JPH01292208A - 帯板形状検出装置 - Google Patents
帯板形状検出装置Info
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- JPH01292208A JPH01292208A JP63122755A JP12275588A JPH01292208A JP H01292208 A JPH01292208 A JP H01292208A JP 63122755 A JP63122755 A JP 63122755A JP 12275588 A JP12275588 A JP 12275588A JP H01292208 A JPH01292208 A JP H01292208A
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- strip
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- warping
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 4
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 28
- 230000002250 progressing effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 1
- 239000002023 wood Substances 0.000 description 1
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は帯板の長手方向に発生する板反り（以下り反り
という）及び板幅方向に発生する板反り（以下０反りと
いう）をオンラインて自動的且つ正確に測定し得るよう
にした帯板形状検出装置に関するものである。
という）及び板幅方向に発生する板反り（以下０反りと
いう）をオンラインて自動的且つ正確に測定し得るよう
にした帯板形状検出装置に関するものである。
［従来の技術］
圧延後の帯板の平坦度を矯正するために、従来からレベ
ラが使用されているが、レベラで平坦度矯正を行った帯
板には、Ｌ反りやＣ反りが生じることがある。
ラが使用されているが、レベラで平坦度矯正を行った帯
板には、Ｌ反りやＣ反りが生じることがある。
このため、従来はレベラ、で平坦度の矯正を行った帯板
を後工程で切断機により切断してサンプリングを行い、
サンプリングした板のＬ反り、Ｃ反りを実測し、その結
果からレベリングロールの圧下量を調整することが行わ
れている。
を後工程で切断機により切断してサンプリングを行い、
サンプリングした板のＬ反り、Ｃ反りを実測し、その結
果からレベリングロールの圧下量を調整することが行わ
れている。
ところが、従来は板のサンプリング、Ｌ反り、Ｃ反りの
実測、レベラのＬ反り矯正ロール、Ｃ反り矯正ロールの
調整は作業員が行っており、従って作業が大変で、しか
も安全性が悪く、更にサンプリングした板は定盤等の平
らな面に置いて測定するため自重により撓んで測定精度
も良くない等の問題があった。
実測、レベラのＬ反り矯正ロール、Ｃ反り矯正ロールの
調整は作業員が行っており、従って作業が大変で、しか
も安全性が悪く、更にサンプリングした板は定盤等の平
らな面に置いて測定するため自重により撓んで測定精度
も良くない等の問題があった。
そこで、最近てはＬ反り、Ｃ反りを自動的且つ正確に検
出してその値に応じレベラを自動制御することか種々検
討されている。
出してその値に応じレベラを自動制御することか種々検
討されている。
［発明か解決しようとする課題］
而して、Ｌ反り矯正ロール、Ｃ反り矯正ロールを自動制
御してＬ反り、Ｃ反りをなくすには、レベラから送出さ
れた板のし反り、Ｃ反りをオンラインで自動的且つ正確
に測定する必要があるが、現時点ではまだＬ反り、Ｃ反
りをオンラインで自動的且つ正確に測定できるものは提
