JPH01276006A - 光学的検出装置 - Google Patents
光学的検出装置Info
- Publication number
- JPH01276006A JPH01276006A JP63104045A JP10404588A JPH01276006A JP H01276006 A JPH01276006 A JP H01276006A JP 63104045 A JP63104045 A JP 63104045A JP 10404588 A JP10404588 A JP 10404588A JP H01276006 A JPH01276006 A JP H01276006A
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- Japan
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- slit
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明はオフセット印刷用印刷版等の刷版の絵柄面積率
測定装置に用いられる光学的検出装置に関する。
測定装置に用いられる光学的検出装置に関する。
［従来の技術］
オフセット印刷版等の刷版の絵柄面積率を測定する絵柄
面積率測定装置は、被測定刷版をテーブル上に固定し、
光学的検出装置により刷版の絵柄面積率を測定する。
面積率測定装置は、被測定刷版をテーブル上に固定し、
光学的検出装置により刷版の絵柄面積率を測定する。
光学的検出装置は、検査ヘッドに複数の遮光ボックスを
並列配置し、各遮光ボックスの内部に受光器を設け、検
査ヘッドをその遮光ボックス群の並列配置方向に直交す
る方向に移動走査し、光照射された刷版からの反射光を
上記各受光器にて受光し、その反射光の強度を光学的に
検出する。
並列配置し、各遮光ボックスの内部に受光器を設け、検
査ヘッドをその遮光ボックス群の並列配置方向に直交す
る方向に移動走査し、光照射された刷版からの反射光を
上記各受光器にて受光し、その反射光の強度を光学的に
検出する。
ところで、オフセット印刷用印刷版等の被測定刷版には
、刷版のエツジ部分（オフセット印刷用印刷版の場合に
は、印刷版の咬えまたは咬え尻。
、刷版のエツジ部分（オフセット印刷用印刷版の場合に
は、印刷版の咬えまたは咬え尻。
印刷に悪影響を及ぼさない部分）にキャリブレーション
マークが付されており、このキャリブレーションマーク
を絵柄部側定基準として用いる。このため、刷版の絵柄
面積率を測定する時、上記キヤリプレーシ璽ンマークか
らの反射光の強度を刷版の他の検出領域からの反射光の
影響を受けずに正確に測定する必要がある。
マークが付されており、このキャリブレーションマーク
を絵柄部側定基準として用いる。このため、刷版の絵柄
面積率を測定する時、上記キヤリプレーシ璽ンマークか
らの反射光の強度を刷版の他の検出領域からの反射光の
影響を受けずに正確に測定する必要がある。
そこで従来、特開昭５７−７４６０５号公報に記載され
る如く、キャリブレーションマークからの反射光の強さ
を刷版の他の検出領域からの反射光の影響を受けず正確
に測定するため、キヤリプレーシ曹ンマークに対向する
遮光ボックス下部に、遮光板（マスク）を固定すること
が提案されている。
る如く、キャリブレーションマークからの反射光の強さ
を刷版の他の検出領域からの反射光の影響を受けず正確
に測定するため、キヤリプレーシ曹ンマークに対向する
遮光ボックス下部に、遮光板（マスク）を固定すること
が提案されている。
［発明が解決しようとする課題］
１、かじながら、上記従来の光学的検出装置にあっては
、以下の如くの問題点がある。
、以下の如くの問題点がある。
■受光器に入射する反射光量が減少し、測定精度の向上
を阻害する。
を阻害する。
（力受光器と刷版の被検出面間距離を大きくすると、遮
光板が設けられていない受光器の検出値は減少していく
ものの、遮光板が設けられた受光器にかぎっては、今ま
で遮光板で遮ざられていた光が入射するようになりその
