JPH0129441B2 - - Google Patents

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JPH0129441B2
JPH0129441B2 JP58249337A JP24933783A JPH0129441B2 JP H0129441 B2 JPH0129441 B2 JP H0129441B2 JP 58249337 A JP58249337 A JP 58249337A JP 24933783 A JP24933783 A JP 24933783A JP H0129441 B2 JPH0129441 B2 JP H0129441B2
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JP
Japan
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inductance
semiconductor chip
frequency
electrodes
internal matching
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JP58249337A
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JPS60140738A (en
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Kyoichi Ishii
Hiromoto Yamawaki
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0129441B2 publication Critical patent/JPH0129441B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W90/00Package configurations
    • H10W90/701Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
    • H10W90/751Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
    • H10W90/753Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between laterally-adjacent chips

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  • Microwave Amplifiers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (a) 発明の技術分野 本発明は、高周波高出力トランジスタに係り、
特に、UHF帯で使用される高周波高出力トラン
ジスタの構成に関す。
[Detailed Description of the Invention] (a) Technical Field of the Invention The present invention relates to a high frequency, high output transistor,
In particular, it concerns the configuration of high-frequency, high-output transistors used in the UHF band.

(b) 技術の背景 電子機器の増幅回路には従来の電子管に代わり
半導体を利用したトランジスタないしトランジス
タを集積したICが、小消費電力、高信頼性の利
点のため使用されるようになつたが、周波数が高
くなるに従つて半導体の利用には技術的な難しさ
を伴つている。
(b) Background of the technology Transistors using semiconductors or ICs with integrated transistors have come to be used instead of conventional electron tubes in amplifier circuits of electronic devices due to their advantages of low power consumption and high reliability. As the frequency increases, the use of semiconductors becomes more technically difficult.

本発明に係る高周波高出力トランジスタは、
UHF帯の電力増幅用トランジスタで、例えば、
UHF―TVの中継放送用送信機や移動無線機器
の送信出力用電力増幅回路に使用されるものであ
る。そして、この程度の周波数になると一個の単
位トランジスタ素子で所望の出力を得ることが出
来ないため、通常、複数のバイポーラ単位トラン
ジスタ素子を並列に接続して一個のトランジスタ
を形成しており、その入力インピーダンスが低い
ため、該トランジスタの中に整合回路を備えたも
のもある。
The high frequency high power transistor according to the present invention includes:
A UHF band power amplification transistor, for example,
It is used in UHF-TV relay broadcasting transmitters and power amplification circuits for the transmission output of mobile radio equipment. At this level of frequency, it is not possible to obtain the desired output with a single unit transistor element, so normally multiple bipolar unit transistor elements are connected in parallel to form a single transistor, and its input Because the impedance is low, some of the transistors are equipped with matching circuits.

従つて、上記のような機器の出力増の要望に対
しては、単位トランジスタ素子の数を増やして対
応することになるが、複雑になるばかりでなく該
数の増加に伴い発生する問題もあるので、単位ト
ランジスタ素子の数を増やさないで出力増大を図
ることが望まれている。
Therefore, the above-mentioned demand for increased output of devices must be met by increasing the number of unit transistor elements, but this not only complicates the process but also causes problems as the number increases. Therefore, it is desired to increase the output without increasing the number of unit transistor elements.

