
光工程(d)およびデバイスホール被覆工程(f)等
は、各処理を実行するには、キャリアテープ1を一旦停
止して位置決めを行なう必要がある。従来では、上記の
各処理工程は、スプロケット穴4を1列分移送して実行
していたため、処理能率が大変低いものであった。この
ため、ここでは、上記の各処理工程を複数列単位で処理
する(以下、複数列単位処理という)ようにして能率を
飛躍的に向上させている。
【0013】すなわち、キャリアテープ1の両側縁部に
は上述のようにテープ送り量設定穴(又はマーク)9が
形成されている。このテープ送り量設定穴9は、ICデ
バイス穴2の複数(F)列毎に設けてあり、位置決めの
際には、このテープ送り量設定穴9がセンサで検出され
る。つまり、(F)列全体に対して所定の処理を終える
と、スプロケットが回転しキャリアテープ1が移送され
る。次のテープ送り量設定穴9がセンサによって検出さ
れるとスプロケットの回転が停止し、キャリアテープ1
が位置決めされ、次の(F)列に対する処理が繰り返え
され、このようにして、複数列単位処理が実行される。
実施例の場合、10行×9列=90個のICデバイス分
に対し、一度に処理が実行され、位置決めは僅か一度で
済むものである。
は上述のようにテープ送り量設定穴(又はマーク)9が
形成されている。このテープ送り量設定穴9は、ICデ
バイス穴2の複数(F)列毎に設けてあり、位置決めの
際には、このテープ送り量設定穴9がセンサで検出され
る。つまり、(F)列全体に対して所定の処理を終える
と、スプロケットが回転しキャリアテープ1が移送され
る。次のテープ送り量設定穴9がセンサによって検出さ
れるとスプロケットの回転が停止し、キャリアテープ1
が位置決めされ、次の(F)列に対する処理が繰り返え
され、このようにして、複数列単位処理が実行される。
実施例の場合、10行×9列=90個のICデバイス分
に対し、一度に処理が実行され、位置決めは僅か一度で
済むものである。
【0014】次に、上記デバイスホール被覆工程(f)
において所定の被覆処理を行なうエッチングレジスト供
給方法およびその装置とこれによるデバイスホール被覆
ラインについて説明する。図1はこの発明のエッチング
レジスト供給方法にて用いられるエッチングレジスト供
給装置の要部構成を示し、図2はこのエッチングレジス
ト供給装置によって構成されるデバイスホール被覆ライ
ンを示している。
において所定の被覆処理を行なうエッチングレジスト供
給方法およびその装置とこれによるデバイスホール被覆
ラインについて説明する。図1はこの発明のエッチング
レジスト供給方法にて用いられるエッチングレジスト供
給装置の要部構成を示し、図2はこのエッチングレジス
ト供給装置によって構成されるデバイスホール被覆ライ
ンを示している。
【0015】デバイスホール被覆ラインには、中央部に
エッチングレジスト供給装置10が配置され、このエッ
チングレジスト供給装置10の両側部にキャリアテープ
1を移送するためのスプロケット11、12が配置さ
れ、更にこのスプロケット11、12の外側にはテープ
供給軸13およびテープ巻取軸14が配置されている。
テープ供給軸13には現像処理を終えたキャリアテープ
1を下面が上側となって移送されるように巻回したリー
ル15が装着されており、このリール15に巻回された
キャリアテープ1はエッチングレジスト供給装置10内
を通過してテープ巻取軸14に装着されたリール16に
巻き取られている。この場合、キャリアテープ1の円形
をなしたスプロケット穴4にはスプロケット11、12
の送り歯11a、12aが噛合している。このようにセ
ットされているキャリアテープ1は、スプロケット1
1、12が矢印方向に回転すると、リール16に巻き取
られながらエッチングレジスト供給装置10内を移送さ
れる。この移送によって次のテープ送り量設定穴9をエ
ッチングレジスト供給装置10内に斜状態に設置されて
いるTVカメラ17が認識(検出)するとこれによる出
力でスプロケット11、12が回転停止され、キャリア
テープ1はエッチングレジスト供給装置10内に位置決
めされる。このとき、デバイスホールの被覆の処理対象
となるICデバイス穴2は実施例の場合、10行×9列
=90個である。
エッチングレジスト供給装置10が配置され、このエッ
チングレジスト供給装置10の両側部にキャリアテープ
1を移送するためのスプロケット11、12が配置さ
れ、更にこのスプロケット11、12の外側にはテープ
供給軸13およびテープ巻取軸14が配置されている。
テープ供給軸13には現像処理を終えたキャリアテープ
1を下面が上側となって移送されるように巻回したリー
ル15が装着されており、このリール15に巻回された
キャリアテープ1はエッチングレジスト供給装置10内
を通過してテープ巻取軸14に装着されたリール16に