検出値は増加傾向を示す、よって、測定精度が受光器と
刷版の被検出面間の距離の変動に左右されやすい。
光板が設けられていない受光器の検出値は減少していく
ものの、遮光板が設けられた受光器にかぎっては、今ま
で遮光板で遮ざられていた光が入射するようになりその
検出値は増加傾向を示す、よって、測定精度が受光器と
刷版の被検出面間の距離の変動に左右されやすい。
本発明は、キャリブレーションマークからの反射光量を
周辺からの影響を受けることなく確実かつ高精度に検出
し、刷版の絵柄面積率の光学的検出を正確に行なうこと
を目的とする。
周辺からの影響を受けることなく確実かつ高精度に検出
し、刷版の絵柄面積率の光学的検出を正確に行なうこと
を目的とする。
［課題を解決するための手段］
本発明は、検査ヘッドに複数の遮光ボックスを並列配置
し、各遮光ボックスの内部に受光器を設け、検査ヘッド
と刷版とを上記遮光ボックス群の並列配置方向に直交す
る方向に相対的に移動させ、光照射された刷版からの反
射光を」−記各受光器にて受光する光学的検出装置にお
いて、刷版のキャリブレーションマークに対向すること
となる遮光ボックスの光取入口にスリットを設け、この
スリットは遮光ボックス群の並列配置方向に短辺を有す
る略矩形状をなし、スリットの上記短辺は、このスリッ
トを経て入光する反射光の被測定面間おける該短辺方向
幅がキャリブレーションマー・りの同方向幅以下となる
サイズに設定されているようにしたものである。
し、各遮光ボックスの内部に受光器を設け、検査ヘッド
と刷版とを上記遮光ボックス群の並列配置方向に直交す
る方向に相対的に移動させ、光照射された刷版からの反
射光を」−記各受光器にて受光する光学的検出装置にお
いて、刷版のキャリブレーションマークに対向すること
となる遮光ボックスの光取入口にスリットを設け、この
スリットは遮光ボックス群の並列配置方向に短辺を有す
る略矩形状をなし、スリットの上記短辺は、このスリッ
トを経て入光する反射光の被測定面間おける該短辺方向
幅がキャリブレーションマー・りの同方向幅以下となる
サイズに設定されているようにしたものである。
また１本発明は、前記遮光ボックスの光取入口と受光器
との間に中間スリットを設けるようにしたものである。
との間に中間スリットを設けるようにしたものである。
［作１１１］
本発明によれば、キャリブレーションマークに対向する
こととなる遮光ボックスの光取入口に設けｔ・、スリッ
トが、遮光ポー、ケス群の並列配置方向に短辺を右する
略矩形状をなし、このスリットの上記短辺は、このスリ
シトを経て入光する反射光の被測定面における該短辺方
向幅がキャリブレーションマークの同方向幅以下となる
サイズに設定されるから、■遮光ポー、ケス群の並列配
置方向に直交する方向（走査方向ＸＩ’）に設けられる
長辺のνさを十分に取ることにより、測定に必要な反射
光の入光量を確保するに足るスリー、ト面積を確保する
状態下で、■遮光ボックス群の並列配置方向ｘ２にスリ
ットの長辺を位訝せしめる場合に比して、キャリブレー
ションブークの周辺からの反射光が上記遮光ボックス内
に入光することを抑制し、キヤリプレーシ曹ンマークか
らの反射光を周辺からの悪影響を排除した状態で受光で
きる。したがって、キャリブレーションマークからの反
射光量を周辺からの影響を受けることなく確実かつ高精
度に検出し、刷版の絵柄面積率の光学的検出を正確に行
なうことができる。
こととなる遮光ボックスの光取入口に設けｔ・、スリッ
トが、遮光ポー、ケス群の並列配置方向に短辺を右する
略矩形状をなし、このスリットの上記短辺は、このスリ
シトを経て入光する反射光の被測定面における該短辺方
向幅がキャリブレーションマークの同方向幅以下となる
サイズに設定されるから、■遮光ポー、ケス群の並列配
置方向に直交する方向（走査方向ＸＩ’）に設けられる
長辺のνさを十分に取ることにより、測定に必要な反射
光の入光量を確保するに足るスリー、ト面積を確保する
状態下で、■遮光ボックス群の並列配置方向ｘ２にスリ
ットの長辺を位訝せしめる場合に比して、キャリブレー
