JPH01295134A - 自動化学分折装置 - Google Patents
自動化学分折装置Info
- Publication number
- JPH01295134A JPH01295134A JP12488288A JP12488288A JPH01295134A JP H01295134 A JPH01295134 A JP H01295134A JP 12488288 A JP12488288 A JP 12488288A JP 12488288 A JP12488288 A JP 12488288A JP H01295134 A JPH01295134 A JP H01295134A
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- Japan
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- light
- optical axis
- reaction
- fluorescence
- reaction container
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
本発明は、反応容器に光を照射し反応液が反映された少
なくとも透過光及び蛍光を各々検出する複数の光検出系
を備えた自動化学分析装置に関する。
なくとも透過光及び蛍光を各々検出する複数の光検出系
を備えた自動化学分析装置に関する。
（従来の技術）
例えば人体から採取した血清を試料（サンプル）として
用いこれに所望の試薬を反応させて、この反応液に光を
照射することにより透過光を基に吸光度を測定すると共
に、蛍光又は散乱光を測定して診断に供するようにした
自動化学分析装置が知られている。
用いこれに所望の試薬を反応させて、この反応液に光を
照射することにより透過光を基に吸光度を測定すると共
に、蛍光又は散乱光を測定して診断に供するようにした
自動化学分析装置が知られている。
第５図（ａ）、（ｂ）はこのような分析装置の概要を示
す構成図で、反応液１が収納された複数個の反応容器２
が円形状に反応容器列３を形成するように配列されて一
定のサイクルで所定方向に間欠移動され、反応容器１の
移動経路の途中位置には光検出系４が配置、されている
。光検出系４は白色光を発生する光源５と、白色光をこ
のまま通過させ又は白色光を単色光に分光して通過させ
る機能を有する干渉フィルタ、グレーティング等の分光
器６とを含んだ光照射部４Ａと、後述の光検出部４Ｂと
から成っている。反応液１の吸光度を測定する場合には
分光器６は白色光を反応容器２に照射し、反応液１の蛍
光又は散乱光を測定する場合には分光器６は白色光を分
光した単色光を反応容器１に照射するように動作する。
す構成図で、反応液１が収納された複数個の反応容器２
が円形状に反応容器列３を形成するように配列されて一
定のサイクルで所定方向に間欠移動され、反応容器１の
移動経路の途中位置には光検出系４が配置、されている
。光検出系４は白色光を発生する光源５と、白色光をこ
のまま通過させ又は白色光を単色光に分光して通過させ
る機能を有する干渉フィルタ、グレーティング等の分光
器６とを含んだ光照射部４Ａと、後述の光検出部４Ｂと
から成っている。反応液１の吸光度を測定する場合には
分光器６は白色光を反応容器２に照射し、反応液１の蛍
光又は散乱光を測定する場合には分光器６は白色光を分
光した単色光を反応容器１に照射するように動作する。
以下−例として反応液１の吸光度を測定する場合に例を
挙げて説明すると、分光器６は光源５からの白色光をそ
のまま通過させて反応容器２に入射する。反応液１を透
過して反応容器２から出射される光は反応液１の吸光度
が反映されてあり、第５図（ｂ）のように反応容器２の
底部方向へと光路が変えられて光検出部４Ｂへ入射され
る。光検出部４Ｂは入射光を反射するミラー７と、この
反射光を単色光に分光するグレーティング等の分光器８
と、分光された単色光の各波長の光量を測定するフォト
ダイオードアレイ等の光検出器９とを含んでいる。
挙げて説明すると、分光器６は光源５からの白色光をそ
のまま通過させて反応容器２に入射する。反応液１を透
過して反応容器２から出射される光は反応液１の吸光度
が反映されてあり、第５図（ｂ）のように反応容器２の
底部方向へと光路が変えられて光検出部４Ｂへ入射され
る。光検出部４Ｂは入射光を反射するミラー７と、この
反射光を単色光に分光するグレーティング等の分光器８
と、分光された単色光の各波長の光量を測定するフォト
ダイオードアレイ等の光検出器９とを含んでいる。
このようにして光検出器８により反応液１の吸光度が測
光されることになる。
光されることになる。
反応液１の蛍光又は散乱光を測定する場合には分光器６
