JPH01285881A - 磁性体の鉄損計測装置 - Google Patents
磁性体の鉄損計測装置Info
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- JPH01285881A JPH01285881A JP11666288A JP11666288A JPH01285881A JP H01285881 A JPH01285881 A JP H01285881A JP 11666288 A JP11666288 A JP 11666288A JP 11666288 A JP11666288 A JP 11666288A JP H01285881 A JPH01285881 A JP H01285881A
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Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔分野の概要〕
本発明は、磁性体の鉄損計測装置に係るものであり、特
に磁性体に巻線した励磁巻線に流れる励磁電流と、磁性
体の2次側巻線に誘起した電圧とをディジタル信号に変
換して記憶装置に波形を記憶し、測定系に生じた絶対値
の誤差の値と、位相誤差の値をあらかじめ記憶装置に記
憶しておき、演算と制御を行う制御装置(パーソナルコ
ンピュータ)により鉄損計算時に補正を施し、正確な鉄
損を計測するようにした磁性体の鉄損計測装置に関する
ものである。
に磁性体に巻線した励磁巻線に流れる励磁電流と、磁性
体の2次側巻線に誘起した電圧とをディジタル信号に変
換して記憶装置に波形を記憶し、測定系に生じた絶対値
の誤差の値と、位相誤差の値をあらかじめ記憶装置に記
憶しておき、演算と制御を行う制御装置(パーソナルコ
ンピュータ)により鉄損計算時に補正を施し、正確な鉄
損を計測するようにした磁性体の鉄損計測装置に関する
ものである。
磁性体の鉄損は、磁性体に巻回した巻線に流れる励磁電
流と、励磁電流に対応した2次側巻線に誘起する電圧と
の積によって求められる。従来の磁性体の鉄損計測の一
実施例を第5図により説明する。
流と、励磁電流に対応した2次側巻線に誘起する電圧と
の積によって求められる。従来の磁性体の鉄損計測の一
実施例を第5図により説明する。
第5図は磁性体を励磁する励磁巻11N1に流れる励磁
電流を検出する方法を示し1、励磁電流をシャント抵抗
4により検出して鉄損を計測する測定系である。
電流を検出する方法を示し1、励磁電流をシャント抵抗
4により検出して鉄損を計測する測定系である。
従来、磁性材料の鉄損計測においては、第5図の測定系
により検出した波形を低周波に於ける鉄損計測では、ア
ナグロ電力訂を用いて行なわれている。アナグロ電力計
を用い磁性体の鉄損を計測する方法はせいぜい100k
Hzまでであるが、最近、ディジタル技術が進歩し、は
ぼ10kHz以上の周波数では励磁電流を電圧に変換し
てA−D変換し、また2次側電圧はそのままA−D変換
によりディジタル変換を行ない、数値を一度記憶装置に
記憶しマイクロコンピュータを用いて計算を行ない、鉄
損値を求める手法が用いられている。
により検出した波形を低周波に於ける鉄損計測では、ア
ナグロ電力訂を用いて行なわれている。アナグロ電力計
を用い磁性体の鉄損を計測する方法はせいぜい100k
Hzまでであるが、最近、ディジタル技術が進歩し、は
ぼ10kHz以上の周波数では励磁電流を電圧に変換し
てA−D変換し、また2次側電圧はそのままA−D変換
によりディジタル変換を行ない、数値を一度記憶装置に
記憶しマイクロコンピュータを用いて計算を行ない、鉄
損値を求める手法が用いられている。
磁性体の鉄損値をA−D変換によりディジタル処理によ
り求める方法において従来行なわれてきた励磁電流と2
次側誘起電圧を乗算する方法では、測定周波数が高周波
になるほど、あるいは試料の磁性体が低損失になるほど
測定値に誤差を生じ、実際の値と異なったものとなった
りあるいは鉄損値で問題があった。また、最近磁性体の
使用周波数の範囲もMHz帯とな+−1、一方磁性体も
低損失の材料が要求されるにつれτ、数百kflz以1
−の周波数帯域における磁性体の正確な鉄損値の計測方
