JPH01280923A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

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JPH01280923A
JPH01280923A JP63110814A JP11081488A JPH01280923A JP H01280923 A JPH01280923 A JP H01280923A JP 63110814 A JP63110814 A JP 63110814A JP 11081488 A JP11081488 A JP 11081488A JP H01280923 A JPH01280923 A JP H01280923A
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JP
Japan
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potential
transistor
input signal
signal line
power supply
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Application number
JP63110814A
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English (en)
Inventor
Yasuharu Nagayama
長山 安治
Kazutoshi Hirayama
平山 和俊
Atsushi Ozaki
尾崎 敦司
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Priority to US07/315,084 priority patent/US4985641A/en
Priority to DE3911450A priority patent/DE3911450A1/de
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    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D84/00Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers
    • H10D84/90Masterslice integrated circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/22Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied
    • H03K17/223Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied in field-effect transistor switches
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/22Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied

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  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は半導体集積回路装置に関し、特に半導体集積回
路装置の機能を指定するための信号を発生する回路構成
に関する。
[従来の技術] 近年の電子技術の進歩に伴って種々の機能が半導体集積
回路で実現されるようになってきている。
生産性の向上の観点からは、同一のチップ設計で集積回
路をチップ上に形成し、各機能の切換え(または設定)
は、マスクスライス方式による配線の設定や、ワイヤボ
ンディング時にチップ上のパッドとパッケージのピン端
子との接続の切換えで行ない、所望の機能を備えた半導
体集積回路装置を実現する手法が望ましい。上述のよう
な切換方式で多くの機能が達成されるならば、従来各機
能ごとに行なっていた回路設計を複数種類同時に行なう
ことができ、設計効率向上の観点からも望ましい。そこ
で切換方式で多機能を実現する努力が払われている。こ
こで、マスクスライス方式は、チップ上にトランジスタ
および共通の配線部分を予め形成しておき、次に各機能
ごとに異なる配線部分のみを異なるマスクを用いて形成
する手法である。ボンディングワイヤ方式は、チップ上
の回路構成を同一にしておき、チップ実装時に行なわれ
るワイヤボンディング時にチップ上のパッドとパッケー
ジのピン端子との接続を各機能ごとに切換える手法であ
る。
特に最近、ダイナミックRAM (ランダム・アクセス
・メモリ)やスタティックRAMなどにおいては微小に
異なった機能を要求されることが多いため、マスクスラ
イス方式やワイヤボンディング切換方式により各機能を
実現する手法が頻繁に行なわれるようになってきており
、これにより製品開発の効率化が図られるようになって
きている。
このようなワイヤボンディング切換方式により機能切換
えを実現する半導体集積回路の構成の一例を第11図に
示す。第11図においては一例としてRAMなどのメモ
リデバイスが示される。第11図を参照して、半導体チ
ップ1周辺に、装置外部との信号の入出力および電源電
位の供給を行なうための接続端子となるパッド3a、3
b、3c、3d、3eが設けられる。パッド3aはボン
ディングワイヤ5を介してパッケージのリード4に接続
される。半導体メモリの機能を設定するためのパッド3
cは機能指示信号発生回路6に接続され、この機能指示
信号発生回路6からの機能指示信号がメモリ部7へ与え
られる。すなわち、パッド3cがリード端子4に接続さ
