JPH0127130Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は電算機用磁気テープヘツド（以下MT
ヘツドと略称する）の組立装置に関するものであ
る。

MTヘツドの概要を第１図および第２図に示
す。MTヘツド１は、書き込み用ヘツド（以下Ｗ
ヘツドと略称する）２と読み取り用ヘツド（以下
Ｒヘツドと略称する）３とを磁気シールド板４を
介し組立ねじ５により結合してなる。

従来この様な構成のMTヘツド１の組立は、第
１図の状態に仮組した後に、矢印で示す書き込み
面Ａ、読み取り面Ｂ、およびＣ，Ｄ面を突き当て
各ヘツドの相対関係を位置決めして組立ねじ５に
より結合して行つていたため、組立精度を向上す
るには熟練が必要であつた。

ところで、近年高記録密度化のため記録周波数
が高くなりＷ，Ｒヘツド各部の寸法は微小化、高
精度化されており、組立精度も1μｍ以下を要求
されている。

従つて、上述の様な従来の組立方式では組立が
大変でありその改善策が要望されている。

本考案は上述の要望を実現するためのもので、
MTヘツドの組立を高精度でかつ容易に行うこと
のできる組立装置を提供することを目的としてい
る。

以下、第３図乃至第６図に関連して本考案の実
施例を説明する。

第３図は組立装置の正面図、第４図は同側面図
で、磁気テープヘツド組立装置１１は、Ｘ，Ｙテ
ーブル１２と、Ｗ，Ｒヘツドの相対位置を調整位
置決めする調整手段１３と、形状測定器１４と、
顕微鏡１５とよりなる。形状測定器１４と顕微鏡
１５は測定手段を構成する。

Ｘ，Ｙテーブル１２は、図示しない駆動機構に
より駆動されて、Ｘ方向（左右方向）およびＹ方
向（前後方向）に移動可能である。

調整手段１３は、上下微動機構１６と、左右微
動機構１７と、前後微動機構１８と、傾斜調整機
構１９とよりなる。上下微動機構１６は、第１の
支持部材２０を第３図に矢印で示す上下方向に微
動させるためのもので、Ｘ，Ｙテーブル１２に固
定された本体２１と、該本体２１に回転自在に支
持される送りねじ２２と、該送りねじ２２に螺合
するとともに本体２１に上下動自在に支持される
スライド金具２３とよりなる。支持部材２０は、
スライド金具２３の上部に固定されており、送り
ねじ２２の上端に固定されたハンドル２４を回転
させることによりスライド金具２３とともに上下
に微動する。左右微動機構１７は、第２の支持部
材２５を左右に微動させて支持部材２０，２５の
間隔を調整するためのもので、Ｘ，Ｙテーブル１
２に固定された本体２６と、該本体２６に回転自
在に支持される送りねじ２７と、該送りねじ２７
に螺合するとともに本体２６に左右動自在に支持
されるスライド金具２８とよりなる。スライド金
具２８は、送りねじ２７の右端に固定されたハン
ドル２９を回転させることにより左右に微動す
る。前後微動機構１８は、支持部材２５を前後に
微動させるためのもので、スライド金具２８に固
定された本体３０と、該本体３０に回転自在に支
持される送りねじ３１と、該送りねじ３１に螺合
するとともに本体３０に前後動自在に支持される
スライド金具３２とよりなる。スライド金具３２
は、送りねじ３１の頭部に固定されたハンドル３
３を回転させることにより前後に微動する。傾斜
調査機構１９は、支持部材２５を第４図の紙面と
平行な面に沿つて支持部材２０に対し相対的に回
動させるためのもので、スライド金具３２に固定
された本体３４と、該本体３４に螺合する平行度
調整ねじ３５と、該平行度調整ねじ３５に嵌合す
るとともに本体３４に第４図の紙面と平行な面に
沿つて回動可能に支持される可動金具３６とより
なる。可動金具３６は、図示しないスプリングに
賦勢されて前端部が平行度調整ねじ３５の段付部
に係止し、平行度調整ねじ３５の頭部に固定され
たハンドル３７を回転させることにより回動す
る。