(c) 従来技術と問題点 第1図は従来の高周波高出力トランジスタの一
実施例の構造を示す平面図aと側断面図b、第2
図はその単位トランジスタ素子を形成した半導体
チツプの拡大平面図、第3図は同じく内部整合回
路のコンデンサを形成した半導体チツプの拡大平
面図、第4図は同じく等価回路図で、1はパツケ
ージ本体、11は接地基板、12は絶縁基板、1
3は接地板、14はコレクタ端子板、15は絶縁
枠、16は入力端子、17は出力端子、2,3は
半導体チツプ、21は単位トランジスタ素子、2
2はベース電極、23はエミツタ電極、24,2
5は接続素子、31はコンデンサ、32はコンデ
ンサ電極、41,42,43,44は接続線、5
はパツケージ蓋をそれぞれ示す。
(c) Prior art and problems Figure 1 shows a plan view a, a side sectional view b, and a side sectional view b, showing the structure of an embodiment of a conventional high frequency high power transistor.
The figure is an enlarged plan view of the semiconductor chip forming the unit transistor element, FIG. 3 is an enlarged plan view of the semiconductor chip forming the capacitor of the internal matching circuit, and FIG. 4 is the equivalent circuit diagram. , 11 is a grounding board, 12 is an insulating board, 1
3 is a grounding plate, 14 is a collector terminal plate, 15 is an insulating frame, 16 is an input terminal, 17 is an output terminal, 2 and 3 are semiconductor chips, 21 is a unit transistor element, 2
2 is a base electrode, 23 is an emitter electrode, 24, 2
5 is a connecting element, 31 is a capacitor, 32 is a capacitor electrode, 41, 42, 43, 44 is a connecting wire, 5
indicates the package lid.

第1図図示の高周波高出力トランジスタの構造
は凡そ次の通りである。
The structure of the high frequency, high power transistor shown in FIG. 1 is approximately as follows.

即ち、パツケージ本体1は、例えば銅板などで
なり取付け接地と放熱のための接地基板11、絶
縁性と熱伝導性にすぐれた例えばベリリヤ(酸化
ベリリウムの焼結体)などの板でなりその表面に
接地接続用の接地板13と単位トランジスタ素子
のコレクタ導出用のコレクタ端子板14とを例え
ばモリブデン・マンガンなどのメタライズで膜状
に形成した絶縁基板12、例えば酸化アルミニウ
ムなどの絶縁体で枠状に形成した絶縁枠15、例
えばコバール(鉄・ニツケル・コバルト合金)板
などでなり本トランジスタの入出力端子である入
力端子16および出力端子17を、図示のように
積層一体化し金属部分に例えば金などのめつきを
施してなつている。
That is, the package body 1 is made of, for example, a copper plate, and has a grounding board 11 for mounting and grounding and heat radiation, and a plate made of, for example, beryllium (sintered beryllium oxide), which has excellent insulation and thermal conductivity. A grounding plate 13 for ground connection and a collector terminal plate 14 for leading out the collector of a unit transistor element are connected to an insulating substrate 12 formed in the form of a film using metallized material such as molybdenum or manganese, and formed into a frame shape using an insulating material such as aluminum oxide. The formed insulating frame 15 is made of, for example, a Kovar (iron-nickel-cobalt alloy) plate, and the input terminals 16 and output terminals 17, which are the input and output terminals of this transistor, are laminated and integrated as shown in the figure, and the metal parts are coated with gold, etc. It is decorated with a nometsuki pattern.

増幅機能を担当する単位トランジスタ素子21
はシリコンバイポーラトランジスタであつて、第
2図図示のように、半導体チツプ2上に四個形成
されて、ベース電極22とエミツタ電極23は個
別に導出し、コレクタ電極は共通になつて半導体
チツプ2の底面に導出している。また、半導体チ
ツプ2製造工程中の試験の便宜のため、隣り合わ
せるベース電極22間ならびにエミツタ電極23
間が、半導体チツプ2表面の絶縁層上に例えばア
ルミニウムなどの導体で直線帯状の膜に形成した
接続素子24,25で接続されている。そして、
半導体チツプ2をパツケージ本体1のコレクタ端
子板14上に搭載してコレクタ電極をコレクタ端
子板14に接続している。
Unit transistor element 21 in charge of amplification function
are silicon bipolar transistors, and as shown in FIG. It is derived from the bottom of the . In addition, for convenience of testing during the manufacturing process of the semiconductor chip 2, the distance between the adjacent base electrodes 22 and the emitter electrode 23 is
The connecting elements 24 and 25 are formed in the form of straight strips of a conductor such as aluminum on the insulating layer on the surface of the semiconductor chip 2. and,
A semiconductor chip 2 is mounted on a collector terminal plate 14 of a package body 1, and a collector electrode is connected to the collector terminal plate 14.