れたときと接続されないときとに応じて機能指示信号発
生回路6はそれぞれ所定レベルの信号を発生し、これよ
りメモリ7の機能を設定し、所望の機能を実現する構成
となっている。また第11図に示される構成において、
通常チップのバッド配置において、たとえばパッド3a
が動作電源電位を供給するための接続部を構成する場合
、たとえば接地電位である電位Vssを供給するための
パッド3bは、このパッド3aと対向する位置に設けら
れるのが一般的である。
上述のようなワイヤボンディング時におけるパッドのボ
ンディング切換えにより機能指示信号を発生する具体的
構成例を第12図に示す。第12図に示される構成にお
いてはパッドのボンディングの切換によりページモード
とニブルモードのいずれかを備えるDRAMを実現する
手法が示される。
第12図を参照して、ダイナミックRAMにおける行ア
ドレスの取込みやデコードなどの行選択系の動作タイミ
ングを発生する経路として、外部から与えられる信号E
xt、RASを受けるパッド10と、パッド10から与
えられた信号Ext。
RASを受けて内部タイミング信号INT、RASを発
生するバッファ13とが設けられる。
ダイナミックRAMにおける列アドレスを取込むタイミ
ングや列をデコードするタイミングなどの列選択系の動
作を制御するための信号を発生する経路として、外部か
ら与えられるExt、CA「信号を受けるパッド11と
、パッド11に接続されバッド外部のExt、CASを
受けて内部タイミング信号INT、CASを発生するバ
ッファ14とが設けられる。
ダイナミックRAMの動作モードを設定するための経路
として、機能設定用に設けられたパッド12と、パッド
12の電位に応じたレベルのモード指定信号を発生する
モード指定信号発生回路16と、バッファ14からの内
部信号INT、CASに応答して活性化され、モード指
定信号発生回路16からの信号レベルに応答してニブル
イネーブル信号を発生するバッファ15とが設けられる
第12図に示される構成においては、ベージ/ニブル設
定用バッド12が電源電位に接続されている場合にペー
ジモードを設定するための信号を発生し、このパッド1
2がどこにも接続されていないオーブン状態の場合にニ
ブルイネーブル信号を発生し、ダイナミックRAMにニ
ブル機能を与える構成となっている。上述のようにパッ
ド12における接続の有無によるページモードとニブル
モードの機能の切換えを実現することによりダイナミッ
クRAMの内部回路の構成は同一でよく、これにより回
路設計および生産性の向上が図られている。
第13図は第12図に示されるモード指定信号発生回路
の具体的構成例を示す図である。第13図に示される構
成においては機能指定用パッド21と電源電位Vccと
の接続の有無により機能設定を行なう構成が示される。
第13図を参照してモード指定信号発生回路は、モード
指定用パッド20に接続される入力信号線30上の電位
を設定し保持するnチャネルMOS (絶縁ゲート)ト
ランジスタQ1と、入力信号線30上の信号電位を反転
して出力する、トランジスタQ2.QB、Q4からなる
インバータから構成される。
トランジスタQ1はその一方導通端子が入力信号線30
に接続され、そのゲートが電源電位VcC供給線31に
接続され、その他方導通端子がたとえば接地電位である
電位Vssに接続される。
インバータは、その一方導通端子が電源線31に接続さ
れ、そのゲートが電位Vssに結合されるpチャネルM
OSトランジスタQ2と、トランジスタQ2の他方導通
端子にその一方導通端子が接続され、そのゲートが入力
信号線3oに接続されるpチャネルMOSトランジスタ
ロ3と、その一方導通端子がトランジスタQ3の他方導
通端子に接続され、このゲートが入力信号線3oに接続
され、その他方導通端子が電位VSSに結合されるnチ
ャネルMOSトランジスタQ4とから構成される。モー
ド指定信号φはトランジスタQ3゜Q4の接続点から出
力される。電源線31は、電源パッド21に接続される
。パッド21はボンディングワイヤ23を介して電源供
給端子26に接続される。端子26はパッケージのリー
ド端子に対応し、電源電位VCCを供給する端子である
まずパッド20がオーブン状態の場合の動作についてパ
ッドオープン時の動作波形図である第14図を参照して
説明する。システム電源を投入すると、電源電位Vcc
が供給される電源線31上の電位が立上がる。これに応
答してnチャネルMOSトランジスタQ1がオン状態と
なり入力信号線30上の電位が電位Vssに設定されが
っ保持される。トランジスタQ2〜Q4からなるインバ
ータ部は入力信号線30上の“L″レベルVsSレベル
)の信号を反転して出力する。したがって、電源電位V
CCが投入されてがらインバータ部における遅延時間を
経た後に立上がるモード指定信号φが与えられる。この
信号φの“H”レベルに応じてたとえばダイナミックR
AMの動作モードが設定される。
次にパッド20が第13図に破線で示すように電源端子
26と接続された場合の動作についてパッドが接続され
た状態の動作波形図である第15図を参照して説明する
。電源電位VCCが投入されると電源線31および入力
信号線30上の電位が立上がる。この電源投入に応じて
入力信号線30がVCCレベルにまで充電されると、イ
ンバータからの出力信号φは″L″レベルの電位に固定
される。ここで、入力信号線30がVccレベルに充電
されるのは電源端子26からの電源電位供給能力がトラ
ンジスタQ1の放電能力よりはるかに大きいからである
。この構成において、パッド20と電源端子26とが接
続されている場合、端子26の電源Vcc−ボンディン
グワイヤーパッド2〇−入力信号線30−トランジスタ
ロ1−電位Vssの経路で電流が流れることになる。こ
の電流を抑制するためにトランジスタQ1としてインピ
ーダンスが高い(すなわちオン抵抗の高い)できるだけ
トランジスタ長(ゲート長)を長くしたトランジスタが
用いられる。
上述のように機能を切換えるための専用のパッドを設け
