JPH0128889B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0128889B2 JPH0128889B2 JP6716081A JP6716081A JPH0128889B2 JP H0128889 B2 JPH0128889 B2 JP H0128889B2 JP 6716081 A JP6716081 A JP 6716081A JP 6716081 A JP6716081 A JP 6716081A JP H0128889 B2 JPH0128889 B2 JP H0128889B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- initial value
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- output data
- circuit
- test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D21/00—Measuring or testing not otherwise provided for
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は自動試験装置に関し、特に被試験装置
を特定の試験パターンで自動的に試験するもので
ある。
を特定の試験パターンで自動的に試験するもので
ある。
従来この種の自動試験装置として第１図に示す
ものがあつた。第１図において、１は被試験装置
で、入力装置２より試験信号が入力されて、その
結果が出力装置３を通して観測される。また４は
自動試験装置本体で、自動試験用のプログラム５
が試験員６によつてセツトされ、試験結果７を例
えば印字装置でなる結果出力装置に出力する。
ものがあつた。第１図において、１は被試験装置
で、入力装置２より試験信号が入力されて、その
結果が出力装置３を通して観測される。また４は
自動試験装置本体で、自動試験用のプログラム５
が試験員６によつてセツトされ、試験結果７を例
えば印字装置でなる結果出力装置に出力する。
第１図の構成において、試験員６は自動試験用
プログラム５を前もつて作成し、予め自動試験装
置本体４にセツトしておく。自動試験が開始され
ると、自動試験装置本体４は予めセツトされたプ
ログラム５に従つて入力装置２に操作信号を送
る。その結果被試験装置１には試験信号Ｖ，Ｉが
入力され、被試験装置１の出力が出力装置３を通
して再び自動試験装置本体４に送られ、これが試
験結果７として印字される。
プログラム５を前もつて作成し、予め自動試験装
置本体４にセツトしておく。自動試験が開始され
ると、自動試験装置本体４は予めセツトされたプ
ログラム５に従つて入力装置２に操作信号を送
る。その結果被試験装置１には試験信号Ｖ，Ｉが
入力され、被試験装置１の出力が出力装置３を通
して再び自動試験装置本体４に送られ、これが試
験結果７として印字される。
従来の自動試験装置は以上のように構成されて
いるので、試験員６には通常の試験操作とは全く
異質なプログラミングという作業が要求される。
しかるに被試験装置１が多機種少量生産型の分野
のものである場合にはプログラミング作業自体が
膨大なものになつてしまう欠点があつた。
いるので、試験員６には通常の試験操作とは全く
異質なプログラミングという作業が要求される。
しかるに被試験装置１が多機種少量生産型の分野
のものである場合にはプログラミング作業自体が
膨大なものになつてしまう欠点があつた。
本発明は上記のような従来のものの欠点を除去
するためになされたもので、試験員による試験操
作をそのまま記憶（以下これを学習という）して
以後の試験操作に利用することにより、その後の
試験の際にその都度プログラミング作業を行うこ
となく自動試験ができる自動試験装置を提供しよ
うとするものである。
するためになされたもので、試験員による試験操
作をそのまま記憶（以下これを学習という）して
以後の試験操作に利用することにより、その後の
試験の際にその都度プログラミング作業を行うこ
となく自動試験ができる自動試験装置を提供しよ
うとするものである。
以下第２図及び第３図について本発明の一例を
詳述しよう。この場合自動試験装置は第１図の場
合と同様に、被試験装置１に対して入力装置２か
ら操作信号を与えると共に、その応動動作結果を
出力装置３を介して出力するようになされてい
る。
詳述しよう。この場合自動試験装置は第１図の場
合と同様に、被試験装置１に対して入力装置２か
ら操作信号を与えると共に、その応動動作結果を
出力装置３を介して出力するようになされてい
る。
これに加えて自動試験装置は第２図に示す如き
学習ステツプと、第３図に示す如き再現ステツプ
とを実行し得、学習ステツプにおいて入力装置２
から被試験装置１に与えた操作内容と、出力装置
３から送出された出力結果とを自動試験装置本体
１０を介してメモリ１１に記憶できると共に、再
