JPH01284193A - 半導体装置の測定装置 - Google Patents
半導体装置の測定装置Info
- Publication number
- JPH01284193A JPH01284193A JP11395188A JP11395188A JPH01284193A JP H01284193 A JPH01284193 A JP H01284193A JP 11395188 A JP11395188 A JP 11395188A JP 11395188 A JP11395188 A JP 11395188A JP H01284193 A JPH01284193 A JP H01284193A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor device
- notch filter
- output terminal
- voltmeter
- horizontal deflection
- Prior art date
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- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 19
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明はテレビジョン受像機(以下TVと略記)用の半
導体装置の測定装置に関する。
導体装置の測定装置に関する。
従来の技術
近年、TVはVTR等のソースの画質向上に伴ない、水
平解像度の向上および画面サイズの大型化が進み、静止
画像時の画質向上が望まれている。静止画像時の画質性
能は水平偏向信号による影響が太き(、特に水平偏向信
号の時間軸に対するずれ(ジッタ成分)による影響が大
きい。
平解像度の向上および画面サイズの大型化が進み、静止
画像時の画質向上が望まれている。静止画像時の画質性
能は水平偏向信号による影響が太き(、特に水平偏向信
号の時間軸に対するずれ(ジッタ成分)による影響が大
きい。
従来、TV用半導体装置の水平偏向信号の周波数成分に
関する測定は、水平偏向信号波形をオシロスコープに映
し出して観測する、いわゆる目視検査で行われていた。
関する測定は、水平偏向信号波形をオシロスコープに映
し出して観測する、いわゆる目視検査で行われていた。
発明が解決しようとする課題
しかしながら、このような目視検査では、静止画像時の
画質性能に影響を与えるジッタ成分の測定がきわめて困
難である。
画質性能に影響を与えるジッタ成分の測定がきわめて困
難である。
第3図はオシロスコープでの観測波形を示すものであり
、第3図(a)は正常な水平偏向信号、第3図(b)は
ジッタ成分子が発生している水平偏向信号である。この
ジッタ成分子を目視検査で確認し、半導体装置の良品、
不良品を区別するが、実際にはジッタ成分子を目視確認
して良品、不良品の判定をすることはきわめて困難であ
る。そして誤って良品と判断された半導体装置を用いる
と、TV倍信号ブラウン管で再生した際、水平偏向信号
の同期ずれが生じ、1水平期間前画像との位置が合わな
くなり、画質の劣化を招く。
、第3図(a)は正常な水平偏向信号、第3図(b)は
ジッタ成分子が発生している水平偏向信号である。この
ジッタ成分子を目視検査で確認し、半導体装置の良品、
不良品を区別するが、実際にはジッタ成分子を目視確認
して良品、不良品の判定をすることはきわめて困難であ
る。そして誤って良品と判断された半導体装置を用いる
と、TV倍信号ブラウン管で再生した際、水平偏向信号
の同期ずれが生じ、1水平期間前画像との位置が合わな
くなり、画質の劣化を招く。
本発明はこのような従来の問題を解決する半導体装置の
測定装置を提供するもの・である。
測定装置を提供するもの・である。
課題を解決するための手段
本発明は被測定半導体装置の水平偏向信号出力端子に、
水平偏向信号周波数以外の周波数を通過させるノツチフ
ィルタを接続し、このノツチフィルタの出力をAC電圧
計に加えるようにしたものである。
水平偏向信号周波数以外の周波数を通過させるノツチフ
ィルタを接続し、このノツチフィルタの出力をAC電圧
計に加えるようにしたものである。
作用
このようにすれば、ノツチフィルタからジッタ成分をと
り出すことができ、このジッタ成分のレベルをAC電圧
計で定量的に表示することができる。このためジッタ成
分による良品、不良品の判定がきわめて容易に、かつ正
確に行える。
り出すことができ、このジッタ成分のレベルをAC電圧
計で定量的に表示することができる。このためジッタ成
分による良品、不良品の判定がきわめて容易に、かつ正
確に行える。
実施例
以下、本発明の一実施例について第1図、第2図ととも
に説明する。
に説明する。
第1図において被測定半導体装置1の水平偏向信号出力
端子2にノツチフィルタ3を接続し、このノツチフィル
タ3の出力端子4をAC電圧計5に接続する。ノツチフ