、このパッドをオーブン状態にするが電源電位Vccに
ワイヤリングすることにより機能切換出力信号レベルを
′H“または“L″に固定し、これによりチップ内部の
制御信号発生回路の発生信号レベルをコントロールし機
能の切換えを行なうことができる。
[発明が解決しようとする課題] 上述のように、パッド20における接続の有無により所
望の機能を実現するための機能指定信号φを発生するこ
とができ′る。しかしながら、第13図に示されるよう
なモード指定信号発生回路を用いた場合、信号φを“L
”レベルに設定するためパッド20を電源電位Vccに
結合させる必要がある。この場合、トランジスタQ1を
介して電源電位Vccからたとえば接地電位である電位
Vssへ至る直流電流通路が存在することになる。
この電流値をできるだけ小さくするためにトランジスタ
Q1のインピーダンスはできるだけ高く設定されている
ものの、このトランジスタQ1を流れる電流は存在する
ため、超低スタンバイ電流のダイナミックRAMや他の
機能デバイスを実現しようとした場合、この通路におけ
る消費電流か原因となって超低スタンバイ電流装置を実
現することができなくなるという問題がある。
また、第17図に示すように、13図および第16図に
示す構成と極性の異なる機能指定信号を出力する場合も
ある。第17図に示される構成においては、機能指定用
のパッド20と接地電位Vssとの接続の有無により制
御信号φを出力するものであり、この信号φの極性はち
ょうど第13図に示されるものと逆になっている。すな
わち、第17図に示される構成においては、電源電位■
cc供給線31と入力信号線30との間にpチャネルM
OS)ランジスタQ5を設け、このトランジスタQ5の
ゲートを接地電位Vssに接続するものである。この場
合、機能指定用パッド20がオーブン状態の場合におい
てはオン状態のトランジスタQ5を介して電源線31か
ら入力信号線30が充電され“H″のレベルとなる。こ
れによりインバータ出力である信号φレベルは“L”と
なる(第18図の破線の1ノベル)。一方、パッド20
が接地電位端子Vss25に接続された場合、入力信号
線30の電位はパッド20から接地端子25を介して放
電されるため“L”レベルとなる。
応じてインバータ出力は“H”となる(第18図実線)
。この場合においてもパッド20におけるワイヤリング
の有無により制御信号7も信号レベルがかわり、この構
成により機能切換えを行なうことが可能となる。しかし
ながら、この第17図に示される構成においてもパッド
20が接地端子25に接続された場合、電源線31から
トランジスタQ5、入力信号線30、パッド20および
接地端子25を介して直流電流が流れる通路が存在する
ため、パッド接続時にこの経路を介して電流が流れるこ
とになる。この流れる電流値をできるだけ小さくするた
めに第13図に示される構成と同様にトランジスタQ5
のインピーダンスを高くするためにトランジスタ基(ゲ
ート長)をできるだけ長くすることが行なわれるものの
、やはり完全に電流を遮断することはできず直流電流が
流れることになる。
上述のように従来のワイヤボンディングによる機能切換
方式においてはパッドを電源端子または接地端子に接続
した場合、入力信号線電位を設定し保持するためのトラ
ンジスタを介して電源電位Vccから接地電位Vssへ
至る直流電流経路が存在するため、超低スタンバイ電流
のダイナミックRAMや他の機能デバイスを実現するこ
とが難しくなる問題がある。
上述のようなパッド接続時における電流値をできるだけ
小さくするために、トランジスタQ1またはQ5のトラ
ンジスタ基(ゲート長)を長くする手法はあるものの、
その場合トランジスタの占有面積が大きくなる欠点があ
るとともに、このような方式では、そのトランジスタを
介して流れる直流電流を10μA以下の超低スタンバイ
電流に抑制することができない。
またトランジスタQ1はパッド20がオーブン状態のと
き入力信号線30を安定な接地電位に保持する機能を有
するため、パッド接続時における直流電流成分を遮断す
るためにMOS)ランジスタQ1を省略することはでき
ない。同様にトランジスタQ5に対しても、パッド20
のオープン状態時に入力信号線を安定な電源電位Vcc
レベルに保持する機能を有するため、回路77.7成上
除去することはできない。
さらに、通常の半導体装置において鵠、電源電位Vcc
端子と接地電位Vss端子とは、たとえば第11図に示
される構成においてパッド3aと3bとのように、互い
に対向する位置に設けられており、かつ機能指定用パッ
ドはいずれかのパッドのそばに設ける必要がある(ワイ
ヤボンディングの容易性のため)。したがって、パッド
20を電源電位Vcc端子に接続するか接地端子Vss
端子に接続することによりトランジスタQ1またはQ5
を除去する構成をとることはできない。
上述のように従来のワイヤボンディング切換方式等にお
いて入力信号線の電源電位または接地電位との接続の有
無により内部動作モード指示信号を発生する構成におい
ては、パッドの接続時1ζおいて直流電流通路が存在し
低消費電流を実現することができなくなるという問題が
あった。
それゆえこの発明の目的は上述のような従来の半導体回
路装置の有する欠点を除去し、超低〜くタンバイ電流特
性を有しかつ入力信号線における接続の切換えにより機
能切換えを行なうことのできる半導体集積回路装置を提
供することである。
[課題を解決するための手段] この発明に係る半導体集積回路装置は、入力信号線電位
を設定し保持する手段と、動作電源電位供給に応答して
動作し動作電源電位から入力信号線を介して第2の電位
であるたとえば接地電位に至る電流経路を遮断する手段
とを備える。
より特定的に言えば、この発明に係る第1の半導体集積
回路装置は、動作電源電位と異なる第2の電位を供給す
る第2の電源線と入力信号線との間に設けられ、入力信
号線電位を設定し保持する手段と、動作電源電位を供給