入力インビーダンスの変換機能を担当する内部
整合回路の構成素子であるコンデンサ31(図示
省略)は、シリコンMOS構造コンデンサであつ
て、第3図図示のように、半導体チツプ3上に二
個形成されて上部電極が二個のコンデンサ電極3
2となり、下部電極は共通になつて半導体チツプ
3の底面に導出している。そして、半導体チツプ
3をパツケージ本体1の接地板13上に搭載して
下部電極を接地している。
The capacitor 31 (not shown), which is a component of the internal matching circuit responsible for converting the input impedance, is a silicon MOS structure capacitor, and as shown in FIG. 3, two capacitors are formed on the semiconductor chip 3. and the upper electrode is two capacitor electrodes 3
2, and the lower electrode is common and led out to the bottom surface of the semiconductor chip 3. The semiconductor chip 3 is mounted on the ground plate 13 of the package body 1, and the lower electrode is grounded.

更に、例えば金などのワイヤを用い例えばワイ
ヤボンデイングによつて、入力端子16とコンデ
ンサ電極32との間、コンデンサ電極32とベー
ス電極22との間、エミツタ電極23と接地板1
3との間、コレクタ端子板14と出力端子17と
の間を第1図図示のように接続して接続線41,
42,43,44を形成した後、パツケージ本体
1にパツケージ蓋5を被せシールして本高周波高
出力トランジスタがなつている。
Further, by wire bonding using, for example, a wire made of gold, etc., the wires are bonded between the input terminal 16 and the capacitor electrode 32, between the capacitor electrode 32 and the base electrode 22, and between the emitter electrode 23 and the ground plate 1.
3, and between the collector terminal plate 14 and the output terminal 17 as shown in FIG.
After forming 42, 43, and 44, the package body 1 is covered with a package lid 5 and sealed to complete the present high frequency, high output transistor.

従つて、本高周波高出力トランジスタは、単位
トランジスタ素子21をエミツタ接地で四個並列
に接続して出力を大きくし、二組の内部整合回路
を備えた構成になつており、接続素子24,25
および接続線41〜44のそれぞれは、主として
その長さに起因するインダクタンス値を有するた
め回路を形成する素子となり、等価回路は第4図
図示のようになる。ここで回路記号に付記した符
号は該回路記号に対して支配的に作用する素子の
符号である。因に、第1図図示のように、一個の
コンデンサ電極32に接続している接続線41を
複数にしているのは、内部整合回路のにおける接
続線41部のインダクタンス値を所定の値に合わ
せるためであり、コレクタタ端子板14と出力端
子17とを接続する接続線44を複数にしている
のは、この部分のインダクタンス値を小さくする
ためである。
Therefore, this high-frequency, high-output transistor has a configuration in which four unit transistor elements 21 are connected in parallel with their emitters grounded to increase the output, and two sets of internal matching circuits are provided.
Since each of the connecting lines 41 to 44 has an inductance value mainly due to its length, it becomes an element forming a circuit, and the equivalent circuit is as shown in FIG. Here, the code appended to the circuit symbol is the code of the element that acts dominantly on the circuit symbol. Incidentally, the reason why there are multiple connection wires 41 connected to one capacitor electrode 32 as shown in FIG. 1 is to adjust the inductance value of the connection wire 41 part in the internal matching circuit to a predetermined value. This is because the number of connection wires 44 connecting the collector terminal plate 14 and the output terminal 17 is provided in plurality in order to reduce the inductance value of this portion.

この構成でなる高周波高出力トランジスタにお
いては、回路を構成する複数の同一素子、即ち、
単位トランジスタ素子21、コンデンサ31、接
続線41,42,43などは全く同一であること
が望ましいが現実にはばらつきがある。特に、主
として単位トランジスタ素子21の特性のばらつ
きと接続線43のインダクタンス値のばらつきに
起因して、複数のベース電極22相互間やエミツ
タ電極23相互間に電位差が生じ、インダクタン
ス値の小さな接続素子24,25などを通して該
電極相互間に信号を含む電流が流れて完全並列動
作状態がくずれ、各単位トランジスタ素子が充分
に機能しなくなつて出力が低減する欠点を有する
ことを本願の発明者は見出した。
In the high-frequency, high-output transistor having this configuration, a plurality of identical elements making up the circuit, that is,
Although it is desirable that the unit transistor elements 21, capacitors 31, connection lines 41, 42, 43, etc. be exactly the same, there are variations in reality. In particular, potential differences occur between the plurality of base electrodes 22 and between the emitter electrodes 23 mainly due to variations in the characteristics of the unit transistor elements 21 and variations in the inductance value of the connection wire 43, and the connection element 24 with a small inductance value , 25, etc., the complete parallel operation state is broken, and each unit transistor element no longer functions sufficiently, resulting in a reduction in output. Ta.