巻き取られている。この場合、キャリアテープ1の円形
をなしたスプロケット穴4にはスプロケット11、12
の送り歯11a、12aが噛合している。このようにセ
ットされているキャリアテープ1は、スプロケット1
1、12が矢印方向に回転すると、リール16に巻き取
られながらエッチングレジスト供給装置10内を移送さ
れる。この移送によって次のテープ送り量設定穴9をエ
ッチングレジスト供給装置10内に斜状態に設置されて
いるTVカメラ17が認識(検出)するとこれによる出
力でスプロケット11、12が回転停止され、キャリア
テープ1はエッチングレジスト供給装置10内に位置決
めされる。このとき、デバイスホールの被覆の処理対象
となるICデバイス穴2は実施例の場合、10行×9列
=90個である。
【0016】エッチングレジスト供給装置10はその装
置本体18内に、エッチングレジスト充填台19と平滑
化部材20とエッチングレジスト転写台21とTVカメ
ラ17とを備えて構成されている。
置本体18内に、エッチングレジスト充填台19と平滑
化部材20とエッチングレジスト転写台21とTVカメ
ラ17とを備えて構成されている。
【0017】エッチングレジスト充填台19はキャリア
テープ1のICデバイス穴2に供給するエッチングレジ
ストを装置本体18内に順次蓄えるものであり、頭部に
エッチングレジストが充填される矩形状の陥入部22が
形成されている。この陥入部22の上面は水平板面とな
っていて、この水平板面には複数の平行な長溝23が全
体的に形成されている。この長溝23の数はキャリアテ
ープ1の幅方向に形成されたICデバイス穴2の行数と
同じになっている。また長溝23の巾はICデバイス穴
2のたて寸法と同じになっている。このような陥入部2
2内にはこの陥入部22の支柱24となっている部分か
ら図示しないポンプ等で送られるエッチングレジストが
充填されている。この場合、エッチングレジストは支柱
24部分から陥入部22内に噴出し、長溝23内を満た
すまで充填されている。このようなエッチングレジスト
充填台19は装置本体18内においてキャリアテープ1
が通過する位置から外れた位置に配置されている(図2
では図示せず)。
テープ1のICデバイス穴2に供給するエッチングレジ
ストを装置本体18内に順次蓄えるものであり、頭部に
エッチングレジストが充填される矩形状の陥入部22が
形成されている。この陥入部22の上面は水平板面とな
っていて、この水平板面には複数の平行な長溝23が全
体的に形成されている。この長溝23の数はキャリアテ
ープ1の幅方向に形成されたICデバイス穴2の行数と
同じになっている。また長溝23の巾はICデバイス穴
2のたて寸法と同じになっている。このような陥入部2
2内にはこの陥入部22の支柱24となっている部分か
ら図示しないポンプ等で送られるエッチングレジストが
充填されている。この場合、エッチングレジストは支柱
24部分から陥入部22内に噴出し、長溝23内を満た
すまで充填されている。このようなエッチングレジスト
充填台19は装置本体18内においてキャリアテープ1
が通過する位置から外れた位置に配置されている(図2
では図示せず)。
【0018】平滑化部材20はエッチングレジスト充填
台19の上方に配置されて、エッチングレジスト充填台
19の陥入部22内に充填されたエッチングレジストの
表面を平坦に処理するためのものであり、陥入部22内
にエッチングレジストの充填がなされる毎に操作部材2
5によって往復動操作される斜状態の摺動板26が陥入
部22の上面を長溝23方向に摺動してそれぞれの長溝
23部分に充填されたエッチングレジストの表面を平坦
にする。
台19の上方に配置されて、エッチングレジスト充填台
19の陥入部22内に充填されたエッチングレジストの
表面を平坦に処理するためのものであり、陥入部22内
にエッチングレジストの充填がなされる毎に操作部材2
5によって往復動操作される斜状態の摺動板26が陥入
部22の上面を長溝23方向に摺動してそれぞれの長溝
23部分に充填されたエッチングレジストの表面を平坦
にする。
【0019】エッチングレジスト転写台21は平滑化部
材20の上方に配置されて、エッチングレジスト充填台
19の陥入部22内に充填されているエッチングレジス
トを転写してこれをキャリアテープ1のICデバイス穴
2に充填するものであり、矩形状の本体27の下面に所
定間隔で碁盤目状に整列された多数の突出状の転写台座
28を有している。この転写台座28はキャリアテープ
1が複数列単位処理されるときのICデバイス分(実施
例の場合は10行×9列=90個)に相当する数だけ形
成されており、また、転写台座28の大きさはICデバ
イス穴2に対応している。このようなエッチングレジス
ト転写台21はキャリアテープ1が上述のようにしてエ
ッチングレジスト供給装置10内に位置決めされると、