法の確翫jが必要条件となっており、特に測定系に生じ
る磁性体以外の部分で生じるわずかな位相誤差も、1)
1測する鉄損値に対し大きな誤差要因となるため、この
誤差補正の方法は正確な鉄損値を求めるためには必要な
要件である。
り求める方法において従来行なわれてきた励磁電流と2
次側誘起電圧を乗算する方法では、測定周波数が高周波
になるほど、あるいは試料の磁性体が低損失になるほど
測定値に誤差を生じ、実際の値と異なったものとなった
りあるいは鉄損値で問題があった。また、最近磁性体の
使用周波数の範囲もMHz帯とな+−1、一方磁性体も
低損失の材料が要求されるにつれτ、数百kflz以1
−の周波数帯域における磁性体の正確な鉄損値の計測方
法の確翫jが必要条件となっており、特に測定系に生じ
る磁性体以外の部分で生じるわずかな位相誤差も、1)
1測する鉄損値に対し大きな誤差要因となるため、この
誤差補正の方法は正確な鉄損値を求めるためには必要な
要件である。
本発明は、このような鉄損計測時における誤差量(絶対
値誤差量1位相誤差量)を定量的に把握し、鉄損の計算
時にその誤差量の補正を施し、正確な鉄損の測定値を計
測する磁性体の鉄損計測装置を提供することを目的とす
る。
値誤差量1位相誤差量)を定量的に把握し、鉄損の計算
時にその誤差量の補正を施し、正確な鉄損の測定値を計
測する磁性体の鉄損計測装置を提供することを目的とす
る。
本発明は前記問題点を解決するため、励磁電流及び誘起
電圧波形検出時の誤差量(絶対値誤差。
電圧波形検出時の誤差量(絶対値誤差。
位相誤差)をあらかじめ定量的に把握し、補1■:、値
を磁性体の鉄損a■測装置内にもつよう構成したもので
、鉄損算出時に前記補正値に基づき補正を施し、正確な
鉄損計測値を提供することを特徴とする。
を磁性体の鉄損a■測装置内にもつよう構成したもので
、鉄損算出時に前記補正値に基づき補正を施し、正確な
鉄損計測値を提供することを特徴とする。
すなわち本発明は、第1の巻線と第2の巻線を施した磁
性体の第1の巻線に正弦波発振器からの交流信号を電力
増幅した交流電圧を印加し、前記第1の巻線を流れる電
流を電圧に変換した励磁電圧と、第2の巻線に誘起され
た電圧とを記憶装置により時間分割を行ってサンプリン
グし、サンプリング電圧を2°にA−D変換して記憶し
、演算処理と制御を行う制御装置によりあらかじめ周波
数ごとに計測装置系に生じる絶対値誤差量及び位相誤差
量を計測し、前記時間分割してディジタル変換した励磁
電圧と2次誘起電圧の位相とを誤差分だけ移相し、絶対
値は比例係数を乗じて補正した上で、電力量を演算する
ことにより前記磁性体の鉄損を算出するよう構成した鉄
損自動計測装置である。
性体の第1の巻線に正弦波発振器からの交流信号を電力
増幅した交流電圧を印加し、前記第1の巻線を流れる電
流を電圧に変換した励磁電圧と、第2の巻線に誘起され
た電圧とを記憶装置により時間分割を行ってサンプリン
グし、サンプリング電圧を2°にA−D変換して記憶し
、演算処理と制御を行う制御装置によりあらかじめ周波
数ごとに計測装置系に生じる絶対値誤差量及び位相誤差
量を計測し、前記時間分割してディジタル変換した励磁
電圧と2次誘起電圧の位相とを誤差分だけ移相し、絶対
値は比例係数を乗じて補正した上で、電力量を演算する
ことにより前記磁性体の鉄損を算出するよう構成した鉄
損自動計測装置である。
以下、本発明の一実施例を図面を用いて説明するわ
第1図は、本発明によるディジタル式の磁性体の鉄損計
測装置の概略図であるが、磁性体10に施す1次巻線N
1に直列に励磁電流検出用シャント抵抗4を接続し、そ
の他方端と1次巻線N1の他の一方の端間に正弦波発振
器5の信号を、正弦波増幅器6により増幅して磁性体1
0の1次巻線N1に正弦波電圧を印加し、前記励磁電流
検出用シャント抵抗4の両端電圧と、磁性体10の2次
巻線N2に誘起された電圧とを、パーソナルコンピュー
タ(以下パソコンと称する)8で制御するデジタル方式
の記憶装置7に記憶し、前記パソコン8にて、デジタル
計算処理により得られた実効電力を磁性体の実効体積で
除した値を磁性体の鉄損として算出する磁性体の鉄損計
測装置1である。該鉄損計測装置上では、磁性体を励磁
する周波数が高いときには、上記2つの波形を磁性体か