によって単色光が反応容器２に入射され、光検出部４Ｂ
の構成が少し異なるだけで同様な方法によって蛍光又は
散乱光が測定されることになる。
によって単色光が反応容器２に入射され、光検出部４Ｂ
の構成が少し異なるだけで同様な方法によって蛍光又は
散乱光が測定されることになる。
（発明が解決しようとする課題）
ところで従来の分析装置では、光検出部が反応容器の移
動する平面に対して直交する方向に出射される光を検出
するように配置されているので、分析装置の小型化を図
る上で制約を受けると共に調整作業か煩雑になるという
問題がある。すなわち第５図（ｂ）に示すように、光検
出部４Ｂは反応容器２の底部から出射される光を検出す
るように反応容器２の深さ方向に配置されているので、
この深さ方向の寸法はあまり小さくできないことになる
。又このように反応容器２の底部に光検出部４Ｂが配置
されていると、その調整作業が容易に行えず煩雑な作業
が必要となる。更に反応容器２の底部からの出射光を検
出する場合にはその底部の平面精度が重要となり、簡単
な引抜き成型では精度良い底面が形成できない。このた
め張合せ方法等の手間のかかる加工法が必要となるので
反応容器２のコストアップが避けられない。
動する平面に対して直交する方向に出射される光を検出
するように配置されているので、分析装置の小型化を図
る上で制約を受けると共に調整作業か煩雑になるという
問題がある。すなわち第５図（ｂ）に示すように、光検
出部４Ｂは反応容器２の底部から出射される光を検出す
るように反応容器２の深さ方向に配置されているので、
この深さ方向の寸法はあまり小さくできないことになる
。又このように反応容器２の底部に光検出部４Ｂが配置
されていると、その調整作業が容易に行えず煩雑な作業
が必要となる。更に反応容器２の底部からの出射光を検
出する場合にはその底部の平面精度が重要となり、簡単
な引抜き成型では精度良い底面が形成できない。このた
め張合せ方法等の手間のかかる加工法が必要となるので
反応容器２のコストアップが避けられない。
本発明は以上のような事情に対処してなされたもので、
小型化を可能にすると共に調整作業が容易に行えるよう
にした自動化学分析装置を提供することを目的とするも
のでおる。
小型化を可能にすると共に調整作業が容易に行えるよう
にした自動化学分析装置を提供することを目的とするも
のでおる。
［発明の構成Ｊ
（課題を解決するための手段）
上記目的を達成するために本発明は、反応容器に入射す
る光の光軸及び反応容器から出射する検出光の光軸を反
応容器を移動させる平面と同一平面上に配置するように
したものである。
る光の光軸及び反応容器から出射する検出光の光軸を反
応容器を移動させる平面と同一平面上に配置するように
したものである。
（作 用）
反応容器に対する入射光及び出射光の光軸を反応容器を
移動させる平面と同一平面上に配置することにより、光
検出部を反応容器の深さ方向に配置する必要がなくなる
。従って装置の深さ方向の寸法が小さくなるので小型化
を図ることができ、又これに伴い調整作業も容易に行う
ことができる。
移動させる平面と同一平面上に配置することにより、光
検出部を反応容器の深さ方向に配置する必要がなくなる
。従って装置の深さ方向の寸法が小さくなるので小型化
を図ることができ、又これに伴い調整作業も容易に行う
ことができる。
更に検出光を反応容器の底部から出射させることがなく
なるので、底部の平面精度は重要でなくなるため反応容
器を簡単な加工法で製造することができる。
なるので、底部の平面精度は重要でなくなるため反応容
器を簡単な加工法で製造することができる。
（実施例）
以下図面を参照して本発明実施例を説明する。
第１図は本発明の自動化学分析装置の第１実施例を示す
構成図で、反応液１が収納された複数個の反応容器２が
円形状に反応容器列３を形成するように配列されて、一
定のサイクルで所定方向に間欠移動される。反応容器２
は円形状の横断面形状を有し、円形状の反応容器列３の
円の外側には光源５と分光器６とを含む光照射部４Ａが
配置されている。光源５から分光器６を介して反応容器
２に照射される白色光又は単色光の光軸１０Ａは反応容
器２が移動する平面と同一平面上に配置される。分光器
６は反応液１の吸光度を測定する場合は光源５からの白
色光をそのまま反応容器２に−〇 − 照射し、分光器６は反応液１の蛍光又は散乱光（以下蛍
光に代表させて単に蛍光と称する）を測定する場合は光
源５からの白色光を単色光に分光してこれを励起光とし
て反応容器２に照射する。
構成図で、反応液１が収納された複数個の反応容器２が
円形状に反応容器列３を形成するように配列されて、一
定のサイクルで所定方向に間欠移動される。反応容器２
は円形状の横断面形状を有し、円形状の反応容器列３の