案されていない。
御してＬ反り、Ｃ反りをなくすには、レベラから送出さ
れた板のし反り、Ｃ反りをオンラインで自動的且つ正確
に測定する必要があるが、現時点ではまだＬ反り、Ｃ反
りをオンラインで自動的且つ正確に測定できるものは提
案されていない。
本発明は上述の実情に鑑み、帯板長手方向に発生するし
反り、帯板幅方向に生じるＣ反りをオンラインで自動的
且つ正確に測定し得るようにすることを目的としてなし
たものである。
反り、帯板幅方向に生じるＣ反りをオンラインで自動的
且つ正確に測定し得るようにすることを目的としてなし
たものである。
［課題を解決するための手段］
第１の発明は帯板が上下方向へ送られるラインに上下へ
所要の間隔を置いて設けられ水平線に対して同一方向へ
略同−の傾きで傾くか或いは略水平に配設された２組の
方向変換用ピンチロールと、前記上下のビンチロール間
に配設され帯板の進行形状を測定するようにした複数の
非接触式の変位検出器と、該変位検出器で測定されたデ
ータから帯板長手方向へ生じている板反りを求める演算
装置を設けた構成を備え、第２の発明は第１の発明に加
え演算装置で求めたし反りから該り反りに対応した板幅
方向のＣ反りを求める等価０反り演算装置と、前記方向
変換用ピンチロールの下流側に帯板幅方向へ所要の間隔
で配設され帯板表面までの距離を測定するようにした３
個以上の非接触式の変位検出器と、該変位検出器で測定
されたデータから帯板幅方向へ生じているＣ反りを求め
る総Ｃ反り演算装置と、該総Ｃ反り演算装置からの総Ｃ
反り及び前記等価０反り演算装置からの等価０反りから
実Ｃ反りを求める実Ｃ反り演算装置を設けた構成を備え
ている。
所要の間隔を置いて設けられ水平線に対して同一方向へ
略同−の傾きで傾くか或いは略水平に配設された２組の
方向変換用ピンチロールと、前記上下のビンチロール間
に配設され帯板の進行形状を測定するようにした複数の
非接触式の変位検出器と、該変位検出器で測定されたデ
ータから帯板長手方向へ生じている板反りを求める演算
装置を設けた構成を備え、第２の発明は第１の発明に加
え演算装置で求めたし反りから該り反りに対応した板幅
方向のＣ反りを求める等価０反り演算装置と、前記方向
変換用ピンチロールの下流側に帯板幅方向へ所要の間隔
で配設され帯板表面までの距離を測定するようにした３
個以上の非接触式の変位検出器と、該変位検出器で測定
されたデータから帯板幅方向へ生じているＣ反りを求め
る総Ｃ反り演算装置と、該総Ｃ反り演算装置からの総Ｃ
反り及び前記等価０反り演算装置からの等価０反りから
実Ｃ反りを求める実Ｃ反り演算装置を設けた構成を備え
ている。
［作 用］
第１の発明では、２組の変位検出器により帯板の進行形
状が求められ、該形状からし反りが求められ、第２の発
明では帯板幅方向に所要の間隔で配設された変位検出器
により帯板の進行形状が求められ、該形状から総Ｃ反り
が求められ、前記第１の発明で求めたし反りから等価０
反りが求められ、該等価０反りと前記総Ｃ反りから実Ｃ
反りが求められる。
状が求められ、該形状からし反りが求められ、第２の発
明では帯板幅方向に所要の間隔で配設された変位検出器
により帯板の進行形状が求められ、該形状から総Ｃ反り
が求められ、前記第１の発明で求めたし反りから等価０
反りが求められ、該等価０反りと前記総Ｃ反りから実Ｃ
反りが求められる。
［実 施 例］
以下、本発明の実施例を添付図面を参照しつつ説明する
。
。
第１図及び第２図は本発明の一実施例で、図示してない
レベラの下流側には、帯板３が垂直方向へ送られるよう
、上下に所要の間隔をおいて２組の方向転換用ピンチロ
ール１，２を配設する。各ピンチロール１，２は２木の
ロールｌａ、ｌｂ 。
レベラの下流側には、帯板３が垂直方向へ送られるよう
、上下に所要の間隔をおいて２組の方向転換用ピンチロ
ール１，２を配設する。各ピンチロール１，２は２木の
ロールｌａ、ｌｂ 。
２ａ、２ｂを備え、ロールｌａと１ｂの中心を結ぶ直線