らのケーブル中を信号が伝送する間に誤差が生じ、記憶
装置に記憶するまでに発生する誤差(絶対値誤差1位相
誤差)に、1−リJ1測された鉄損に誤差が生じていた
。
測装置の概略図であるが、磁性体10に施す1次巻線N
1に直列に励磁電流検出用シャント抵抗4を接続し、そ
の他方端と1次巻線N1の他の一方の端間に正弦波発振
器5の信号を、正弦波増幅器6により増幅して磁性体1
0の1次巻線N1に正弦波電圧を印加し、前記励磁電流
検出用シャント抵抗4の両端電圧と、磁性体10の2次
巻線N2に誘起された電圧とを、パーソナルコンピュー
タ(以下パソコンと称する)8で制御するデジタル方式
の記憶装置7に記憶し、前記パソコン8にて、デジタル
計算処理により得られた実効電力を磁性体の実効体積で
除した値を磁性体の鉄損として算出する磁性体の鉄損計
測装置1である。該鉄損計測装置上では、磁性体を励磁
する周波数が高いときには、上記2つの波形を磁性体か
らのケーブル中を信号が伝送する間に誤差が生じ、記憶
装置に記憶するまでに発生する誤差(絶対値誤差1位相
誤差)に、1−リJ1測された鉄損に誤差が生じていた
。
鉄損r¥1測時の前記誤差要因とじどこ、次の3点が挙
げられる。
げられる。
1)励磁電流を検出し、記憶装置の入力端子までの信号
伝送系ど、2次側1橋起電圧を記憶装置入力端子・土で
伝送する2つの信じ伝送系とでの誤差、2)励磁電流検
出用シャント抵抗の周波数特性による5奴差。 (電流
を電圧として検出1゛るため発生する誤差) 3)記憶装置での波形記憶時の誤差、すなわち第1図に
おける記憶装置7のC旧とCH2との時間遅れによる誤
差である。
伝送系ど、2次側1橋起電圧を記憶装置入力端子・土で
伝送する2つの信じ伝送系とでの誤差、2)励磁電流検
出用シャント抵抗の周波数特性による5奴差。 (電流
を電圧として検出1゛るため発生する誤差) 3)記憶装置での波形記憶時の誤差、すなわち第1図に
おける記憶装置7のC旧とCH2との時間遅れによる誤
差である。
−1−記3点の各々に付き、下記のような方法により誤
差の補11−を行う、、1)の信月伝送系の誤差と3)
の記憶装置での波形記憶時の誤差については、記憶装置
7のC旧とCH2に接続するプローブ先端(励磁電流検
出用シャント抵抗4と、2次巻線N、の出力電圧を検出
する検出端子)に50Ωの終端抵抗を接続し、50Ω抵
抗両端から信号発生器により正弦波電圧を人力し、周波
数と、入力端子振幅を変えた時の出力電圧の位相遅れと
絶対値のずれを検出する。本発明による計測の結果では
I MHzに於ける実験の結果ではCHlの出力v1と
、CH2の出力v2ではVlがv2に対し角度誤差とし
て1.3度の遅れを生じていることかわかった。この値
は全く伝送回路と記憶装置内を信号が伝播する際に生じ
る遅れであり、磁性体の鉄損計測値に対し補正を行う必
要がある。
差の補11−を行う、、1)の信月伝送系の誤差と3)
の記憶装置での波形記憶時の誤差については、記憶装置
7のC旧とCH2に接続するプローブ先端(励磁電流検
出用シャント抵抗4と、2次巻線N、の出力電圧を検出
する検出端子)に50Ωの終端抵抗を接続し、50Ω抵
抗両端から信号発生器により正弦波電圧を人力し、周波
数と、入力端子振幅を変えた時の出力電圧の位相遅れと
絶対値のずれを検出する。本発明による計測の結果では
I MHzに於ける実験の結果ではCHlの出力v1と
、CH2の出力v2ではVlがv2に対し角度誤差とし
て1.3度の遅れを生じていることかわかった。この値
は全く伝送回路と記憶装置内を信号が伝播する際に生じ
る遅れであり、磁性体の鉄損計測値に対し補正を行う必
要がある。
2)の励磁電流検出用シャント抵抗の周波数特性による
誤差は固定抵抗のもつ浮遊インダクタンスによって生じ
、固定抵抗に流れる励磁電流により生じる電圧は、励磁
電流に対し進む。本実施例ではI MFIzにおいて2
Ωの金属薄膜抵抗両端に生じる電圧で0.5度の角度誤
差を生じている。
誤差は固定抵抗のもつ浮遊インダクタンスによって生じ
、固定抵抗に流れる励磁電流により生じる電圧は、励磁
電流に対し進む。本実施例ではI MFIzにおいて2
Ωの金属薄膜抵抗両端に生じる電圧で0.5度の角度誤
差を生じている。
次に、角度誤差及び振幅値に対する絶対値の誤差の補正