(d) 発明の目的 本発明の目的は上記従来の欠点に鑑み、複数の
単位トランジスタ素子を並列に接続し、然も、各
単位トランジスタ素子が充分に機能した並列動作
状態を可能にする高周波高出力トランジスタの構
成を提供するにある。
(d) Object of the Invention In view of the above-mentioned drawbacks of the conventional art, the object of the present invention is to provide a high-frequency signal that connects a plurality of unit transistor elements in parallel, and enables each unit transistor element to function in parallel in a fully functional state. To provide the configuration of the output transistor.

(e) 発明の構成 上記目的は、内部整合回路を介して入力端子に
接続されたベース又はエミツタと、第1のインダ
クタンスを介して接地されたエミツタ又はベース
と、出力端子に接続されたコレクタを有する単位
トランジスタ素子が複数個並列に接続された高周
波数高出力トランジスタにおいて、 前記各単位トランジスタ素子のベース電極相互
間及びエミツタ電極相互間は、第2及び第3のイ
ンダクタンスを介して接続され、かつ該第2及び
第3のインダクタンスは、前記第1のインダクタ
ンスのインダクタンス値よりも大きいことを特徴
とする高周波高出力トランジスタによつて達成さ
れる。
(e) Structure of the Invention The above object is to connect a base or emitter connected to an input terminal via an internal matching circuit, an emitter or base grounded via a first inductance, and a collector connected to an output terminal. In a high-frequency, high-output transistor in which a plurality of unit transistor elements are connected in parallel, base electrodes and emitter electrodes of each unit transistor element are connected via second and third inductances, and The second and third inductances are achieved by high-frequency, high-output transistors characterized in that their inductance values are larger than the inductance value of the first inductance.

また、本発明によれば、前記内部整合回路は、
複数個並列に接続されてなり、隣り合う該内部整
合回路の同一機能の電極間は第4のインダクタン
スを介して接続され、かつ該第4のインダクタン
スは、前記内部整合回路に接続される他の第5の
インダクタンスの中で最大のインダクタンス値よ
り大きいインダクタンス値を有することが望まし
い。
Further, according to the present invention, the internal matching circuit includes:
A plurality of electrodes are connected in parallel, and the electrodes of the adjacent internal matching circuits having the same function are connected through a fourth inductance, and the fourth inductance is connected to the other electrodes connected to the internal matching circuit. It is desirable to have an inductance value larger than the largest inductance value among the fifth inductances.

また、本発明によれば、単位トランジスタのベ
ース電極同士、エミツタ電極同士及び内部整合回
路同士を接続している第2、第3及び第4のイン
ダクタンスは、折り曲げられた帯状の導体パター
ンで半導体チツプ上に形成されていることを特徴
とする。
Further, according to the present invention, the second, third, and fourth inductances connecting the base electrodes, the emitter electrodes, and the internal matching circuits of the unit transistors are connected to the semiconductor chip using bent strip-shaped conductor patterns. It is characterized by being formed on the top.

(f) 発明の実施例 以下本発明の実施例を図により説明する。全図
を通じ同一符号は同一対象物を示す。
(f) Embodiments of the invention Examples of the invention will be described below with reference to the drawings. The same reference numerals indicate the same objects throughout the figures.

