JPH01267403A - ディスクのそり形状測定装置 - Google Patents
ディスクのそり形状測定装置Info
- Publication number
- JPH01267403A JPH01267403A JP9754988A JP9754988A JPH01267403A JP H01267403 A JPH01267403 A JP H01267403A JP 9754988 A JP9754988 A JP 9754988A JP 9754988 A JP9754988 A JP 9754988A JP H01267403 A JPH01267403 A JP H01267403A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- disk
- distance
- point
- measuring
- angle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 27
- 239000000523 sample Substances 0.000 abstract description 10
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 abstract description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 25
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 206010041662 Splinter Diseases 0.000 description 3
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明のディスクのそり形状測定装置は、経年使用等に
よる光ディスク等のそり形状を測定する装置に関する。
よる光ディスク等のそり形状を測定する装置に関する。
(従来の技術及び発明が解決しようとする課題〕大量の
情報を記録する光ディスクは、ディスクに微細なピット
を形成して情報を記録するため、記録膜の性状が記録情
報の信頼性に大きく影響するだけでなく、情報が正確に
記録されている場合であっても、そりによるディスクの
微小な変形が記録情報の信号検出精度に及ぼす影響は大
きく、ディスクの寿命を決定する要因となり得る。
情報を記録する光ディスクは、ディスクに微細なピット
を形成して情報を記録するため、記録膜の性状が記録情
報の信頼性に大きく影響するだけでなく、情報が正確に
記録されている場合であっても、そりによるディスクの
微小な変形が記録情報の信号検出精度に及ぼす影響は大
きく、ディスクの寿命を決定する要因となり得る。
従ってディスクのそりの測定が重要となるが、ディスク
のそり形状を評価する装置としては、ピックアップのフ
ォーカスコイル電流を計測してこの計測値を2回積分し
、基準データからの変位量を求めてそり形状を評価する
装置が製品化されている。さらに、これに加えてディス
ク各点の2次元位置を測定し、第6図に示す如き3次元
形状を求める方法が本出願人により既に考案されている
。
のそり形状を評価する装置としては、ピックアップのフ
ォーカスコイル電流を計測してこの計測値を2回積分し
、基準データからの変位量を求めてそり形状を評価する
装置が製品化されている。さらに、これに加えてディス
ク各点の2次元位置を測定し、第6図に示す如き3次元
形状を求める方法が本出願人により既に考案されている
。
しかし、これらの装置ではディスクを高速回転させて測
定するため、ドライブモータの振動等の影響を取り除く
ことができずに微小な変形を評価できないのみならず、
高速回転の遠心力によりディスクが変形し、静止状態で
の変形と異なる測定値しか得られない。
定するため、ドライブモータの振動等の影響を取り除く
ことができずに微小な変形を評価できないのみならず、
高速回転の遠心力によりディスクが変形し、静止状態で
の変形と異なる測定値しか得られない。
本発明はこのような問題を解決するためになされたもの
であって、ドライブモータの振動の影響を受けずにそり
の3次元形状を測定できる装置の提供を目的とする。
であって、ドライブモータの振動の影響を受けずにそり
の3次元形状を測定できる装置の提供を目的とする。
本発明のディスクのそり形状測定装置は、ディスク上各
点の3次元位置を検出して該ディスクの3次元形状を測
定するそり形状測定装置において、ディスクを所定速度
で回転させる回転手段と、ディスク上各点の2次元位置
を検出する2次元位置検出手段と、ディスクからの反射