ションブークの周辺からの反射光が上記遮光ボックス内
に入光することを抑制し、キヤリプレーシ曹ンマークか
らの反射光を周辺からの悪影響を排除した状態で受光で
きる。したがって、キャリブレーションマークからの反
射光量を周辺からの影響を受けることなく確実かつ高精
度に検出し、刷版の絵柄面積率の光学的検出を正確に行
なうことができる。
また、上記光学的検出装置において、前記遮光ボックス
の光取入口と受光器との間に中間スリットを設ける場合
には、キヤリプレーシ璽ンマークの周辺からの反射光が
光取入口に設は虻上記スリットを経て入光し、遮光ボッ
クス内面にて反射したとしても、受光器までの光路中間
部にて確実に遮光せしめられる。
の光取入口と受光器との間に中間スリットを設ける場合
には、キヤリプレーシ璽ンマークの周辺からの反射光が
光取入口に設は虻上記スリットを経て入光し、遮光ボッ
クス内面にて反射したとしても、受光器までの光路中間
部にて確実に遮光せしめられる。
［実施例］
第１図（Ａ）は検査ヘッドを示す縦断面図、第１図（Ｂ
）は第１図（Ａ）のＢ−Ｂ線に沿う断面図、第１図（Ｃ
）は第１図（Ａ）のＣ−Ｃ線に沿う断面図、第１図（Ｄ
）は検査ヘッドを示す平面図、第２図は絵柄面積率測定
装置を示す斜視図、第３図は絵柄面積率測定装置を示す
模式図である。
）は第１図（Ａ）のＢ−Ｂ線に沿う断面図、第１図（Ｃ
）は第１図（Ａ）のＣ−Ｃ線に沿う断面図、第１図（Ｄ
）は検査ヘッドを示す平面図、第２図は絵柄面積率測定
装置を示す斜視図、第３図は絵柄面積率測定装置を示す
模式図である。
第２図は本発明の光学的検出装置を用いた絵柄面積率測
定装置１０であり、テーブル１１の傾斜状吸着面１２に
オフセット印刷用印刷版等の刷版１３を載置できるよう
になっている。
定装置１０であり、テーブル１１の傾斜状吸着面１２に
オフセット印刷用印刷版等の刷版１３を載置できるよう
になっている。
テーブル１１の上下に設けられるガイドロッド１４．１
５は光学的検査ヘッド１６が移動走査可能に架設されて
いる。検査ヘッド１６は、第３図に原理的に示すように
、照明光学系１７と遮光ボックス群１８とを備える。
５は光学的検査ヘッド１６が移動走査可能に架設されて
いる。検査ヘッド１６は、第３図に原理的に示すように
、照明光学系１７と遮光ボックス群１８とを備える。
照明光学系１７は２木の螢光灯１７Ａ、１７Ｂからなり
、刷版１３を光照射する。
、刷版１３を光照射する。
遮光ボックス群１８は複数の並列配置された遮光ボック
ス１９からなり、各遮光ボックス１９の内部にフォトダ
イオード等からなる受光器５Ｏ１５１、Ｓ２．・・・Ｓ
ｎを設け、それらの光取入口にスリット２０を設けてい
る。各遮光ボックス１９は両螢光灯１７Ａ、１７Ｂの中
間上部に位置しており、刷版１３の被測定面からスリ７
）２０を経て入光する反射光を対応する受光器Ｓｏ、５
１、Ｓ２．・・・Ｓｎに案内する。なお、光学的検査ヘ
ッド１６の前述の走査方向Ｘｉ （第１図（Ｄ）の矢
印ｘ１の方向）は遮光ボックス群１８の並列配置方向Ｘ
２ （第１図（Ｄ）の矢印ｘ２の方向）に直交する方
向に設定されている。
ス１９からなり、各遮光ボックス１９の内部にフォトダ
イオード等からなる受光器５Ｏ１５１、Ｓ２．・・・Ｓ
ｎを設け、それらの光取入口にスリット２０を設けてい
る。各遮光ボックス１９は両螢光灯１７Ａ、１７Ｂの中
間上部に位置しており、刷版１３の被測定面からスリ７
）２０を経て入光する反射光を対応する受光器Ｓｏ、５
１、Ｓ２．・・・Ｓｎに案内する。なお、光学的検査ヘ
ッド１６の前述の走査方向Ｘｉ （第１図（Ｄ）の矢
印ｘ１の方向）は遮光ボックス群１８の並列配置方向Ｘ
２ （第１図（Ｄ）の矢印ｘ２の方向）に直交する方
向に設定されている。
ここで、刷版１３のエツジ部分（オフセット印刷用印刷
板の場合の咬えまたは咬え尻部分）にキャリブレーショ
ンマーク２１が設けられている。キャリブレーションマ
ーク２１は、刷版１３の絵柄面積率を測定する時、絵柄
部（画線部）測定基準となる。
板の場合の咬えまたは咬え尻部分）にキャリブレーショ