する第1の電源線への動作電源電位供給に応答して動作
し入力信号線と第2の電源線との間の電流経路を遮断す
る手段とを備える。
この発明に係る第2の半導体集積回路装置は、第1の電
源線と入力信号線との間に設けられ、入力信号線上の電
位を設定し保持する手段と、動作電源電位の第1の電源
線への供給に応答して動作し、第1の電源線と入力信号
線との間の電流経路を遮断する手段とを備える。
[作用] この発明に係る半導体集積回路装置においては、第1の
電源線への動作電源電位供給に応答して動作し、入力信
号線と第1の電源線または第2の電源線との間の電流経
路を遮断する手段が設けられているため、入力信号線が
いずれかの電源電位に結合されている場合においても直
流電流成分を遮断することができ、超低スタンバイ電流
特性を実現することができる。
〔発明の実施例] 第1A図はこの発明の一実施例である半導体集積回路装
置の構成の一例を示す図である。
第1A図を参照して、電源線31への電源電位Vcc投
入に応答して動作し、所定のパルス幅を有するワンショ
ットのパルス信号FORを導出するパルス発生器40と
、パルス発生器40からのパルス信号FORに応答して
オン状態となり、入力信号線30を接地電位Vssにリ
セットするためのnチャネルMOS)ランジスタQll
が、入力信号線リセット用に設けられる。
さらに入力信号線30上の電位を設定するとともに保持
しかつ電流経路(直流電流成分の経路)を遮断するため
に、入力信号線30上の電位を反転して出力するCMO
Sインバータと、CMOSインバータ出力に応答してオ
ン・オフし、入力信号線30上の電位を保持するととも
に電流経路を遮断するnチャネルMOSトランジスタQ
12が設けられる。CMOSインバータは、電源線31
と第2の電位VSsとの間に設けられ、入力信号線30
が入力ゲートに接続され、その出力ゲートがトランジス
タQ12のゲートに接続される、pチャネルMOS)ラ
ンジスタQ13とnチャネルMOSトランジスタQ14
が相補接続された構成を有している。入力信号線30上
の電位に応じた機能指示信号φを発生するために従来と
同様に、pチャネルMOS)ランジスタQ2.Q3とn
チャネルMOSトランジスタロ4とからなるCMOSイ
ンバータが設けられる。トランジスタQllは、パルス
発生器40からのパルス信号FORに応答して電源投入
直後はオン状態となり、入力信号線30をリセットする
が、パッド20が電源電位VCCに接続されている場合
、このオン状態時に電源電位から接地電位Vssへ電圧
投入時のラッシュ電流(突入電流)が流れることになる
。このラッシュ電流を低減するために、トランジスタQ
llのインピーダンスを高くする必要があり、そのゲー
ト長はできるだけ長く設定するのが望ましい。
また、トランジスタ013.Q14からなるCMOSイ
ンバータのしきい値電圧は、電源電圧投入時のリセット
動作の開始直後から入力信号線電位を所望の電位に固定
するような値に設定されなければならない。このような
インバータのしきい値電圧の調整はトランジスタ013
とトランジスタQ14の能力比(すなわちトランジスタ
サイズによるオン抵抗の比やしきい値電圧比)の調整に
より実現することが可能である。
次に動作について説明する。まずパッド20がオープン
状態の場合について説明する。電源パッド21を介して
電源線31に電源電位Vccが供給されると、それに応
答してパルス発生器40からワンショットのパルス信号
FORが発生されMOSトランジスタQllのゲートへ
与えられる。
これに応答して、オフ状態となったトランジスタQll
を介して入力信号線30が接地電位Vssにリセットさ
れ、確実に接地電位にされる。同時に入力信号線30が
CMOSインバータ(トランジスタQ13.Q14から
なるインバータ)の入力しきい値電圧以下になると、ト
ランジスタQ12のゲートへ“H″の信号が与えられる
ことになり、トランジスタQ12がオン状態となる。こ
れにより、電源投入直後はトランジスタQllにより入
力信号線30の電位は接地電位Vssにリセットされ、
トランジスタQllのリセット後の電源投入時は、トラ
ンジスタQ12のオン状態の維持により接地電位Vss
レベルに固定される。これにより、トランジスタQ2.
Q3.Q4からなるインバータからの内部機能指示信号
φのレベルは“H”となる(第1B図参照)。
次にパッド20が電源電位Vccに接続された場合の動
作について説明する。この場合電源線31上へ電源電位
Vccが投入されると、信号PORによりトランジスタ
Q11がオン状態となる。
このトランジスタQllがオン状態のときのみ電源パッ
ド20を介して接地電位VSSへ至る直流電源通路が形
成されるが、入力信号線30上の電位がパッド20から
の電源電位Vccの充電により“H”レベル(トランジ
スタQ13.Q14からなるインバータの入力しきい値
電圧を越えるレベル)になれば、トランジスタQ13.
Q14からのCMOSインバータ出力が“L”レベルと
なり、トランジスタQ12がオフ状態となる。またトラ
ンジスタQllも信号FORが立下がるとオフ状態とな
るため、直流電流経路は遮断される。
このとき、トランジスタQ12ができるだけ早くオフ状
態となるようにQ13.  トランジスタQ14からな
るCMOSインバータの入力しきい値電圧を設定してお
けば、トランジスタQllのインピーダンスはできるだ
け高い値に設定されているため、電源電圧投入時の突入
電流(入力信号線30から接地電位Vssへ流れる電流
)を低減することができる。入力信号線30上の信号電
位が立上がり、トランジスタQ2〜Q4からなるインバ
ータの入力しきい値電圧を越えると、その出力信号φは
“L゛に固定される(第1.B図参照)。電源電位投入
中は、入力信号線30はパッド20を介して電源電位V
ccが供給されるため電源電位Vccレベルの“Hルベ
ルになる。このとき、トランジスタQllはオフ状態に
あり、かつトランジスタQ12もトランジスタQ13.