！１及びロール２ａと２ｂの中心を結ぶ直線！２は水平
線に対し傾き、且つ直線！１と１２は略平行になってい
る。ロールｌａ、ｌｂと２ａ、２ｂを同じ方向へ略同じ
角度たけ傾けて配置するのは、帯板３にＬ反りがある場
合、帯板３に対しピンチロール１．２間でＬ反りの大き
さに比例する太きさの円弧を有するＳ字状の曲線を与え
るためである。
！１及びロール２ａと２ｂの中心を結ぶ直線！２は水平
線に対し傾き、且つ直線！１と１２は略平行になってい
る。ロールｌａ、ｌｂと２ａ、２ｂを同じ方向へ略同じ
角度たけ傾けて配置するのは、帯板３にＬ反りがある場
合、帯板３に対しピンチロール１．２間でＬ反りの大き
さに比例する太きさの円弧を有するＳ字状の曲線を与え
るためである。
ピンチロール１．２間に、帯板３表面までの距離を測定
する２組の変位検出器４．５を配設する。
する２組の変位検出器４．５を配設する。
変位検出器４．５は非接触式変位計とし、例えば、渦電
流式、超音波式等を使用する。
流式、超音波式等を使用する。
変位検出器４．５で検出した帯板３表面までの距Ｍｘ、
ｙは演算装置θ内の比較器７に与え得るようになってお
り、比較器７で求めた偏差２は演算装置６内の関数発生
器８に与えられ、関数発生器８からは偏差２をもとにＬ
反りの方向及び大きさｆ （ｚ）を求め、図示してない
装置に指令信号として与え得るようになっている。偏差
２とＬ反りの方向及び大きさｆ （ｚ）の関係は、第２
図に示すように、予め実験で求めるか或いは理論解析に
より求め、関数発生器８に人力しておく。
ｙは演算装置θ内の比較器７に与え得るようになってお
り、比較器７で求めた偏差２は演算装置６内の関数発生
器８に与えられ、関数発生器８からは偏差２をもとにＬ
反りの方向及び大きさｆ （ｚ）を求め、図示してない
装置に指令信号として与え得るようになっている。偏差
２とＬ反りの方向及び大きさｆ （ｚ）の関係は、第２
図に示すように、予め実験で求めるか或いは理論解析に
より求め、関数発生器８に人力しておく。
なお図中９はピンチロールである。
運転時には、帯板３はピンチロール１．２．９に挾まれ
て垂直方向上方から下方へ送給され、変位検出器４，５
により帯板３表面までの距離Ｘ。
て垂直方向上方から下方へ送給され、変位検出器４，５
により帯板３表面までの距離Ｘ。
ｙが検出されて比較器７へ送られ、比較器７では距離ｘ
、ｙの偏差２かｚ””ｘ−ｙにより求められて関数発生
器８に与えられ、関数発生器８から偏差２に対応したし
反りの方向及び大きさｆ （ｚ）が出力されて図示して
ない装置へ指令信号として与えられる。Ｌ反りの方向は
ｆ （ｚ）の正負により定まる。例えばｘ ＝ ｘ ＋
、’／ −’／ １とすると、偏差はＺｌ ””ＸＩ
−ｙｌになり、Ｌ反りはｆ（ｚ＋）となる。又り反りの
方向はｆ（ｚ＋）＞０の場合、帯板３は第１図において
左側へ凸に反り、ｆ（ｚ＋）くＯの場合は右側へ凸に反
ることになる。このようにしてＬ反りを求めることによ
りオンラインで自動的に正確なし反りの検出が可能とな
る。
、ｙの偏差２かｚ””ｘ−ｙにより求められて関数発生
器８に与えられ、関数発生器８から偏差２に対応したし
反りの方向及び大きさｆ （ｚ）が出力されて図示して
ない装置へ指令信号として与えられる。Ｌ反りの方向は
ｆ （ｚ）の正負により定まる。例えばｘ ＝ ｘ ＋
、’／ −’／ １とすると、偏差はＺｌ ””ＸＩ
−ｙｌになり、Ｌ反りはｆ（ｚ＋）となる。又り反りの
方向はｆ（ｚ＋）＞０の場合、帯板３は第１図において
左側へ凸に反り、ｆ（ｚ＋）くＯの場合は右側へ凸に反
ることになる。このようにしてＬ反りを求めることによ
りオンラインで自動的に正確なし反りの検出が可能とな
る。
第３図及び第４図は本発明の他の実施例で、Ｌ反りと共
にＣ反りをも測定し得るようにした例である。
にＣ反りをも測定し得るようにした例である。
演算装置６の関数発生器８からは、Ｌ反りの方向及び大
きさｆ （ｚ）を図示してない装置へ指令信号として与
え得るようにすると共に等価０反り演算装置Ｉｆへ与え
