JPH01268840A - 流電陽極用アルミニウム合金 - Google Patents

流電陽極用アルミニウム合金

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JPH01268840A
JPH01268840A JP9441888A JP9441888A JPH01268840A JP H01268840 A JPH01268840 A JP H01268840A JP 9441888 A JP9441888 A JP 9441888A JP 9441888 A JP9441888 A JP 9441888A JP H01268840 A JPH01268840 A JP H01268840A
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aluminum alloy
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Kazuhiko Takei
武井 和彦
Tatsuya Kuramoto
蔵本 竜也
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Sumitomo Metal Mining Co Ltd
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Sumitomo Metal Mining Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、陰極防食に使用される流電陽極用アルミニウ
ム合金に関する。
〔従来の技術〕
流電陽極用アルミニウム合金には、アルミニウムが腐食
される環境の中にあって、強固な酸化皮膜を生じて不働
態化することがなく、活性を維持し、しかも一方では過
剰な自己腐食による無駄な溶解もしないという相反する
性質を満たすことが要求される。これらの要件を満足し
た上で、流電陽極として陽極電位はできるだけ卑であり
、かつ発生電気量が大なることが要求される。
このような流電陽極用アルミニウム合金としては、アル
ミニウムに、Zn、Sn、In、Zn−I n、Zn−
3n、I n−8n等さまざまの元素を各種の配合比率
で添加したものが提案又は実用化されている。
上記の合金の中で、Al−Zn−In系合金は、平滑に
溶解し、陽極電位も−1,OV  v、s、。
S、A、B、(飽和塩化カリウム銀塩化銀型i>より卑
電位を示す、しかし、Al−Zn−In系合金の電気量
は、2.60Ah/gどまりで、これを超えるとしても
安定して2.60Ah/gの電気量を維持できない。
〔本発明が解決しようとする課題〕
本発明は上記事情に基づいてなされたものであり、本発
明の目的は、鉄系材料を陰極防食するに充分なる卑電位
を示し、かつAl−Zn−In合金を上回る電気量を有
する流!陽極用アルミニウム合金を提供することにある
〔課題を解決するための手段〕
この目的を達成するために、本発明者等は種々研究を行
った結果、Al−Zn−In合金に珪素とマグネシウム
を添加し、かつ、このAl−Zn−In−31−Mg合
金に微量のジルコニウムとイツトリウムのいずれか1種
又は2種を添加すると、発生電気量を著しく増大させる
ことができるとともに、鉄系材料を陰極防食するに充分
なる卑電位を示すことを見出して本発明に到達した。
すなわち本発明は、重量にて、Zn:0.5〜6.0%
、Into、01〜0.05%、SI:0.05〜0.
3%、Mg:0.1〜3.0%を有すると共に、0.0
005〜0.01%のZrと0□001〜0.1%のY
のいずれか1種又は2種を含む高性能流電陽極用アルミ
ニウム合金を構成したことにある。
〔作用〕 以下1本発明において、各成分(以下重量%を単に%と
略する。)の効果と含有量を上記に限定した理由につい
て説明する。
1)Zn:0.5〜6.0%。
アルミニウムを主体とする合金において、アルミニウム
を活性にする効果については、亜鉛はインジウムに比較
すると小さい、しかし、亜鉛は、アルミニウム中にイン
ジウムを均一に分散させる作用を有し、均一な腐食面を
形成するのに有効に働く、さらに、亜鉛の添加は、アル
ミニウム合金の水素過電圧を増大させる効果があり、均
一な腐食面を形成する効果とともに、局部アノードおよ
び局部カソードの形成による自己腐食を抑制し、発生有
効電気量を増大させる効果がある。しかし、亜鉛の含有
量が0.5%以下ではインジウムをアルミニウム合金中
に均一に分散させる作用が不充分であり、逆に亜鉛の含
有量が6.0%以上になると電気量が減少する。
2)In: 0.01〜0.05%。
インジウムはアルミニウム合金を活性化し、陽極電位を
大きく卑にする作用を有する。しかし、亜鉛が0.5〜
6.0%の範囲にあるとき、インジウムが0.01%以
下では、その作用が弱く陽極電位が充分卑にならない、
逆に、インジウムが0.05%を超えると、陽極電位は
卑になるが、インジウム自身の分散が不均一になってし
まい、そのために局部腐食を生じて電気量が低下する。
3)St : 0.05〜0.3%。
Zn:0.5〜6゜0%およびIn:0.01〜0.0
5%を含有したアルミニウム合金において、珪素を0.
05〜0.3%含有させると、アルミニウム合金の電気
量が増大する。珪素の量が0.05%よりも少ないとそ
の効果はなく、逆に0.3%を超えてもその効果がなく
なるとともに、陽極電位が上昇し防食機能が低下する。
4)Mg:0.1〜3.0%。
マグネシウムは、Al−Zn−In系合金において珪素