第5図は本発明の構成による高周波高出力トラ
ンジスタの一実施例の等価回路図、第6図はその
構造を示す平面図aと側断面図b、第7図はその
単位トランジスタ素子を形成した半導体チツプの
拡大平面図、第8図は同じく内部整合回路のコン
デンサを形成した半導体チツプの拡大平面図で、
2a,3aは半導体チツプ、24a,25a,3
3aは接続素子をそれぞれ示す。
FIG. 5 is an equivalent circuit diagram of an embodiment of a high-frequency, high-output transistor according to the present invention, FIG. 6 is a plan view a and a side sectional view b showing its structure, and FIG. 7 is a diagram showing the formation of a unit transistor element thereof. FIG. 8 is an enlarged plan view of a semiconductor chip on which a capacitor of an internal matching circuit is formed.
2a, 3a are semiconductor chips, 24a, 25a, 3
3a each indicates a connecting element.

従来例の欠点の主原因は、前述のように、回路
を構成する複数の同一素子のばらつきに起因し
て、並列に使用されている複数の単位トランジス
タ素子21のベース電極22相互間やエミツタ電
極23相互間に電位差が生じ、インダクタンス値
の小さな接続素子24,25などを通して該電極
相互間に信号電流が流れて完全並列動作状態がく
ずれ、各単位トランジスタ素子が充分に機能しな
くなることにある。
The main cause of the drawbacks of the conventional example is, as mentioned above, due to variations in the plurality of identical elements constituting the circuit. A potential difference occurs between the electrodes 23, and a signal current flows between the electrodes through the connecting elements 24, 25 having a small inductance value, and the completely parallel operating state is disrupted, causing each unit transistor element to no longer function satisfactorily.

従つて、各単位トランジスタ素子を充分に機能
させるためには、ベース電極22相互間とエミツ
タ電極23相互間の信号電流の流れを抑制すれば
良い。
Therefore, in order to make each unit transistor element function satisfactorily, it is sufficient to suppress the flow of signal current between the base electrodes 22 and between the emitter electrodes 23.

このためには、第4図において、複数の同一素
子のばらつきを0にすれば理想的であるが、該ば
らつきを低減する努力は可能であるとしても0に
することは事実上不可能に近い。つぎに考えられ
ることは、ベース電極22相互間とエミツタ電極
23相互間を接続している接続素子24,25を
削除することであるが、この削除は前述した半導
体チツプ2製造工程中の試験の便宜を失うばかり
でなく、次のような不都合を生ずることが判つ
た。
For this purpose, it would be ideal to reduce the variation of multiple identical elements to 0 in Fig. 4, but even if it is possible to make efforts to reduce the variation, it is virtually impossible to reduce it to 0. . The next possibility is to delete the connecting elements 24 and 25 that connect the base electrodes 22 and the emitter electrodes 23, but this deletion can be done by testing during the manufacturing process of the semiconductor chip 2 mentioned above. It has been found that not only the convenience is lost, but also the following inconveniences occur.

即ち、半導体素子は高周波帯域において周波数
が低下すると増幅率が上昇する特性を有するの
で、前記電極相互間の電位差が種になり使用周波
数帯域より低い周波数の発振を起こすことであ
る。つまり、接続素子24,25は、この低い周
波数から直流の帯域に対して前記電極相互間にお
ける電位差の発生を抑制する機能も有していたこ
とになる。
That is, since the semiconductor element has a characteristic that the amplification factor increases as the frequency decreases in the high frequency band, the potential difference between the electrodes becomes a seed and causes oscillation at a frequency lower than the frequency band used. In other words, the connecting elements 24 and 25 also had the function of suppressing the generation of potential difference between the electrodes in the DC band from this low frequency.

これらのことから、前記電極相互間を、使用周
波数帯域の信号電流が流れ難く、然も、該使用周
波数帯域より低い周波数帯域の電流が流れ易い素
子で接続することにより、また、複数の内部整合
回路を有する場合には、該内部整合回路のばらつ
きに起因する前記電位差に対処すべく、同様な思
想による素子の接続を加えることにより、各単位
トランジスタ素子を充分に機能させることが可能
になる。
For these reasons, by connecting the electrodes with an element that makes it difficult for a signal current in the used frequency band to flow, but allows a current in a frequency band lower than the used frequency band to easily flow, it is also possible to achieve multiple internal matching. When a circuit is provided, in order to cope with the potential difference caused by variations in the internal matching circuit, each unit transistor element can be made to function satisfactorily by adding connection of elements based on a similar idea.