ィルタ3は水平偏向信号周波数成分のみを除去し、それ
以外の周波数成分を通過させる特性をもっている。した
がって、水平偏向信号にジッタが生じている場合、被測
定半導体装置1の水平偏向信号出力端子2には、第3図
(a)に示すように本来の水平偏向信号Aの他にジッタ
成分Bが出力されるが、ノツチフィルタ3の出力端子4
には第3図(b)に示すように水平偏向信号Aの周波数
成分が除去され、ジッタ成分Bのみが出力される。この
ジッタ成分BはAC電圧計5に加えられ、その電圧レベ
ルが表示される。したがってAC電圧計の表示から、ジ
ッタ成分Bを定量時に確認することができ、被測定半導
体装置1が良品であるか不良品であるかを正確に判定す
ることができる。
端子2にノツチフィルタ3を接続し、このノツチフィル
タ3の出力端子4をAC電圧計5に接続する。ノツチフ
ィルタ3は水平偏向信号周波数成分のみを除去し、それ
以外の周波数成分を通過させる特性をもっている。した
がって、水平偏向信号にジッタが生じている場合、被測
定半導体装置1の水平偏向信号出力端子2には、第3図
(a)に示すように本来の水平偏向信号Aの他にジッタ
成分Bが出力されるが、ノツチフィルタ3の出力端子4
には第3図(b)に示すように水平偏向信号Aの周波数
成分が除去され、ジッタ成分Bのみが出力される。この
ジッタ成分BはAC電圧計5に加えられ、その電圧レベ
ルが表示される。したがってAC電圧計の表示から、ジ
ッタ成分Bを定量時に確認することができ、被測定半導
体装置1が良品であるか不良品であるかを正確に判定す
ることができる。
発明の効果
本発明によれば、水平偏向信号中に含まれるジッタ成分
を定量的に測定することができるから、被測定半導体装
置の良品、不良品の判定をきわめて正確にかつ容易にす
ることができる。
を定量的に測定することができるから、被測定半導体装
置の良品、不良品の判定をきわめて正確にかつ容易にす
ることができる。
第1図は本発明の一実施例における半導体装置の測定装
置のブロック図、第2図貴;翁はその動作を説明するた
めの波形図、第3図暑;藝は従来例におけるオシロスコ
ープの観測波形図である。 1・・・・・・被測定半導体装置、2・・・・・・水平
偏向信号出力端子、3・・・・・・ノツチフィルタ、4
・・・・・・ノツチフィルタの出力端子、5・・・・・
・AC電圧計。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 ほか1名第1図 第2図 第3図
置のブロック図、第2図貴;翁はその動作を説明するた
めの波形図、第3図暑;藝は従来例におけるオシロスコ
ープの観測波形図である。 1・・・・・・被測定半導体装置、2・・・・・・水平
偏向信号出力端子、3・・・・・・ノツチフィルタ、4
・・・・・・ノツチフィルタの出力端子、5・・・・・
・AC電圧計。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 ほか1名第1図 第2図 第3図
Claims (1)
- テレビジョン受像機用の半導体装置を被測定半導体装
置とし、上記被測定半導体装置の水平偏向信号出力端子
に水平偏向信号周波数以外の周波数を通過させるノッチ
フィルタを接続し、上記ノッチフィルタの出力をAC電
圧計に加え、上記AC電圧計により上記水平偏向信号出
力端子に現われるジッタ成分のレベルを測定することを
特徴とする半導体装置の測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11395188A JPH01284193A (ja) | 1988-05-11 | 1988-05-11 | 半導体装置の測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11395188A JPH01284193A (ja) | 1988-05-11 | 1988-05-11 | 半導体装置の測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01284193A true JPH01284193A (ja) | 1989-11-15 |
Family
ID=14625295
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11395188A Pending JPH01284193A (ja) | 1988-05-11 | 1988-05-11 | 半導体装置の測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01284193A (ja) |
-
1988
- 1988-05-11 JP JP11395188A patent/JPH01284193A/ja active Pending
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