転写台座28がエッチングレジスト充填台19の陥入部
22の長溝23部分に充填されているエッチングレジス
トに接面する状態まで降下(このとき平滑化部材20は
エッチングレジスト転写台21の降下、上昇に支障のな
いよう第1図のようにその摺動板26が陥入部22の側
方に位置している。この位置は平滑化部材20のホーム
ポジションである)されてそれぞれの転写台座28の下
面に対応する長溝23内のエッチングレジストが転写さ
れる。次いでエッチングレジスト転写台21は上昇(エ
ッチングレジストが付着された転写台座28がキャリア
テープ1の若干上方に位置するホームポジションまで)
し、続いてキャリアテープ1の上方に横移動して降下
し、キャリアテープ1の各ICデバイス穴2に転写台座
28に付着しているエッチングレジストを充填する。こ
の場合、ICデバイス穴2には、エッチングレジスト転
写台21の転写台座28に転写されているエッチングレ
ジストが転写される状態で充填されるために、充填され
たエッチングレジストは平坦状で所定の厚みを有するこ
とになり、このため乾燥時間が短かくて済み、乾燥処理
のメンテナンスも楽に行なえる。また、一度に複数個
(ここでは90個)のICデバイス穴2の被覆がなされ
るので、ICデバイス穴2の被覆処理を高能率で行なう
ことができる。
材20の上方に配置されて、エッチングレジスト充填台
19の陥入部22内に充填されているエッチングレジス
トを転写してこれをキャリアテープ1のICデバイス穴
2に充填するものであり、矩形状の本体27の下面に所
定間隔で碁盤目状に整列された多数の突出状の転写台座
28を有している。この転写台座28はキャリアテープ
1が複数列単位処理されるときのICデバイス分(実施
例の場合は10行×9列=90個)に相当する数だけ形
成されており、また、転写台座28の大きさはICデバ
イス穴2に対応している。このようなエッチングレジス
ト転写台21はキャリアテープ1が上述のようにしてエ
ッチングレジスト供給装置10内に位置決めされると、
転写台座28がエッチングレジスト充填台19の陥入部
22の長溝23部分に充填されているエッチングレジス
トに接面する状態まで降下(このとき平滑化部材20は
エッチングレジスト転写台21の降下、上昇に支障のな
いよう第1図のようにその摺動板26が陥入部22の側
方に位置している。この位置は平滑化部材20のホーム
ポジションである)されてそれぞれの転写台座28の下
面に対応する長溝23内のエッチングレジストが転写さ
れる。次いでエッチングレジスト転写台21は上昇(エ
ッチングレジストが付着された転写台座28がキャリア
テープ1の若干上方に位置するホームポジションまで)
し、続いてキャリアテープ1の上方に横移動して降下
し、キャリアテープ1の各ICデバイス穴2に転写台座
28に付着しているエッチングレジストを充填する。こ
の場合、ICデバイス穴2には、エッチングレジスト転
写台21の転写台座28に転写されているエッチングレ
ジストが転写される状態で充填されるために、充填され
たエッチングレジストは平坦状で所定の厚みを有するこ
とになり、このため乾燥時間が短かくて済み、乾燥処理
のメンテナンスも楽に行なえる。また、一度に複数個
(ここでは90個)のICデバイス穴2の被覆がなされ
るので、ICデバイス穴2の被覆処理を高能率で行なう
ことができる。
【0020】上記のようにして、エッチングレジスト供
給装置10による所定の被覆処理がなされると、キャリ
アテープ1は再びスプロケット11、12により移送さ
れて次の処理分(90個)のICデバイス穴2がエッチ
ングレジスト供給装置10内に位置決めされる。
給装置10による所定の被覆処理がなされると、キャリ
アテープ1は再びスプロケット11、12により移送さ
れて次の処理分(90個)のICデバイス穴2がエッチ
ングレジスト供給装置10内に位置決めされる。
【0021】なお、上記実施例のエッチングレジスト充
填台19では、その陥入部22の上面に複数の長溝23
を設けた構成とされているが、長溝23を設けずに陥入
部22は上面が開口した単なる凹部とされることもあ
る。
填台19では、その陥入部22の上面に複数の長溝23
を設けた構成とされているが、長溝23を設けずに陥入
部22は上面が開口した単なる凹部とされることもあ
る。
【0022】
【発明の効果】以上説明したように、この発明に係るエ
ッチングレジスト供給方法およびその装置によれば、キ
ャリアテープに形成されたICデバイス穴に平坦状で所
定の厚みを有する状態でエッチングレジストを充填する
ことができる。このためにICデバイス穴を被覆するエ
ッチングレジストは短時間で乾燥し、乾燥処理のメンテ
ナンスも楽に行なえる。また、一度に複数のICデバイ
ス穴の被覆が行なえるので被覆工程での処理時間が大幅