得るようにする。
きさｆ （ｚ）を図示してない装置へ指令信号として与
え得るようにすると共に等価０反り演算装置Ｉｆへ与え
得るようにする。
ピンチロール２と９の中間部に、帯板３表面までの距離
ｘ ａ、 ｘ ｂ、 ｘ ｃを検出する変位検出器１０
ａ、 ｆｏｂ、 ｆｏｅを帯板幅方向へ所要の間隔で３
個以上配設する。変位検出器１０ａ、 ｆｏｂ、 ｌＯ
ｃは非接触式であり、例えば渦電流式、超音波式等を使
用する。
ｘ ａ、 ｘ ｂ、 ｘ ｃを検出する変位検出器１０
ａ、 ｆｏｂ、 ｆｏｅを帯板幅方向へ所要の間隔で３
個以上配設する。変位検出器１０ａ、 ｆｏｂ、 ｌＯ
ｃは非接触式であり、例えば渦電流式、超音波式等を使
用する。
変位検出器１０ａ、１０ｂ、１０ｃで検出した帯板３表
面までの距離ｘ ｇ＋ ｘ ｂ、 ｘ ｃをｊ８Ｃ反り
演算装置１２へ与え得るようにし、総Ｃ反り演算装置１
２で求めた総Ｃ反りＣ６及び等価０反り演算装置１１で
求めた等価０反りＣを実Ｃ反り演算装置ｅｑ。
面までの距離ｘ ｇ＋ ｘ ｂ、 ｘ ｃをｊ８Ｃ反り
演算装置１２へ与え得るようにし、総Ｃ反り演算装置１
２で求めた総Ｃ反りＣ６及び等価０反り演算装置１１で
求めた等価０反りＣを実Ｃ反り演算装置ｅｑ。
１３へ与え得るようにする。
演算装置６の関数発生器８から出力されたし反りの方向
及び大きさｆ （ｚ）は等価０反り演算装置１１へ与え
られて該演算装置１１で該り反りと等価のＣ反りＣが求
められ、実Ｃ反り演算ｅ９゜ 装置Ｉ３へ与えられる。Ｃを求めるのは、Ｌｅｑ・ 反りかあると、Ｃ反りに影響を与えるため、その影響を
排除するためである。
及び大きさｆ （ｚ）は等価０反り演算装置１１へ与え
られて該演算装置１１で該り反りと等価のＣ反りＣが求
められ、実Ｃ反り演算ｅ９゜ 装置Ｉ３へ与えられる。Ｃを求めるのは、Ｌｅｑ・ 反りかあると、Ｃ反りに影響を与えるため、その影響を
排除するためである。
一方、変位検出器１０ａ、 ｌＯｂ、 ｌＯｃで測定さ
れた帯板３表面までの距Ｍｘａ、ｘｂ、ｘｃは総Ｃ反り
演算装置１２へ与えられ、該装置１２で総Ｃ反りＣ０り
演算装置１３へ与えられ、該装置１３において、実Ｃ反
りＣ１がＣ＋−ＣｏＣにより求めｅｑ・ られ、図示してない装置へ指令信号として出力される。
れた帯板３表面までの距Ｍｘａ、ｘｂ、ｘｃは総Ｃ反り
演算装置１２へ与えられ、該装置１２で総Ｃ反りＣ０り
演算装置１３へ与えられ、該装置１３において、実Ｃ反
りＣ１がＣ＋−ＣｏＣにより求めｅｑ・ られ、図示してない装置へ指令信号として出力される。
このようにＣ反りを求めることにより、オンラインで自
動的且つ正確なＣ反りの検出が可能である。
動的且つ正確なＣ反りの検出が可能である。
又上述の２つの実施例におけるように、オンラインでＬ
反り、Ｃ反りを自動的且つ正確に求めることができるた
め、この情報をレベラに与えることによりフィードバッ
ク制御ループにより板反りを自動的に制御することかで
きる。
反り、Ｃ反りを自動的且つ正確に求めることができるた
め、この情報をレベラに与えることによりフィードバッ
ク制御ループにより板反りを自動的に制御することかで
きる。
第５図は本発明の更に他の実施例で、本実施例ではピン
チロールＩ°、２“の各ロールを略水平に配設すると共
にピンチロールｌ°、２°を板厚方向にずらして配置し
ている。又１４はカメラ、１５は演算装置である。
チロールＩ°、２“の各ロールを略水平に配設すると共
にピンチロールｌ°、２°を板厚方向にずらして配置し
ている。又１４はカメラ、１５は演算装置である。
帯板３は内在するＬ反りぐせの強さによって第５図の破
線４１口に示すごとく変曲位置２°が変化する。この変
曲位置２°の変化をカメラ１４によって写し、演算装置
１５の内部で画像処理して帯板３の変曲位置２°を割出
す。２゛とＬ反りの方向及び大きさの関係は予め実験に
より求め、演算装置１５内の関数発生器に入力しておく
ことにより、２゛を求めてＬ反りの値を求めることがで
きる。
線４１口に示すごとく変曲位置２°が変化する。この変