の手順について説明する。
の手順について説明する。
絶対値については予め測定周波数で計測しておいた誤差
の値に対し、スケールファクターを決め、記憶装置に各
位相でサンプリングされた数値に対し、スケールファク
ターを制御装置のパソコンで乗じ鉄損を計算するときの
数値とする。。
の値に対し、スケールファクターを決め、記憶装置に各
位相でサンプリングされた数値に対し、スケールファク
ターを制御装置のパソコンで乗じ鉄損を計算するときの
数値とする。。
位相誤差については第2図に伝送系、抵抗、記憶装置、
これら全体を接続し、たときのCHI、CH2の位相誤
差を示すが、AはCHI、 CJ(2に使用するプロー
ブ間の位相誤差、Bは記・は装置内の回路によるCHI
。
これら全体を接続し、たときのCHI、CH2の位相誤
差を示すが、AはCHI、 CJ(2に使用するプロー
ブ間の位相誤差、Bは記・は装置内の回路によるCHI
。
CH2の位相誤差、Cは励磁電流を検出する固定抵抗で
の励磁電流と固定抵抗両端に生じた電圧の位相誤差であ
り、Eは励磁電流を検出する固定抵抗両端に生じる電圧
を、プローブにより記憶装置のCHIに接続したC旧の
位相と、磁性体に巻線した2次巻線の出力電圧をプロー
ブを通しCH2に接続し記憶装置に記憶する回路までの
位相との誤差、すなわち本発明の実施例による磁性体の
鉄損計測装置で生じるCI(1,CJ(2間の位相誤差
である。すなわち、IMHzでは1.6度の位相誤差(
この場合v1の方がV、に比べ進んでいる。)どなって
いる。
の励磁電流と固定抵抗両端に生じた電圧の位相誤差であ
り、Eは励磁電流を検出する固定抵抗両端に生じる電圧
を、プローブにより記憶装置のCHIに接続したC旧の
位相と、磁性体に巻線した2次巻線の出力電圧をプロー
ブを通しCH2に接続し記憶装置に記憶する回路までの
位相との誤差、すなわち本発明の実施例による磁性体の
鉄損計測装置で生じるCI(1,CJ(2間の位相誤差
である。すなわち、IMHzでは1.6度の位相誤差(
この場合v1の方がV、に比べ進んでいる。)どなって
いる。
本発明の磁性体の鉄損計測装置ではこのような位相誤差
は、パソコンを用いて誤差を補正し、(II:[1゜C
H2の積を求め鉄損値を求める。位相の補正は第3図に
おいて、C:Hl、CH2の入力端子の1周期を等間隔
でサンプリングする。本発明の実施例でI MHzで計
測する際は1周期360度を500等分している。実験
では、励磁電流と2次出力電圧はL MHzで1.6度
の位相誤差があり、CHIがCH2に対し進み位相とな
っているため、CHI、 CH2の本来の位相に補正す
るためには CH2の出力を位相遅れ分のサンプリング
時間をパソコンで移相する操作を行う。
は、パソコンを用いて誤差を補正し、(II:[1゜C
H2の積を求め鉄損値を求める。位相の補正は第3図に
おいて、C:Hl、CH2の入力端子の1周期を等間隔
でサンプリングする。本発明の実施例でI MHzで計
測する際は1周期360度を500等分している。実験
では、励磁電流と2次出力電圧はL MHzで1.6度
の位相誤差があり、CHIがCH2に対し進み位相とな
っているため、CHI、 CH2の本来の位相に補正す
るためには CH2の出力を位相遅れ分のサンプリング
時間をパソコンで移相する操作を行う。
第3図においてt。とtlとのサンプリング間隔は36
0度1500=O172度であり、1.6度の誤差のと
きは2、222サンプリング幅に相当し、第3図におい
てy2゜y3の間の0.222による線型補間値を求め
、この値をVoの時間位置に移し、CHIのy。の値と
の積を求める。
0度1500=O172度であり、1.6度の誤差のと
きは2、222サンプリング幅に相当し、第3図におい
てy2゜y3の間の0.222による線型補間値を求め
、この値をVoの時間位置に移し、CHIのy。の値と
の積を求める。
y3とy4の値についても線型補間値を求め、CHIO
値との積を求め、同様に順次分割した500点につき計
算しCHIとCH2の積を求める。
値との積を求め、同様に順次分割した500点につき計
算しCHIとCH2の積を求める。
次に位相補正を行う実際のフローチャー1〜を表−1に
示す。
示す。
以下余白
表−1