本発明はインダクタンスの特性を利用して上記
構成を可能にしたもので、当該素子に適切なイン
ダクタンス値を与え、然も、簡便に実現を可能に
している。
The present invention makes the above configuration possible by utilizing the characteristics of inductance, gives an appropriate inductance value to the element, and allows easy implementation.

第5図はその等価回路図であり、第4図との相
違点は24,25を前記適切なインダクタンス
値、即ち、43のインダクタンス値より大きなイ
ンダクタンス値を有する24a,25aに替え、
また、41,42のインダクタンス値の何れか大
きい方より大きなインダクタンス値を有する33
aを追加したことである。ここで、24a,25
a,33aのインダクタンス値を上記のようにし
たのは、次の考えに基づいている。
FIG. 5 is an equivalent circuit diagram thereof, and the difference from FIG. 4 is that 24 and 25 are replaced with 24a and 25a having an inductance value larger than the appropriate inductance value, that is, the inductance value of 43,
In addition, 33 has an inductance value greater than the larger of the inductance values of 41 and 42.
This is the addition of a. Here, 24a, 25
The reason why the inductance values of a and 33a are set as described above is based on the following idea.

単位トランジスタ素子21のベース電極22、
エミツタ電極23に接続される24a,25aの
インダクタンス値に関しては、エミツタの接地イ
ンダクタンス43のばらつきの大きさをベースか
ら見ると、 ΔLb=ΔLe(1+β) 但し ΔLe:43のインダクタンス値のばらつきの値 ΔLb:ΔLeをベースから見た等価値 β:21の高周波電流増幅率 となり、ΔLbは略43のインダクタンス値に近い
値であることが経験的に判つた。そこで、24a
のインダクタンス値をΔLbより即ち43のインダ
クタンス値より大きく、また、25aのインダク
タンス値を43のインダクタンス値より大きくす
ることにより、先に説明した狙いに対して実用上
の効果を得ることが出来る。
base electrode 22 of unit transistor element 21;
Regarding the inductance value of 24a and 25a connected to the emitter electrode 23, when looking at the variation in the ground inductance 43 of the emitter electrode 23 from the base, ΔLb=ΔLe(1+β) where ΔLe: value of variation in the inductance value of 43 ΔLb : Equivalent value of ΔLe viewed from the base β: It was found empirically that the high frequency current amplification factor was 21, and ΔLb was a value close to the inductance value of about 43. Therefore, 24a
By making the inductance value of 25a larger than ΔLb, that is, the inductance value of 43, and the inductance value of 25a larger than the inductance value of 43, the above-mentioned aim can be achieved in practical terms.

内部整合回路のコンデンサ電極32に接続され
る33aのインダクタンス値に関しては、32に
接続されている他のインダクタンスの中で最大の
インダクタンス値より大きくすることにより、同
様に実用上の効果を得ることが出来る。
Regarding the inductance value of 33a connected to the capacitor electrode 32 of the internal matching circuit, a similar practical effect can be obtained by making it larger than the maximum inductance value among the other inductances connected to 32. I can do it.

このようにした時の24a,25a,33aの
インダクタンス値は数nH程度であるので、24
a,25aは第2図図示の半導体チツプ2におけ
る接続素子24,25の領域にパターンを工夫す
ることにより接続素子の形で形成可能であり、3
3aは第3図図示の半導体チツプ3上に同様にし
て形成可能である。
When doing this, the inductance values of 24a, 25a, and 33a are about several nH, so 24a, 25a, and 33a
a, 25a can be formed in the form of a connecting element by devising a pattern in the area of the connecting elements 24, 25 in the semiconductor chip 2 shown in FIG.
3a can be similarly formed on the semiconductor chip 3 shown in FIG.