円の外側には光源５と分光器６とを含む光照射部４Ａが
配置されている。光源５から分光器６を介して反応容器
２に照射される白色光又は単色光の光軸１０Ａは反応容
器２が移動する平面と同一平面上に配置される。分光器
６は反応液１の吸光度を測定する場合は光源５からの白
色光をそのまま反応容器２に−〇 − 照射し、分光器６は反応液１の蛍光又は散乱光（以下蛍
光に代表させて単に蛍光と称する）を測定する場合は光
源５からの白色光を単色光に分光してこれを励起光とし
て反応容器２に照射する。
反応液１の吸光度を測定する場合、光軸１０Ａに沿って
反応容器２に入射した白色光は透過光として光軸１０Ｂ
に沿って光軸１０Ａの延長上に出射し光検出部４Ｂ１の
ミラー７に入射する。ミラー７で反射された光は分光器
８に入射しここで単色色に分光された後、光検出器９で
単色光の各波長の光量が測定されることにより吸光度（
透光光量〉が測定される。
反応容器２に入射した白色光は透過光として光軸１０Ｂ
に沿って光軸１０Ａの延長上に出射し光検出部４Ｂ１の
ミラー７に入射する。ミラー７で反射された光は分光器
８に入射しここで単色色に分光された後、光検出器９で
単色光の各波長の光量が測定されることにより吸光度（
透光光量〉が測定される。
一方反応液１の蛍光を測定する場合、光軸１０Ａに沿っ
て反応容器２に励起光として入射した単色光は反応液を
励起することにより、反応液から発生された蛍光が光軸
１０Ａと９０’隔てた光軸１０Ｃ上に出射し光検出器４
Ｂ２の光検出器１１によって蛍光光量が測定される。こ
のような構成で反応容器２から出射される透過光の光軸
１０Ｂ及び蛍光の光軸１０Ｃは前記光軸１０Ａと同様に
反応容器２が移動する平面と同−平面−ヒに配置される
。
て反応容器２に励起光として入射した単色光は反応液を
励起することにより、反応液から発生された蛍光が光軸
１０Ａと９０’隔てた光軸１０Ｃ上に出射し光検出器４
Ｂ２の光検出器１１によって蛍光光量が測定される。こ
のような構成で反応容器２から出射される透過光の光軸
１０Ｂ及び蛍光の光軸１０Ｃは前記光軸１０Ａと同様に
反応容器２が移動する平面と同−平面−ヒに配置される
。
次に本実施例の作用を説明する。
反応液１の吸光度を測定する場合、光照射部４Ａの光源
５から分光器６によって光軸１０Ａに沿って反応容器２
に入射した白色光は、透過光として光軸１０Ａの延長上
の光軸１０Ｂに沿って出射し光検出部４８１に入射する
。この光はミラー７、分光器８を介して単色光に分光さ
れ、光検出器９で各波長の光量が測定されることにより
吸光度が測定される。次に反応液１の蛍光を測定する場
合、光照射部４Ａの光源５の白色光が分光器６によって
分光されて光軸１０Ａに沿って反応容器２に入射した単
色光は、蛍光として光軸１０Ａと９０’隔った光軸１０
Ｃに沿って出射し光検出部４Ｂ２に入射する。この光は
光検出器１１によって蛍光光量が測定される。
５から分光器６によって光軸１０Ａに沿って反応容器２
に入射した白色光は、透過光として光軸１０Ａの延長上
の光軸１０Ｂに沿って出射し光検出部４８１に入射する
。この光はミラー７、分光器８を介して単色光に分光さ
れ、光検出器９で各波長の光量が測定されることにより
吸光度が測定される。次に反応液１の蛍光を測定する場
合、光照射部４Ａの光源５の白色光が分光器６によって
分光されて光軸１０Ａに沿って反応容器２に入射した単
色光は、蛍光として光軸１０Ａと９０’隔った光軸１０
Ｃに沿って出射し光検出部４Ｂ２に入射する。この光は
光検出器１１によって蛍光光量が測定される。
このような各測定に用いられる分析装置において、反応
容器２に照射される白色光又は単色光の光軸”ＩＯＡ、
反応容器２から出射される透過光の光軸１０Ｂ及び蛍光
の光軸１０Ｃは共に反応容器２が移動する平面と同一平
面上に配置されている。
容器２に照射される白色光又は単色光の光軸”ＩＯＡ、
反応容器２から出射される透過光の光軸１０Ｂ及び蛍光
の光軸１０Ｃは共に反応容器２が移動する平面と同一平
面上に配置されている。
従ってこのような本実施例によれば、光検出部４−８１
，４Ｂ２を反応容器２の深さ方向に配置する必要がなく
なるので、装置の深さ方向の寸法を小さくすることがで
きるため小型化を図ることかできる。又これに伴い装置
の調整作業も容易に行うことができる。更に反応容器２
の底部から透過光、蛍光等の検出光を出射させる必要が
なくなるので、底部の平面精度は不要となる。よって反
応容器を簡単な加工法で製造することができるので、コ
ストダウンを図ることができる。
，４Ｂ２を反応容器２の深さ方向に配置する必要がなく
なるので、装置の深さ方向の寸法を小さくすることがで
きるため小型化を図ることかできる。又これに伴い装置
の調整作業も容易に行うことができる。更に反応容器２