ンマーク２１が設けられている。キャリブレーションマ
ーク２１は、刷版１３の絵柄面積率を測定する時、絵柄
部（画線部）測定基準となる。
しかして、刷版１３のキャリブレーションマーク２１に
対向することとなる遮光ボックス１９Ａの光取入口に設
けられているスリ７）２０Ａは２遮光ボックス群１８の
並列配置方向ｘ２に短辺（ａ）を有する略矩形状をなし
ている。また、このスリット２０Ａの短辺（ａ）は、こ
のスリット２０Ａを経て入光する反射光の被測定面にお
ける該短辺方向幅ｆ１がキャリブレーションマーク２１
の同方向幅ｆＯ以下となるサイズに設定されている。ｂ
はスリ７）２０Ａの長辺方向幅である（第１図（Ａ）、
（Ｂ）、ＣＤ）参照）。
対向することとなる遮光ボックス１９Ａの光取入口に設
けられているスリ７）２０Ａは２遮光ボックス群１８の
並列配置方向ｘ２に短辺（ａ）を有する略矩形状をなし
ている。また、このスリット２０Ａの短辺（ａ）は、こ
のスリット２０Ａを経て入光する反射光の被測定面にお
ける該短辺方向幅ｆ１がキャリブレーションマーク２１
の同方向幅ｆＯ以下となるサイズに設定されている。ｂ
はスリ７）２０Ａの長辺方向幅である（第１図（Ａ）、
（Ｂ）、ＣＤ）参照）。
なお、この実施例において、キャリブレーションマーク
２１を除く検出領域に対向することとなる遮光ボックス
１９の光取入口に設けられているスリット２０は、検査
へラド１６の走査方向ｘ１に短辺（Ｃ）を有し、遮光ボ
ックス群１８の並列配置方向ｘ２に長辺（ｄ）を有する
略矩形状をなすように形成されている。これは、受光器
Ｓのサイズが要因となって定まる受光器Ｓの取付ピッチ
間隔Ｐ（例えば約２０ｍ５＋） 、および測定精度確保
の点から定まる検査ヘッド１６の走査ピッチ間隔Ｋ（ス
キャニングピッチ：例えば約２１箇）等に基づいて決定
されたものである。
２１を除く検出領域に対向することとなる遮光ボックス
１９の光取入口に設けられているスリット２０は、検査
へラド１６の走査方向ｘ１に短辺（Ｃ）を有し、遮光ボ
ックス群１８の並列配置方向ｘ２に長辺（ｄ）を有する
略矩形状をなすように形成されている。これは、受光器
Ｓのサイズが要因となって定まる受光器Ｓの取付ピッチ
間隔Ｐ（例えば約２０ｍ５＋） 、および測定精度確保
の点から定まる検査ヘッド１６の走査ピッチ間隔Ｋ（ス
キャニングピッチ：例えば約２１箇）等に基づいて決定
されたものである。
さらに、前述の、刷版１３のキャリブレーションマーク
？■に対向することとなる遮光ボックス１９Ａの光取入
ｒ３（スリ７）２０Ａ）と受光器ＳＯとの間には、中間
スリット２２が設けられる。
？■に対向することとなる遮光ボックス１９Ａの光取入
ｒ３（スリ７）２０Ａ）と受光器ＳＯとの間には、中間
スリット２２が設けられる。
次に、上記実施例の作用について説明する。
測定装置１０のテーブル１１にオフセｙ ）印刷用印刷
版等の刷版１３を載置する。
版等の刷版１３を載置する。
刷版１３を所定位置に固定した後、照明光学系１７を作
動させ、螢光灯１７Ａ、１７Ｂからの照明光により刷版
１３の検出領域を光照射する。光照射された刷版１３か
らの反射光はスリシ）２０を経て各遮光ボックス１９の
内部に案内され、受光器Ｓに受光されてそれぞれ読取ら
れる。受光器Ｓの読取により、刷版検出領域の絵柄面積
率が瞬時に検出される。
動させ、螢光灯１７Ａ、１７Ｂからの照明光により刷版
１３の検出領域を光照射する。光照射された刷版１３か
らの反射光はスリシ）２０を経て各遮光ボックス１９の
内部に案内され、受光器Ｓに受光されてそれぞれ読取ら
れる。受光器Ｓの読取により、刷版検出領域の絵柄面積
率が瞬時に検出される。
しかして上記実施例によれば、キャリブレーションマー
ク２１に対向することとなる遮光ボックス１９Ａの光取
入口に設けたスリ７）２０Ａが、遮光ボックス群１８の
並列配置方向ｘ２に短辺（ａ）を有する略矩形状をなし
、かっこのスリット２０Ａの上記短辺（ａ）は、このス
リット２ＯＡを経て入光する反射光の被測定部における
該短辺方向＠ｆｌがキャリブレーションマーク２１の同