に短縮され、処理能率を著しく向上させることができる
と云った効果を奏する。
ッチングレジスト供給方法およびその装置によれば、キ
ャリアテープに形成されたICデバイス穴に平坦状で所
定の厚みを有する状態でエッチングレジストを充填する
ことができる。このためにICデバイス穴を被覆するエ
ッチングレジストは短時間で乾燥し、乾燥処理のメンテ
ナンスも楽に行なえる。また、一度に複数のICデバイ
ス穴の被覆が行なえるので被覆工程での処理時間が大幅
に短縮され、処理能率を著しく向上させることができる
と云った効果を奏する。
【図1】この発明によるエッチングレジスト供給装置を
構成するエッチングレジスト充填台と平滑化部材とエッ
チングレジスト転写台とを示した斜視図。
構成するエッチングレジスト充填台と平滑化部材とエッ
チングレジスト転写台とを示した斜視図。
【図2】エッチングレジスト供給装置によるデバイスホ
ール被覆ラインの構成図。
ール被覆ラインの構成図。
【図3】エッチングレジスト供給装置によってICデバ
イス穴の被覆がなされるキャリアテープを示し、(A)
はその斜視図、(B)は図3(A)の要部拡大図。
イス穴の被覆がなされるキャリアテープを示し、(A)
はその斜視図、(B)は図3(A)の要部拡大図。
【図4】キャリアテープの製造工程図。
10 エッチングレジスト供給装置 19 エッチングレジスト充填台 20 平滑化部材 21 エッチングレジスト転写台 22 陥入部 28 転写台座
Claims (2)
- 【請求項1】 陥入部が形成されたエッチングレジスト
充填台にエッチングレジストを充填し、 平滑化部材により前記エッチングレジスト充填台の上面
を摺動して、前記陥入部に充填されたエッチングレジス
トの表面を平坦にし、 エッチングレジスト転写台に形成された多数の突出状転
写台座に前記陥入部内のエッチングレジストを接させる
ことにより、前記転写台座にエッチングレジストを転写
させ、前記転写台座に転写されたエッチングレジストを
ICデバイス穴に充填してなるエッチングレジスト供給
方法。 - 【請求項2】 エッチングレジストが充填される陥入部
が形成されたエッチングレジスト充填台と、 前記エッチングレジスト充填台の上面を摺動して前記陥
入部に充填されたエッチングレジストの表面を平坦にす
る平滑化部材と、 前記エッチングレジスト充填台の陥入部に充填されたエ
ッチングレジストに接してエッチングレジストを転写す
る多数の突出状転写台座が形成されたエッチングレジス
ト転写台と、 を具備してなるエッチングレジスト供給装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4112386A JPH0770568B2 (ja) | 1992-04-06 | 1992-04-06 | エッチングレジスト供給方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4112386A JPH0770568B2 (ja) | 1992-04-06 | 1992-04-06 | エッチングレジスト供給方法およびその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06302505A JPH06302505A (ja) | 1994-10-28 |
| JPH0770568B2 true JPH0770568B2 (ja) | 1995-07-31 |
Family
ID=14585383
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4112386A Expired - Fee Related JPH0770568B2 (ja) | 1992-04-06 | 1992-04-06 | エッチングレジスト供給方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0770568B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1325511A1 (en) * | 2000-10-12 | 2003-07-09 | General Semiconductor of Taiwan, Ltd. | Apparatus for attaching resists and wafers to substrates |
-
1992
- 1992-04-06 JP JP4112386A patent/JPH0770568B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06302505A (ja) | 1994-10-28 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |