JPH01276341A - 情報処理システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 皮血史ｊ 本発明は情報処理システムに関し、特に診断用スキャン
パス回路を具備する論理演算処理装置を、診断装置を用
いて診断するよう構成された情報処理システムに関する
ものである。

従来技術 従来のこの種の情報処理システムの構成か第５図に示さ
れている。本システムは演算処理装置１及び診断装置２
から構成されている。演算処理装置１は複数の診断用ス
キャンパス回路１１〜ｉ　ｎを有しており、各診断用ス
キャンパス回路１１・〜１ｎは共に複数の論理回路単位
１１１〜１１３（図では簡単のなめに３個の論理回路単
位を示しているが、４個以上てあっても良い）を有する
。これ等論理回路単位１１１・〜１１３は保守時の交換
単位となるものであり、故障が生じた場合にこの保守交
換単位である各論理回路単位毎に新しいものと交換され
るようになっている。

これ等論理回路単位′１１１〜１１３の各りには、診断
のノごめにスＡヤンパス部が設けられており、各スキャ
ンパス部は互いに縦続接続されたレジスタ３１〜３ｎ、
４１〜４ｍ、５１ｚ〜５１からなっており、全てのスＡ
ヤンパス部が更にＭ〆続接続されて診断用スキャンパス
回路を構成している。

診断装置２はこれ等各診断用スＡヤンパス回路１１〜１
ｎに対するデータのシフ１〜イン及びシフ１−アラ１へ
制御機能を有する。

この裸な情報処理システムにおいては、例えば、診断用
スキャンパス回路１１内のレジスタ４ｍである］ピッ１
−が論理“′０′°または１′″の固定障害となった場
合、この診断用スキャンパス回路１１は１［電動作し得
ないことは診断装置２により識別される。しかしながら
、いずれの論理回路単位で故障が発生したかを識別する
ことは不可能である。

例えば、前述の様にレジスタ４　ｒｎて故障が生じたと
すると、論理回路単位１１１〜１１３のうちいずれかを
交換ずれは良いことは判るが、論理回路単位１１２の故
障であると判定することはできないのである。そのため
に、論理回路単位１１１〜１１３を順次交換して動作さ
せるか、全単位を交換しなりればならず、よって保守交
換時間が大となるという欠点を有している。

発明の］］的 本発明の目的は、保守交換即位である論理回路単位毎の
障害を検出するようにして、保守交換時間を少なくする
ことが可能な情報処理システムを提供することである。

本発明の他の目的は、入出力ピンを増大することなく障
害発生の保守交換単位を特定し得るようにして、ＬＳＩ
化に有利な情報処理システムを提供することである。

発明の構成 本発明によれば、人々がスキャンパス部を存し保守交換
単位となる論理回路単位及び前記スＡヤンパス部が互い
に縦続接続されて構成された診断用スキャンパス回路を
具備する演算処理装置と、前記診断用スキャンパス回路
の動作を制御してｍｆ記演算処理装置の診断をなす診断
装置とを含む情報処理システムであて、前記論理回路単
位夫々に設けられ対応するスキャンパス部のシフトアウ
ト信号が連続して所定論理レベルであることを検出する
連続レベル検出手段と、前記診断装置に設けられ前記連
続レベル検出手段の各検出出力を読出す続出手段と、前
記診断用スキャンパス回路に２値論理レベルを交互にシ
フｌ−インするシフ１−イン手段とを含むことを特徴と
する情報処理システムが得られる。

更に本発明によれば、夫々がスキャンパス部を有し保守
交換単位となる論理回路単位及び前記スキャンパス部が
互いに縦続接続されて構成された第１の診断用スキャン
パス回路を具備する演算処理装置と、前記第１の診断用
スキャンパス回路の動作を制御して前記演算処理装置の
診断をなす診断装置とを含む情報処理システムであって
、前記論理回路単位夫々に設置−Ｊられ対応するスキャ
ンパス部のシフトアウト信号が連続して所定論理レベル
であることを検出ず乙連続レベル検出手段と、前記連続
レベル検出手段の各々の検出結果を格納する記憶素子が
互いに縦続接続されてなる第２の診断用スキャンパス回
路と、前記診断装置に設けられ前記第２の診断用スキャ
ンパス回路のスキャンアウトを読出す読出手段と、前記
第１の診断用スキャンパス回路に２値論理レベルを交互
にシフトインするシフトイン手段とを含むことを特徴と
する情報処理システムが得られる。

実施例 以下図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。

第１図は本発明の一実施例のシステムブロック図であり
、第５図と同等部分は同一・符−りにより示されている
。なお、本実施例においては、３個の診断用スキャンパ
ス回路１１〜１３が示されており、各診断用スキャンパ
ス回路を構成する回路についても３個の論理回路単位１
１１〜１１３か示されている。また、各論理回路単位内
におけるスキャンパス部は２個のレジスタ（３１，３２
）、（４１，４２）、（５１，５２）の縦続接ｍ構成と
されており、これ等スキャンパス部が全て縦続接続され
て全体として診断用スキャンパス回路となっている。

各論理回路単位１１１〜１１３にはスタック検出部６１
．７１．８１が夫々設けられており、各スタック検出部
は対応するスキャンパス部のシフトアウト信号が連続し
て論理”　Ｉ　”かまたは′０′″がを検出する機能を
有する。

診断装置２は各診断用スキャンパス回路１１〜１３に対
して論理“′０″及び“１′″の交互パターンデータを
シフトインするシフ１〜イン部２１を有している。また
、各スタック検出部６１，７１．。

８１の検出出力を読出ず読出部２２と、この読出された
読出し結果を表示する表示部２３とを有している。

各スタック検出部６１．７１及び８１の具体例が第４図
に示されており、対応スキャンパス部のスキャンアラ１
〜信号ａを入力とするＦＦ（フリップフロップ）１０と
、このＦＦｌ０の出力と当該スキャンアウト信号とを２
人力とするエクスクル−シブノアゲート２０とからなっ
ている。

かかる構成において、本発明の一実施例の動作を以下に
説明する。いま、レジスタ４　ｍにおけるある１ビツト
が“１′″固定となる固定障害となった場合について述
べる。診断装置２か診断用スキャンパス回路１１のスキ
ャン動作の異常を検出すると、シフトイン部２１を用い
て診断用スキャンパス回路１１に論理゛′１′″と“′
０″との交互パターンデータを、診断用スキャンパス回
路１１に含まれるＦＦの数に１を足した数分シフトイン
する。

各スタック検出部６１．７１及び８１は第４図の様な構
成であるので、０′″または′１″か連続して供給され
ると、１シフトクロツク前に入力ａに供給された値と、
現在人力ａに供給されている値とが同じとなるから、出
力すには連続して”　ｉ　”が得られることになる。い
ま、レジスタ３１及び４１のシフトアウト部からは、レ
ジスタ４２の“１′″固定障害のために“１′″が伝搬
して出力されることから、シフトイン動作終了後スタッ
り検出部６１．７１．８１の出力は夫々゛１′″。

パ１　“′、“Ｏ″となる。

しかる後に、診断装置２は続出部２２によりこれ等スタ
ック検出部６１，７１．８１の上記検出結果”１”　、
　　”１　”、　　“０″を読出し、表示部２３へこれ
を表示する。これにより、最初に検出結果が“′１″と
なったスタック検出部７１を含む論理回路単位１１２を
、スキャンパス部故障回路と判定することがてき、よっ
て表示部２３にその旨表示されるのである。

この第１図に示した実施例の構成では、各論理回路単位
１１１〜１１３に設けられているスタック検出部６１，
７１．８１の各々の検出結果を読出ずために、演算処理
装置１に対応出力ピンが必要となる他に、診断装置２側
においても対応入力ピンが必要となる。近年の高集積度
のＬＳＩを用いてシステムを構築する傾向においては、
ＬＳＩのピン数を必要数分たけ十分に用意することは困
難となりつつあるために、上述の様にスタック検出部の
検出結果を導出したり、導入しなりする入出カピン数の
増大は、ＬＳＩ化に不利である。

そこで、第２図の様な本発明の他の実施例か得られる。

図において第１図と同等部分は同一符号により示してい
る。本例では、スタック検出部６１、．７１．８１の各
検出結果を一時格納するＦＦ等の記憶素子６２．７２．
８２を夫々対応して設け、これ等記憶素子６２．７２．
８２を互いにＡｆ＆続接続して第２のスキャンパス回路
を構成している。この第２のスキャンパス回路のスキャ
ン動作を診断装置２により制御し、そのスキャンアラ１
へ信号を読出部２２へ供給するようになっている。

こうすることにより、スタック検出部の各検出結果が第
２のスキャンパス回路内を順次シフトされつつ続出部２
２へ供給されることになるのて、第１図の実施例と同様
に、最初に検出結果が１′″となった論理回路単位を交
換するように、ザービスプロセッサ等を介して表示指示
ずれは良いのである。

この様に、各スタック検出部の検出結果をスキャンパス
を用いてシリアルに診断装置２へ導出ずる構成とするこ
とにより、検出結果の入出力ピンは夫々単に１個となっ
て、ＬＳＩ化に最適となる。

第３図は本発明の別の実施例を示すシステムブロック図
てあり、第１．第２図と同等部分は同一符号により示す
。第２図に示した実施例における記憶素子６２．７２．
８２を単にスキャンパス接続する代りに、図示の構成と
したものである。すなわち、各論理回路単位１１１〜１
１３において、スキャンパス部（３１，３２）、（４］
、、４２）。

（５１，５２＞の各ス六ヤンアウｌ−と、各記憶素子６
２，７２．８２の出力とを択一的に導出するセレクタ６
３，７３．８３を設（′Ｉ、各記憶素子６２．７２．８
２のスキャンインを対応スキャンパス部（３１，３２）
、＜４１．．４２）、（５１，。

５２）の各スキャンインに夫々接続したものである。

セレクタ６３．７３．８３か共に対応スキャンパス（３
１，３２）、（４１，４２）、（５１，。

５２）のスキャンアウトを選択していれば、第１の診断
用スキャンパス回路が得られ、対応記〆億素子６２，７
２．８２の出力をｉｆｆ択していれば、これ等記憶素子
にて形成される第２の診断用スキャンパス回路構成が得
られる。

従って、セレクタ６３．７３．８３により第１の診断用
スキャンパス回路を選択して構成しつつ、シフトイン部
２１から′１′°と°′０′′との交互パターンデータ
を第１の診断用スキャンパス回路へ供給する。しがる後
に、セレクタにより第２の診断用スキャンパス回路を選
択して構成しつつ、シフトアウト 番に読出部２２ノ＼印加されるのである。

本実施例では、セレクタを用いて第１及び第２の診断用
スキャンパス回路を択一的に活性化せしめるようにして
いるので、第２図に示した実施例よりも更に入出力ピン
の減少が図れることは明白である。

発明の効果 叙−Ｆの如く、本発明によれば、保守交換単位である論
理回路４位毎に各スキャンパス部の連続゛１″または′
０″の固定障害を検出する検出部路を設りているのて、
この検出結果により、どの論理回路単位か故障している
かを特定することができ、よって保守交換作業が容易と
なり、短時間の交換作業で済むという効果がある６ また、固定障害の検出結果を、これまたスキャンパス構
成にて外部へ読出ずようにすることにより、検出結果の
ための入出力ピンの減少が図れてＬＳＩに有利となると
いう効果もある。

【図面の簡単な説明】

第１図へ・第３図は本発明の各実施例のシステムブロッ
ク図、第４図はスタック検出部の一例を示す回路図、第
５図は従来技術を示すシステムブロック図である。 主要部分の符号の説明 １・・・・・・演算処理装置 ２・・・・・・診断装置 １１〜１３・・・・・診断用スキャンパス回路２１・・
・・・９７１〜４７部 ２２・・・続出部 ３１．３２，４１，４２．　５１．５２・・・・・・ス
キャンパス部レジスタ

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）夫々がスキャンパス部を有し保守交換単位となる
   論理回路単位及び前記スキャンパス部が互いに縦続接続
   されて構成された診断用スキャンパス回路を具備する演
   算処理装置と、前記診断用スキャンパス回路の動作を制
   御して前記演算処理装置の診断をなす診断装置とを含む
   情報処理システムであって、前記論理回路単位夫々に設
   けられ対応するスキャンパス部のシフトアウト信号が連
   続して所定論理レベルであることを検出する連続レベル
   検出手段と、前記診断装置に設けられ前記連続レベル検
   出手段の各検出出力を読出す読出手段と、前記診断用ス
   キャンパス回路に２値論理レベルを交互にシフトインす
   るシフトイン手段とを含むことを特徴とする情報処理シ
   ステム。
2. （２）夫々がスキャンパス部を有し保守交換単位となる
   論理回路単位及び前記スキャンパス部が互いに縦続接続
   されて構成された第１の診断用スキャンパス回路を具備
   する演算処理装置と、前記第１の診断用スキャンパス回
   路の動作を制御して前記演算処理装置の診断をなす診断
   装置とを含む情報処理システムであって、前記論理回路
   単位夫々に設けられ対応するスキャンパス部のシフトア
   ウト信号が連続して所定論理レベルであることを検出す
   る連続レベル検出手段と、前記連続レベル検出手段の各
   々の検出結果を格納する記憶素子が互いに縦続接続され
   てなる第２の診断用スキャンパス回路と、前記診断装置
   に設けられ前記第２の診断用スキャンパス回路のスキャ
   ンアウトを読出す読出手段と、前記第１の診断用スキャ
   ンパス回路に２値論理レベルを交互にシフトインするシ
   フトイン手段とを含むことを特徴とする情報処理システ
   ム。
3. （３）前記演算処理装置に設けられ前記第１及び第２の
   診断用スキャンパス回路の出力を択一的に前記診断装置
   の読出手段へ導出する選択手段を含むことを特徴とする
   特許請求の範囲第２項の情報処理システム。