Q14からなるインバータ出力によりオフ状態となって
いる。したがって入力信号線30から接地電位VsSへ
至る電流経路は存在せず、電流が何ら消費されることは
ない。
上述の構成により、内部における機能を指定するための
信号φレベルを“H“または“L”レベルに、パッド2
0の電源電位Vccへの接続の有無により設定すること
ができ、かつパッド20が電源電位Vccに接続された
としても、直流電流通路は遮断されているため、低消費
電力の機能指定信号を発生する回路を実現することがで
きる。
第2図は第1図に示されるリセット信号発生器の構成の
一例を示す図である。第2図に示される構成においては
、電源電位Vcc投入による電位立上がりを緩やかにす
るための、pチャネルMOSトランジスタQ20と容Q
CとからなるRC遅延回路と、RC遅延回路出力を受け
る3段のインバータとから信号発生回路は構成される。
RCC遅延路路おいて、pチャネルMOSトランジスタ
Q20はその一方導通端子が電源線31に接続され、そ
のゲートが接地電位Vssに接続され、その他方導通端
子がノードN1に接続される。容量CはノードN1と電
源接地電位Vssとの間に設けられる。
インバータ■1は、pチャネルMOS)ランジスタQ2
1とnチャネルMOSトランジスタロ22が相補接続さ
れたCMOS構成を有している。
インバータI1出力を受けるインバータ■2は、pチャ
ネルMOSトランジスタQ23とnチャネルMOSトラ
ンジスタQ24が相補接続された構成を有している。
インバータI2出力を受けるインバータI3は、pチャ
ネルMOS)ランジスタQ25と、nチャネルMOSト
ランジスタQ26が相補接続された構成を有している。
パルス信号FORはインバータ■3より出力される。
RC遅延回路に含まれるpチャネルMOS)ランジスタ
Q20はそのオン抵抗が適当な値に調整され(これはゲ
ート長値により決定される)、容量Cとの間でRC遅延
回路を形成する。次に第2図に示されるパルス信号発生
回路の動作を動作波形図である第3図を参照して説明す
る。
まず電源線31上に電源電位Vccが投入されると、オ
ン状態のトランジスタQ20を介して所定の時定数でノ
ードN1が徐々に充電される。このノードN1の充電電
位がインバータ■1のしきい値電圧を越えると、電源電
位Vcc投入に応答して“H”レベルにあったノードN
2の電位が′L”レベルに立下がる。インバータI2の
出力信号である信号FORは、電源投入直後は、インバ
ータI1出力により小さなパルス信号を発生するが、す
ぐにノードN2電位がインバータ■2の入力しきい値電
圧を越えるため、“L”レベルに移行する。次にインバ
ータ11出力が“L°レベルに立下がると応じて信号F
ORは“H“レベルに立上がる。信号FORの最初の小
さなパルス信号はインバータI3の入力しきい値電圧を
越えないため、インバータ■3からの出力信号FORは
電源投入に応答してH” レベルに立上がるが、インバ
ータI2出力の′H#レベルへの移行に応答して“L”
レベルへ立下がる。これにより、所望のパルス幅を有す
る、電源投入動作に応答して立上がるパルス信号FOR
を発生することが可能となる。この信号FORのパルス
幅は、RC遅延回路の時定数および各インバータ段の入
力しきい値電圧を適当に調整することにより最適な値に
調整することが可能である。
第4図はこの発明の他の実施例である機能指示信号発生
回路の構成を示す図である。第4図に示される構成にお
いては、入力信号線30上の電位を保持し設定するため
のトランジスタQ12のゲートに、トランジスタQ2〜
Q4からなるインバータ出力すなわち制御信号φが与え
られる構成となっている。この回路構成としてもトラン
ジスタQ2〜Q4からなるインバータの入力しきい値電
圧を適当な値に調整しておけば、バッド20が電源電位
Vccに接続された状態においても入力信号線30の充
電動作中にトランジスタQ12をオフ状態とすることが
でき、電源投入中はトランジスタQll、Q12がとも
にオフ状態となり、入力信号線30と接地電位Vssと
の間の電流経路を遮断することができ、低消費電力を実
現することができる。
なお上記実施例においては信号φを導出するためのイン
バータにpチャネルMOS)ランジスタQ2が設けられ
ているが、このトランジスタQ2は、このインバータ段
の入力しきい値電圧を設定するために設けられているも
のであり、このトランジスタQ2は特に設ける必要はな
い。
第5図はこの発明のさらに他の実施例である機能指示信
号発生回路の構成を示す図である。第5図に示される構
成においては、機能指示信号φを発生するためのインバ
ータを構成するトランジスタQ30.Q31の能力比(
オン抵抗比、しきい値電圧比等)が適当な値に調整され
ており、電源投入時における入力信号線30上の電位を
保証する構成としている。この構成によれば、たとえば
電源投入時にトランジスタQ30がトランジスタQ31
より早くオン状態となれば(または電流供給能力がトラ
ンジスタQ30の方が大きければ)、信号φは“H#レ
ベルに瞬間的に立上がりトランジスタQ32をオン状態
とし入力信号線30を接地電位Vssにリセットし、か