現ステツプにおいてこのメモリ１１の記憶を自動
試験装置本体１０を介して読出してその後の自動
試験の操作を再現できるようになされている。
学習ステツプと、第３図に示す如き再現ステツプ
とを実行し得、学習ステツプにおいて入力装置２
から被試験装置１に与えた操作内容と、出力装置
３から送出された出力結果とを自動試験装置本体
１０を介してメモリ１１に記憶できると共に、再
現ステツプにおいてこのメモリ１１の記憶を自動
試験装置本体１０を介して読出してその後の自動
試験の操作を再現できるようになされている。
先ず第２図の学習ステツプでは試験員６は従来
の手動試験時と同様に入力装置２を介して操作信
号を被試験装置１に与え、その結果被試験装置１
より得られる出力を出力装置３から得て観測す
る。この時同時に自動試験装置本体１０は一連の
試験の初期値、試験員６の操作内容等の操作デー
タや出力値等の出力結果データをメモリ１１に記
録させる。従つてメモリ１１には試験の操作に必
要な全てのデータと、基準になる出力データが記
憶される。これと共に、これらのデータは試験結
果１２として印字出力される。
の手動試験時と同様に入力装置２を介して操作信
号を被試験装置１に与え、その結果被試験装置１
より得られる出力を出力装置３から得て観測す
る。この時同時に自動試験装置本体１０は一連の
試験の初期値、試験員６の操作内容等の操作デー
タや出力値等の出力結果データをメモリ１１に記
録させる。従つてメモリ１１には試験の操作に必
要な全てのデータと、基準になる出力データが記
憶される。これと共に、これらのデータは試験結
果１２として印字出力される。
次に第３図の再現ステツプでは、自動試験装置
本体１０は学習ステツプでメモリ１１に記録され
たデータを読出して、入力装置２に対して操作信
号を送る。かくして被試験装置１に学習ステツプ
時との同一操作信号（初期値、操作内容など）を
与える。この結果被試験装置１より出力が得られ
ると自動試験装置本体１０は学習ステツプ時にメ
モリ１１に記憶された出力データを基準値として
読出して現在の出力装置３の出力と比較し、その
比較結果１２として印字出力する。
本体１０は学習ステツプでメモリ１１に記録され
たデータを読出して、入力装置２に対して操作信
号を送る。かくして被試験装置１に学習ステツプ
時との同一操作信号（初期値、操作内容など）を
与える。この結果被試験装置１より出力が得られ
ると自動試験装置本体１０は学習ステツプ時にメ
モリ１１に記憶された出力データを基準値として
読出して現在の出力装置３の出力と比較し、その
比較結果１２として印字出力する。
以上の学習ステツプ及び再現ステツプを実現す
る構成を、第４図にて説明する。
る構成を、第４図にて説明する。
学習ステツプまたは再現ステツプのいずれかを
リクエストする切換手段としてのスイツチ１３に
より学習ステツプをリクエストした場合、学習／
再現切換回路１０Ｉは入力装置２、初期値入力回
路１０Ａ、初期値読込回路１０Ｂ、監視回路１０
Ｃ及び出力データ読込回路１０Ｄに学習ステツプ
信号を送出する。この状態では先ず初期値入力回
路１０Ａ及び初期値読込回路１０Ｂは入力装置２
及び出力装置３の初期値をメモリ１１の初期値フ
アイル１１Ａに格納させる。次に試験員６の操作
が行われると、監視回路１０Ｃはその時刻、スイ
ツチ番号及び状態のデータを操作内容記憶フアイ
ル１１Ｂに順次転送格納させる。又これと共に出
力データ読込回路１０Ｄは出力装置３の出力デー
タを周期的に出力データフアイル１１Ｃに転送さ
せると共に印字出力させる。この様にして自動試
験装置本体１０はメモリ１１に学習した内容を記
録する。
リクエストする切換手段としてのスイツチ１３に
より学習ステツプをリクエストした場合、学習／
再現切換回路１０Ｉは入力装置２、初期値入力回
路１０Ａ、初期値読込回路１０Ｂ、監視回路１０
Ｃ及び出力データ読込回路１０Ｄに学習ステツプ
信号を送出する。この状態では先ず初期値入力回
路１０Ａ及び初期値読込回路１０Ｂは入力装置２
及び出力装置３の初期値をメモリ１１の初期値フ
アイル１１Ａに格納させる。次に試験員６の操作
が行われると、監視回路１０Ｃはその時刻、スイ
ツチ番号及び状態のデータを操作内容記憶フアイ
ル１１Ｂに順次転送格納させる。又これと共に出
力データ読込回路１０Ｄは出力装置３の出力デー
タを周期的に出力データフアイル１１Ｃに転送さ
せると共に印字出力させる。この様にして自動試
験装置本体１０はメモリ１１に学習した内容を記
録する。
次にスイツチ１３により再現ステツプがリクエ
ストされた場合、学習／再現切換回路１０Ｉは入
力装置２、初期値入力回路１０Ａ、初期値読込回
路１０Ｂ、監視回路１０Ｃ及び出力データ読込回
路１０Ｄに再現ステツプ信号を送出する。この時
初期値入力回路１０Ａは初期値フアイル１１Ａよ
り初期値データを読出して入力装置２を介して被
試験装置１に送る。そして初期値読込回路１０Ｄ
は出力装置３から出力される出力データを読込む
と共に、これを初期値フアイル１１Ａから読出し
た初期値１０Ｇと比較回路１０Ｅにおいて比較