方向幅ｆＯ以下となるサイズに設定されるから、■遮光
ボックス群１８の並列配ご方向ｘ２に直交する方向（走
査方向Ｘ、ｌ）に設けられる長辺（ｈ）の長さを十分に
取ることにより、測定に必要な反射光の入光量を確保す
るに足るスリット面積を確保する状Ｂ Ｔ’で、＠遮光
ボックスｉ￥１８の並列配在方向ｘ２にスリット２０の
長辺（ｄ）を位置せしめる場合に比して、キャリブレー
ションマーク２１の周辺からの反射光が」−２遮光ボッ
クス１９Ａの内部に入光することを抑制し、キャリブレ
ーションマーク２１からの反射光を周辺からの悪影響を
排除した状態で受光できるや したがって、キャリブレ
ーションマーク２１からの反射光量を周辺からの影響を
受けることなく確実かつ高精度に検出し、刷版１３の絵
柄面積率の光学的検出を正確に行なうことができる。
ク２１に対向することとなる遮光ボックス１９Ａの光取
入口に設けたスリ７）２０Ａが、遮光ボックス群１８の
並列配置方向ｘ２に短辺（ａ）を有する略矩形状をなし
、かっこのスリット２０Ａの上記短辺（ａ）は、このス
リット２ＯＡを経て入光する反射光の被測定部における
該短辺方向＠ｆｌがキャリブレーションマーク２１の同
方向幅ｆＯ以下となるサイズに設定されるから、■遮光
ボックス群１８の並列配ご方向ｘ２に直交する方向（走
査方向Ｘ、ｌ）に設けられる長辺（ｈ）の長さを十分に
取ることにより、測定に必要な反射光の入光量を確保す
るに足るスリット面積を確保する状Ｂ Ｔ’で、＠遮光
ボックスｉ￥１８の並列配在方向ｘ２にスリット２０の
長辺（ｄ）を位置せしめる場合に比して、キャリブレー
ションマーク２１の周辺からの反射光が」−２遮光ボッ
クス１９Ａの内部に入光することを抑制し、キャリブレ
ーションマーク２１からの反射光を周辺からの悪影響を
排除した状態で受光できるや したがって、キャリブレ
ーションマーク２１からの反射光量を周辺からの影響を
受けることなく確実かつ高精度に検出し、刷版１３の絵
柄面積率の光学的検出を正確に行なうことができる。
また、遮光ボックス１９Ａの光取入口（スリッ）２０Ａ
）と受光器ＳＯの間に中間スリット２２を設けたから、
キャリブレーションマーク２１の周辺からの反射光が光
取入口に設けたに記スリット２０Ａから入光しても、受
光器ＳＯまでの光路中間部にて確実に遮光せしめられる
。
）と受光器ＳＯの間に中間スリット２２を設けたから、
キャリブレーションマーク２１の周辺からの反射光が光
取入口に設けたに記スリット２０Ａから入光しても、受
光器ＳＯまでの光路中間部にて確実に遮光せしめられる
。
なお、本発明の光学的検出装置においては、刷版を検査
ヘッドに対し移動するものであってもよい。
ヘッドに対し移動するものであってもよい。
［発明の効果］
以１−のように、本発明によれば、キャリブレーション
マークからの反射光量を周辺からの影響を受けることな
く確実かつ高精度に検出し、刷版の絵柄面ａ率の光学的
検出を正確に行なうことができる。
マークからの反射光量を周辺からの影響を受けることな
く確実かつ高精度に検出し、刷版の絵柄面ａ率の光学的
検出を正確に行なうことができる。
第１図（Ａ）は検査ヘッドを示す縦断面図、第１図（Ｂ
）は第１図（Ａ）のＢ−Ｂ線に沿う断面図、第１図（Ｃ
）は第１図（Ａ）のＣ−Ｃ線に沿う断面図、第１図（Ｄ
）は検査ヘッドを示す平面図、第２図は絵柄面積率測定
装置を丞す斜視図、第３図は絵柄面積率測定装置を示す
模式図である。 １３・・・刷版、 １６・・・検査ヘッド、 １８・・・遮光ボックス群、 １９、ＩＱＡ・・・遮光ボックス、 ２０．２０Ａ・・・スリット、 ２１・・・キャリブレーションマーク、２２・・・中間
スリット、 ａ・・・短辺、 ｌ）・・・長辺、 Ｓ・・・受光器８ 代理人 ｊｆ理士 塩 川 修 治 第１図 （Ａ） ２０Ａ ２０ １．８ ・−斗本牛−！−−ｄ −Ｘ２
）は第１図（Ａ）のＢ−Ｂ線に沿う断面図、第１図（Ｃ
）は第１図（Ａ）のＣ−Ｃ線に沿う断面図、第１図（Ｄ
）は検査ヘッドを示す平面図、第２図は絵柄面積率測定
装置を丞す斜視図、第３図は絵柄面積率測定装置を示す