フローチャートの中の変数は下記の通りCM%(* )
;励磁電流のディジタルデータCHIM 、励磁
電流の振幅誤差を考慮したスケールファクター CH2%(*);誘起電圧のディジタルデータCH2M
、誘起電圧の振幅誤差を考慮したスケールファク
ター CMP (Mnum%、3);位相補iE量(deg:
IAp;位相補正歌に相当するサンプリング間隔 Ap% ;Apの整数部 Apl ;Apの小数部 C5P 、1週期のデータ点数 (1週期に含まれるサンプリング間隔)第4図に示すG
の曲線は本発明の鉄損計算装置を用い叙−ヒの補正を行
ったスイッヂング電源用トランスに使用するフェライト
コアの鉄損の測定値である。
;励磁電流のディジタルデータCHIM 、励磁
電流の振幅誤差を考慮したスケールファクター CH2%(*);誘起電圧のディジタルデータCH2M
、誘起電圧の振幅誤差を考慮したスケールファク
ター CMP (Mnum%、3);位相補iE量(deg:
IAp;位相補正歌に相当するサンプリング間隔 Ap% ;Apの整数部 Apl ;Apの小数部 C5P 、1週期のデータ点数 (1週期に含まれるサンプリング間隔)第4図に示すG
の曲線は本発明の鉄損計算装置を用い叙−ヒの補正を行
ったスイッヂング電源用トランスに使用するフェライト
コアの鉄損の測定値である。
以上述べたように本発明によれば、各測定周波数におけ
る鉄損算出時の誤差補正は、各測定周波数において、予
め測定系に生じる絶対値と位相誤差を求めておき、計測
値はアナログディジタル変換し記憶しておき、パソコン
を用いディジタル演算により補正を行ない計測値を求め
るもので容易にしかも正確に、また高速演算を行うこと
により磁性体の正確な鉄損計測値の提供が可能となり、
その工業的価値は太きい。
る鉄損算出時の誤差補正は、各測定周波数において、予
め測定系に生じる絶対値と位相誤差を求めておき、計測
値はアナログディジタル変換し記憶しておき、パソコン
を用いディジタル演算により補正を行ない計測値を求め
るもので容易にしかも正確に、また高速演算を行うこと
により磁性体の正確な鉄損計測値の提供が可能となり、
その工業的価値は太きい。
第1図は、本発明による磁性体の鉄損計測装置の概要を
示す図。 第2図は、伝送系、励磁電流検出用シャント抵抗、記憶
袋ff、及び計測系全体で生じる周波数と位相誤差とを
示す図。 第3図は、励磁電流波形と2次側誘起電圧の時間分割に
よるサンプリングを示す図。 第4図は、本発明による磁性体の鉄損計測装置を使用し
、フェライトコアの鉄損を計測した図。 第5図は、従来方法による鉄損計測装置の実施例を示す
図。 上・・・磁性体の鉄損計測装置。 2・・・1次巻線(励磁巻線)。3・・2次巻線。 4・・・励磁電流検出用シャント抵抗。 5・・・正弦波発振器。6・・・電力増幅器。 7・・・記憶装置。 8・・・制御装置(パーソナルコンピュータ)。 9・・・アナログ鉄損測定装置。10・・・磁性体。 A・・・C:Hl、CH2用プローブ間の位相誤差。 B・・・記憶装置内のC:Hl、C:H2間の位相誤差
。 C・・・励磁電流検出用シャント抵抗による位相誤差。 ■〕・・・CI(1,CH2に接続する測定系それぞれ
によって生じる位相誤差。 E・・・励磁電流検出用シャント抵抗両端の電圧波形。 F・・・2次巻線に生じる誘起電圧波形。 G・・本発明による磁性体の鉄損計測装置によるフェラ
イトコアの鉄損計測値。 以下余白 第7図 y8戒数−にHz → 第3図 第4図 周ン皮数H1 第5図 ツ
示す図。 第2図は、伝送系、励磁電流検出用シャント抵抗、記憶
袋ff、及び計測系全体で生じる周波数と位相誤差とを
示す図。 第3図は、励磁電流波形と2次側誘起電圧の時間分割に
よるサンプリングを示す図。 第4図は、本発明による磁性体の鉄損計測装置を使用し
、フェライトコアの鉄損を計測した図。 第5図は、従来方法による鉄損計測装置の実施例を示す
図。 上・・・磁性体の鉄損計測装置。 2・・・1次巻線(励磁巻線)。3・・2次巻線。 4・・・励磁電流検出用シャント抵抗。 5・・・正弦波発振器。6・・・電力増幅器。 7・・・記憶装置。 8・・・制御装置(パーソナルコンピュータ)。 9・・・アナログ鉄損測定装置。10・・・磁性体。 A・・・C:Hl、CH2用プローブ間の位相誤差。 B・・・記憶装置内のC:Hl、C:H2間の位相誤差