し、その比較結果を印字出力する。その後監視回
路１０Ｃは操作内容記憶フアイル１１Ｂの操作デ
ータを監視し、その操作時刻がタイマ１０Ｊの内
容と等しくなつたとき（学習ステツプでの操作タ
イミングになつたことを意味する）その操作内容
を自動的に再現し、学習ステツプの際と同一の信
号を入力装置２を介して被試験装置１に与える。
このとき出力データ読込回路１０Ｄは出力装置３
の出力データを周期的に入力すると共に、その出
力データを、出力データフアイル１１Ｃより読出
した出力データ１０Ｈと比較回路１０Ｆで比較
し、その比較結果を印字出力させる。
ストされた場合、学習／再現切換回路１０Ｉは入
力装置２、初期値入力回路１０Ａ、初期値読込回
路１０Ｂ、監視回路１０Ｃ及び出力データ読込回
路１０Ｄに再現ステツプ信号を送出する。この時
初期値入力回路１０Ａは初期値フアイル１１Ａよ
り初期値データを読出して入力装置２を介して被
試験装置１に送る。そして初期値読込回路１０Ｄ
は出力装置３から出力される出力データを読込む
と共に、これを初期値フアイル１１Ａから読出し
た初期値１０Ｇと比較回路１０Ｅにおいて比較
し、その比較結果を印字出力する。その後監視回
路１０Ｃは操作内容記憶フアイル１１Ｂの操作デ
ータを監視し、その操作時刻がタイマ１０Ｊの内
容と等しくなつたとき（学習ステツプでの操作タ
イミングになつたことを意味する）その操作内容
を自動的に再現し、学習ステツプの際と同一の信
号を入力装置２を介して被試験装置１に与える。
このとき出力データ読込回路１０Ｄは出力装置３
の出力データを周期的に入力すると共に、その出
力データを、出力データフアイル１１Ｃより読出
した出力データ１０Ｈと比較回路１０Ｆで比較
し、その比較結果を印字出力させる。
なお監視装置１０Ｃが操作内容記憶フアイル１
１Ｂの内容を読出して入力装置２に与えるタイミ
ングはタイマ１０Ｊによつて制御するが、このタ
イマ１０Ｊの設定時間を変更することにより、再
現時間を速くしたり、遅くしたりすることができ
るようになされている。
１Ｂの内容を読出して入力装置２に与えるタイミ
ングはタイマ１０Ｊによつて制御するが、このタ
イマ１０Ｊの設定時間を変更することにより、再
現時間を速くしたり、遅くしたりすることができ
るようになされている。
また上述の実施例では、操作内容がイベント的
に検知できるようにした場合について述べたが、
ポテンシヨメータ等のアナログ入力に対しては、
入力データを周期的に読込むようにすれば良い。
に検知できるようにした場合について述べたが、
ポテンシヨメータ等のアナログ入力に対しては、
入力データを周期的に読込むようにすれば良い。
さらに上述の実施例では、操作内容を時系列的
に再現する場合について述べたが、自動試験装置
本体として操作内容の再現条件として他の条件
（特定出力データ値が学習ステツプと同一になる
等）を用いるようにしても良く、このようにすれ
ば、より高度な自動試験が可能となる。これはプ
ログラムの若干の追加により実現可能である。
に再現する場合について述べたが、自動試験装置
本体として操作内容の再現条件として他の条件
（特定出力データ値が学習ステツプと同一になる
等）を用いるようにしても良く、このようにすれ
ば、より高度な自動試験が可能となる。これはプ
ログラムの若干の追加により実現可能である。
以上のように本発明によれば、自動試験装置に
自動学習機能をもたせるようにしたことにより、
試験員が試験の都度プログラミング作業をする必
要をなくし得、かくして自動試験に要する労力を
大幅に削減することができる。
自動学習機能をもたせるようにしたことにより、
試験員が試験の都度プログラミング作業をする必
要をなくし得、かくして自動試験に要する労力を
大幅に削減することができる。
第１図は従来の自動試験装置を示すブロツク
図、第２図及び第３図は本発明による自動試験装
置の一例を示すブロツク図、第４図は第２図及び
第３図の自動試験装置本体の詳細構成を示すブロ
ツク図である。 １……被試験装置、２……入力装置、３……出
力装置、４……従来の自動試験装置本体、５……
プログラム、１０……自動試験装置本体、１１…
…メモリ、１０Ａ……初期値入力回路、１０Ｂ…
…初期値読込回路、１０Ｃ……監視回路、１０
Ｅ，１０Ｆ……比較回路、１０Ｄ……出力データ
読込回路、１１Ａ……初期値フアイル、１１Ｂ…
…操作内容フアイル、１１Ｃ……出力データフア
イル、１１Ｉ……学習／再現切換回路、１３……
切換リクエストスイツチ。
図、第２図及び第３図は本発明による自動試験装
置の一例を示すブロツク図、第４図は第２図及び
第３図の自動試験装置本体の詳細構成を示すブロ
ツク図である。 １……被試験装置、２……入力装置、３……出
力装置、４……従来の自動試験装置本体、５……
プログラム、１０……自動試験装置本体、１１…
…メモリ、１０Ａ……初期値入力回路、１０Ｂ…
…初期値読込回路、１０Ｃ……監視回路、１０
Ｅ，１０Ｆ……比較回路、１０Ｄ……出力データ
読込回路、１１Ａ……初期値フアイル、１１Ｂ…
…操作内容フアイル、１１Ｃ……出力データフア