光に基づきディスク外の所定点からディスク上各点まで
の距離を測定する距離計と、該距離計が距離を測定した
点でのディスクのそり角を測定するそり角測定計と、該
そり角によって前記距離計の測定値を補正する補正手段
とを備えたことを特徴とする。
点の3次元位置を検出して該ディスクの3次元形状を測
定するそり形状測定装置において、ディスクを所定速度
で回転させる回転手段と、ディスク上各点の2次元位置
を検出する2次元位置検出手段と、ディスクからの反射
光に基づきディスク外の所定点からディスク上各点まで
の距離を測定する距離計と、該距離計が距離を測定した
点でのディスクのそり角を測定するそり角測定計と、該
そり角によって前記距離計の測定値を補正する補正手段
とを備えたことを特徴とする。
本発明のディスクのそり形状測定装置は、回転手段によ
り所定速度で回転するディスク各点の2次元位置を2次
元位置検出手段が検出する一方、距離計がディスクから
の反射光に基づきディスク外の所定点からディスク上各
点までの距離を測定し、また、そり角測定計が前記各点
のディスクのそり各を測定し、補正手段が該そり角によ
って対応する前記距離計の測定距離を補正し、補正した
ディスク外の所定点からディスク上各点までの距離及び
前記2次元位置に基づきディスクの3次元形状を測定す
る。
り所定速度で回転するディスク各点の2次元位置を2次
元位置検出手段が検出する一方、距離計がディスクから
の反射光に基づきディスク外の所定点からディスク上各
点までの距離を測定し、また、そり角測定計が前記各点
のディスクのそり各を測定し、補正手段が該そり角によ
って対応する前記距離計の測定距離を補正し、補正した
ディスク外の所定点からディスク上各点までの距離及び
前記2次元位置に基づきディスクの3次元形状を測定す
る。
以下、本発明をその実施例を示す図面に基づき詳述する
。第1図は本発明に係るディスクのそり形状測定装置(
以下、本発明装置という)の構成を示す模式図であって
、図中1は測定対象の光ディスクである。光ディスク1
はその中心をモータ2の回転軸に一致させて載置してあ
り、モータ2は回転に応じた信号をエンコーダ(図示せ
ず)へ出力する。なお、光ディスク1の回転により生じ
る遠心力及びモータの振動の影響を極力避けるために測
定時の回転速度は低速とする。従って、測定用として非
接触である反射光量測定型の微小変位針を用いる。光デ
イスク1周縁の下方には、モータ3が配され、モータ3
はディスク径方向に展延するラックギア6に沿って移動
させるピニオン5を駆動し、反射光に基づき測定点まで
の距離を検出する距離計48、該測定点におけるディス
クのそり角を検出するそり角検出針4b及び検出したそ
り角により距離計4aが検出した距離を補正する補正手
段からなる光学系4をディスク径方向へ水平移動させ、
ピニオン5の回転に応じた信号をエンコーダ(図示せず
)へ出力する。
。第1図は本発明に係るディスクのそり形状測定装置(
以下、本発明装置という)の構成を示す模式図であって
、図中1は測定対象の光ディスクである。光ディスク1
はその中心をモータ2の回転軸に一致させて載置してあ
り、モータ2は回転に応じた信号をエンコーダ(図示せ
ず)へ出力する。なお、光ディスク1の回転により生じ
る遠心力及びモータの振動の影響を極力避けるために測
定時の回転速度は低速とする。従って、測定用として非
接触である反射光量測定型の微小変位針を用いる。光デ
イスク1周縁の下方には、モータ3が配され、モータ3
はディスク径方向に展延するラックギア6に沿って移動
させるピニオン5を駆動し、反射光に基づき測定点まで
の距離を検出する距離計48、該測定点におけるディス
クのそり角を検出するそり角検出針4b及び検出したそ
り角により距離計4aが検出した距離を補正する補正手
段からなる光学系4をディスク径方向へ水平移動させ、
ピニオン5の回転に応じた信号をエンコーダ(図示せず
)へ出力する。
第2図及び第3図は前記距離系4a及びそり角検出針4
bの構成を示す模式図である。これら距離計48及びそ
り角検出針4bはそれぞれ前記モータ2の回転軸から等
距離d離隔して配される。距離計4aは、光ディスク1
へ測定光を投光し、その反射光を検出するプローブ41
及び検出した反射光により測定対象点から例えばプロー
ブ41までの距離を測定する測定部(図示せず)からな
る。また、そり角検出針4bは、光ディスクlヘレーザ
光を照射するレーザ光源42、反射光を進行方向と異な
る方向へ変えるビームスプリッタ43.2波長板及びビ
ームスプリンタ43を経た反射光の入射位置により反射
点の光ディスク1のそり角を検出するポジシぢンセンサ