の底部から透過光、蛍光等の検出光を出射させる必要が
なくなるので、底部の平面精度は不要となる。よって反
応容器を簡単な加工法で製造することができるので、コ
ストダウンを図ることができる。
第２図は本発明の第２実施例を示すもので、反応容器列
３を構成する各反応容器２の横断面形状が矩形状のもの
を用いた例を示すものである。本実施例によっても第１
実施例と同様な効果を得ることができる。
３を構成する各反応容器２の横断面形状が矩形状のもの
を用いた例を示すものである。本実施例によっても第１
実施例と同様な効果を得ることができる。
第３図は本発明の第３実施例を示すもので、反応容器２
として矩形状のものを用い照射光の光軸１０Ａを反応容
器列３の接線方向に配置した列を−〇 − 示すものである。本実施例によれば第１実施例と同様な
効果が得られる他に、光照射部４Ａ、光検出部４Ｂ１．
４Ｂ２をすべて円形状の反応容器列３の円の外側に配置
することにより、装置の製造。
として矩形状のものを用い照射光の光軸１０Ａを反応容
器列３の接線方向に配置した列を−〇 − 示すものである。本実施例によれば第１実施例と同様な
効果が得られる他に、光照射部４Ａ、光検出部４Ｂ１．
４Ｂ２をすべて円形状の反応容器列３の円の外側に配置
することにより、装置の製造。
調整等が容器になるという効果が得られる。
第４図は本発明の第４実施例を示すもので、光照射部４
Ａを円形状の反応容器列３の円の内側に配置し、又光検
出部４８２を反応容器列３の接線方向に配置した例を示
すものである。本実施例によっても第１実施例と同様な
効果を得ることができる。
Ａを円形状の反応容器列３の円の内側に配置し、又光検
出部４８２を反応容器列３の接線方向に配置した例を示
すものである。本実施例によっても第１実施例と同様な
効果を得ることができる。
［発明の効果］
以上述べたように本発明によれば、反応容器に対する入
射光及び出射光の各光軸を反応容器を移動させる平面と
同一平面上に配置したので、装置の小型化が可能になる
と共に調整作業が容易になる。
射光及び出射光の各光軸を反応容器を移動させる平面と
同一平面上に配置したので、装置の小型化が可能になる
と共に調整作業が容易になる。
第１図は本発明の自動化学分析装置の第１実施例を示す
構成図、第２図は本発明の第２実施例を示す構成図、第
３図は本発明の第３実施例を示す構成図、第４図は本発
明の第４実施例を示す構成図、第５図（ａ）、（ｂ）は
従来例の構成図である。 １・・・反応液、 ２・・・反応容器、３・・・反応
容器列、４・・・光検出系、４Ａ・・・光照射部、４Ｂ
１，４８２・・・光検出部、６．８・・・分光器、９，
１１・・・光検出器。
構成図、第２図は本発明の第２実施例を示す構成図、第
３図は本発明の第３実施例を示す構成図、第４図は本発
明の第４実施例を示す構成図、第５図（ａ）、（ｂ）は
従来例の構成図である。 １・・・反応液、 ２・・・反応容器、３・・・反応
容器列、４・・・光検出系、４Ａ・・・光照射部、４Ｂ
１，４８２・・・光検出部、６．８・・・分光器、９，
１１・・・光検出器。
Claims (5)
- （１）反応液が収納された反応容器に光を照射し反応液
が反映された少なくとも透過光及び蛍光を各々検出する
複数の光検出系を備えた自動化学分析装置において、前
記照射光の光軸、透過光の検出光軸及び蛍光の検出光軸
を前記反応容器を移動させる平面と同一平面上に配置し
たことを特徴とする自動化学分析装置。 - （２）照射光光軸と蛍光検出光軸とが９０°隔てて配置
された請求項１記載の自動化学分析装置。 - （３）反応容器が複数個円形状に配列された請求項１記
載の自動化学分析装置。 - （４）反応容器の横断面形状が円形状又は矩形状である
請求項１記載の自動化学分析装置。 - （５）円形状に配列された反応容器列の接線方向に照射
光光軸が配置された請求項３記載の自動化学分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12488288A JPH01295134A (ja) | 1988-05-24 | 1988-05-24 | 自動化学分折装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12488288A JPH01295134A (ja) | 1988-05-24 | 1988-05-24 | 自動化学分折装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01295134A true JPH01295134A (ja) | 1989-11-28 |
Family
ID=14896430