イル、１１Ｉ……学習／再現切換回路、１３……
切換リクエストスイツチ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被試験装置に操作信号を入力装置を介して与
え、その応動動作出力を出力装置を介して観測す
る試験装置において、学習ステツプまたは再現ス
テツプのいずれかをリクエストする切換手段と、
学習ステツプのリクエスト時に入力装置及び出力
装置の初期値をメモリの初期値フアイルに格納す
る初期値入力回路及び初期値読込回路と、被試験
装置に対する操作信号の操作時の時刻、スイツチ
番号及び状態データ等を操作内容記憶フアイルに
格納する監視回路と、出力装置の出力データを出
力データフアイルに格納する出力データ読込回路
と、上記切換手段による再現ステツプのリクエス
ト時に、上記初期値入力回路により、学習ステツ
プのリクエスト時に格納された初期値を初期値フ
アイルより読み出し入力装置を介して被試験装置
に与え、この時上記出力装置を介して出力される
被試験装置による初期値の出力データを上記初期
値読込回路より読込み、上記初期値フアイルから
の初期値読出値と初期値読込回路による出力デー
タを比較する比較回路と、上記監視回路により、
学習ステツプ時と同一のタイミングで操作信号を
再現して被試験装置に入力装置を介して学習ステ
ツプ時と同一信号を与え、この時上記出力装置か
ら出力される被試験装置による出力データを上記
出力データ読込回路により読込み、上記出力デー
タフアイルより読出した学習ステツプ時の出力デ
ータ読出値と出力データ読込回路による出力デー
タを比較する比較回路とを備えてなることを特徴
とする自動試験装置。 ２ 上記操作内容記憶フアイルの記憶内容に基づ
いて試験操作を再現する際に、特定の条件が満た
された時に次の再現操作を開始するようにしてな
る特許請求の範囲第１項に記載の自動試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6716081A JPS57182123A (en) | 1981-04-30 | 1981-04-30 | Automatic tester |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6716081A JPS57182123A (en) | 1981-04-30 | 1981-04-30 | Automatic tester |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57182123A JPS57182123A (en) | 1982-11-09 |
| JPH0128889B2 true JPH0128889B2 (ja) | 1989-06-06 |
Family
ID=13336859
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6716081A Granted JPS57182123A (en) | 1981-04-30 | 1981-04-30 | Automatic tester |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57182123A (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59153296A (ja) * | 1983-02-22 | 1984-09-01 | 日立電子エンジニアリング株式会社 | 遮断器の試験装置 |
| JPH01119720A (ja) * | 1987-11-02 | 1989-05-11 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 試験検査作業自動化システム |
| JP4771122B2 (ja) * | 2005-08-03 | 2011-09-14 | 横河電機株式会社 | 測定器のリモート操作システム |
| CN102023033B (zh) | 2009-09-09 | 2012-12-05 | 北大方正集团有限公司 | 一种自动测试方法及系统 |
| JP5727239B2 (ja) * | 2011-01-17 | 2015-06-03 | 中国電力株式会社 | 遮断器試験装置、プログラムおよび遮断器試験方法 |
| JP7050032B2 (ja) * | 2019-06-10 | 2022-04-07 | 株式会社ソニー・インタラクティブエンタテインメント | 情報処理システム |
-
1981
- 1981-04-30 JP JP6716081A patent/JPS57182123A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57182123A (en) | 1982-11-09 |
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