模式図である。 １３・・・刷版、 １６・・・検査ヘッド、 １８・・・遮光ボックス群、 １９、ＩＱＡ・・・遮光ボックス、 ２０．２０Ａ・・・スリット、 ２１・・・キャリブレーションマーク、２２・・・中間
スリット、 ａ・・・短辺、 ｌ）・・・長辺、 Ｓ・・・受光器８ 代理人 ｊｆ理士 塩 川 修 治 第１図 （Ａ） ２０Ａ ２０ １．８ ・−斗本牛−！−−ｄ −Ｘ２
Claims (2)
- （１）検査ヘッドに複数の遮光ボックスを並列配置し、
各遮光ボックスの内部に受光器を設け、検査ヘッドと刷
版とを上記遮光ボックス群の並列配置方向に直交する方
向に相対的に移動させ、光照射された刷版からの反射光
を上記各受光器にて受光する光学的検出装置において、
刷版のキャリブレーションマークに対向することとなる
遮光ボックスの光取入口にスリットを設け、このスリッ
トは遮光ボックス群の並列配置方向に短辺を有する略矩
形状をなし、スリットの上記短辺は、このスリットを経
て入光する反射光の被測定面における該短辺方向幅がキ
ャリブレーションマークの同方向幅以下となるサイズに
設定されていることを特徴とする光学的検出装置。 - （２）前記遮光ボックスの光取入口と受光器との間に中
間スリットを設けた請求項１記載の光学的検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63104045A JP2571420B2 (ja) | 1988-04-28 | 1988-04-28 | 光学的検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63104045A JP2571420B2 (ja) | 1988-04-28 | 1988-04-28 | 光学的検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01276006A true JPH01276006A (ja) | 1989-11-06 |
| JP2571420B2 JP2571420B2 (ja) | 1997-01-16 |
Family
ID=14370247
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63104045A Expired - Lifetime JP2571420B2 (ja) | 1988-04-28 | 1988-04-28 | 光学的検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2571420B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03165206A (ja) * | 1989-11-24 | 1991-07-17 | Toshiba Mach Co Ltd | 刷版の絵柄面積率測定システム |
| CN102967278A (zh) * | 2012-12-11 | 2013-03-13 | 浙江中烟工业有限责任公司 | 烟支污点面积测量装置及方法和数据采集装置 |
-
1988
- 1988-04-28 JP JP63104045A patent/JP2571420B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03165206A (ja) * | 1989-11-24 | 1991-07-17 | Toshiba Mach Co Ltd | 刷版の絵柄面積率測定システム |
| CN102967278A (zh) * | 2012-12-11 | 2013-03-13 | 浙江中烟工业有限责任公司 | 烟支污点面积测量装置及方法和数据采集装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2571420B2 (ja) | 1997-01-16 |
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