曲位置２°の変化をカメラ１４によって写し、演算装置
１５の内部で画像処理して帯板３の変曲位置２°を割出
す。２゛とＬ反りの方向及び大きさの関係は予め実験に
より求め、演算装置１５内の関数発生器に入力しておく
ことにより、２゛を求めてＬ反りの値を求めることがで
きる。
なお、本発明は上述の実施例に限定されるものではなく
、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々変更を加え得
ることは勿論である。
、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々変更を加え得
ることは勿論である。
［発明の効果〕
本発明の帯板形状検出装置によれば、Ｌ反り、Ｃ反りを
オンラインで自動的且つ正確に測定することが可能とな
るという優れた効果を奏し得る。
オンラインで自動的且つ正確に測定することが可能とな
るという優れた効果を奏し得る。
第１図は本発明の一実施例の説明図、第２図は第１図の
変位検出器で検出された偏差とＬ反りの関係を表わすグ
ラフ、第３図は本発明の他の実施例の説明図、第４図は
第３図のＣ反り検出用の変位検出器の説明図、第５図は
本発明の更に他の実施例の説明図である。 図中１．２は方向転換用ピンチロール、３は帯板、４．
５は変位検出器、６は演算装置、７は比較器、８は関数
発生器、ｌＯａ、 ｌＯｂ、 ｆｏｅは変位検出器、１
１は等価０反り演算装置、１２は総Ｃ反り演算装置、１
３は実Ｃ反り演算装置を示す。
変位検出器で検出された偏差とＬ反りの関係を表わすグ
ラフ、第３図は本発明の他の実施例の説明図、第４図は
第３図のＣ反り検出用の変位検出器の説明図、第５図は
本発明の更に他の実施例の説明図である。 図中１．２は方向転換用ピンチロール、３は帯板、４．
５は変位検出器、６は演算装置、７は比較器、８は関数
発生器、ｌＯａ、 ｌＯｂ、 ｆｏｅは変位検出器、１
１は等価０反り演算装置、１２は総Ｃ反り演算装置、１
３は実Ｃ反り演算装置を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）帯板が上下方向へ送られるラインに上下へ所要の間
隔を置いて設けられ水平線に対して同一方向へ略同一の
傾きで傾くか或いは略水平に配設された２組の方向変換
用ピンチロールと、前記上下のピンチロール間に配設さ
れ帯板の進行形状を測定するようにした複数の非接触式
の変位検出器と、該変位検出器で測定されたデータから
帯板長手方向へ生じている板反りを求める演算装置を設
けたことを特徴とする帯板形状検出装置。 ２）帯板が上下方向へ送られるラインに上下へ所要の間
隔を置いて設けられ水平線に対して同一方向へ略同一の
傾きで傾くか或いは略水平に配設された２組の方向変換
用ピンチロールと、前記上下のピンチロール間に配設さ
れ帯板の進行形状を測定するようにした複数の非接触式
の変位検出器と、該変位検出器で測定されたデータから
帯板長手方向へ生じているＬ反りを求める演算装置と、
該演算装置で求めたＬ反りから該Ｌ反りに対応した板幅
方向のＣ反りを求める等価Ｃ反り演算装置と、前記方向
変換用ピンチロールの下流側に帯板幅方向へ所要の間隔
で配設され帯板表面までの距離を測定するようにした３
個以上の非接触式の変位検出器と、該変位検出器で測定
されたデータから帯板幅方向へ生じているＣ反りを求め
る総Ｃ反り演算装置と、該総Ｃ反り演算装置からの総Ｃ
反り及び前記等価Ｃ反り演算装置からの等価Ｃ反りから
実Ｃ反りを求める実Ｃ反り演算装置を設けたことを特徴
とする帯板形状検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63122755A JP2650316B2 (ja) | 1988-05-19 | 1988-05-19 | 帯板形状検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63122755A JP2650316B2 (ja) | 1988-05-19 | 1988-05-19 | 帯板形状検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01292208A true JPH01292208A (ja) | 1989-11-24 |