形状測定器１４は、後述するように支持部材２
０，２５により保持される仮組MTヘツドの各ヘ
ツド上面の段差を測定するためのものである。

顕微鏡１５は、上記仮組MTヘツドの各ヘツド
の前後の位置ずれを測定するためのものである。

磁気テープヘツドの組立は上述の様な構成の組
立装置を用いて次の手順により行われる。

まず、各支持部材２０，２５にＲヘツド３、Ｗ
ヘツド２を固定ねじ３８（第４図に支持部材２５
側のみを示す）を用いて固定し、Ｗ，Ｒヘツド
２，３の間に磁気シールド板４を差し込み各支持
部材２０，２５に設けられた組立ねじ用穴３９を
利用して組立ねじ５を挿入しておいて、左右微動
機構１７によりＷヘツド２、Ｒヘツド３、磁気シ
ールド板４を接触させ、組立ねじ５を仮締めして
MTヘツド１を仮組する。

次にＸ，Ｙテーブル１２により仮組MTヘツド
を形状測定器１４の真下に移動し、第５図ａ，ｂ
の要領でＷ，Ｒヘツド間の段差量を測定し、上下
微動機構１６と傾斜調整機構１９により段差がゼ
ロになるまで調整する。第５図ａは段差測定要領
を示し、この要領による測定を第５図ｂに示すよ
うに各ヘツドの前後端について行う。αは前端に
おける調整量で、βは後端における調整量であ
る。

段差調整が終了したら、Ｘ，Ｙテーブル１２に
より仮組MTヘツドを顕微鏡１５の真下に移動
し、第６図の要領で両ヘツド間の前後の位置ずれ
（調整量）γを測定して、ずれがゼロになるまで
前後微動機構１８により調整する。ＳおよびＴは
顕微鏡の視野およびスケールである。

上述の各種の調整は、各機構のハンドルを操作
することにより容易に行うことができ、しかも作
業中にヘツドを傷つけることはない。

この様にして全調整を完了した後、組立ねじ５
を締め付け、固定ねじ３８をゆるめてMTヘツド
１を装置より取り外す。

なお、形状測定器１４、顕微鏡１５は、第３図
では省略したが、それぞれ上下微動機構を有して
いる。

以上述べたように、本考案によれば、次の様な
各種の優れた効果を奏することが可能である。

(1) 組立要求精度を満足させることができる。

(2) 未熟練者でも容易に組立ができる。

(3) 組立中に精度測定ができる。

(4) 組立中ヘツドを傷つけることがない。

【図面の簡単な説明】

第１図はMTヘツドの概要図、第２図は第１図
の右側面、第３図乃至第６図は本考案に係る組立
装置の実施例を示すもので、第３図は正面図、第
４図は側面図、第５図ａ，ｂは形状測定器による
各ヘツド間の段差測定要領図、第６図は顕微鏡に
よる各ヘツド間の前後位置ずれ測定要領図であ
る。 図中、１はMTヘツド（磁気テープヘツド）、
２はＷヘツド（書き込み用ヘツド）、３はＲヘツ
ド（読み取り用ヘツド）、４は磁気シールド板、
５は組立ねじ、１１は磁気テープヘツド組立装
置、１２はＸ，Ｙテーブル、１３は調整手段、１
４は形状測定器、１５は顕微鏡、１６は上下微動
機構、１７は左右微動機構、１８は前後微動機
構、１９は傾斜調整機構、２０は第１の支持部
材、２５は第２の支持部材、３８は固定ねじであ
る。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 仮組された磁気テープヘツドの書き込み用ヘツ
   ドおよび読み取り用ヘツドを書き込み、読み取り
   面を上側にしてそれぞれ固定するための１対の保
   持部材と、水平面に沿つて前記各ヘツドの対向方
   向に沿つたＸ方向および該Ｘ方向に垂直なＹ方向
   に移動可能なＸ，Ｙテーブルと、前記Ｘ，Ｙテー
   ブル上に設けられ、前記各保持部材を駆動して、
   前記各保持部材に固定された前記仮組磁気テープ
   ヘツドの各ヘツドの上下段差および前後の位置ず
   れを微調整するとともに前記各保持部材の間隔を
   微調整可能な調整手段と、前記Ｘ，Ｙテーブルに
   より前記調整手段とともに所定位置に位置決めさ
   れる前記仮組磁気テープヘツドの各ヘツドの上下
   の段差および前後の位置ずれをそれぞれ測定する
   測定手段とよりなることを特徴とする磁気テープ
   ヘツド組立装置。