。 C・・・励磁電流検出用シャント抵抗による位相誤差。 ■〕・・・CI(1,CH2に接続する測定系それぞれ
によって生じる位相誤差。 E・・・励磁電流検出用シャント抵抗両端の電圧波形。 F・・・2次巻線に生じる誘起電圧波形。 G・・本発明による磁性体の鉄損計測装置によるフェラ
イトコアの鉄損計測値。 以下余白 第7図 y8戒数−にHz → 第3図 第4図 周ン皮数H1 第5図 ツ
Claims (1)
- 第1の巻線と第2の巻線を施した磁性体の、第1の巻線
に正弦波発振器からの交流信号を電力増幅した交流電圧
を印加し、前記第1の巻線を流れる電流を電圧に変換し
た励磁電圧と、第2の巻線に誘起された電圧とを、記憶
装置により時間分割を行ってサンプリングし、サンプリ
ング電圧を2^nにA−D変換して記憶し、演算処理と
制御を行う制御装置によりあらかじめ周波数ごとに計測
装置系に生じる絶対値誤差量及び位相誤差量を計測し、
前記時間分割してディジタル変換した励磁電圧と2次誘
起電圧の位相とを、誤差分だけ移相し、絶対値は比例係
数を乗じて補正した上で、電力量を演算することにより
前記磁性体の鉄損を算出するよう構成したことを特徴と
する磁性体の鉄損計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11666288A JPH01285881A (ja) | 1988-05-12 | 1988-05-12 | 磁性体の鉄損計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11666288A JPH01285881A (ja) | 1988-05-12 | 1988-05-12 | 磁性体の鉄損計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01285881A true JPH01285881A (ja) | 1989-11-16 |
Family
ID=14692790
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11666288A Pending JPH01285881A (ja) | 1988-05-12 | 1988-05-12 | 磁性体の鉄損計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01285881A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5508617A (en) * | 1993-03-19 | 1996-04-16 | Hewlett-Packard Company | Electric power measuring apparatus and method |
| JP2016133355A (ja) * | 2015-01-16 | 2016-07-25 | 公立大学法人首都大学東京 | 鉄損測定方法および鉄損測定装置 |
| JP2021025799A (ja) * | 2019-07-31 | 2021-02-22 | 岩崎通信機株式会社 | 鉄損測定方法及び鉄損測定装置 |
-
1988
- 1988-05-12 JP JP11666288A patent/JPH01285881A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5508617A (en) * | 1993-03-19 | 1996-04-16 | Hewlett-Packard Company | Electric power measuring apparatus and method |
| JP2016133355A (ja) * | 2015-01-16 | 2016-07-25 | 公立大学法人首都大学東京 | 鉄損測定方法および鉄損測定装置 |
| JP2021025799A (ja) * | 2019-07-31 | 2021-02-22 | 岩崎通信機株式会社 | 鉄損測定方法及び鉄損測定装置 |
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