45からなる。
bの構成を示す模式図である。これら距離計48及びそ
り角検出針4bはそれぞれ前記モータ2の回転軸から等
距離d離隔して配される。距離計4aは、光ディスク1
へ測定光を投光し、その反射光を検出するプローブ41
及び検出した反射光により測定対象点から例えばプロー
ブ41までの距離を測定する測定部(図示せず)からな
る。また、そり角検出針4bは、光ディスクlヘレーザ
光を照射するレーザ光源42、反射光を進行方向と異な
る方向へ変えるビームスプリッタ43.2波長板及びビ
ームスプリンタ43を経た反射光の入射位置により反射
点の光ディスク1のそり角を検出するポジシぢンセンサ
45からなる。
次に、測定手順につき説明する。第4図は測定原理を説
明する図であって、任意の測定点Aの回転軸中心1aか
らの径方向距離をr、径方向基準線からの角度をθ、一
定の高さ、例えばプローブ41等からの距離をXとした
場合、回転する光ディスク1の各点においてこれら3要
素を測定すれば3次元形状が検出できる。
明する図であって、任意の測定点Aの回転軸中心1aか
らの径方向距離をr、径方向基準線からの角度をθ、一
定の高さ、例えばプローブ41等からの距離をXとした
場合、回転する光ディスク1の各点においてこれら3要
素を測定すれば3次元形状が検出できる。
まず、回転軸からの径方向距離rは、ランクギア6に沿
って移動するピニオン5の回転に応じてモータ3からエ
ンコーダへ出力される信号に基づき算出される。
って移動するピニオン5の回転に応じてモータ3からエ
ンコーダへ出力される信号に基づき算出される。
また、角度θは光ディスク1を回転させるモータ2の回
転に応じてエンコーダへ出力される信号に基づき算出さ
れる。
転に応じてエンコーダへ出力される信号に基づき算出さ
れる。
さらに、距離Xは前記距離計48にて測定するが、第2
図に示す如く、測定点の光ディスク1がそりによって水
平面Hから角度ψ傾いている場合、測定点への入射光は
プローブ41からそれた方向へ反射され、プローブ41
が検出した反射光量に基づき検出される距離に誤差が生
じるため、検出距離をそり角検出計4bにて測定した測
定点のそり角により補正する。実測に基づけば、そり角
と測定距離の誤差との関係は2次式で表され、レーザデ
ィスクではl degの傾きに対して約20μ−の誤差
が生じる。
図に示す如く、測定点の光ディスク1がそりによって水
平面Hから角度ψ傾いている場合、測定点への入射光は
プローブ41からそれた方向へ反射され、プローブ41
が検出した反射光量に基づき検出される距離に誤差が生
じるため、検出距離をそり角検出計4bにて測定した測
定点のそり角により補正する。実測に基づけば、そり角
と測定距離の誤差との関係は2次式で表され、レーザデ
ィスクではl degの傾きに対して約20μ−の誤差
が生じる。
その手順は、まずプローブ41がディスク1表面へ投光
してその反射光を検出し、プローブ41が検出した反射
光に基づき反射点からプローブ41等までの距離を測定
部(図示せず)が測定する。またそり角測定計4bはレ
ーザ光源42からレーザ光を、ビームスプリンタ43及
び2波長板44を経て光ディスク1に投光し、該光ディ
スク1からの反射光の進行方向をビームスプリンタ43
がボジシッンセンサ45方向へ変える。ポジションセン
サ45は該反射光の入射位置と光ディスク1の水平面か
らの反射光の基準入射位置との変位から測定点の光ディ
スクlのそり角を検出する。さらに、検出したそり角に
より補正手段(図示せず)が前述の如き実測に基づき定
まる所定式に従って測定距離を補正する。
してその反射光を検出し、プローブ41が検出した反射
光に基づき反射点からプローブ41等までの距離を測定
部(図示せず)が測定する。またそり角測定計4bはレ
ーザ光源42からレーザ光を、ビームスプリンタ43及
び2波長板44を経て光ディスク1に投光し、該光ディ
スク1からの反射光の進行方向をビームスプリンタ43
がボジシッンセンサ45方向へ変える。ポジションセン
サ45は該反射光の入射位置と光ディスク1の水平面か
らの反射光の基準入射位置との変位から測定点の光ディ
スクlのそり角を検出する。さらに、検出したそり角に
より補正手段(図示せず)が前述の如き実測に基づき定
まる所定式に従って測定距離を補正する。
さらに、第5図は距離計48及びそり角測定計4bの位
置関係を光ディスクlと対比させて示した図である。距
離計48及びそり角測定計4bは共にモータ2の回転軸
中心2aから等距離d離隔して配されており、両者の接
線方向の距離は一定であるので、測定時の光ディスク1
の回転速度が求まれば、両者による任意の測定点に対す