との相乗効果により、珪素のみの添加の場合よりも、さ
らに電気量を増大させる効果がある。すなわち、Al−
Zn−In合金に珪素を添加したA l−Zn −I 
n−31合金は、2.60Ah/g程度の電気量を有す
るが、このAl−Zn−In−31合金にさらに0.1
〜3.0%のMgを添加したAl−Zn −In−9t
 −Mg合金の電気量は2.70Ah/g程度に増大す
る。
しかし、マグネシララムの添加量が0.1%未満では電
気量増大の効果はなく、逆に3.0%を超えると陽極電
位の上昇を招いてしまう。
5)Zr : O,0O05〜0.01%およびY二0
.001〜0.1%。
上述のAl−Zn−In−31−Mg合金に。
0.0005〜0.01%のZrと0.001〜0.1
%のYいずれか1種又は2種を加えると、その電気量は
さらに増大して、2.75Ah/g程度になる。ジルコ
ニウムが0.0005%未満。
イツトリウムが0.001%未満では、その電気量増大
の効果が充分ではなく、逆にジルコニウムが0.01%
を超え、イツトリウムが0.1%を超えると、ジルコニ
ウムやイツトリウムが結晶粒界に粗大に分布するように
なり、電気量の低下を招いてしまう。
〔実施例〕
第1表に示す夫々の組成の本発明合金と比較合金とから
直径20mmの棒状試料を形成し、容量IQのガラス製
ビーカーに人工海水(後記の流電陽極試験法に定められ
た組成のもの>1,000mQを入れた電解槽に、前記
棒状試料の一部を露出面積20crt?になるようにビ
ニールテープでシールして一部露出させたものを陽極と
して、電流密度1mA/crrf、液温25℃の条件で
、240時間電解試験(日本学術振興会 第97委員会
電気防食 第12分科会の「流電陽極試験法」に。
液温一定という条件を付加したもの)を行い、その陽極
電位と電気量を測定した。得られた結果を第1表に示す
(この頁以下余白) 第1表 * (−V) V、S、、S、 A、 E。
傘*Ah/g 第1表から明らかなように、NQIからNQIOの本発
明合金は、すべて2.70Ah/g以上の電気量を示し
1この電気量は、N11llからぬ21に示した比較合
金のものに比べて大きいことが明らかである。さらに、
恥、1からNQ10の本発明合金は、陽極電位も−1,
0V以下であって、充分卑になっており、流な陽極アル
ミニウム合金として優れた性能を示していることが判る
〔発明の効果〕
以上により、本発明のアルミニウム合金は、高い発生電
気量を有し、陽極電位も充分に卑であるので、従来より
も耐用年数が長く、長期間にわたって安定した防食機能
を有すると考えられ、その経済的、省資源的意義は極め
て大きい。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 重量にて、Zn:0.5〜6.0%、In:0.01〜
    0.05%、Si:0.05〜0.3%、Mg:0.1
    〜3.0%を含むと共に、0.0005〜0.01%の
    Zrと0.001〜0.1%のYのいずれか1種又は2
    種を含み、残部が実質的にアルミニウム及び付随的不純
    物からなる事を特徴とする流電陽極アルミニウム合金。
JP9441888A 1988-04-19 1988-04-19 流電陽極用アルミニウム合金 Granted JPH01268840A (ja)

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JPH01268840A true JPH01268840A (ja) 1989-10-26
JPH036976B2 JPH036976B2 (ja) 1991-01-31

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5580800A (en) * 1993-03-22 1996-12-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method of patterning aluminum containing group IIIb Element
US5830786A (en) * 1993-02-22 1998-11-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Process for fabricating electronic circuits with anodically oxidized scandium doped aluminum wiring

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5830786A (en) * 1993-02-22 1998-11-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Process for fabricating electronic circuits with anodically oxidized scandium doped aluminum wiring
US5580800A (en) * 1993-03-22 1996-12-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method of patterning aluminum containing group IIIb Element

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