第6図に、かくして実現した本発明の構成によ
る高周波高出力トランジスタの一実施例の構造を
示すが、第1図図示の高周波高出力トランジスタ
との相違点は、半導体チツプ2,3が、それぞれ
外形寸法、接続線41,42,43,44を接続
する電極の配置に変更のない半導体チツプ2a,
3aに置換された点のみで、その他の構造は全く
同一である。
FIG. 6 shows the structure of an embodiment of the high frequency, high power transistor according to the configuration of the present invention, which has been realized in this way.The difference from the high frequency, high power transistor shown in FIG. 1 is that the semiconductor chips 2 and 3 are Semiconductor chip 2a with no change in external dimensions and arrangement of electrodes connecting connection lines 41, 42, 43, 44;
The other structures are exactly the same except that 3a is substituted.

半導体チツプ2a,3aは、第7図、第8図図
示の通りであり、半導体チツプ2aにおいては、
第2図図示の接続素子24,25に代わつて接続
素子24a,25aがパターンを変えて形成して
ある。24,25のパターンは帯状の直線である
が、24a,25aでは折り曲げられた帯状であ
り、こうすることにより、前者のインダクタンス
値が1nH以下であるのに対して後者では数nHに
することが可能になる。半導体チツプ3aにおい
ては、第3図図示の二つのコンデンサ電極32の
間を接続素子24aないし25aと同様な接続素
子33aで接続してある。
The semiconductor chips 2a and 3a are as shown in FIGS. 7 and 8, and in the semiconductor chip 2a,
In place of the connecting elements 24 and 25 shown in FIG. 2, connecting elements 24a and 25a are formed with different patterns. The patterns 24 and 25 are straight strips, but the patterns 24a and 25a are bent strips.By doing this, the inductance value of the former is less than 1 nH, while the inductance value of the latter can be several nH. It becomes possible. In the semiconductor chip 3a, the two capacitor electrodes 32 shown in FIG. 3 are connected by a connecting element 33a similar to the connecting elements 24a to 25a.

本願の発明者は以上に説明した本発明の構成を
適用することにより、周波数が900MHzで出力
15Wの高周波高出力トランジスタを得ることが出
来た。これは、従来の構成では出力が10Wであつ
たので、実に50%の出力増大を得たのである。
By applying the configuration of the present invention explained above, the inventor of the present application has achieved an output frequency of 900MHz.
We were able to obtain a 15W high frequency, high power transistor. This is a 50% increase in output compared to the previous configuration's output of 10W.