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12488288A Pending JPH01295134A (ja) | 1988-05-24 | 1988-05-24 | 自動化学分折装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01295134A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009014602A (ja) * | 2007-07-06 | 2009-01-22 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
| WO2011004781A1 (ja) | 2009-07-10 | 2011-01-13 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| WO2011105464A1 (ja) | 2010-02-25 | 2011-09-01 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| WO2014013820A1 (ja) * | 2012-07-20 | 2014-01-23 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5719634U (ja) * | 1980-07-08 | 1982-02-01 |
-
1988
- 1988-05-24 JP JP12488288A patent/JPH01295134A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5719634U (ja) * | 1980-07-08 | 1982-02-01 |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009014602A (ja) * | 2007-07-06 | 2009-01-22 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
| WO2011004781A1 (ja) | 2009-07-10 | 2011-01-13 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| US8852511B2 (en) | 2009-07-10 | 2014-10-07 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic analyzer |
| US9023282B2 (en) | 2009-07-10 | 2015-05-05 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic analyzer |
| US10113962B2 (en) | 2009-07-10 | 2018-10-30 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic analyzer |
| WO2011105464A1 (ja) | 2010-02-25 | 2011-09-01 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| US8858882B2 (en) | 2010-02-25 | 2014-10-14 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic analysis device |
| WO2014013820A1 (ja) * | 2012-07-20 | 2014-01-23 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| JP2014020999A (ja) * | 2012-07-20 | 2014-02-03 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| CN104428653A (zh) * | 2012-07-20 | 2015-03-18 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置 |
| US9658237B2 (en) | 2012-07-20 | 2017-05-23 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic analyzer |
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