つ入力信号線電位を“Loに固定する。入力信号線30
がパッド20を介して電源電位Vccに接続されている
場合には、電源投入時において入力信号線30上の充電
電位がトランジスタQ30.031からなるインバータ
の入力しきい値電圧を越えるまでは信号φは“H“レベ
ルにありトランジスタQB2はオン状態となるが、入力
信号線30上の電位がトランジスタQ30.Q31のし
きい値電圧を越えれば信号φは“L”レベルとなり、ト
ランジスタQ32はオフ状態となり、入力信号線30と
接地電位Vssとの間の電流経路は遮断され、電源供給
中はこの状態が保持される。ここで、電源投入時におけ
る突入電流をできるだけ小さくする必要があるが、この
トランジスタQ32のオン状態となる間に電流通路が形
成されることも考えられる。
このとき、トランジスタQ32のインピーダンスをゲー
ト長を長くすることにより高くしておけば、この突入電
流値を小さくすることができる。また入力信号線30の
充電時定数と、トランジスタQ32のオン状態になる時
間をできるだけ小さくするように、トランジスタQ30
.Q31からなるインバータの入力しきい値電圧を適当
な値を設定することにより同様に電源投入時における投
入電流値をできるだけ小さくすることができる。
なお上述の実施例においては入力信号線30が電源電位
Vccに接続されるか否かに応じて機能指示信号φを発
生する場合について説明したが、入力信号線30の接地
電位Vssに対する接続の有無に応じて機能指示信号φ
を発生する構成も考えられる。
第6図はこの発明の第4の実施例である機能指示信号発
生回路の構成を示す図である。
第6図に示される構成においては、電源線31と入力信
号線30との間に、pチャネルMOSトランジスタQ4
0.Q41が互いに並列に設けられる。pチャネルMO
SトランジスタQ40はゲートにパルス発生回路40か
らの信号FORを受ける。pチャネルMOS)ランジス
タQ41は、そのゲートに機能指示信号φを受ける。こ
の第6図に示される構成においては、入力信号線30に
接続される機能指定用パッド20が接地端子25へ接続
されるか否かに応じて機能指示信号φのレベルが設定さ
れる。パルス発生回路40の構成は第1図ない第4図を
参照して説明したものと同様の構成を有しており、信号
FORを反転した信号FORが入力信号線30をリセッ
トするための信号として用いられる。次に第6図に示さ
れる回路の動作を第7図の動作波形図を参照して説明す
る。
電源パッド21を介して電源電位Vccが電源線31に
投入されると、パルス発生回路40から制御信号FOR
が与えられる。ここで信号FORは第2図、第3図を参
照して説明したものと同様であり電源投入後所定時間遅
れて立上がる信号となっている。したがって電源投入後
、信号FORが立上がるまでの間トランジスタQ40は
オン状態となる。今パッド20が接地端子25に接続さ
れていない場合、入力信号線30はこのオン状態のトラ
ンジスタQ40を介して電源電位Vccレベルに充電さ
れる。入力信号線30上の信号電位レベルがインバータ
段の入力しきい値電圧を越えると機能指示信号φは“L
”レベルへ立下がる。
機能指示信号φが“Loへ立下がると、トランジスタQ
41がオン状態となり、入力信号線30へ電源線31か
ら電源電位Vccを供給し続け、入力信号線30上の電
位をVccレベルに保持する。
一方、パルス発生回路40からの信号FORが”H″レ
ベル立上がると、トランジスタQ40はオフ状態となる
。したがってパッドオープン状態においては、電源供給
中トランジスタQ41を介してVccレベルのH“レベ
ルに保持されることになる。
次にパッド20が接地端子25に接続されている場合の
動作について説明する。このとき、電源線31への電源
電位Vccの投入により、オン状態のトランジスタQ4
0を介して入力信号線30は充電されることになる。一
方バッド20は接地端子25に接続されているため入力
信号線30はこの接地端子25により接地電位Vssレ
ベルへ放電される。このパルス発生回路40からの信号
FORが“H#レベルに立上がると、トランジスタQ4
0はオフ状態となり、入力信号線30は接地電位Vss
に放電される。入力信号線30上の電位がトランジスタ
Q2〜Q4からなるインバータの入力しきい値電圧より
小さくなると、このインバータ段出力信号φは“H”レ
ベルとなり、応じてトランジスタQ41をオフ状態にす
る。この第6図に示される構成においては、電源電位V
cCが投入されてから信号FORが立上がるまでの間(
現実的には数マイクロ秒間)はトランジスタQ40がオ
ン状態にあるため電源線31から接地電位端子25への
直流電流経路が存在し、直流電流が流れることになるが
、このとき、トランジスタQ40のインピーダンスをで
きるだけ高くしておけば、その流れる電流値を小さくす
ることができる。
第8図はこの発明の第5の実施例の構成を示す図であり
pチャネルMOSトランジスタQ41の動作制御用に、
入力信号線30がその入力ゲートに接続され、その出力
ゲートがMOSトランジスタQ41のゲートに接続され
るCMOSインバータが設けられる。このトランジスタ