(g) 発明の効果 以上に説明したように、本発明による構成によ
れば、複数の単位トランジスタ素子を並列に接続
し、然も、各単位トランジスタ素子が充分に機能
した並列動作状態を可能にする高周波高出力トラ
ンジスタの構成を提供することが出来て、単位ト
ランジスタ素子の数を増やさないで出力の増大化
を可能にさせる効果がある。
(g) Effects of the Invention As explained above, according to the configuration according to the present invention, a plurality of unit transistor elements can be connected in parallel, and a parallel operation state in which each unit transistor element can function satisfactorily is possible. It is possible to provide a configuration of a high-frequency, high-output transistor, which has the effect of making it possible to increase the output without increasing the number of unit transistor elements.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は従来の高周波高出力トランジスタの一
実施例の構造を示す平面図aと側断面図b、第2
図はその単位トランジスタ素子を形成した半導体
チツプの拡大平面図、第3図は同じく内部整合回
路のコンデンサを形成した半導体チツプの拡大平
面図、第4図は同じく等価回路図、第5図は本発
明の構成による高周波高出力トランジスタの一実
施例の等価回路図、第6図はその構造を示す平面
図aと側断面図b、第7図はその単位トランジス
タ素子を形成した半導体チツプの拡大平面図、第
8図は同じく内部整合回路のコンデンサを形成し
た半導体チツプの拡大平面図である。 図面において、1はパツケージ本体、11は接
地基板、12は絶縁基板、13は接地板、14は
コレクタ端子板、15は絶縁枠、16は入力端
子、17は出力端子、2,2a,3,3aは半導
体チツプ、21は単位トランジスタ素子、22は
ベース電極、23はエミツタ電極、24,24
a,25,25a,33aは接続素子、31はコ
ンデンサ、32はコンデンサ電極、41,42,
43,44は接続線、5はパツケージ蓋をそれぞ
れ示す。
Figure 1 shows a plan view a, a side cross-sectional view b, and a second
The figure is an enlarged plan view of the semiconductor chip forming the unit transistor element, FIG. 3 is an enlarged plan view of the semiconductor chip forming the capacitor of the internal matching circuit, FIG. 4 is the equivalent circuit diagram, and FIG. An equivalent circuit diagram of an embodiment of a high-frequency, high-output transistor according to the structure of the invention, FIG. 6 is a plan view a and a side sectional view b showing its structure, and FIG. 7 is an enlarged plan view of a semiconductor chip forming the unit transistor element. FIG. 8 is an enlarged plan view of a semiconductor chip on which a capacitor of an internal matching circuit is formed. In the drawing, 1 is a package body, 11 is a grounding board, 12 is an insulating board, 13 is a grounding plate, 14 is a collector terminal board, 15 is an insulating frame, 16 is an input terminal, 17 is an output terminal, 2, 2a, 3, 3a is a semiconductor chip, 21 is a unit transistor element, 22 is a base electrode, 23 is an emitter electrode, 24, 24
a, 25, 25a, 33a are connecting elements, 31 is a capacitor, 32 is a capacitor electrode, 41, 42,
43 and 44 are connecting lines, and 5 is a package lid.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 内部整合回路を介して入力端子に接続された
ベース又はエミツタと、第1のインダクタンスを
介して接地されたエミツタ又はベースと、出力端
子に接続されたコレクタを有する単位トランジス
タ素子が複数個並列に接続された高周波高出力ト
ランジスタにおいて、 前記各単位トランジスタ素子のベース電極相互
間及びエミツタ電極相互間は、第2及び第3のイ
ンダクタンスを介して接続され、かつ該第2及び
第3のインダクタンスは、前記第1のインダクタ
ンスのインダクタンス値より大きいことを特徴と
する高周波高出力トランジスタ。 2 前記内部整合回路は、複数個並列接続されて
なり、隣り合う該内部整合回路の同一機能の電極
間は第4のインダクタンスを介して接続され、か
つ該第4のインダクタンスは、前記内部整合回路
に接続される他の第5のインダクタンスの中で最
大のインダクタンス値より大きいインダクタンス
値を有することを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載の高周波高出力トランジスタ。 3 前記複数の単位トランジスタは、同一半導体
チツプ上に形成されており、前記第2及び第3の
インダクタンスは、折り曲げられた帯状の導体パ
ターンで前記半導体チツプ上に形成されているこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の高周
波高出力トランジスタ。 4 前記複数の内部整合回路は、同一半導体チツ
プ上に形成されており、前記第4のインダクタン
スは、折り曲げられた帯状の半導パターンで前記
半導体チツプ上に形成されていることを特徴とす
る特許請求の範囲第2項記載の高周波高出力トラ
ンジスタ。
[Claims] 1. A unit transistor having a base or emitter connected to an input terminal via an internal matching circuit, an emitter or base grounded via a first inductance, and a collector connected to an output terminal. In a high-frequency, high-output transistor in which a plurality of elements are connected in parallel, base electrodes and emitter electrodes of each of the unit transistor elements are connected via second and third inductances, and the second and third inductances are A high frequency, high output transistor, wherein the third inductance is larger than the inductance value of the first inductance. 2. A plurality of the internal matching circuits are connected in parallel, and electrodes of adjacent internal matching circuits having the same function are connected through a fourth inductance, and the fourth inductance is connected to the internal matching circuit. Claim 1, characterized in that the fifth inductance has an inductance value larger than the largest inductance value among the other fifth inductances connected to the fifth inductance.
High-frequency, high-output transistor described in Section 1. 3. The plurality of unit transistors are formed on the same semiconductor chip, and the second and third inductances are formed as bent band-shaped conductor patterns on the semiconductor chip. A high frequency, high output transistor according to claim 1. 4. A patent characterized in that the plurality of internal matching circuits are formed on the same semiconductor chip, and the fourth inductance is formed as a bent band-shaped semiconductor pattern on the semiconductor chip. A high frequency, high output transistor according to claim 2.
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