| JP2650316B2 JP2650316B2 (ja) | 1997-09-03 |
Family
ID=14843808
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63122755A Expired - Fee Related JP2650316B2 (ja) | 1988-05-19 | 1988-05-19 | 帯板形状検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2650316B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2014090555A1 (de) * | 2012-12-11 | 2014-06-19 | Siemens Vai Metals Technologies Gmbh | Planheitsmessung und messung der eigenspannungen für ein metallisches flachprodukt |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5682633U (ja) * | 1979-11-30 | 1981-07-03 | ||
| JPS6254116A (ja) * | 1985-09-02 | 1987-03-09 | Kawasaki Steel Corp | 熱間板材の形状測定方法 |
-
1988
- 1988-05-19 JP JP63122755A patent/JP2650316B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5682633U (ja) * | 1979-11-30 | 1981-07-03 | ||
| JPS6254116A (ja) * | 1985-09-02 | 1987-03-09 | Kawasaki Steel Corp | 熱間板材の形状測定方法 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2014090555A1 (de) * | 2012-12-11 | 2014-06-19 | Siemens Vai Metals Technologies Gmbh | Planheitsmessung und messung der eigenspannungen für ein metallisches flachprodukt |
| CN104936713A (zh) * | 2012-12-11 | 2015-09-23 | 首要金属科技奥地利有限责任公司 | 用于金属的扁平制品的平整度测量和内应力的测量 |
| CN104936713B (zh) * | 2012-12-11 | 2017-05-10 | 首要金属科技奥地利有限责任公司 | 用于金属的扁平制品的平整度测量和内应力的测量 |
| US10081041B2 (en) | 2012-12-11 | 2018-09-25 | Primetals Technologies Austria GmbH | Flatness measuring and measuring of residual stresses for a metallic flat product |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2650316B2 (ja) | 1997-09-03 |
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