る測定時間の差が求まり、同一点における測定値の対応
付けができて各測定点にてそり角による測定距離の補正
が行える。
置関係を光ディスクlと対比させて示した図である。距
離計48及びそり角測定計4bは共にモータ2の回転軸
中心2aから等距離d離隔して配されており、両者の接
線方向の距離は一定であるので、測定時の光ディスク1
の回転速度が求まれば、両者による任意の測定点に対す
る測定時間の差が求まり、同一点における測定値の対応
付けができて各測定点にてそり角による測定距離の補正
が行える。
本発明装置は、測定時のディスク回転速度を低、速にし
て回転により生じる遠心力及びモータの振動が測定値に
与える影響を回避する一方、低速にしたことにより3次
元方向の距離測定に必要となった光学的手段による測定
距離の誤差をディスクのそり角を測定して補正し、ディ
スクの3次元形状の測定精度を高めるという優れた効果
を奏する。
て回転により生じる遠心力及びモータの振動が測定値に
与える影響を回避する一方、低速にしたことにより3次
元方向の距離測定に必要となった光学的手段による測定
距離の誤差をディスクのそり角を測定して補正し、ディ
スクの3次元形状の測定精度を高めるという優れた効果
を奏する。
第1図は本発明装置の構成を示す模式図、第2図及び第
3図はその一部の詳細な構成を示す模式図、第4図及び
第5図は測定原理を説明する図、第6図は測定結果に基
づき検出されたディスクの3次元形状を示す図である。 1・・・光ディスク 2・・・モータ 2a・・・回転
軸3・・・モータ 4・・・光学系 4a・・・距離計
4b・・・そり角測定計 5・・・ピニオン 6・・
・ランクギア41・・・プローブ 42・・・レーザ光
源 43・・・ビームスプリッタ 44・・・A波長板
45・・・ポジションセンサ代理人 弁理士 河
野 登 夫 第 5 図 第 6 図 ブ″′ T 第2図 /4b 第 3 口 第 + 喝
3図はその一部の詳細な構成を示す模式図、第4図及び
第5図は測定原理を説明する図、第6図は測定結果に基
づき検出されたディスクの3次元形状を示す図である。 1・・・光ディスク 2・・・モータ 2a・・・回転
軸3・・・モータ 4・・・光学系 4a・・・距離計
4b・・・そり角測定計 5・・・ピニオン 6・・
・ランクギア41・・・プローブ 42・・・レーザ光
源 43・・・ビームスプリッタ 44・・・A波長板
45・・・ポジションセンサ代理人 弁理士 河
野 登 夫 第 5 図 第 6 図 ブ″′ T 第2図 /4b 第 3 口 第 + 喝
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、ディスク上各点の3次元位置を検出して該ディスク
の3次元形状を測定するそり形状測定装置において、 ディスクを所定速度で回転させる回転手段と、 ディスク上各点の2次元位置を検出する2次元位置検出
手段と、 ディスクからの反射光に基づきディスク外の所定点から
ディスク上各点までの距離を測定する距離計と、 該距離計が距離を測定した点でのディスクのそり角を測
定するそり角測定計と、 該そり角によって前記距離計の測定値を補正する補正手
段と を備えたことを特徴とするディスクのそり形状測定装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9754988A JPH01267403A (ja) | 1988-04-19 | 1988-04-19 | ディスクのそり形状測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9754988A JPH01267403A (ja) | 1988-04-19 | 1988-04-19 | ディスクのそり形状測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01267403A true JPH01267403A (ja) | 1989-10-25 |
Family
ID=14195323
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9754988A Pending JPH01267403A (ja) | 1988-04-19 | 1988-04-19 | ディスクのそり形状測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01267403A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2011020860A1 (de) | 2009-08-19 | 2011-02-24 | Ers Electronic Gmbh | Verfahren und vorrichtung zum ermitteln einer deformation eines scheibenförmigen werkstücks, insbesondere eines moldwafers |
