JPH01264157A - 電子顕微鏡 - Google Patents
電子顕微鏡Info
- Publication number
- JPH01264157A JPH01264157A JP63091507A JP9150788A JPH01264157A JP H01264157 A JPH01264157 A JP H01264157A JP 63091507 A JP63091507 A JP 63091507A JP 9150788 A JP9150788 A JP 9150788A JP H01264157 A JPH01264157 A JP H01264157A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- filament
- bias voltage
- voltage
- sample holder
- current
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電子顕微鏡に係り特に、試料ホルダー脱着時ビ
ームOFFによるビームの不安定性を全くなくすことに
好適な電子顕微鏡に関する。
ームOFFによるビームの不安定性を全くなくすことに
好適な電子顕微鏡に関する。
従来の装置は、試料ホルダー脱着に連動しビームをOF
Fするためフィラメント電流を通常使用状能の半分にし
ていた。
Fするためフィラメント電流を通常使用状能の半分にし
ていた。
上記従来技術は、試料ホルダを真空内へ脱着する場合フ
ィラメント電流をゼロにする。試料ホルダの脱着が行な
われた後に再びフィラメント電流を流すためフィラメン
ト電流のON/ClFFによりビームが安定するまでに
時間がかかり、特に微少領域の分析が要求される最近で
は問題であった。
ィラメント電流をゼロにする。試料ホルダの脱着が行な
われた後に再びフィラメント電流を流すためフィラメン
ト電流のON/ClFFによりビームが安定するまでに
時間がかかり、特に微少領域の分析が要求される最近で
は問題であった。
本発明の目的は、ビームの不安定をなくすことにある。
上記目的は、ビームのOFFをフィラメント電流のOF
Fによらず、バイアス電圧を最大にすることにより達成
される。
Fによらず、バイアス電圧を最大にすることにより達成
される。
バイアス電圧を最大にする手段は、試料ホルダを真空内
へ脱着する場合、高真空部分と低真空部との間のバルブ
を開けるが、このバルブを開ける前に試料の移動を検出
しあらかじめビームをOFFするように動作する。また
この時、フイラメン+−を加熱する電流は一定であり、
バイアス電圧を最大からもとの値へ戻すと、ビームはす
ぐに安定する。
へ脱着する場合、高真空部分と低真空部との間のバルブ
を開けるが、このバルブを開ける前に試料の移動を検出
しあらかじめビームをOFFするように動作する。また
この時、フイラメン+−を加熱する電流は一定であり、
バイアス電圧を最大からもとの値へ戻すと、ビームはす
ぐに安定する。
以下、本発明の一実施例を第1図により説明する。フィ
ラメント1には、外部の高電圧発生器14から高電圧が
供給されている。この高電圧によりビーム3が加速され
る。
ラメント1には、外部の高電圧発生器14から高電圧が
供給されている。この高電圧によりビーム3が加速され
る。
フィラメント1は、外部の可変抵抗器9で設定された電
圧を増巾器8および一次電源6を通しトランス結合され
ている二次側の整流器4により直流電流を供給される。
圧を増巾器8および一次電源6を通しトランス結合され
ている二次側の整流器4により直流電流を供給される。
またウェネルト2とフィラメント1との間にフィラメン
ト1に印加されている高電圧よりも低い負のバイアス電
圧が印加される。この電圧は、外部の可変抵抗Ia11
で設定された電圧を増巾器10および一次電源7を通し
トランス結合され、二次側の整流器5により直流電圧に
変換され供給される。
ト1に印加されている高電圧よりも低い負のバイアス電
圧が印加される。この電圧は、外部の可変抵抗Ia11
で設定された電圧を増巾器10および一次電源7を通し
トランス結合され、二次側の整流器5により直流電圧に
変換され供給される。
フィラメント1に電流が流れると、フィラメント1は加
熱され、熱電子が発生する。フィラメント1とウェネル
ト2との間にはバイアス電圧が印加され、この電圧の電
界により熱電子は、レンズ作用を受は収束し、ビーム3
となる。
熱され、熱電子が発生する。フィラメント1とウェネル
ト2との間にはバイアス電圧が印加され、この電圧の電
界により熱電子は、レンズ作用を受は収束し、ビーム3
となる。
ここで、バイアス電圧を大きくしていくと、熱電子が、
バイアス電圧で作られる電界によりウェネルト2の穴を
通過出来なくなる。つまりビーム3がOFFとなる。
バイアス電圧で作られる電界によりウェネルト2の穴を
通過出来なくなる。つまりビーム3がOFFとなる。
試料ホルダ脱着時、スイッチ13がONしリレー12が
動作し、増巾器10へ可変抵抗器11で設定される最大
値が設定される。
動作し、増巾器10へ可変抵抗器11で設定される最大
値が設定される。
上記、バイアス電圧の最大値設定は、フィラメント電流
を一定のまま行なうことは、言うまでもない。
を一定のまま行なうことは、言うまでもない。
本発明によれば、フィラメント電流を一定にしたままで
、ビームをOFFすることが出来るので試料ホルダー脱
着を行なっても、ただちに安定したビームを得ることが
出来る。
、ビームをOFFすることが出来るので試料ホルダー脱
着を行なっても、ただちに安定したビームを得ることが
出来る。
第1図は本発明の一実施例を示す図である。
1・・・フィラメント、2・・・ウェネルト、3・・・
ビーム。 4・・・整流装置、5・・・整流装置、6・・・−次電
源、7・・・−次電源、8・・・増巾器、9・・・可変
抵抗器、1゜・・・増巾器、11・・・可変抵抗器、1
2・・・リレー、13・・・スイッチ、14・・・高電
圧発生器。
ビーム。 4・・・整流装置、5・・・整流装置、6・・・−次電
源、7・・・−次電源、8・・・増巾器、9・・・可変
抵抗器、1゜・・・増巾器、11・・・可変抵抗器、1
2・・・リレー、13・・・スイッチ、14・・・高電
圧発生器。
Claims (1)
- 1、フィラメント電流を可変する手段とフィラメントと
ウエネルト間のバイアス電圧を可変する手段と試料の真
空内挿入を検出する手段を持つ電子顕微鏡において、試
料ホルダの真空内脱着に連動しバイアス電圧を最大にす
る手段を設けたことを特徴とする電子顕微鏡。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63091507A JPH01264157A (ja) | 1988-04-15 | 1988-04-15 | 電子顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63091507A JPH01264157A (ja) | 1988-04-15 | 1988-04-15 | 電子顕微鏡 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01264157A true JPH01264157A (ja) | 1989-10-20 |
Family
ID=14028323
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63091507A Pending JPH01264157A (ja) | 1988-04-15 | 1988-04-15 | 電子顕微鏡 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01264157A (ja) |
-
1988
- 1988-04-15 JP JP63091507A patent/JPH01264157A/ja active Pending
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