Q41の動作制御用のCMOSインバータは、互いに相
補接続されたpチャネルMOSトランジスタQ42とn
チャネルMOSトランジスタ043とから構成される。
この構成においては、トランジスタQ42゜Q43から
なるインバータの入力しきい値電圧は、電源投入時にお
ける入力信号線30上の電位を固定するような適当な値
に設定される。この第8図に示される回路構成において
も電源投入後は、しばらくの間トランジスタQ40の機
能により入力信号線30が充電され、この入力信号線3
0上の充電電位がトランジスタQ42.43からなるイ
ンバータの入力しきい値電圧を越えると、トランジスタ
Q41のゲートに“L”レベルの信号が与えられる。こ
れによりトランジスタQ41がオン状態となり、パッド
20のオープン状態時に入力信号線30を電源電位Vc
cレベルに保持する。
パッド20が接地電位Vssレベルに結合されている場
合においては、電源電位Vcc投人後人後号PORが′
H゛レベルに立上がった後は、トランジスタQ40.Q
41はともにオフ状態となるため、入力信号線30が接
地電位Vssに結合されていても、直流電流経路は存在
せず、消費電力は存在しない。
第9図はこの発明の第6の実施例である信号発生回路の
構成を示す図であり、第9図に示される構成においては
、制御信号φが、入力信号線30上の電位を保持すると
ともに、かつ電流経路を遮断するためのpチャネルMO
S)ランジスタQ52の動作制御信号として用いられる
構成が示される。この第9図に示される構成は第5図に
示される構成に対応するものであり、トランジスタQ5
0、Q51の能力比(オン抵抗比およびしきい値電圧比
、電流供給能力比等)を適当に調整し、電源投入時の入
力信号線30上の初期電位を保証する構成としている。
この構成によればたとえばトランジスタQ50の能力が
トランジスタQ51の能力より小さく、電源投入直後、
トランジスタQ51が早くオン状態に移行した場合、電
源投入直後信号φは“Lmレベルとなり、トランジスタ
Q51は電源投入直後からオン状態となり、入力信号線
30を電源電位Vccレベルに充電する。応じて、トラ
ンジスタQ50.Q51のインバータ動作により、信号
φは“L”レベルに設定され、トランジスタQ52のオ
ン状態が保持される。これにより電源投入直後から入力
信号線30上の電位を一定の電源電位Vccレベルに保
持することができる。パッド20が接地電位Vssに結
合されている場合においては、瞬間的にトランジスタQ
52はオン状態となるが、入力信号線30はパッド20
を介して接地電位Vssに放電されるため、指示信号7
は“H“レベルへ移行し、トランジスタQ52はオフ状
態となり、電流経路が遮断される。この場合、トランジ
スタQ52のインピーダンスを大きくしておけば、トラ
ンジスタQ52がオン状態時における電流値を小さくす
ることが可能となる。この場合、トランジスタQ50゜
Q51からなるインバータの入力しきい値電圧を適当な
値に設定しておけば、入力信号線30の放電動作中にト
ランジスタQ52をオフ状態とすることができ、消費電
源投入時におけるラッシュ電流をできるだけ小さくする
ことが可能となる。なおこのパッド20を接地電位Vs
sに接続する構成においても信号Tを導出するためのイ
ンバータに含まれるトランジスタQ2はこのインバータ
段の入力しきい値電圧を設定するために付設されるもの
であり、特に設ける必要はない。
なお上記実施例においてはCMOS回路構成による半導
体集積回路の機能切換信号を発生するための回路構成に
ついて説明したが、ボンディングワイヤ切換方式による
他の目的、たとえば第10図に示されるように、パッケ
ージの形状にマツチしたポンディングパッドを使うため
に、パッド切換えをワイヤボンディング切換方式で行な
う場合についても適用することができる。すなわち第1
0図に示される構成のようにパッド指定信号を発生する
ため切換信号発生回路66と切換信号発生回路66から
の信号に応答してパッド60a、60cのいずれかを内
部回路67に接続するためのパッド切換回路65を設け
る構成においても本願発明は適用可能である。すなわち
第10図に示される構成において、ポンディングパッド
60bのボンディングの有無に応じて切換信号発生回路
66の発生する信号レベルを設定し、応じてポンディン
グパッド60a、60cのいずれかをパッド切換回路に
より内部回路67に接続する構成の場合においても、こ
の切換信号発生回路66において従来の信号発生回路と
同様の問題が発生し、本願発明を適用すれば上記実施例
と同様の効果を得ることができ低消費電力の切換信号発
生回路を備えた半導体集積回路装置を実現することがで
きる。
また上記実施例においては、ワイヤボンディング方式に
よりたとえばダイナミックRAMである半導体集積回路
装置における機能切換えやパッド切換方式について説明
したが、マスタースライス方式による接続切換えを行な
い、これにより所定レベルの機能指示信号を発生する場
合や、マスタースライス方式とワイヤボンディング切換
方式とを混在させた場合においても、本願発明を適用す
ることができることは言うまでもない。
さらに、上記実施例においては、ダイナミックRAMに