| WO2011068219A1 (ja) * | 2009-12-04 | 2011-06-09 | シャープ株式会社 | 形状計測装置、及び形状計測方法 |
-
1988
- 1988-04-19 JP JP9754988A patent/JPH01267403A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2011020860A1 (de) | 2009-08-19 | 2011-02-24 | Ers Electronic Gmbh | Verfahren und vorrichtung zum ermitteln einer deformation eines scheibenförmigen werkstücks, insbesondere eines moldwafers |
| DE102009037939A1 (de) * | 2009-08-19 | 2011-06-30 | ERS electronic GmbH, 82110 | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Durchbiegung eines scheibenförmigen Werkstücks |
| US8599366B2 (en) | 2009-08-19 | 2013-12-03 | Ers Electronic Gmbh | Method and device for determining a deformation of a disk-shaped workpiece, particularly a mold wafer |
| WO2011068219A1 (ja) * | 2009-12-04 | 2011-06-09 | シャープ株式会社 | 形状計測装置、及び形状計測方法 |
| JP2011117851A (ja) * | 2009-12-04 | 2011-06-16 | Sharp Corp | 気相成長装置および気相成長方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS63153456A (ja) | 光デイスクテストシステム | |
| JP2635608B2 (ja) | 光学的情報記憶媒体検査装置 | |
| JPH09229650A (ja) | 偏心・傾き・反り検出装置および偏心・傾き・反り検出方法 | |
| JP3988859B2 (ja) | 光ディスク検査装置 | |
| JPH0256604B2 (ja) | ||
| US6521878B2 (en) | Radial tilt detector for an optical disc | |
| JPH047803B2 (ja) | ||
| JPH02140608A (ja) | 表面形状測定装置 | |
| JPS6071903A (ja) | 光ディスク検査装置 | |
| US20020053646A1 (en) | Radial tilt detector | |
| JPH0251009A (ja) | 面振れ量、反り角測定装置 | |
| JPH0438049B2 (ja) | ||
| JPH1083580A (ja) | 光ディスク測定装置 | |
| JP2869675B2 (ja) | 微小間隔の測定方法 | |
| JPH01206208A (ja) | 光学的情報記憶媒体検査装置 | |
| JPH0338646Y2 (ja) | ||
| JPS63103938A (ja) | 光ピツクアツプ装置 | |
| JPH0237529A (ja) | レンズ位置検出器 | |
| JPH04238120A (ja) | 焦点位置制御装置 | |
| JPH10232108A (ja) | ディスク形状検査方法及び装置 | |
| JPH03229108A (ja) | 面傾斜面変位測定装置 | |
| JPH0652572B2 (ja) | 光学式情報記録再生装置 | |
| JPH06221809A (ja) | 板状媒体の機械特性を測定する装置 | |
| JPH02247515A (ja) | 表面形状測定装置 | |
| JPH011904A (ja) | 形状歪測定装置 |