おける動作モード指定信号を一例として説明したが、本
願発明はこれに限定されず、入力信号線上の電位により
内部の機能指定信号を発生する回路構成であれば、本願
発明は適用可能である。
さらに上記実施例において入力信号線が電源電位または
接地電位に結合された場合における電流経路を遮断する
ための手段として特定的な回路構成を図示して説明して
きたが、本願発明の構成は、これに限定されず、電源投
入に応答して入力信号線を介した電流経路を遮断する回
路構成であればどのような回路構成でも用いることがで
きることは言うまでもない。
[発明の効果] 以上のように、この発明によれば、半導体集積回路装置
の内部の機能指示信号発生回路において、入力信号線(
機能指定信号を入力する信号線)が電源電位または接地
電位に接続された場合、この入力信号線を介して形成さ
れる電流経路を動作電源投入に応答して遮断する構成を
設けるようにしたので、入力信号線が所定の電位に結合
されている場合においても、直流電流成分を遮断するこ
とができ、超低スタンバイ電流特性を有する半導体集積
回路装置を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
第1A図はこの発明の一実施例である半導体集積回路装
置の構成の一例を示す図である。第1B図は第1A図に
示される半導体集積回路装置の動作を示す波形図である
。第2図はこの発明において用いられる入力信号線リセ
ット用パルス信号発生回路の具体的構成の一例を示す図
である。第3図は第2図に示されるパルス信号発生回路
の動作を示す波形図である。第4図はこの発明の他の実
施例である半導体集積回路装置の構成の一例を示す図で
ある。第5図はこの発明のさらに他の実施例である半導
体集積回路装置の構成を示す図である。第6図はこの発
明の第4の実施例である半導体集積回路装置の構成を示
す図である。第7図は第6図に示される半導体集積回路
装置の動作を示す波形図である。第8図はこの発明の2
5の実施例である半導体集積回路装置の構成を示す図で
ある。第9図はこの発明の第6の実施例である半導体集
積回路装置の構成を示す図である。第10図はこの発明
のさらに他の適用例の構成の一例を示す図である。第1
1図はこの発明が適用される半導体集積回路装置の全体
の構成例を概略的に示す図である。第12図はこの発明
が適用される半導体集積回路装置の特定的な具体例の一
例を示す図である。第13図は従来の半導体集積回路装
置の構成の一例を示す図である。第14図および第15
図は第13図に示される従来の半導体集積回路装置の動
作を示す波形図であり、第14図は入力信号線がオーブ
ン状態の場合の動作波形図を示し、第15図は入力パッ
ド(入力信号線)が電源電位Vccに接続された場合の
動作を示す波形図である。第16図は、従来の半導体集
積回路装置の問題点を説明するための図である。第17
図は他の従来の半導体集積回路装置の問題点を説明する
ための図である。第18図は第17図に示される従来の
半導体集積回路装置の動作を示す波形図である。 図において、20は機能を指定するための信号を受ける
ポンディングパッド、21は電R電位VCCに接続され
るポンディングパッド、22は接地電位Vssに接続さ
れるポンディングパッド、30は入力信号線、31は電
源電位供給線、32は接地電位供給線、40はリセット
用パルス信号発生回路、Q2.Q3.Q13.Q20.
Q21゜Q23.Q25.Q30.Q40.Q41.Q
50、Q52はpチャネルMOSトランジスタ、Q4、
Qll、Q12.Q14.Q22.Q24゜Q26.Q
31.Q32.Q43.Q51はnチャネルMO8)ラ
ンジスタである。 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)動作電源となる第1の電位供給線と、前記第1の
    電位と異なる第2の電位供給線とを有し、入力信号線と
    前記第1の電位との結合の有無に応じた内部信号を発生
    するための回路装置であって、 前記入力信号線と前記第2の電位供給線との間に設けら
    れ、前記入力信号線上の電位を設定し保持する手段と、 前記第1の電位供給線上に前記第1の電位が供給された
    ことに応答して、前記入力信号線と前記第2の電位供給
    線との間の電流通路を遮断する手段とを備える、半導体
    集積回路装置。
  2. (2)動作電源となる第1の電位供給線と、前記第1の
    電位と異なる第2の電位を供給する第2の電位供給線と
    を有し、入力信号線と前記第2の電位との結合の有無に
    応じた内部信号を発生するための回路装置であって、 前記入力信号線と前記第1の電位供給線との間に設けら
    れ、前記入力信号線上の電位を設定し保持する手段と、 前記第1の電位供給線上に前記第1の電位が供給された
    ことに応答して、前記入力信号線と前記第1の電位供給
    線との間の電流通路を遮断する手段とを備える、半導体
    集積回路装置。
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